KR100733276B1 - apparatus for inspecting panel display and method for inspecting panel display using the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 소형 디스플레이 패널의 점등 검사를 연속적으로 실시할 수 있는 디스플레이 패널  검사 장비에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 프레임 일측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블과, 프레임의 타측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2워크테이블, 제 1및 제2워크테이블 상부면에 소정거리 이격된 상태에서 이동가능하며, 상기 제1및 제2워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 순차적으로 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함하여 이루어진다.The present invention relates to a display panel inspection equipment capable of continuously conducting lighting inspection of a small display panel. The display panel inspection equipment of the present invention is fixed to one side of the frame and the display panel is mounted on the first worktable, the other side of the frame fixed to the second worktable, the display panel is mounted on the first and second worktable upper surface It is movable in a predetermined distance apart, and comprises a movable probe unit for sequentially inspecting the display panel mounted on the first and second work table.

워크 테이블, 프로브 유닛 Work table, probe unit

Description

디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법{apparatus for inspecting panel display and method for inspecting panel display using the same}Apparatus for inspecting panel display and method for inspecting panel display using the same}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 정면도;1 is a front view of a display panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 평면도;2 is a plan view of a display panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 측면도;3 is a side view of a display panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention;

도 4는 도 1에서 제2검사위치로 이동된 이동식 프로브유닛을 보여주는 도면;4 is a view showing a movable probe unit moved to a second inspection position in FIG.

도 5 내지 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 점등신호 제어기의 구성을 보여주는 구성도이다. 5 to 6 is a configuration diagram showing the configuration of the lighting signal controller of the display panel inspection equipment according to the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

110 : 프레임110: frame

120a : 제1워크 테이블120a: first work table

120b : 제2워크 테이블120b: second work table

122 : 팔레트122: palette

130 : 이동식 프로브 유닛 130: movable probe unit

본 발명은 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소형 디스플레이 패널의 점등 검사를 연속적으로 실시할 수 있는 디스플레이 패널의 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an inspection apparatus for a display panel and a display panel inspection method using the same, and more particularly, to an inspection apparatus for a display panel capable of continuously performing lighting inspection of a small display panel and a display panel inspection method using the same. will be.

일반적으로 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판 디스플레이(flat panel display)는 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer)용 뿐만 아니라 대형 모니터(monitor) 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다. In general, flat panel displays such as liquid crystal displays (TFT-LCDs) are rapidly progressing in size and resolution due to mass production technology and achievements in R & D, resulting in not only notebook computers but also large monitors. It is also developed as an application product and gradually replaces existing cathode ray tube (CRT) products, and its weight in the display industry is gradually increasing.

이와 같은 평판 디스플레이(flat panel display) 장치는 제조라인 최종 단계에서 점등 검사를 수행하게 된다. 점등 검사는 프로브 유닛을 이용해 평판 디스플레이(이하 디스플레이 패널이라고 함)의 데이터라인과 게이트라인 각각의 단선 검사와 색상 검사 그리고 육안 검사 등을 실시하게 된다. Such a flat panel display device performs a lighting test at the final stage of the manufacturing line. The lighting test uses the probe unit to perform disconnection inspection, color inspection, and visual inspection of each data line and gate line of a flat panel display (hereinafter referred to as a display panel).

