CN113798215B - 电子部件测试用分选系统和电子部件安置用适配器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种电子部件测试用分选系统和电子部件安置用适配器。根据本发明的电子部件测试用分选系统配备有能够安置多样的规格的电子部件的适配器。根据本发明，可以在无单独的部件更换的情况下同时处理多样的规格的电子部件，因此扩展了使用性并提高了运行率。

Description

电子部件测试用分选系统和电子部件安置用适配器
技术领域
本发明涉及一种支持电子部件的测试的分选系统，尤其，涉及一种用于支持安装有多种电子元件的大型电子部件(如固态硬盘(SSD)等)的测试的分选系统。
背景技术
所生产的电子部件(例如，半导体元件、基板、固态硬盘(SSD)等)被测试器测试后划分为合格品和不良品，且只有合格品出厂。
电子部件需要与测试器电连接才能进行测试，此时，通过使电子部件与测试器电连接来支持电子部件的测试的设备为分选系统。
随着新的电子部件的开发，分选系统与其一同被提出及制造，并且，为了稳定化，正在进行多样的后续开发。
近年来，作为搭载有多个电子元件的大型电子部件的固态硬盘(SSD：Solid StateDrive)的普及正在扩大。
由于初期对SSD的需求较少而仅生产少量SSD时，通过手工作业将SSD直接电连接于测试器并解除其连接，但是随着其需求剧增，难以支持通过手工作业的测试。
但是，由于SSD的厚度、结构及重量等与现有的电子部件不同，因而无法直接应用现有的分选系统，因此，开发出适合支持固态硬盘等大型电子部件的测试的分选系统，并已在韩国公开专利10-2019-0050483号及10-2019-0061291号中提出。
另外，对于固态硬盘而言，其可以根据所搭载的电子元件的种类或其专用用途等而具有多样的规格，因此，要求一种用于支持这些多种规格的电子部件的测试的分选系统。但是，由于分选系统价格昂贵且其规模较大，因此，考虑到生产费用及设置场所等问题，预计要求一种能够在一个分选系统中完成具有多样的规格的电子部件的测试的技术。
另外，为了测试规格分别不同的电子部件，需要更换符合对应电子部件的规格的部件，即使不需要更换部件，也要求用于供应新的电子部件的休止时间。据此，由于对分选系统和测试器的运行率有损害，并且会发生繁杂的人力损失，因此，预计还存在对于在分选系统的1周期内的运行或连续的运行时也不需要额外的休止时间的分选系统的要求。
并且，对作为现有的小品种大量生产产品的半导体元件而言，采用如下方式：配备可装载数百个以上的半导体元件的测试托盘，并利用抓持器直接抓持半导体元件并将其插入于测试托盘的插入部。在这种系统中，由于在插入部中也固定半导体元件的精确位置，并且在与测试器的连接过程中也固定半导体元件的精确位置，因此，即使精确程度较差也没有问题。但是，与应用装置的多样性相对应地，包括半导体元件的电子部件呈现出逐渐多品种少量生产化的趋势，并且发生需经过多个种类的测试的情况，但是由于并非所有测试器的测试插座都存在于同一位置，因此，需要按电子部件的种类或测试器的种类来制造高价的测试托盘并配备，与此相匹配的分选系统。已经通过先前的研究发现了若不考虑这一问题而在利用抓持器直接抓持电子部件的状态下将电子部件连接到测试插座，则存在相当大的问题。例如，电子部件具有与多样的种类一样的多样的长度和宽度，并且，在其制造特性上，即使是同一类型的电子部件，由于存在加工误差等，也难以以100％一致的尺寸制造。但是，若不考虑这种状况而使用抓持器抓持电子部件，则电子部件可能由于不能被适当地抓持而消失，或者由于过大的压力而被破损。当然，发现了如下缺点：即使将抓持器调节成很好地抓持电子部件，也会根据抓持电子部件的哪一个部分和抓持电子部件的强度是多少而发生诸如电子部件被抓持的同时被扭曲或旋转的情况，从而由抓持器抓持的电子部件难以精确地接触于测试插座。为了改善这一问题，驱动部需要能够进行精确控制，且需要与所有电子部件相对应，因此，驱动轴也需要非常长。并且，为了防止破损或扭曲、不需要的旋转，具有使用能够按情况控制扭矩的高价的马达的必要性。但是，这一点由于随着设备的增大化而要求高成本，因此没有实效性。并且，还需要实现用于设定借由抓持器的针对电子部件的准确的抓持位置等的自动示教，从而实现精确的接触，但是这实际上是需要巨大的成本和技术力的部分。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种能够稳定地支持对于诸如固态硬盘(SSD)等的大型且具有多样的规格的电子部件的测试的通用的分选系统，尤其，提供一种能够最优化于可通过使每一个电子部件分别单独地插入于测试插座的狭缝来电连接到测试插座的技术的分选系统。
并且，本发明的目的在于，提供一种分选系统或测试器不需要为了测试彼此不同的规格的电子部件而具有休止时间的分选系统。
更进一步，本发明的目的在于，提供一种即使在电子部件的宽度和长度改变或测试器插座的位置改变的情况下也可以实现电子部件与测试器之间的精确接触并不损坏电子部件的分选系统。
