KR100756850B1

KR100756850B1 - 전자부품 테스트용 핸들러

Info

Publication number: KR100756850B1
Application number: KR1020060091434A
Authority: KR
Inventors: 안정욱; 김선활; 최완희; 정 허
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2006-09-20
Filing date: 2006-09-20
Publication date: 2007-09-07

Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러를 개시한다. 본 발명에 따르면, 테스트할 전자부품을 로딩 스택커로부터 공급받아서 테스트 트레이에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품을 테스트 트레이로부터 분리하여 언로딩 스택커로 반출하는 작업이 이루어지는 교환부; 교환부의 일 측에서 교환부로부터 공급된 테스트 트레이의 전자부품을 테스트하는 것으로, 교환부에 평행한 제1 방향으로 슬라이드 이동할 수 있게 되어 교환부로부터 멀어짐에 따라 교환부와의 사이를 개방할 수 있게 된 테스트부; 로딩 스택커 및 언로딩 스택커와 교환부 간에 전자부품을 이송하고 테스트 트레이에 전자부품을 장착 및 분리하는 전자부품 픽커; 및 교환부와 상기 테스트부 간에 테스트 트레이를 이송하는 트레이 이송유닛을 구비한다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{Handler for testing electronic parts}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 평면도이다.

도 2는 도 1에 대한 측면도.

도 3 내지 도 5는 도 1에 있어서, 테스트부의 슬라이드 이동 과정을 설명하기 위한 도면.

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉

110..로딩 스택커 120..언로딩 스택커

130..교환부 140..전자부품 픽커

150..트레이 이송유닛 160..테스트부

161..가열/냉각 챔버 162..테스트 챔버

165..제열/제냉 챔버 T..테스트 트레이

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등의 작업을 편리하게 수행할 수 있는 전자부품 테 스트용 핸들러에 관한 것이다.

일반적으로, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 디바이스(device)와, 상기 디바이스들을 하나의 기판 상에 적절히 구성한 모듈을 포함하는 전자부품들은 생산 후 여러 가지 테스트를 거친 후에 출하된다. 이러한 테스트는 핸들러에 의하여 행해지는 것이 통상적이다.

핸들러는 테스트할 전자부품을 로딩 스택커로부터 흡착한 후에 이동시켜, 상기 전자부품을 교환부에 마련된 테스트 트레이에 수납하고, 테스트 트레이에 수납된 전자부품을 테스트부에서 테스트한다. 그리고, 핸들러는 테스트 완료된 전자부품을 수납한 테스트 트레이로부터 전자부품을 흡착한 후에 이동시켜 언로딩 스택커에 수납하고, 테스트한 결과에 따라 그 등급에 맞추어 분류한다.

이러한 핸들러 중에는 상온 상태에서의 일반적인 성능 테스트뿐만 아니라, 고온 및 저온의 극한 온도 조건에서도 전자부품이 정상적인 기능을 수행할 수 있는가를 테스트하는 고온 테스트 및 저온 테스트를 수행할 수 있도록 테스트부가 구성된 것도 있다.

이와 같은 핸들러는 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등을 위해 그 내부가 개방 가능하게 될 필요가 있다. 그 일 예로, 전자부품을 테스트하는 테스트부가 일 측 가장자리부를 회전 중심으로 하여 교환부에 대해 수평 회전 가능하게 구성된 것이 있다. 이러한 구성에서, 작업자가 테스트부를 교환부로부터 멀어지도록 회전시키게 되면 테스트부와 교환부 사이가 개방됨으로써, 개방된 테스트부나 교환부 등의 내측에 대해 점검, 정비 등을 할 수 있게 된다.

그런데, 전술한 예에 따르면, 테스트부가 수평 회전하도록 구성되므로, 회전시 주변의 간섭을 피하기 위해서는 비교적 큰 공간이 확보되어야 하는 문제가 있을 수 있다. 게다가, 작업자가 수작업으로 테스트부를 회전시킬 때, 테스트부 전체를 회전시켜야 하므로, 테스트부의 무게가 많이 나가는 경우에는 큰 힘이 요구되는바, 테스트부의 회전 조작에 불편함이 따를 수도 있다.