최근에는 휴대용 전화기에 사용되는 LCD 패널과 같이 소형의 디스플레이 패널의 수요가 급증하고 있으며, 이러한 소형의 디스플레이 패널을 검사할 때마다 공급, 정렬, 접속, 검사 및 추출이 매번 반복적으로 이루어지므로, 작업 및 검사시간이 증가되고 생산성이 저하되는 문제점이 있다. In recent years, the demand for small display panels such as LCD panels used in mobile phones is increasing rapidly, and each time the small display panel is inspected, supply, alignment, connection, inspection and extraction are repeated every time. There is a problem that the inspection time is increased and productivity is lowered.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 장비의 크기를 최소화할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다. 본 발명의 다른 목적은 한번에 복수의 디스플레이 패널들을 검사할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다. 본 발명의 다른 목적은 여러장의 단위 디스플레이 패널이 서로 연결된 스틱 타입의 검사대상물을 검사할 수 있는 새로운 형태의 디스플레이 패널 검사 장비와 이를 이용한 디스플레이 패널 검사 방법을 제공하는데 있다.  The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a new type of display panel inspection equipment and a display panel inspection method using the same that can minimize the size of the equipment. Another object of the present invention is to provide a new type of display panel inspection equipment capable of inspecting a plurality of display panels at once and a display panel inspection method using the same. Another object of the present invention is to provide a new type of display panel inspection equipment and a display panel inspection method using the same, which can inspect a stick type inspection object connected to a plurality of unit display panels.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 프레임 일측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블과, 프레임의 타측에 고정되되 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2워크테이블, 제 1및 제2워크테이블 상부면에 소정거리 이격된 상태에서 이동가능하며, 상기 제1및 제2워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 순차적으로 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함할 수 있다.Display panel inspection equipment of the present invention for achieving the above object is a first worktable fixed to one side of the frame and the display panel is mounted, the second worktable fixed to the other side of the frame, the display panel is mounted, the first and The mobile device may include a movable probe unit that is movable at a predetermined distance from the upper surface of the second work table and sequentially inspects the display panels mounted on the first and second work tables.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 이동식 프로브는 상기 제 1 및 제 2워크테이블 중 어느 한 워크테이블로 이동하도록 상기 프레임의 일면에 설치되는 이동 플레이트; 상기 이동 플레이트에 설치되고, 상기 제1워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들 또는 상기 2 워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록들; 및 상기 이동 플레이트를 상기 제 1 워 크테이블 또는 제 2워크테이블로 이동시키는 구동부를 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the movable probe may include a moving plate installed on one surface of the frame to move to any one of the first and second worktables; Probe blocks mounted on the moving plate and having test tips electrically connected to display panels mounted on the first work table or display panels mounted on the second work table; And a driving unit for moving the moving plate to the first work table or the second work table.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 상기 워크 테이블 후면에는 상기 베이스 플레이트의 전면에 설치된 디스플레이 패널들을 조명하는 백라이트 유닛을 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the display panel inspection equipment may further include a backlight unit for illuminating the display panels installed on the front of the base plate on the back of the work table.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 디스플레이 패널들에 점등신호를 입력하는 점등신호제어기를 더 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the display panel inspection equipment may further include a lighting signal controller for inputting lighting signals to the display panels.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 점등신호제어기는 디스플레이 패널이 발광하도록 점등신호를 발생시키는 점등발생기와, 상기 점등발생기로부터 발생된 점등신호를 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 프로브 블록들로 분배시키는 신호분배기를 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the lighting signal controller may include a lighting generator for generating a lighting signal to emit light of the display panel, and a lighting signal generated from the lighting generator to probe blocks electrically connected to the display panels. It may include a signal splitter.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 점등신호제어기는 상기 신호분배기로부터 각각의 프로브블록들로 연결되는 선로를 선택적으로 단락시키는 제어스위치를 더 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the lighting signal controller may further include a control switch for selectively shorting a line connected to the respective probe blocks from the signal splitter.

본 발명의 디스플레이 패널 검사 방법에 따르면, 프레임상에 고정되는 제1워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제1단계와, 상기 제1워크테이블로 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제2단계와, 상기 디스플레이 패널에 전기적으로 접촉되는 상기 이동식 프로브 유닛에 의하여 상기 제1워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 2워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제3단계와, 상기 제2워크테이블로 상기 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제4단계와, 상기 제 2워크테이블로 로딩된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 1워크테이블상 에서 검사가 완료된 디스플레이 패널을 언로딩하는 제5단계와, 상기 제 1 내지 제5단계들의 검사단계를 순차적으로 반복 시행하는 단계를 포함할 수 있다.According to the display panel inspection method of the present invention, the first step of loading the display panel on the first worktable fixed on the frame, the second step of moving the movable probe unit to the first worktable, and the display panel Inspecting the display panel mounted on the first work table by the movable probe unit in electrical contact with the second work table, and simultaneously loading the display panel on the second work table; A fourth step of moving the unit, a fifth step of unloading the display panel on which the inspection is completed on the first work table while inspecting the display panel loaded into the second work table, and the first to fifth operations; It may include the step of sequentially repeating the inspection step of the steps.