根据本发明的一种电子部件测试用分选系统包括：分选机，向测试器供应待测试的电子部件或者从测试器回收测试结束的电子部件；堆叠器，为了向所述分选机供应装载有待测试的电子部件的客户托盘或者从所述分选机回收装载有测试结束的电子部件的客户托盘而配备；以及移送装置，在所述分选机与所述堆叠器之间移送客户托盘，其中，所述分选机包括：适配器，能够装载一个电子部件，并且能够调节电子部件安置宽度，以能够安置多样的规格的电子部件；至少一个移动手，使待测试的电子部件由从所述堆叠器来到供应位置的客户托盘移动到位于设定位置的所述适配器，或者将测试结束的电子部件由位于所述设定位置的所述适配器移动到位于回收位置的客户托盘；开放器，开放所述适配器，使得所述移动手能够将电子部件装载到所述适配器或者从所述适配器卸载电子部件；以及测试手，在抓持所述适配器而移动之后，在抓持所述适配器的状态下将装载于所述适配器的电子部件电连接于测试器，以使电子部件能够被测试。
根据本发明的电子部件测试用分选系统还可以包括：能够使所述适配器旋转，以使装载于所述适配器的电子部件从水平状态竖立为垂直状态，或者从垂直状态平放为水平状态。
根据本发明的电子部件测试用分选系统还可以包括：移动器，将所述适配器从所述设定位置移动到所述测试手能够抓持的抓持位置，其中，优选地，所述测试手在所述抓持位置抓持所述适配器，所述抓持位置比所述设定位置更靠近测试器。
所述适配器包括：一对抓持部件，为了抓持电子部件的两端而能够向相互之间靠近或远离的方向进行直线移动；以及弹性部件，在所述一对抓持部件之间的间隔通过借由所述开放器施加的外力而变宽之后，当借由所述开放器的外力被去除时，施加弹性力，使得所述一对抓持部件之间的间隔变窄。
在所述抓持部件形成有：引导槽，在电子部件借由所述测试手而移动的同时与测试器电连接的过程中引导电子部件的移动。
所述测试手包括：抓持要素，抓持所述适配器或解除抓持；水平移动要素，使所述抓持要素沿水平方向移动；垂直移动要素，使所述抓持要素沿垂直方向移动；开放要素，开放所述适配器，使得电子部件能够被所述适配器支撑而移动；以及连接要素，将借由所述开放要素的操作而能够移动的电子部件推向测试器侧，以使电子部件电连接于测试器。
根据本发明的一种电子部件安置用适配器包括：一对抓持部件，为了抓持电子部件的两端而能够向相互之间靠近或远离的方向进行直线移动；以及弹性部件，在所述一对抓持部件之间的间隔借由外力而变宽之后，当外力被去除时施加弹性力，使得所述一对抓持部件之间的间隔变窄。
在所述抓持部件形成有：引导槽，在电子部件移动的同时与测试器电连接的过程中引导电子部件的移动。
根据本发明，具有如下效果。
第一、即使不伴随部件更换等作业，分选系统自身也可以针对多样的规格(宽度、长度、种类)的电子部件进行包括加工误差在内的测试。尤其，适配器的安置部位是在前后方向上开放的形态，并且即使移动手抓持适配器的任意部位或解除抓持，也能够在测试手改变位置，因而不成问题，因此，在长度方面，容纳的幅度尤其宽泛。
第二、由于不同规格的电子部件也可以连续地被测试，因此扩展了可用性并提高了运行率。
第三、在需要经过测试插座(狭缝)的位置或排列不同的所有测试器的情况下也可进行所有相应的应对。
第四、薄膜的强度较弱的电子部件也可以无破损地与测试器精密地连接。
第五、能够应对通过控制扭矩也无法消除扭曲的电子部件。
第六、由于是测试手抓持安置有电子部件的适配器，在适配器中设置有校准孔，并且在测试器侧设置有校准销，从而校准适配器与测试器之间的相互位置的结构，因此，由于通过与校准销的匹配而移动适配器而不是移动电子部件，因此可以在无电子部件的破损或扭曲的情况下实现电子部件与测试器之间的精确的连接。
第七、由于测试手没有用于旋转电子部件的旋转器或长度较长的马达轴，因此测试手非常轻，可稳定运行，且体积也小，还可防止设备的增大化。
附图说明
图1是用于说明电子部件与测试器之间的电连接结构的参照图。
图2是根据本发明的一实施例的电子部件测试用分选系统的概念性的结构图。
图3是关于图2的分选系统的示意性的立体图。
图4是关于应用于图2的分选系统的分选机的示意性的平面图。
图5是关于图4的分选机的主要部位的摘取立体图。
图6是关于应用于图4的分选机的适配器的示意性的立体图。
图7是关于图6的适配器的分解立体图。
图8是用于说明图6的适配器的操作状态的参照图。
图9是关于应用于图4的分选机的搁置器的示意性的立体图。
图10是关于应用于图4的分选机的测试手的示意性的立体图。
图11是关于在图10的测试手中构成的抓持要素的摘取图。
图12是关于在图10的测试手中构成的开放要素的摘取图。
图13是关于在图10的测试手中构成的连接要素的摘取图。
图14是关于应用于图2的分选系统的堆叠器的概念性的立体图。
图15是关于应用于图2的分选系统的移送装置的示意性的立体图。
图16是关于应用于图15的移送装置的供应器的示意性的立体图。
图17是关于应用于图15的移送装置的供应用升降器的示意性的立体图。
图18是关于应用于图15的移送装置的传送器的示意性的立体图。
图19是用于说明图2的分选系统的扩展例的参照图。
图20是根据本发明的变形例的电子部件测试用分选系统的示意性的平面图。
附图标记说明：
HS：电子部件测试用分选系统 100：分选机
110：适配器 111a、111b：抓持部件
GG：引导槽 113：第一弹性部件
130：移动手 140：开放器
150：旋转器 160：移动器
170：测试手 171：抓持要素
172a、172b：水平移动要素 173：垂直移动要素
174：开放要素 175：连接要素