본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 수작업으로도 비교적 손쉽게 내부를 개방할 수 있는 한편, 개방시 테스트부의 이동을 위한 공간을 최소화할 수 있게 구성됨으로써, 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등의 작업을 편리하게 수행할 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는, 테스트할 전자부품을 로딩 스택커로부터 공급받아서 테스트 트레이에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품을 테스트 트레이로부터 분리하여 언로딩 스택커로 반출하는 작업이 이루어지는 교환부; 상기 교환부의 일 측에서 상기 교환부로부터 공급된 테스트 트레이의 전자부품을 테스트하는 것으로, 상기 교환부에 평행한 제1 방향으로 슬라이드 이동할 수 있게 되어 상기 교환부로부터 멀어짐에 따라 상기 교환부와의 사이를 개방할 수 있게 된 테스트부; 상기 로딩 스택커 및 언로딩 스택커와 상기 교환부 간에 전자부품을 이송하고 테스트 트레이에 전자부품을 장착 및 분리하는 전자부품 픽커; 및 상기 교환부와 상기 테스트부 간에 테스트 트레이를 이 송하는 트레이 이송유닛을 구비한다.

여기서, 상기 테스트부는 상기 제1 방향을 따라 상호 이격 가능하게 2 분할된 것이 바람직하다.

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 평면도이며, 도 2는 도 1에 대한 측면도이다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(100)는, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 전자부품을 테스트하는 것으로, 로딩 스택커(110)와, 언로딩 스택커(120)와, 교환부(130)와, 전자부품 픽커(140)와, 트레이 이송 유닛(150), 및 테스트부(160)를 구비한다.

로딩 스택커(110)는 핸들러(100)의 전방부에 배치되며, 여기에는 테스트할 전자부품들이 다수 개 수납되어 있는 고객용 트레이들이 적재된다.

언로딩 스택커(120)는 상기 로딩 스택커(110)의 일 측에 배치된 것으로, 여기에는 테스트 완료된 전자부품들이 테스트 결과에 따라 분류되어 고객용 트레이에 수납된다.

교환부(130)는 핸들러(100)의 중앙부에 배치되며, 여기에는 이동 가능하게 된 테스트 트레이(T)가 위치한다. 상기 교환부(130)에서는, 테스트할 전자부품을 로딩 스택커(110)로부터 공급받아서 테스트 트레이(T)에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품을 테스트 트레이(T)로부터 분리하여 언로딩 스택커(120)로 반출하는 작업이 이루어지게 된다.

상기 교환부(130)에서는 특히 도 2에 도시된 바와 같이, 2개의 위치에서 테스트 트레이(T)를 반송하는 작업이 별도로 이루어질 수 있다. 즉, 상측에 위치한 작업위치(WP)에서는 테스트 트레이(T)가 수평으로 놓인 상태에서 소정 피치로 수평 이동하면서 전자부품을 장착하고 분리하는 작업이 이루어질 수 있다. 그리고, 상기 작업위치(WP)의 직하방에 위치한 대기위치(SP)에서는 교환부(130)와 테스트부(160) 간에 후술할 로테이터(153)에 의해 테스트 트레이(T)를 반송하는 작업이 이루어질 수 있다.

이러한 교환부(130)에서는, 승강 수단(131)에 의해 대기위치(SP)와 작업위치(WP) 간에 테스트 트레이(T)가 승강할 수 있으며, 이동 수단(132)에 의해 작업위치(WP)에서 테스트 트레이(T)가 일정 피치로 수평 이동할 수 있다. 한편, 상기 대기위치(SP)의 양측에는 테스트 트레이(T)가 일시적으로 대기할 수 있게 트레이 버퍼부(미도시)가 더 마련될 수 있다. 이 경우, 교환부(130)에는 대기위치(SP)와 트레이 버퍼부 간에 수평으로 왕복 이동하면서 테스트 트레이(T)를 이송시키기 위한 트레이 쉬프터(133)가 마련될 수 있다.

그리고, 상기 교환부(130)의 양측에는 작업 효율을 높이기 위해 전자부품이 일시적으로 대기할 수 있는 전자부품 버퍼부(136)가 배치될 수 있다. 여기서, 전자부품 버퍼부(136)는 로딩측 버퍼부(137)와 언로딩측 버퍼부(138)로 대별될 수 있다.