예컨대, 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되는 것으로 해석되어져서는 안 된다.  본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다.  따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.For example, the embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be interpreted as being limited by the embodiments described below. This embodiment is provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of the elements in the drawings and the like are exaggerated to emphasize a clearer description.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 6에 의거하여 상세히 설명한다.  또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 6. In addition, in the drawings, the same reference numerals are denoted together for components that perform the same function.

도 1 내지 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 정면도, 평면도 그리고 측면도이다.1 to 3 are front, plan and side views of the display panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention.

이하, 설명을 간략하게 하고 용이하게 이해할 수 있도록 하기 위해, 검사 장비에 디스플레이 패널과 평행한 면내에서의 좌우방향을 X방향이라고 하고, 그 액정표시패널에 수직인 방향을 Z방향이라고 한다. Hereinafter, in order to simplify description and make it easy to understand, the left-right direction in the plane parallel to a display panel in inspection equipment is called X direction, and the direction perpendicular | vertical to this liquid crystal display panel is called Z direction.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 프로브 유닛(130)을 이용해 소형의 단위 디스플레이 패널(10a) 3개가 서로 연결된 스틱 타입의 검사대상물(이하, 디스플레이 패널;10)의 데이터라인과 게이트라인 각각의 단선 검사와 색상검사 등을 이용한 육안검사를 실시하는 장비이다.  여기서, 검사대상물은 여러 장의 단위 디스플레이 패널(10a)이 서로 연결된 스틱 타입의 디 스플레이 패널(10)들 이외에 하나의 단품 디스플레이 패널로도 구성될 수 있다.  1 to 3, the display panel inspecting apparatus 100 of the present invention includes a stick type inspection object (hereinafter, a display panel) in which three small unit display panels 10a are connected to each other by using a probe unit 130. This equipment is for visual inspection using disconnection inspection and color inspection of each data line and gate line. Here, the inspection object may be configured as a single unit display panel in addition to the stick type display panels 10 in which the unit display panels 10a are connected to each other.

본  발명의 기본적인 의도는 소형 디스플레이 패널(10)들의 연속 검사가 가능하게 하여 생산량 증가를 도모하기 위한 것으로, 이를 달성하기 위하여 본 발명의 검사 장비(100)는 제1검사위치(A;도 2에 도시됨)와 제2검사위치(B;도 2에 도시됨)에 워크 테이블(120a,120b)을 각각 배치하고, 프로브 유닛을 제1검사위치(A)와 제2검사위치(B)를 옮겨가면서 연속적인 검사를 수행할 수 있도록 하는 구조를 갖는데 그 특징이 있다. The basic intention of the present invention is to enable the continuous inspection of the small display panels 10 to increase the production, in order to achieve this, the inspection equipment 100 of the present invention is the first inspection position (A; Work table 120a, 120b at the second inspection position B (shown in FIG. 2), and the probe unit is moved to the first inspection position A and the second inspection position B, respectively. It is characterized by having a structure that allows continuous inspection to be performed over time.

본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 크게 프레임(110)과 제1,2워크 테이블(120a,120b) 그리고 이동식 프로브 유닛(130)을 포함한다. The display panel inspection apparatus 100 of the present invention includes a frame 110, first and second work tables 120a and 120b, and a movable probe unit 130.