200：堆叠器 300：移送装置
具体实施方式
参照附图对根据本发明的优选实施例进行说明，为了简洁的说明，尽可能省略或压缩对重复或实质上相同的构成的说明。
<关于电子部件与测试器的电连接的说明>
根据本发明的电子部件测试用分选系统(以下简称为“分选系统”)更适合应用于诸如固态硬盘(SSD)之类的采用电子部件的接触端子侧部位插入于测试器的测试狭缝的方式的情况。
例如，如图1所示，测试器TESTER配备有测试狭缝S，电子部件ED的端子T侧部位插入于该测试狭缝S，从而电子部件ED与测试器TESTER电连接。
<关于分选系统的构成的示意性的说明>
图2是关于根据本发明的一实施例的电子部件测试用分选系统HS(以下简称为“分选系统”)的示意性的平面图，图3是关于图2的分选系统HS的示意性的立体图。
根据本实施例的分选系统HS包括分选机100、堆叠器200以及移送装置300。
分选机100向测试器TESTER供应需要测试的电子部件ED，或者从测试器TESTER回收测试结束的电子部件ED。
堆叠器200为了向分选机100供应装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT，或者从分选机100回收装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT而配备。
移送装置300在分选机100与堆叠器200之间移送客户托盘CT。即，装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT可以借由移送装置300而从堆叠器200被移送到分选机100，并且装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT可以借由移送装置300而从分选机100移送到堆叠器200。
以下，划分目录对各个构成进行说明。
<关于分选机的说明>
本发明的主要特征在于分选系统HS中的分选机100。图4是关于应用于图2的分选系统HS的分选机100的示意性的平面图，图5是从图4的分选机100中单独摘取主要构成部位I的摘取图。
如图4及图5所示，分选机100包括适配器110、搁置器120、移动手130、开放器140、旋转器150、移动器160及测试手170。
适配器110可以安置并固定有一个电子部件ED，并具有可调节安置宽度的结构，以能够在无需额外的构成的变更的情况下安置多样的规格的电子部件ED。为此，如图6的摘取立体图及图7的分解图所示，适配器110包括一对抓持部件111a、111b、调节部件112、第一弹性弹簧113、第二弹性弹簧114及框架115。
一对抓持部安置多样的规格的电子部件ED件111a、111b为了抓持电子部件ED的左右两端而配备，并且配备为沿相互之间靠近或远离的方向被框架115中的引导杆GB引导而进行左右直线移动。在这种一对抓持部件111a、111b，分别在彼此面对的面形成有两个调节槽CG，并且在调节槽CG的上侧部位沿前后方向较长地形成有引导槽GG。在此，调节槽CG为了调节形成于两个抓持部件111a、111b之间的电子部件ED的安置宽度W而形成，形成为其深度从前方到后方逐渐变浅。并且，引导槽GG兼具引导电子部件ED的前进后退移动的功能和电子部件ED的左右两端被插入而使电子部件ED稳定地被适配器110抓持的作为抓持槽的功能。
调节部件112可以沿前后方向进退，在向后方移动时，起到加宽一对抓持部件111a、111b之间的间隔的作用。为了执行其作用，调节部件112包括四个辊R、设置结构物112a、推板112b及传递杆112c。
辊R在左右两侧分别配备有两个，并与形成调节槽CG的面相接触。
设置结构物112a为了设置四个辊R而配备。即，4个辊R以能够以Z轴(垂直轴)为旋转轴进行旋转的方式设置于设置结构物112a。
推板112b受到由开放器140施加的向后方推动的力。
传递杆112c的前端固定结合于推板112b且后端固定结合于设置结构物112a，从而将输入到推板112b的开放器140的推力传递到设置结构物112a。
第一弹性弹簧113的一侧与框架115相接触、另一侧与抓持部件111a、111b相接触，并且作为施加使一对抓持部件111a、111b向彼此靠近的方向移动的弹性力的弹性部件而配备。即，安装有辊R的调节部件112执行扩大两个抓持部件111a、111b之间的间隔的功能，第一弹性弹簧113执行缩小两个抓持部件111a、111b之间的间隔的功能。
第二弹性弹簧114作为用于施加向前方推动调节部件112的弹性力的弹性部件而配备。即，若去除后述的开放器140向后方推动调节部件112的力，则第二弹性弹簧114借助弹性力向前方推动调节部件112，从而使调节部件112前进。
框架115为了设置并支撑抓持部件111a、111b、调节部件112、第一弹性弹簧113、第二弹性弹簧114等而配备。这种框架115中可以形成有用于电子部件ED与测试器TESTER之间的匹配的校准孔(将后述)。
继而，对适配器110的操作进行说明。