로딩측 버퍼부(137)는 로딩 스택커(110)로부터 이송되어 온 테스트할 전자부품이 교환부(130)로 이송되기 전에 일시적으로 장착되게 하며, 언로딩측 버퍼부(138)는 테스트 완료된 전자부품이 교환부(130)로부터 로딩 스택커(110)로 이송되기 전에 일시적으로 장착되게 한다. 상기 전자부품 버퍼부(136)는 통상적인 리니어 액추에이터에 의해 전, 후진 가능하게 될 수 있다.

전자부품 픽커(140)는 로딩 스택커(110) 및 언로딩 스택커(120)와 교환부(130) 간에 전자부품을 이송하고 테스트 트레이(T)에 전자부품을 장착 및 분리하기 위한 것이다. 상기 전자부품 픽커(140)는 핸들러(100)의 전방부 상측에 설치된 제1 로딩/언로딩 픽커(141) 및 제2 로딩/언로딩 픽커(142)와, 교환부(130) 및 전자부품 버퍼부(136)의 상측에 설치된 제1 단축 픽커(146) 및 제2 단축 픽커(147)를 포함하여 구성될 수 있다.

제1 로딩/언로딩 픽커(141)는 로딩 스택커(110)와 로딩측 버퍼부(137) 사이를 x축 및 y축 방향으로 수평 이동하면서 전자부품을 픽업하여 이송하며, 제2 로딩/언로딩 픽커(142)는 언로딩 스택커(120)와 언로딩측 버퍼부(138) 사이를 x축 및 y축 방향으로 수평 이동하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다.

상기 제1,2 로딩/언로딩 픽커(141)(142)는 핸들러(100)의 전방부 상측에 설치된 x축 겐트리(143)에 x축 방향을 따라 독립적으로 이동 가능하게 된 y축 겐트리들(144)(145)에 y축 방향으로 각각 이동 가능하게 설치될 수 있다. 상기 y축 겐트리들(144)(145) 및 제 1,2 로딩/언로딩 픽커(141)(142)를 수평 이동시키기 위한 수단으로는 통상적인 리니어 액추에이터가 이용될 수 있다. 한편, 상기 제 1,2 로딩 /언로딩 픽커(141)(142)는 한번에 다수개의 전자부품을 진공 흡착하여 이송할 수 있도록 구성됨이 바람직하다.

제1,2 단축 픽커(146)(147)는 전자부품 버퍼부(136)가 y축 방향으로 이동 가능하게 된 경우 전자부품 버퍼부(136)와 교환부(130) 사이를 x축 방향으로만 수평 이동하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다. 여기서, 제1 단축 픽커(146)는 로딩측 버퍼부(137)와 교환부(130) 사이를 수평 이동하며, 제2 단축 픽커(147)는 언로딩측 버퍼부(138)와 교환부(130) 사이를 수평 이동할 수 있게 배치된다. 상기 제1,2 단축 픽커(146)(147)는 핸들러(100)의 중앙부 상측에 설치된 x축 프레임(148)에 x축 방향을 따라 독립적으로 각각 이동 가능하게 설치될 수 있다.

트레이 이송유닛(150)은 교환부(130)와 후술할 테스트부(160) 간에 테스트 트레이(T)를 이송하는 것으로, 제1 트레이 이송유닛(151)과, 제2 트레이 이송유닛(152)을 구비할 수 있다.

제1 트레이 이송유닛(151)은 교환부(130)와 테스트부(160) 사이에서, 교환부(130)에 위치한 테스트 트레이(T)를 가열/냉각 챔버(161)로 이송하는 한편, 제열/제냉 챔버(165)에 위치한 테스트 트레이(T)를 교환부(130)로 이송한다. 그리고, 제2 트레이 이송유닛(152)은 테스트부(160)의 후방에서, 가열/냉각 챔버(161)에 위치한 테스트 트레이(T)를 테스트 챔버(162)로 이송하는 한편, 테스트 챔버(162)에 위치한 테스트 트레이(T)를 제열/제냉 챔버(165)로 이송한다. 상기 제1,2 트레이 이송유닛(151)(152)은 통상적인 리니어 액추에이터를 포함하여 구성될 수 있다.