프레임(110)은 전방에 대략 60도 각도로 기울어진 경사면부(112)를 갖는다. 이 경사면부(112)에는 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b)이 좌우 양측에 대칭되게 설치된다.  제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b) 각각에는 점등 검사를 위한 디스플레이 패널(10)이 놓여지는 12개의 팔레트(pallet;122)가 설치되어 있으며, 도시하지는 않았지만, 팔레트(122)에는 디스플레이 패널(10)을 안정적으로 고정하기 위한 진공 흡착부와 디스플레이 패널이 놓여지는 위치를 안내하는 가이드 부재 등이 설치될 수 있다. 예컨대, 본 발명에서 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b)에 설치되는 팔레트(122)의 개수는 본 실시예에만 한정되는 것은 아니며, 검사 대상물인 디스플레이 패널(10)의 크기에 따라 그 이상 또는 그 이하의 팔레트(122)가 배치될 수 있는 것이다.  한편, 제1워크 테이블(120a)과 제2워크 테이블(120b) 후방에는 제1,2워크 테이블(120a,120b) 각각에 놓 여진 디스플레이 패널(10) 후방에서 조명하도록 점등되는 공지의 백라이트 유닛(미도시됨)이 설치될 수 있으며, 이 백라이트 유닛은 도면 편의상 생략되었습니다. Frame 110 has an inclined surface portion 112 inclined at an approximately 60 degree angle in front. The first work table 120a and the second work table 120b are symmetrically installed on both left and right sides of the inclined surface portion 112. Each of the first work table 120a and the second work table 120b is provided with 12 pallets 122 on which the display panel 10 for lighting inspection is placed. Although not shown, pallets 122 are provided. The vacuum suction unit for stably fixing the display panel 10 and a guide member for guiding a position where the display panel is placed may be installed. For example, in the present invention, the number of pallets 122 installed on the first work table 120a and the second work table 120b is not limited to the present embodiment, but is limited to the size of the display panel 10 as an inspection object. As such, more or less pallets 122 may be disposed. Meanwhile, a known backlight unit that is lit to illuminate behind the display panel 10 placed on each of the first and second work tables 120a and 120b behind the first work table 120a and the second work table 120b. Not shown), which is omitted for convenience of drawing.

도 1 및 도 4에 도시된 바와 같이, 이동식 프로브 유닛(130)은 제1워크 테이블(120a)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접촉되는 제1검사위치(A;도 2 참조)와, 제2워크 테이블(120b)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접촉되는 제2검사위치(B;도 2참조)를 번갈아(교대로) 이동하면서 제1워크 테이블(120a) 또는 제2워크 테이블(120b)에 탑재된 디스플레이 패널(10)들을 연속적으로 검사하게 된다. As shown in FIGS. 1 and 4, the movable probe unit 130 may have a first inspection position A in electrical contact with display panels 10 mounted on the first work table 120a (see FIG. 2). And the first work table 120a or the second inspection position B (see FIG. 2), which is in electrical contact with the display panels 10 mounted on the second work table 120b, alternately (in turn). The display panels 10 mounted on the second work table 120b are continuously inspected.

이동식 프로브 유닛(130)을 자세히 살펴보면, 이동 플레이트(132)에는 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록(134)들이 설치된다.  이 이동 플레이트(132)는 제1검사 위치(A) 또는 제2검사 위치(B)로 이동하도록 프레임(110)의 경사면부(112)에 설치된다. 이 이동 플레이트(132)는 경사면부(112)의 상단과 하단에 X 방향으로 설치된 가이드 레일(114)을 따라 구동부(136)에 의해 X축 방향으로 슬라이드 이동된다. 본 실시예에서는 도면 편의상 구동부(136)를 프레임(110) 하단에 설치된 것으로 도시하였으나, 구동부(136)는 외부로 노출되지 않도록 이동 플레이트(132)의 후면에 설치될 수 도 있다.  예컨대, 본 실시예에서는 이동 플레이트(132)의 이동을 위한 구동부(136)로 에어 실린더를 예를 들어 설명하고 도시하였으나, 이는 하나의 예에 불과하며 정밀도에 따라 볼 스크류나 리니어 모터 등의 다양한 구동장치가 사용될 수 있다.  Looking at the movable probe unit 130 in detail, the movable plate 132 is provided with probe blocks 134 having test tips electrically connected to the display panels 10. The moving plate 132 is installed on the inclined surface portion 112 of the frame 110 to move to the first inspection position A or the second inspection position B. FIG. The moving plate 132 is slidably moved in the X-axis direction by the driving unit 136 along the guide rail 114 provided in the X direction at the top and bottom of the inclined surface portion 112. In the present exemplary embodiment, the driving unit 136 is illustrated as being installed at the bottom of the frame 110 for convenience of drawing. For example, in this embodiment, the air cylinder as the driving unit 136 for the movement of the moving plate 132 is described and illustrated as an example, but this is only one example, and various driving such as a ball screw or a linear motor depending on the precision The device can be used.