当开放器140对推板112b施加向后方推动的力时，调节部件112向后方移动。此时，由于辊R与形成越朝向后方深度越浅的调节槽CG的面相接触，因此辊R的后退力转换为向左右方向推动两个抓持部件111a、111b的力，从而两个抓持部件111a、111b之间的间隔变宽。通过这种方式，在两个抓持部件111a、111b之间的间隔最大程度变宽的状态下，可以借由移动手130而安置电子部件ED或引出已被安置的电子部件ED。并且，若去除由开放器140而施加的力，则调节部件112借由第二弹性弹簧114的弹性力而前进，并且两个抓持部件111a、111b之间的间隔借由第一弹性弹簧113的弹性力而变窄。这样，由于可安置电子部件ED的安置宽度W可以在两个抓持部件111a、111b之间的最大间隔与最小间隔之间的预定范围内调节，因此，具有在该范围内的左右宽度的多样的规格的电子部件ED都可以稳定地装载于适配器110。作为参考，夸大并概念性地示出的图8的(a)、(b)、(c)示出了具有多样的安置宽度W1、W2、W3的规格的电子部件ED装载并固定于适配器110的状态。在此，安置宽度W在第一弹性弹簧113可对应于电子部件ED的大小的范围内对应，因此，电子部件ED稳定地被适配器110抓持，后述的测试手170只要以使适配器110不会消失的方式强力地抓持相同的高度即可，从而测试手170的抓持及运行范围的问题或负荷将减小。
搁置器120为了固定并搁置适配器110而配备，如参照图9的(a)及(b)的摘取图所示，包括一对固定部件121a、121b、驱动源122及一对传递要素123。
一对固定部件121a、121b的间隔沿左右方向变宽或变窄，从而可以固定适配器110或解除固定。即，当固定部件121a、121b在受到导轨GR的引导的同时沿左右方向进行直线移动，从而固定部件121a、121b之间的间隔变宽时，适配器110处于搁置于搁置器120或可从搁置器120脱离的状态，当固定部件121a、121b之间的间隔变窄时，适配器110处于被搁置器120约束的状态。
驱动源122供应用于调节一对固定部件121a、121b之间的间隔的驱动力，在本实施例中，驱动源122配备为气缸。
传递要素123a、123b将由驱动源122施加的驱动力传递到一对固定部件121a、121b。在本实施例中，采取了在传递要素123a、123b旋转的同时将驱动源122(即，气缸)的前进力和后退力转换为固定部件121a、121b的左右移动力来传递的结构，但是根据实施方式，可以进行多样的变形。
作为参考，如下所述，搁置器120被采用为采取使适配器110从设定位置SP到抓持位置GP之间移动并旋转的结构的构成。但是，根据实施方式，在不需要适配器110的旋转等的情况下，也可以省略。
移动手130将待测试的电子部件ED从由堆叠器200来到供应位置FP的客户托盘CT移动到位于设定位置SP的适配器110，或者将测试结束的电子部件ED从位于设定位置SP的适配器110移动到位于回收位置RP的客户托盘CT。这种移动手130借由真空吸附来抓持电子部件ED，由于具有多个拾取器，因此实现为在多个位置选择性地吸附并抓持电子部件ED。与这种移动手130相关的技术详细记载于作为本申请人的在先申请的韩国申请号10-2020-0019380中，因此在本说明书中省略其详细说明。
开放器140开放位于设定位置SP的适配器110，使得移动手130可以将电子部件ED装载到适配器110或从适配器卸载电子部件ED。即，在不受外力的状态下，适配器110的两个抓持部件111a、111b借由第一弹性弹簧113的弹性力而以彼此间的间隔最小化的状态关闭，而开放器140通过调节部件112施加使两个抓持部件111a、111b之间的间隔变宽的外力。这种开放器140可以实现为多样的形态，在本实施例中利用作为操作源的气缸141和推动器142构成。
气缸141使推动器142沿前后方向进退，推动器142在后退时与推板112b相接触并向后方推动调节部件112。据此，如上所述，在调节部件112被推向后方的同时两个抓持部件111a、111b之间的间隔变宽。当然，若推动器142前进，则外力从推板112b去除，因此，调节部件112借由第二弹性弹簧114的弹性力而向前方前进。
旋转器150使搁置器120旋转并最终使适配器110旋转，从而使装载于适配器110的电子部件ED从水平状态竖立到垂直状态。借由这种旋转器150，电子部件ED垂直竖立，从而电子部件ED的接触端子T侧部位处于可以适当地插入到测试狭缝S的状态。当然，旋转器150后续还会起到通过使装载有测试结束的电子部件ED的适配器110逆向旋转来使垂直状态的电子部件ED转换为水平状态的作用。作为参考，在电子部件ED在水平状态下电连接于测试器TESTER的情况(例如，测试狭缝沿水平方向较长地形成的情况)下，旋转器150可以不执行其功能，或者可以省略旋转器150的构成。
移动器160将搁置器120从设定位置SP移动到测试手170可抓持的抓持位置GP，最终将适配器110从设定位置SP移动到测试手170可抓持的抓持位置GP。如此，通过移动器160将适配器110从设定位置SP移动到抓持位置GP的原因是为了使移动手130和测试手170的操作区间彼此不重叠，从而实现平稳和快速的作业，更进一步，是为了使测试手170可以快速移动适配器110。因此，优选地，抓持位置GP比设定位置SP更靠近测试器TESTER。
测试手170在抓持位置GP处抓持适配器110之后使适配器110移动，从而将电子部件ED的接触端子T侧部位插入到测试狭缝S，当针对电子部件ED的测试结束时，从测试狭缝S引出电子部件ED，之后将装载有测试结束的电子部件ED的适配器110再次移动到抓持位置GP。为此，如图10的摘取图所示，测试手170包括抓持要素171、水平移动要素172a、172b、垂直移动要素173、开放要素174及连接要素175。