상기 트레이 이송유닛(150)은 교환부(130)와 테스트부(160) 간에 테스트 트 레이(T)가 이송되기 전에 테스트 트레이(T)를 90°의 각도 범위로 왕복 회동시키기 위한 로테이터(153)를 더 구비할 수 있다. 로테이터(153)는 테스트부(160)에서 테스트 트레이(T)가 수직으로 세워진 상태로 전자부품이 테스트를 받는 경우, 교환부(130)에서 수평 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 회전시켜 테스트부(160)로 이송할 수 있게 하며, 테스트부(160)에서 수직 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 회전시켜 교환부(130)로 이송할 수 있게 한다.

테스트부(160)는 교환부(130)의 일 측, 도시된 바에 따르면 핸들러(100)의 후방부에 배치된다. 테스트부(160)에서는 테스트할 전자부품이 장착된 테스트 트레이(T)를 교환부(130)로부터 공급받아서 전자부품을 테스트한다.

상기 테스트부(160)는 상온 상태에서의 일반적인 성능 테스트뿐만 아니라, 고온 및 저온의 극한 온도 조건에서도 전자부품이 정상적인 기능을 수행할 수 있는가를 테스트할 수 있도록 구성될 수 있다. 이를 위해, 테스트부(160)는 가열/냉각 챔버(161), 테스트 챔버(162), 및 제열/제냉 챔버(165)를 구비한다. 여기서, 가열/냉각 챔버(161), 테스트 챔버(162), 및 제열/제냉 챔버(165)는 일렬로 순차적으로 배치될 수 있다.

가열/냉각 챔버(161)는 교환부(130)로부터 공급된 테스트 트레이(T)의 전자부품에 고온 또는 저온의 온도 응력을 부여하기 위한 것이다. 이를 위해, 상기 가열/냉각 챔버(161)는 교환부(130)로부터 이송되어 온 테스트 트레이(T)를 전방에서부터 후방으로 1 스텝씩 단계적으로 이송시키는 이송 수단과, 전자부품들을 테스트하고자 하는 온도로 가열시키는 가열 수단, 및 전자부품들을 테스트하고자 하는 온 도로 냉각시키는 냉각 수단을 포함하여 구성될 수 있다. 여기서, 이송 수단은 일반적으로 공지된 액추에이터가 이용될 수 있으며, 가열 수단은 전열 히터 등이 이용될 수 있다. 그리고, 냉각 수단은 냉기를 분사하는 냉기 분사기 등이 이용될 수 있다.

테스트 챔버(162)는 전술한 가열/냉각 챔버(161)에 의해 온도 응력이 부여된 전자부품을 외부의 테스트 장비(미도시)에 의해 테스트할 수 있게 한다. 이를 위해, 테스트 챔버(162)는 외부의 테스트 장치와 전기적으로 연결된 다수의 테스트 소켓을 구비한 테스트 보드(163)와, 상기 테스트 보드(163)에 대해 테스트 트레이(T)를 가압하여 전자부품과 테스트 소켓 사이를 접속시킬 수 있게 테스트 트레이(T)를 전,후진 이동시키는 콘택트 수단(164)을 포함하여 구성될 수 있다.

상기 테스트 챔버(162)는 전자부품을 테스트하는 동안 가열/냉각 챔버(161)에 의해 전자부품이 테스트하고자 하는 온도로 가열되거나 냉각된 상태를 유지할 수 있도록, 가열 수단 및 냉각 수단을 더 구비할 수 있다. 여기서, 가열 수단 및 냉각 수단은 전술한 가열/냉각 챔버(161)에 마련된 수단들과 동일하게 구성될 수 있다. 다른 대안으로, 테스트 챔버(162)가 가열/냉각 챔버(161) 내에 배치되는 것도 가능하다. 한편, 테스트 챔버(162)에는 작업 효율을 높이기 위해 테스트 보드(163)가 상하로 2개 배치될 수도 있다.

제열/제냉 챔버(165)는 전술한 테스트 챔버(162)로부터 테스트 완료된 전자부품에 온도 응력을 제거하기 위한 것이다. 이를 위해, 상기 제열/제냉 챔버(165)는 테스트 챔버(162)로부터 이송되어 온 테스트 트레이(T)를 후방에서부터 전방으 로 1 스텝씩 단계적으로 이송시키는 이송 수단과, 가열된 전자부품을 초기의 상온 상태로 냉각시키는 냉각 수단, 및 냉각된 전자부품을 초기의 상온 상태로 가열하는 가열 수단을 포함하여 구성될 수 있다.