한편, 이동식 프로브 유닛(130)은 프로브 블록(134)들의 검사팁들이 디스플 레이 패널(10)과 전기적으로 접촉되는 위치로 이동된 상태에서 디스플레이 패널(10)과 수직한 z축 방향으로 업다운 이동되며, 이 이동에 의해 디스플레이 패널(10)과 전기적으로 접촉 또는 비접촉된다. On the other hand, the movable probe unit 130 moves up and down in the z-axis direction perpendicular to the display panel 10 in a state where the inspection tips of the probe blocks 134 are moved to a position in electrical contact with the display panel 10. By this movement, the display panel 10 is electrically contacted or non-contacted.

이러한 이동식 프로브 유닛(130)을 갖는 검사 장비에서의 연속적인 검사 과정을 간략하게 살펴보면, 도1에 도시된 바와 같이 이동식 프로브 유닛(130)이 제1검사위치(A)에서 점등 검사 등을 실시하는 동안, 제2검사위치(B)의 제2워크 테이블(120b)에서는 작업자에 의해 디스플레이 패널(10)들의 교체 작업이 이루어지게 된다. 제1검사위치(A)에서 검사를 마친 이동식 프로브 유닛(130)이 디스플레이 패널(10)들의 교체가 완료된 제2검사위치(B)로 이동하여 제2워크 테이블(120b)에 놓여진 디스플레이 패널(10)들의 점등 검사를 실시하는 동안, 제1검사위치(A)의 제1워크테이블(120a)에서는 작업자에 의한 디스플레이 패널(10)들의 교체 작업이 진행되게 된다. 즉, 제 1및 제 2워크테이블에 장착된 디스플레이 패널들은 이동식 프로브 유닛에 의하여 순차적인 검사를 하게 된다. 보다 자세하게 설명하자면, 제 1및 제2워크테이블 중 어느 한 워크테이블상에 탑재된 디스플레이 패널의 검사를 종료한 후, 나머지 다른 하나의 워크테이블로 프로브유닛이 이동하여 디스플레이 패널을 검사하게 된다( 도 4 참조). Briefly looking at the continuous inspection process in the inspection equipment having a mobile probe unit 130, as shown in Figure 1, the mobile probe unit 130 performs a lighting test at the first inspection position (A) In the meantime, in the second work table 120b of the second inspection position B, the display panel 10 is replaced by the operator. The mobile probe unit 130, which has been inspected at the first inspection position A, moves to the second inspection position B in which the display panels 10 have been replaced, and is placed on the second work table 120b. During the lighting inspection of the), the work of replacing the display panels 10 by the operator is performed in the first work table 120a at the first inspection position A. FIG. That is, the display panels mounted on the first and second work tables are sequentially inspected by the mobile probe unit. In more detail, after the inspection of the display panel mounted on one of the first and second worktables is finished, the probe unit moves to the other worktable to inspect the display panel (FIG. 4).

이처럼, 본 발명의 검사 장비(100)는 디스플레이 패널(10)들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록(134)들이 설치된 이동식 프로브 유닛(130)이 직접 제1검사위치(A)와 제2검사위치를(B) 옮겨 다니면서 점등 검사를 실시하기 때문에, 워크 테이블들(120a,120b)을 이동하는 방식에 비해서 그 점유 공간을 현저 하게 줄일 수 있는 각별한 효과를 갖는다 할 것이다. As such, the inspection apparatus 100 of the present invention is a mobile probe unit 130 having the probe blocks 134 installed with the inspection tips electrically connected to the display panels 10. Since the lighting inspection is carried out while moving the inspection position (B), the occupied space can be significantly reduced compared to the method of moving the work tables 120a and 120b.

도 5 내지 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장비의 점등신호 제어기에 의한 구성도이다. 5 to 6 is a configuration diagram by the lighting signal controller of the display panel inspection equipment according to the present invention.