抓持要素171为了抓持适配器110或解除抓持而配备，为此，如参照图11的摘取图所示，具有借由驱动源171b的驱动力而使彼此间的间隔变宽或变窄，从而能够抓持适配器110或解除抓持的一对抓持部件171a-1、171a-2。
水平移动要素172a、172b使抓持要素171沿水平方向(即，左右方向及前后方向)移动，从而使适配器110能够移动到多个测试狭缝S中当前空置的测试狭缝S侧。
垂直移动要素173使抓持要素171沿垂直方向移动，从而使抓持要素171能够抓持位于抓持位置GP的适配器110，或者使被抓持的适配器110能够上升至测试所需的高度，且也能够进行与其相反的操作。
开放要素174在电子部件ED能够维持在适配器110的程度的限度内稍微开放适配器110。为此，如图12的摘取图所示，开放要素174具有可借由驱动源174b而进行前进、后退的推动器174a。在此，推动器174a在抓持要素171抓持适配器110的状态下稍微推动推板112b来开放适配器110，从而使电子部件ED处于在维持在适配器110的状态下可向前方或后方移动的状态。即，配备于测试手170的开放要素174仅以电子部件ED不脱离适配器110的状态下能够向前后方向移动的程度开放适配器110。因此，电子部件ED可以在仍然装载于适配器110的状态下通过引导槽GG的引导而向前后方向移动。
在连接要素175中，借由操作源175b而进退的推动器175a向后方推动电子部件ED，使得电子部件ED的接触端子T侧部位可以插入到测试狭缝S。在此，由于电子部件ED借由连接要素175而插入到测试狭缝S，因此，即使移动手130在前后方向上的安置精确程度稍微降低，只要电子部件ED在一定范围内安置于适配器110即可。并且，若调节连接要素175的前进、后退距离，则前后长度较短的电子部件ED或前后长度相对长的电子部件ED都可以向适配器110的外部暴露电子部件ED的端子部位。这种连接要素175的构成及操作也可以通过图13的摘取图来充分被理解。
另外，本发明的一大优点在于，在连接电子部件ED和测试器TESTER的过程中稍微开放适配器110，并在适配器110的引导槽GG中使电子部件ED滑动移动来使电子部件ED暴露于适配器110的外部，从而能够使电子部件ED处于可插入到测试狭缝S的状态。即，在本发明中，适配器110的引导槽GG执行两种功能，对此将进行附加说明。
第一种是抓持功能。在安置于适配器的电子部件ED为薄板的情况下，可能存在弯曲或扭曲等的问题。因此，施加用于抓持电子部件ED的抓持力的第一弹性弹簧113应具有能够以尽可能较弱的程度对电子部件加压的弹性系数。因此，关于电子部件ED的抓持的稳定性可能会成为问题，因此由引导槽GG来加强这一点。
第二种是引导功能。为了将电子部件ED插入到测试狭缝S，需将电子部件ED引出至适配器110的外部，此时，引导槽GG引导电子部件ED的移动。
作为参考，当测试结束时，适配器110处于固定电子部件ED的状态，并且抓持适配器110的抓持要素171向前方前进，从而电子部件ED可以从测试狭缝S移除。此时，可优选地考虑配备单独的固定的插入架(未示出)，以使电子部件ED能够准确地插入到适配器110。若是配备有插入架的情况，则在引出电子部件ED之后，将电子部件ED的后端抵接于插入架，并在适配器110稍微开放的状态下，抓持要素171后退，从而使电子部件ED能够正确地插入并安置于适配器110。如此，电子部件ED再次进入适配器110并安置，从而可以保护电子部件ED及其端子。
或者，也可以考虑在测试手170上额外配备具有动力的单独的插入器具，从而实现为将从测试狭缝S引出的电子部件ED适当地安置于适配器110。
<关于堆叠器的说明>
图14是关于堆叠器200的示意性的立体图。
堆叠器200为了将客户托盘CT供应到分选机100或从分选机100回收客户托盘CT而配备。为此，堆叠器200具有三层高度的容纳空间RS。
二层的容纳空间RS2可以用于通过自动化物流装置或作业者而供应或回收每一捆B的客户托盘CT。此时，一捆B的客户托盘CT上端被盖托盘覆盖。
三层的容纳空间RS为了确保容量而配备，并收容来自二层的容纳空间RS的待测试的电子部件ED所在的一捆B的客户托盘CT。然而，三层的容纳空间RS中的一个容纳空间RS可以用于收容盖托盘。
一层的容纳空间RS容纳装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT。
当然，对于上述容纳空间RS的作用可以相互改变，也可以根据测试室(测试工厂)的情况或其系统或需求者的要求而改变为用作客户托盘CT待机的空间或其他所需的多样的空间等。
为了堆叠器200内的客户托盘CT的物流，在左侧的容纳空间RS和右侧的分选机100之间确保了用于客户托盘CT的物流的移动空间MS。并且，在各个容纳空间RS配备有能够使客户托盘CT(或着一捆客户托盘)沿左右方向移动的移动要素210，从而能够使位于容纳空间RS的客户托盘CT向移动空间MS移动，或者使位于移动空间MS的客户托盘CT向容纳空间RS移动。
并且，堆叠器200配备有用于使客户托盘CT在移动空间MS上移动(或者一捆客户托盘)的托盘移动器220。