본 실시예에서, 전술한 바와 같은 테스트부(160)는 작업자가 핸들러(100)의 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등의 작업을 편리하게 수행할 수 있도록, 교환부(130)에 평행한 제1 방향(도면을 기준으로 하면 x축 방향에 해당함)으로 슬라이드 이동할 수 있게 구성된다. 즉, 테스트부(160)는 도 3에 도시된 바와 같이 교환부(130)와의 사이를 폐쇄하도록 위치한 상태에서, 도 5에 도시된 바와 같이 교환부(130)에 평행하게 제1 방향을 따라 슬라이드 이동하여 교환부(130)로부터 멀어지게 되면 교환부(130)와의 사이를 개방할 수 있게 한다.

상기 테스트부(160)가 제1 방향을 따라 원활하게 슬라이드 이동할 수 있도록 제1 가이드 수단(171)이 마련되는 것이 바람직하다. 상기 제1 가이드 수단(171)은 제1 스테이지(172)와, 적어도 한 쌍의 제1 LM(Linear Motion) 가이드(173)들을 포함하여 구성될 수 있다. 여기서, 제1 LM 가이드(173)들은 제1 스테이지(171)의 상부에 제1 방향을 따라 연장되게 설치되며, 테스트부(160)의 제1 방향에 따른 슬라이드 이동을 지지할 수 있게 테스트부(160)와 슬라이드 결합이 된다. 한편, 상기 테스트부(160)는 통상적인 리니어 액추에이터에 의해 자동으로 제1 방향을 따라 슬라이드 이동하게 된 것도 가능하다.

그리고, 상기 테스트부(160)는 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 방향을 따라 상호 이격 가능하게 2 분할되는 것이 바람직하다. 이는 작업자가 수작업으로 테스 트부(160)를 제1 방향으로 슬라이드 이동시킬 때, 테스트부(160) 전체를 슬라이드 이동시키는 것보다, 테스트부(160)를 2 분할된 상태로 각각 슬라이드 이동시키는 것이 더 수월할 수 있기 때문이다. 게다가, 테스트부(160) 전체가 제1 방향을 따라 좌측 또는 우측으로 슬라이드 이동하는 것보다, 테스트부(160)가 2 분할되어 각각 반대 방향으로 슬라이드 이동하는 것이 테스트부(160)의 슬라이드 이동을 위한 공간 확보 측면에서도 유리할 수 있기 때문이다. 이처럼 본 실시예에 따르면, 테스트부가 교환부에 대해 수평 회전하여 교환부와의 사이를 개방하는 종래의 구조에 비해, 테스트부(160)의 이동을 위한 공간을 최소화할 수 있게 된다.

이러한 테스트부(160)는 테스트 챔버(162)와 제열/제냉 챔버(165) 사이를 경계로 하여 2 분할되는 것이 바람직하다. 가열/냉각 챔버(161)와 테스트 챔버(162)는 전자부품에 온도 응력을 부여하기 위해 동일한 온도 환경을 조성하는 반면, 제열/제냉 챔버(165)는 전자부품에 온도 응력을 제거하기 위해 가열/냉각 챔버(161) 및 테스트 챔버(162)와 다른 온도 환경을 조성하는 차이가 있기 때문이다. 그러나, 이에 반드시 한정되지는 않는다.

상기 테스트부(160)는 제1 방향과 직교하는 제2 방향(도면을 기준으로 하면 y축 방향에 해당함)을 따라 슬라이드 이동할 수 있게 되어 교환부(130)로부터 이격 가능하게 된 것이 바람직하다. 이는 테스트부(160)와 교환부(130) 사이의 고정 상태를 해제할 수 있도록 하기 위함이다.

즉, 테스트부(160)는 도 3에 도시된 바와 같이 교환부(130)와의 사이를 폐쇄하도록 위치한 상태에서 그 상태를 유지할 수 있도록, 고정 수단에 의해 교환 부(130)에 고정될 수 있다. 예컨대, 테스트부(160)와 교환부(130) 사이의 맞닿는 부위에서, 테스트부(160)에 고정 돌기(181)가 형성되고, 교환부(130)에 고정 홈(182)이 형성되어 고정 돌기(181)가 고정 홈(182)에 끼워짐으로써, 테스트부(160)와 교환부(130) 사이가 고정될 수 있다. 이 경우, 고정 돌기(181)가 고정 홈(182)으로부터 이탈할 수 있을 정도로, 테스트부(160)를 제2 방향으로 슬라이드 이동시키게 되면, 테스트부(160)의 고정 상태가 해제될 수 있는 것이다. 이러한 상태에서, 도 5에 도시된 바와 같이 테스트부(160)를 제1 방향으로 슬라이드 이동시키게 되면, 테스트부(160)와 교환부(130) 사이가 개방될 수 있다.