전술된 디스플레이 패널 검사 장비(100)는 3개의 단위 디스플레이(10a) 패널이 서로 연결된 스틱 타입의 디스플레이 패널(10) 12개(총 36개의 단위 디스플레이 패널)를 동시에 검사할 수 있는 장비이다. 이를 위하여, 본 발명의 검사 장비(100)는 도 5에 도시된 바와 같이 각각의 디스플레이 패널(10)들에 점등 신호를 입력하는 점등신호제어기(140)를 포함한다.  이 점등신호제어기(140)는 백라이트(미도시됨)에 의해 발광된 광원이 디스플레이 패널(10)들에 투과될 때, 디스플레이 패널(10)들에 화상이 이루어지도록 화상에 대응되는 점등신호를 발생시키는 점등신호발생기(142)와, 점등신호발생기(142)에서 발생된 점등신호를 다수의 선로들을 통해 각각의 프로브 블록(134)들로 분배시키는 신호분배기(144)를 포함한다.  여기서, 점등신호발생기(142)는 프로브 블록(134)들의 검사팁들과 접속되는 디스플레이 패널(10)의 데이터 단자에 동시다발적으로 점등신호를 발생시킬 수 있으며, 또는 대용량의 점등신호에 의한 과도한 부하를 예방하기 위해 점등신호발생기(142)는 디스플레이 패널(10)들을 순차적으로 점등시키는 방식이 사용될 수 있다.  한편, 점등신호제어기(140)는 점등신호발생기(142)에서 발생된 점등신호를 선택적으로 디스플레이 패널(10)들에 공급시키는 제어스위치(146)를 포함할 수 있다.  점등신호발생기(142)에서는 발생된 점등신호는 신호분배기(144)를 통해 각각의 프로브 블록(134)들로 제공되며, 이 점등신호는 제어스위치(146)의 단락에 의해 선택적으로 3 개씩(또는 하나씩) 점등시킬 수 있다. 즉, 본 발명에 의한 검사 장비(100)는 제어스위치(146)를 통해 점등신호발생기(142)의 출력을 조절할 수 있고, 소용량의 점등신호 발생기(142)의 사용이 가능하며, 점등신호 발생기(142)의 과도한 출력으로 인한 부하를 감소시킬 수 있다.  The display panel inspection apparatus 100 described above is a device capable of simultaneously inspecting 12 stick-type display panels 10 (total 36 unit display panels) in which three unit display panels 10a are connected to each other. To this end, the inspection equipment 100 of the present invention includes a lighting signal controller 140 for inputting a lighting signal to each display panel 10, as shown in FIG. When the light source emitted by the backlight (not shown) is transmitted to the display panels 10, the lighting signal controller 140 generates a lighting signal corresponding to the images so that the images are formed on the display panels 10. And a signal distributor 144 for distributing the lighting signal generated by the lighting signal generator 142 to the respective probe blocks 134 through a plurality of lines. Here, the lighting signal generator 142 may simultaneously generate a lighting signal to the data terminal of the display panel 10 connected to the test tips of the probe blocks 134, or excessively due to a large lighting signal In order to prevent the load, the lighting signal generator 142 may be used to sequentially turn on the display panel 10. Meanwhile, the lighting signal controller 140 may include a control switch 146 for selectively supplying the lighting signal generated by the lighting signal generator 142 to the display panels 10. In the lighting signal generator 142, the lighting signals generated are provided to the respective probe blocks 134 through the signal distributor 144, and the lighting signals are selectively three (or three) by a short circuit of the control switch 146. One by one). That is, the inspection equipment 100 according to the present invention can adjust the output of the lighting signal generator 142 through the control switch 146, the use of a small amount of the lighting signal generator 142, the lighting signal generator ( The load due to excessive output of 142 can be reduced.

한편, 본 발명은 상기의 구성으로 이루어진 디스플레이 패널 검사 장비에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다. 하지만, 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. On the other hand, the present invention can be variously modified in the display panel inspection equipment having the above configuration and may take various forms. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the above description, but rather includes all modifications, equivalents and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It should be understood to do.

상술한 바와 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사 장비는 복수개의 단위 디스플레이 패널이 조합되어 이루어진 스틱 타입의 검사대상물을 12개씩 연속적으로 검사할 수 있어 처리량을 현저하게 향상시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다. As described above, the display panel inspection equipment of the present invention can continuously inspect 12 stick-type inspection objects formed by combining a plurality of unit display panels, and has a special effect of remarkably improving throughput.

또한, 본 발명은 이동식 프로브 유닛을 사용함으로써 장비의 크기를 줄일 수 있는 각별한 효과를 갖는다. In addition, the present invention has a special effect that can reduce the size of the equipment by using a mobile probe unit.