在托盘移动器220的上侧可以放置有一捆B客户托盘CT，在托盘移动器220的下侧配备有抓持盖托盘或一个客户托盘CT的抓持器221。并且，抓持器221可以沿上下方向及前后方向移动。因此，托盘移动器220可以在移动空间MS上使一捆客户托盘CT或单个客户托盘CT或者盖托盘进行升降移动或水平移动，也可以将单个客户托盘CT供应到移送装置300。当然，托盘移动器220也可以配备成分为用于移动一捆B客户托盘CT的第一移动器和用于移动每一个客户托盘CT或盖托盘的第二移动器。
对如上所述的堆叠器200的操作进行简要说明。
当每一捆客户托盘CT借由自动化设备或其他手动操作而装载到二层的容纳空间RS时，托盘移动器220一次性将每一捆B的客户托盘CT移动到三层的容纳空间RS。据此，自动化设备或作业者可以将每一捆B的客户托盘CT再次移动到二层的容纳空间RS。此时，通过二层的容纳空间RS而由自动化设备或作业者供应的客户托盘CT的捆B可以按各个捆B而装载有彼此不同的规格的电子部件ED。即，根据本发明，由于可以以彼此不同的规格的电子部件ED也能够连续地进行测试作业的方式进行支持，因此，对二层或三层的容纳空间RS而言，在每个容纳空间RS中可以装载有被彼此不同的规格的电子部件ED填充的客户托盘CT。
<关于移送装置的说明>
图15是关于移送装置300的示意性的立体图。
移送装置300位于分选机100的前方，从堆叠器200的托盘移动器220接收装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT并将客户托盘CT移动到移动手130可以抓持电子部件ED的供应位置FP，并且将装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT从回收位置RP返送到堆叠器200。为此，移送装置300配备供310、回收器320、5个供应用升降器331、3个回收用升降器332及传送器340。在这些构成中，供应器310和回收器320位于堆叠器200侧，升降器331、332和传送器340位于分选机100侧。
供应器310为了向传送器340供应从托盘移动器220接收的装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT而配备。如参照图16的摘取图所示，这种供应器配备有可装载客户托盘CT的移动板311，移动板311可以在托盘移动器220操作的区域(堆叠器侧)和传送器340操作的区域(分选机侧)之间往返，因此，可以将从托盘移动器220接收的客户托盘CT供应到传送器340。
回收器320为了回收装载有从传送器340接收的测试结束的电子部件ED的客户托盘CT并将其传送到托盘移动器220而配备。回收器320同样具有与供应器310相同的结构，从而能够将从传送器340接收的客户托盘CT送到托盘移动器220。
如参照图17的摘取图所示，供应线侧的5个供应用升降器331分别具有可放置客户托盘CT的供应用升降板331a。因此，借由传送器340而放置于供应用升降板331a的客户托盘CT可以上升到移动手130能够抓持位于客户托盘CT的电子部件ED的高度。并且，当上升的客户托盘CT被设置于作业板WP的固定器(未图示)而被固定时，供应用升降板331a将会再次下降，因此，供应用升降板331a可以处于不妨碍在作业板WP的下方工作的传送器340的作业的状态。
当结束测试的电子部件ED通过移动手130的作业而全部装载于客户托盘CT时，回收用升降器332使客户托盘CT下降，使得传送器340可以将客户托盘CT移动到回收器320。这种回收用升降器332也具有回收用升降板332a，其结构与供应用升降器331相同。
传送器340将装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT从供应器310移动到供应用升降器331，并将装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT从回收用升降器332移动到回收器320。并且，当放置于供应用升降板331a的客户托盘CT被清空时，传送器340执行将该被清空的客户托盘CT移动到回收用升降板332a，从而能够将测试结束的电子部件ED装载到客户托盘CT的作用。如图18的摘取图所示，如上所述的传送器340具有用于抓持客户托盘CT或解除抓持的一对抓持杆341a、341b。当然，抓持杆341a、341b可以配备为沿左右方向、前后方向和竖直方向移动。
作为参考，在本实施例中，为了客户托盘CT的平稳的物流，分别设置有将装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT从堆叠器200供应到分选机100的供应线和将装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT从分选机100回收到堆叠器200的回收线，但是根据实施方式，可以考虑将供应线和回收线整合为一条线。在这种情况下，供应器310和回收器320整合为一个，供应用升降器331和回收用升降器332也将在左右方向上位于同一条线上并整合而运用。
并且，由于存在传送器340，因此图4的供应位置FP和回收位置RP是任意标记的，根据使用情况，供应位置FP和回收位置RP可以有多样的位置变化。