상기 테스트부(160)는 작업자가 제2 방향으로 원활하게 슬라이드 이동시킬 수 있도록 제2 가이드 수단(176)이 마련되는 것이 바람직하다. 상기 제2 가이드 수단(176)은 제2 스테이지(177)와, 적어도 한 쌍의 제2 LM 가이드(178)들을 포함하여 구성될 수 있다.

상기 제2 스테이지(177)는 교환부(130) 측에 체결되거나 일체로 형성됨으로써 위치 고정된다. 상기 제2 LM 가이드(178)들은 제2 스테이지(177)의 상부에 제2 방향을 따라 연장되게 설치된다. 그리고, 제2 LM 가이드(178)들은 제1 스테이지(172)의 제2 방향에 따른 슬라이드 이동을 지지할 수 있게 제1 스테이지(172)와 슬라이드 결합함으로써, 궁극적으로 테스트부(160)가 제2 방향으로 슬라이드 이동하는 것을 지지할 수 있게 한다. 한편, 상기 테스트부(160)는 통상적인 리니어 액추에이터에 의해 자동으로 제2 방향을 따라 슬라이드 이동하게 된 것도 가능하다.

한편, 도 3 내지 도 5에는 제1, 2 가이드 수단(171, 176)이 테스트부 외측으 로 돌출되도록 연장 형성되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니다. 즉, 제1, 2 가이드 수단(171, 176)이 테스트부 내측에 LM 가이드 형태나, 바퀴 등의 형태로 배치되어 있을 수도 있다.

상술한 바와 같이 테스트부(160)가 슬라이드 이동하여 테스트부(160)와 교환부(130) 사이가 개방되면, 테스트부(160)의 내측에 각종 전기적인 배선이나 전기 장치가 노출될 수 있을 뿐 아니라, 교환부(130) 측에 마련된 각종 장치들이 노출될 수 있다. 따라서, 작업자는 핸들러(100)의 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등의 작업을 편리하게 수행할 수 있게 되는 것이다.

상기와 같이 구성된 전자부품 테스트용 핸들러(100)의 동작 과정을 일 예로 설명하면 다음과 같다.

작업자가 테스트할 전자부품들이 수납된 고객용 트레이들을 로딩 스택커(110)에 적재한 후 핸들러(100)의 동작을 개시하면, 제1 로딩/언로딩 픽커(141)는 로딩 스택커(110)의 고객용 트레이에 수납된 전자부품들을 로딩측 버퍼부(137)로 이송한다. 이어서, 제1 단축 픽커(146)는 로딩측 버퍼부(137)로 이송된 전자부품들을 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 장착한다. 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 테스트할 전자부품들이 모두 장착되면, 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 세운 후, 테스트부(160)의 가열/냉각 챔버(161)로 전달한다.

그 다음, 가열/냉각 챔버(161)는 테스트 트레이(T)의 전자부품들을 테스트하고자 하는 온도로 가열 또는 냉각시킨 후, 테스트 챔버(162)로 전달한다. 그러면, 테스트 챔버(162)는 가열 또는 냉각된 전자부품들을 테스트 보드(163)의 테스트 소 켓에 접속시켜 외부의 테스트 장비에 의해 테스트가 수행될 수 있게 한다. 이렇게 테스트 챔버(162)에서 전자부품들을 테스트한 후, 제열/제냉 챔버(165)로 전달한다. 제열/제냉 챔버(165)는 테스트 완료된 전자부품들을 상온 상태로 되돌린 후, 테스트 트레이(T)에 장착한 채로 로테이터(153)로 전달한다. 테스트 트레이(T)를 전달받은 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 눕힌 후, 교환부(130)로 이송한다. 그러면, 제2 단축 픽커(147)는 테스트 완료된 전자부품을 테스트 트레이(T)에서 언로딩측 버퍼부(138)로 이송한다. 이어서, 제2 로딩/언로딩 픽커(142)는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 언로딩 스택커(120)의 고객용 트레이에 수납한다.