또한, 본 발명은 점등신호발생기의 출력을 조절할 수 있고, 소용량의 점등신호 발생기의 사용이 가능하며, 점등신호 발생기의 과도한 출력으로 인한 부하를 감소시킬 수 있는 각별한 효과를 갖는다. In addition, the present invention can adjust the output of the light signal generator, it is possible to use a small amount of the light signal generator, has a special effect that can reduce the load due to excessive output of the light signal generator.

Claims (7)

디스플레이 패널 검사 장비에 있어서:For display panel inspection equipment: 프레임의 일측에 설치되며, 디스플레이 패널이 탑재되는 제 1 워크테이블;A first work table installed at one side of the frame and having a display panel mounted thereon; 상기 프레임의 타측에 상기 제1워크테이블과 나란하게 설치되며, 디스플레이 패널이 탑재되는 제 2 워크테이블과; 및A second work table installed on the other side of the frame in parallel with the first work table and on which a display panel is mounted; And 상기 제 1 및 제 2 워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사하는 이동식 프로브 유닛을 포함하되;A mobile probe unit for inspecting display panels mounted to the first and second worktables; 상기 이동식 프로브 유닛은 The movable probe unit 상기 1 및 제 2 워크테이블 상부면에 소정거리 이격되어 이동가능하며, 상기 제 1 워트테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사하기 위한 제 1 검사위치와, 제 2 워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사하기 위한 제 2 검사위치로 번갈아 이동하면서 상기 제 1 및 제 2 워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 연속적으로 검사하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비.Inspecting a first inspection position for inspecting a display panel mounted on the first water table and a display panel mounted on the second work table, the first and second worktables being movable at a predetermined distance apart from each other; Display panel inspection equipment, characterized in that for continuously inspecting the display panel mounted on the first and second worktable while moving alternately to the second inspection position. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 이동식 프로브 유닛은 The movable probe unit 상기 제 1 및 제 2워크테이블 중 어느 한 워크테이블로 이동하도록 상기 프레임의 일면에 설치되는 이동 플레이트; A moving plate installed on one surface of the frame to move to any one of the first and second work tables; 상기 이동 플레이트에 설치되고, 상기 제1워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들 또는 상기 2 워크 테이블에 탑재된 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 검사팁들을 갖는 프로브 블록들; 및 Probe blocks mounted on the moving plate and having test tips electrically connected to display panels mounted on the first work table or display panels mounted on the second work table; And 상기 이동 플레이트를 상기 제 1 워크테이블 또는 제 2워크테이블로 이동시키는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비. And a driving unit to move the moving plate to the first work table or the second work table. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 The display panel inspection equipment 상기 제1, 2 워크 테이블 후면에는 상기 베이스 플레이트의 전면에 설치된 디스플레이 패널들을 조명하는 백라이트 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비. And a backlight unit configured to illuminate display panels installed in front of the base plate at a rear surface of the first and second work tables. 제1항 또는 제2항에 있어서, The method according to claim 1 or 2, 상기 디스플레이 패널 검사 장비는 The display panel inspection equipment 디스플레이 패널들에 점등신호를 입력하는 점등신호제어기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비. And a lighting signal controller for inputting lighting signals to the display panels. 제4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 점등신호제어기는 The lighting signal controller is 디스플레이 패널이 발광하도록 점등신호를 발생시키는 점등발생기와, 상기 점등발생기로부터 발생된 점등신호를 디스플레이 패널들과 전기적으로 접속되는 프로브 블록들로 분배시키는 신호분배기를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비. Display panel inspection equipment characterized in that it comprises a light generator for generating a light signal for the display panel to emit light, and a signal distributor for distributing the light signal generated from the light generator to probe blocks electrically connected to the display panels. . 제5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 점등신호제어기는 The lighting signal controller is 상기 신호분배기로부터 각각의 프로브블록들로 연결되는 선로를 선택적으로 단락시키는 제어스위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장비. And a control switch for selectively shorting a line connected to each of the probe blocks from the signal splitter. 프레임상에 고정되는 제1워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제1단계와,A first step of loading the display panel on the first worktable fixed on the frame; 상기 제1워크테이블로 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제2단계와,A second step of moving the movable probe unit to the first work table; 상기 디스플레이 패널에 전기적으로 접촉되는 상기 이동식 프로브 유닛에 의하여 제1워크테이블에 탑재된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 제 2워크테이블에 디스플레이 패널을 로딩시키는 제3단계와,Inspecting the display panel mounted on the first worktable by the mobile probe unit in electrical contact with the display panel and simultaneously loading the display panel on the second worktable; 상기 제2워크테이블로 상기 이동식 프로브 유닛을 이동시키는 제4단계와,A fourth step of moving the movable probe unit to the second work table; 상기 제 2워크테이블로 로딩된 디스플레이 패널을 검사함과 동시에 상기 제 1워크테이블상에서 검사가 완료된 디스플레이 패널을 언로딩하는 제5단계와,Inspecting the display panel loaded into the second work table and unloading the display panel on which the inspection is completed on the first work table; 상기 제 1 내지 제5단계들의 검사단계를 순차적으로 반복 시행하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 방법.Display panel inspection method comprising the step of sequentially repeating the inspection step of the first to fifth steps.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5156970B2 (en) * 2008-11-10 2013-03-06 株式会社日本マイクロニクス Probe unit for electrical inspection, electrical inspection device, and lighting inspection device
CN102591044A (en) * 2012-01-12 2012-07-18 北京凌云光视数字图像技术有限公司 TFT (thin film transistor) liquid crystal screen quality detection method
CN106124538B (en) * 2016-08-31 2019-02-12 天津三英精密仪器股份有限公司 A kind of double-station multitask X-ray three-dimensional imaging detection system
CN106842641B (en) * 2016-12-23 2019-11-01 武汉精立电子技术有限公司 The mobile detection image acquisition device of display module
CN108318753A (en) * 2017-01-16 2018-07-24 研华股份有限公司 Detecting system
CN108415095A (en) * 2018-05-09 2018-08-17 清华大学 Vehicle inspection system
KR102068560B1 (en) * 2019-11-20 2020-01-21 금교필 Backlight Unit for Testing System of Display Panel
KR102658169B1 (en) * 2022-03-10 2024-04-19 (주)베러셀 Multi-cell lighting signal generator for substrate cells composed of multiple pad blocks