<关于整体物流的说明>
1.客户托盘随附的物流
当位于容纳空间RS的装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT借由托盘移动器220、供应器310及传送器340而放置于供应用升降板331a时，供应用升降器331使客户托盘CT上升至作业板WP，并且客户托盘CT固定到作业板WP。在这种状态下，当待测试的电子部件ED借由移动手130全部从客户托盘CT被清空时，供应用升降器331使被清空的客户托盘CT下降。
另外，当下降的被清空的客户托盘CT借由传送器340而放置于回收用升降板332a时，回收用升降器332使客户托盘CT上升至作业板WP，并且客户托盘CT固定到作业板WP。并且，当测试完成的电子部件ED借由移动手130而装载到该客户托盘CT时，回收用升降器332使客户托盘CT下降。此后，装载有测试完成的电子部件ED的客户托盘CT借由传送器340、回收器320及托盘移动器220而装载到一层的容纳空间RS。
作为参考，优选地，装载于一层的容纳空间RS的客户托盘CT按测试等级被区分并装载于彼此独立的容纳空间RS。
2.电子部件的独立物流
移动手130从位于供应位置FP的客户托盘CT逐个引出电子部件ED，并将电子部件ED移动到位于设定位置SP的适配器110。此时，适配器110处于开放状态。当客户托盘CT安置于适配器110时，适配器110的开放被解除，从而电子部件ED固定到适配器110。继而，抓持适配器110的搁置器120借由移动器160而从设定位置SP移动到抓持位置GP，并且旋转器150旋转搁置器120，从而最终使电子部件ED竖立。在此，搁置器120的旋转既可以在搁置器120移动前在设定位置SP处进行，也可以在搁置器120移动后在抓持位置GP处进行。此后，测试手170抓持位于抓持位置GP的适配器110并移动后，将电子部件ED的接触端子T侧部位插入到测试狭缝S。并且，当针对电子部件ED的测试结束时，测试手170从测试狭缝S引出电子部件ED，之后将适配器110移动到位于抓持位置GP的搁置器120，当适配器110与搁置器120一起移动到设定位置SP时，测试手170将测试结束的电子部件ED搬到位于回收位置RP的客户托盘CT。此时，各个回收用升降板332a所在的位置为回收位置RP，并且，可以优选地考虑在位于各个回收位置RP的客户托盘CT上按测试等级而分类装载彼此不同的电子部件ED。
<参考事项>
1.按捆识别
根据本发明，客户托盘CT以被盖托盘覆盖的状态以捆(例如，每一捆30张)为单位被供应到容纳空间RS。通常考虑的是，在堆叠于相同捆内而供应的客户托盘CT中可以是相同批次(lot)的电子部件ED或相同规格的电子部件ED，但是堆叠于与该捆不同的捆中的客户托盘CT中可以是不同种类(批次或规格不同)的电子部件ED。即，根据本发明的分选系统HS可以将不同规格的电子部件ED以捆为单位进行区分并装入。
因此，盖托盘上印有能够确认在构成该捆的客户托盘CT中装载的电子部件ED的规格或更进一步确认测试种类等的条形码。并且，与此相对应地，托盘移动器220可以配备有可识别盖托盘的条形码的条形码阅读器。因此，当托盘移动器220移动一捆客户托盘CT时，条形码阅读器可以识别盖托盘的条形码来确认电子部件ED的规格或测试种类，这可以借由控制装置(未示出)而被用作后续的适配器110的开放程度或测试等的控制信息。
2.单独的识别
在放置于供应器310的移动板311上的客户托盘CT从堆叠器200侧移动到分选机100侧的过程中，在堆叠器200与分选机100的边界处可以配备有条形码阅读器。
该条形码读取器可以通过读取在各个电子部件ED上印有的条形码来识别每个电子部件ED，从而可以实现各个电子部件ED的单独履历管理。
3.调整电子部件的位置
在测试手170将电子部件ED插入测试狭缝S的过程中，需要精确地调整电子部件ED与测试狭缝S之间的位置。为此，如图10所示，可以优选地考虑在适配器110中形成匹配孔AH，并且在测试器TESTER中配备插入到匹配孔AH的匹配销AP。在这种情况下，通过将匹配销AP插入到匹配孔AH，可以精确地调整电子部件ED与测试狭缝S的位置。在配备匹配孔AH和匹配销AP的情况下，适配器110需要移动预定程度，因此，在匹配过程中，测试手170需要以弱抓持力抓持适配器110，使得适配器110能够移动，在匹配过程结束之后电子部件ED插入到测试狭缝S的过程中，测试手170需要以强抓持力抓持适配器110，使得适配器110即使在测试器侧的摩擦阻力下也不会移动。
4.关于适配器的补充说明
虽然可以考虑测试手170直接抓持电子部件ED而与测试器TESTER电连接的结构，但由于电子部件ED较薄而可能无法承受测试手170的抓持力。因此，适配器110作为媒介，可以防止测试手170对电子部件ED的损坏，并且可以稳定地支持测试。
另外，可能存在具有超过现有适配器110的最大安置宽度或比最小安置宽度小的宽度的电子部件ED。在这种情况下，以能够仅通过更换适配器110而将针对该电子部件ED的测试也一同支持的方式简单地实现互换。
5.扩大容量