전술한 바와 같이, 전자부품을 테스트하고, 그 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하도록 핸들러(100)가 동작하는 과정에서, 고장 등과 같은 문제가 발생하게 되면, 작업자는 핸들러(100)의 동작을 정지시킨 후, 다음과 같이 핸들러(100)의 내부를 개방시켜 점검을 할 수 있게 된다.

즉, 작업자는 도 4에 도시된 바와 같이, 테스트부(160)가 교환부(130)에 고정된 상태가 해제되게 테스트부(160)를 제2 방향으로 슬라이드 이동시킨 다음, 도 5에 도시된 바와 같이, 2 분할된 테스트부(160)가 제1 방향으로 상호 이격되게 2 분할된 테스트부(160)를 각각 슬라이드 이동시킨다. 이때, 작업자는 테스트부(160) 및 교환부(130)의 내측이 충분히 개방될 수 있게 2 분할된 테스트부(160) 사이가 제1 방향으로 슬라이드 이동시킴으로써, 고장 등의 점검을 손쉽게 할 수 있는 것이다. 한편, 핸들러(100)의 정기적인 정비가 필요한 경우에도, 작업자는 전 술한 과정에 의해 테스트부(160)와 교환부(130) 사이를 개방시킴으로써 정비를 수행할 수 있게 된다.

상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 테스트부가 교환부에 대해 평행하게 슬라이드 이동하여 교환부와의 사이를 개방할 수 있게 되므로, 테스트부가 교환부에 대해 수평 회전하여 교환부와의 사이를 개방하는 구조에 비해, 테스트부의 이동을 위한 공간을 최소화할 수 있다.

그리고, 본 발명에 따르면, 테스트부가 2 분할된 상태로 상호 이격되게 슬라이드 이동하여 교환부와의 사이를 개방할 수도 있으므로, 테스트부 전체를 수평 회전시키는 것에 비해, 테스트부와 교환부 사이를 더 수월하게 개방할 수 있다. 게다가, 테스트부가 2 분할되어 각각 반대 방향으로 슬라이드 이동할 수 있게 되므로, 테스트부의 슬라이드 이동을 위한 공간 확보 측면에서도 유리할 수 있다. 따라서, 작업자는 핸들러의 고장 발생시 점검이나 정기적인 정비 등의 작업을 편리하게 수행할 수 있는 효과가 있게 된다.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims

테스트할 전자부품을 로딩 스택커로부터 공급받아서 테스트 트레이에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품을 테스트 트레이로부터 분리하여 언로딩 스택커로 반출하는 작업이 이루어지는 교환부;

상기 교환부의 일 측에서 상기 교환부로부터 공급된 테스트 트레이의 전자부품을 테스트하는 것으로, 상기 교환부에 평행한 제1 방향으로 슬라이드 이동할 수 있게 되어 상기 교환부로부터 멀어짐에 따라 상기 교환부와의 사이를 개방할 수 있게 된 테스트부;

상기 로딩 스택커 및 언로딩 스택커와 상기 교환부 간에 전자부품을 이송하고 테스트 트레이에 전자부품을 장착 및 분리하는 전자부품 픽커; 및

상기 교환부와 상기 테스트부 간에 테스트 트레이를 이송하는 트레이 이송유닛을 구비하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 1항에 있어서,

상기 테스트부는 상기 제1 방향을 따라 상호 이격 가능하게 2 분할된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 2항에 있어서,

상기 테스트부는:

상기 교환부로부터 공급된 테스트 트레이의 전자부품에 고온 또는 저온의 온도 응력을 부여하는 가열/냉각 챔버;

상기 가열/냉각 챔버에 의해 온도 응력이 부여된 전자부품을 테스트 보드와 전기적으로 접속시켜 테스트하는 테스트 챔버; 및

상기 테스트 챔버로부터 테스트 완료된 전자부품에 온도 응력을 제거하는 제열/제냉 챔버를 구비하고,

상기 테스트부는 상기 테스트 챔버와 상기 제열/제냉 챔버 사이를 경계로 하여 2 분할된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 1항 내지 제 3항 중 어느 하나의 항에 있어서,

상기 테스트부는 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향을 따라 슬라이드 이동할 수 있게 되어 상기 교환부로부터 이격 가능하게 된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.