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990065368A (en) * 1998-01-12 1999-08-05 이억기 LCD panel loading method and lighting device for lighting inspection
JP2002091336A (en) * 2000-09-12 2002-03-27 Soushiyou Tec:Kk Display panel or support frame body for probe block
KR20020065098A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Microscope Moving Apparatus of Liquid Crystal Display Panel System
KR20020065103A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Inspection System

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3673022B2 (en) * 1996-06-24 2005-07-20 株式会社日本マイクロニクス LCD panel inspection equipment
JPH1010153A (en) * 1996-06-26 1998-01-16 Nippon Maikuronikusu:Kk Storeroom for probe unit and inspecting system using the storeroom
JP3999863B2 (en) * 1997-12-22 2007-10-31 株式会社日本マイクロニクス Substrate inspection device
JP3553460B2 (en) * 1999-04-23 2004-08-11 ディーイー、エンド、ティー 株式会社 LCD test equipment
JP2002357626A (en) * 2001-05-31 2002-12-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Inspection method for liquid crystal display element
JP2004170249A (en) * 2002-11-20 2004-06-17 Gallant Precision Machining Co Ltd Circulation type inspection system
TWI231964B (en) * 2003-03-10 2005-05-01 Phicom Corp LCD panel auto gripping apparatus and method for use in a panel carrier for an automatic probe unit
JP3745750B2 (en) * 2003-06-27 2006-02-15 東芝テリー株式会社 Display panel inspection apparatus and inspection method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990065368A (en) * 1998-01-12 1999-08-05 이억기 LCD panel loading method and lighting device for lighting inspection
JP2002091336A (en) * 2000-09-12 2002-03-27 Soushiyou Tec:Kk Display panel or support frame body for probe block
KR20020065098A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Microscope Moving Apparatus of Liquid Crystal Display Panel System
KR20020065103A (en) * 2001-02-05 2002-08-13 메카텍스 (주) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Inspection System

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