参照图19可知，两台分选机100A、100B并排配备。并且，在第一分选机100A与第二分选机100B之间具有转接器400，从而可以使从堆叠器200经第一分选机100A而来的客户托盘CT移动到第二分选机100B，并使来自第二分选机100B的客户托盘CT移动到第一分选机100A。在此，转接器400可以配备为与供应器310及回收器320相似的结构。
如上所述，根据图19的例，由于利用一个堆叠器200可以负责多台分选机100，因此，尤其在对电子部件ED的测试时间较长的情况下，具有通过增加最少的构成来扩大容量的效果。当然，也可以考虑将来自堆叠器200的装载有彼此不同的种类的电子部件ED的客户托盘CT区分为第一分选机100A和第二分选机100B来进行测试的实用性。
或者，也可以充分考虑如下的情形：在图19的扩展例中，由第一分选机110A支持第一测试，将在第一测试结束的电子部件ED中被确定为良好的电子部件ED发送到第二分选机100B而支持第二测试的形态。
6.变形例
在上述的实施例中，适配器110可以通过移动器160移动至回收位置RP的侧方位置，但是根据图20的变形例，适配器110可以仅移动到回收位置RP的后方。取而代之地，可以增加移动手130的操作区域。相反，可以减小电子部件分选系统HS的整体左右宽度。并且，在供应位置FP与回收位置RP之间存在缓冲区域BS，在缓冲区域BS中配备有可以安置多样的规格的电子部件的安置槽，从而可以实现为使测试失败或需要重新测试的电子部件ED安置于安置槽。
如上所述，通过参照附图的实施例对本发明进行了具体说明，但上述实施例仅对本发明的优选实施例进行了说明，因此不应理解为本发明仅局限于上述实施例，本发明的权利范围应理解为权利要求范围及其等同范围。

Claims (7)

1.一种电子部件测试用分选系统，包括：
分选机，向测试器供应待测试的电子部件或者从测试器回收测试结束的电子部件；
堆叠器，为了向所述分选机供应装载有待测试的电子部件的客户托盘或者从所述分选机回收装载有测试结束的电子部件的客户托盘而配备；以及
移送装置，在所述分选机与所述堆叠器之间移送客户托盘，
其中，所述分选机包括：
适配器，能够装载一个电子部件，并且能够调节电子部件安置宽度，以能够安置多样的规格的电子部件；
至少一个移动手，使待测试的电子部件由从所述堆叠器来到供应位置的客户托盘移动到位于设定位置的所述适配器，或者将测试结束的电子部件由位于所述设定位置的所述适配器移动到位于回收位置的客户托盘；
开放器，开放所述适配器，使得所述移动手能够将电子部件装载到所述适配器或者从所述适配器卸载电子部件；以及
测试手，在抓持所述适配器而移动之后，在抓持所述适配器的状态下将装载于所述适配器的电子部件电连接于测试器，以使电子部件能够被测试，
其中，所述适配器包括：
一对抓持部件，为了抓持电子部件的两端而能够向相互之间靠近或远离的方向进行直线移动；以及
弹性部件，在所述一对抓持部件之间的间隔通过借由所述开放器施加的外力而变宽之后，当借由所述开放器的外力被去除时，施加弹性力，使得所述一对抓持部件之间的间隔变窄，
其中，在所述抓持部件形成有：引导槽，电子部件的左右两端被插入，在电子部件借由所述测试手而移动的同时与测试器电连接的过程中引导电子部件的移动。
2.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选系统，还包括：
旋转器，能够使所述适配器旋转，以使装载于所述适配器的电子部件从水平状态竖立为垂直状态，或者从垂直状态平放为水平状态。
3.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选系统，还包括：
移动器，将所述适配器从所述设定位置移动到所述测试手能够抓持的抓持位置，
其中，所述测试手在所述抓持位置抓持所述适配器，
所述抓持位置比所述设定位置更靠近测试器。
4.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选系统，其中，
所述测试手包括：
抓持要素，抓持所述适配器或解除抓持；
水平移动要素，使所述抓持要素沿水平方向移动；
垂直移动要素，使所述抓持要素沿垂直方向移动；
开放要素，开放所述适配器，使得电子部件能够被所述适配器支撑而移动；以及
连接要素，将借由所述开放要素的操作而能够移动的电子部件推向测试器侧，以使电子部件电连接于测试器。
5.一种电子部件安置用适配器，包括：
一对抓持部件，为了抓持电子部件的两端而能够向相互之间靠近或远离的方向进行直线移动；
弹性部件，在所述一对抓持部件之间的间隔借由外力而变宽之后，当外力被去除时，施加弹性力，使得所述一对抓持部件之间的间隔变窄；以及
调节部件，能够沿前后方向进退，向后方移动时使所述一对抓持部件之间的间隔变宽，
其中，在所述抓持部件形成有：引导槽，电子部件的左右两端被插入，在电子部件在移动的同时与测试器电连接的过程中引导电子部件的移动。
6.根据权利要求5所述的电子部件安置用适配器，其中，
所述一对抓持部件在彼此面对的面形成有用于调节电子部件的安置宽度的两个调节槽，
所述引导槽形成在所述调节槽的上侧。
7.根据权利要求6所述的电子部件安置用适配器，其中，
所述调节部件包括辊，
所述调节槽形成为从前方越朝向后方深度越浅，
随着所述辊接触于形成所述调节槽的面并进行移动，从而调节所述安置宽度。
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