JP2002357626A - Inspection method for liquid crystal display element - Google Patents

Inspection method for liquid crystal display element

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JP2002357626A
JP2002357626A JP2001164942A JP2001164942A JP2002357626A JP 2002357626 A JP2002357626 A JP 2002357626A JP 2001164942 A JP2001164942 A JP 2001164942A JP 2001164942 A JP2001164942 A JP 2001164942A JP 2002357626 A JP2002357626 A JP 2002357626A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
inspection
display element
prober
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Pending
Application number
JP2001164942A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Matsuoka
和宏 松岡
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JP2002357626A publication Critical patent/JP2002357626A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection method for a liquid crystal display element capable of improving an area productivity of an inspection device. SOLUTION: After completing the assembling of panels, the multiple panels are collectively lit to examine the display.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、携帯電話、ビデオ
ムービー、カーナビ等の画像表示装置として用いられる
液晶表示素子の検査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal display element used as an image display device for a mobile phone, a video movie, a car navigation system, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶表示素子の点燈表示検査は、
パネル組立完了後、個片に切断した状態で行っており、
以下に、従来の液晶表示素子の点燈表示検査方法につい
て図3を用いて説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a light-on display inspection of a liquid crystal display element has been performed by:
After the panel assembly is completed, it is done in a state cut into individual pieces,
Hereinafter, a conventional lighting display inspection method for a liquid crystal display element will be described with reference to FIG.

【0003】図3は、従来の点燈表示検査装置である。
図3において、点燈表示検査装置本体31は、パネル3
3を固定する位置決めブロック32と、プローバ34を
固定するプローバ固定枠35と、スライドシャフト36
と、プローバ固定枠35を複数のスライドシャフト36
上を摺動自在でかつ任意の位置に固定可能なプローバ上
下用シリンダ37と、液晶表示素子の検査を行う場合に
点燈するバックライト38とを備えたものである。
FIG. 3 shows a conventional lighting display inspection apparatus.
In FIG. 3, the lighting display inspection apparatus main body 31 includes a panel 3
3, a prober fixing frame 35 for fixing the prober 34, and a slide shaft 36.
And a plurality of slide shafts 36
It comprises a prober vertical cylinder 37 which can slide on the top and can be fixed at an arbitrary position, and a backlight 38 which is turned on when an inspection of the liquid crystal display element is performed.

【0004】以上のように構成された点燈表示検査装置
の動作について説明する。まず、パネル33を、検査装
置本体31の位置決めブロック32に固定する。
[0004] The operation of the lighting display inspection apparatus having the above-described configuration will be described. First, the panel 33 is fixed to the positioning block 32 of the inspection apparatus main body 31.

【0005】次に、プローバ固定枠35に固定されたプ
ローバ34を、プローバ上下用シリンダ37を用いて下
降させる。これにより、基板ゲート及びソース電極線外
部端子がプローバ34に接触する。その後、バックライ
ト38を点燈させて、点燈表示検査を行う。
Next, the prober 34 fixed to the prober fixing frame 35 is lowered using a prober vertical cylinder 37. Thereby, the substrate gate and the external terminal of the source electrode line contact the prober 34. Thereafter, the backlight 38 is turned on, and a lighting display inspection is performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の液晶表示素子の点燈表示検査方法では、パネル単品
で検査を行うため、時間がかかる。さらに、小型パネル
作成時にはその数に応じて多くの点燈表示検査装置が必
要であり、広い面積が必要となる。本発明は、上記問題
点を解消するためになされたものであり、検査装置の面
積生産性を向上できる液晶表示素子の検査方法を提供す
ることを目的とする。
However, in the above-mentioned conventional lighting display inspection method for a liquid crystal display element, since the inspection is performed by a single panel, it takes time. Furthermore, when producing small panels, a large number of lighting display inspection devices are required in accordance with the number of panels, and a large area is required. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a method of inspecting a liquid crystal display element that can improve the area productivity of an inspection device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項1に記載の液晶表示素子の検査方法
は、プローバを備えた点燈表示検査装置を用いて、液晶
表示素子の目視検査を行う液晶表示素子の検査方法であ
って、パネル組立完了後、複数の液晶表示パネルを一括
点燈し、上記検査を行う、ことを特徴とするものであ
る。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a liquid crystal display device, comprising the steps of: A liquid crystal display element inspection method for performing a visual inspection, wherein after the panel assembly is completed, a plurality of liquid crystal display panels are turned on at once and the inspection is performed.

【0008】これにより、パネル組立完了後、個片切断
する前に、複数の液晶表示パネルを一括検査することが
可能となり、その結果、検査工程の時間を短縮し、か
つ、検査装置の面積生産性を向上することができる。
As a result, a plurality of liquid crystal display panels can be inspected at once after panel assembly is completed and before individual cutting is performed. As a result, the time required for the inspection process is shortened, and the area of the inspection apparatus is reduced. Performance can be improved.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。なお、ここで示す実施
の形態はあくまでも一例であって、必ずしもこの実施の
形態に限定されるものではない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The embodiment described here is merely an example, and the present invention is not necessarily limited to this embodiment.

【0010】(実施の形態1)以下に、本実施の形態1
による液晶表示素子の検査方法について説明する。図2
は、本実施の形態1による液晶表示素子の検査装置であ
る。図2において、液晶表示素子の検査装置本体21
は、貼合基板23を固定する位置決めブロック22と、
プローバ24を固定するプローバ固定枠25と、スライ
ドシャフト26と、プローバ固定枠25を複数のスライ
ドシャフト36上を摺動自在でかつ任意の位置に固定可
能なプローバ上下用シリンダ27と、液晶表示素子の検
査を行う場合に点燈するバックライト28とを備えたも
のである。なお、位置決めブロック2は、貼合基板23
の位置を認識する認識手段を備え、貼合基板23の位置
に応じて平面上を可動自在であってもよい。
(Embodiment 1) Hereinafter, Embodiment 1
A method for inspecting a liquid crystal display element will be described. FIG.
Is a liquid crystal display element inspection apparatus according to the first embodiment. In FIG. 2, a liquid crystal display element inspection apparatus main body 21 is shown.
Is a positioning block 22 for fixing the bonding substrate 23,
A prober fixing frame 25 for fixing the prober 24, a slide shaft 26, a prober vertical cylinder 27 slidable on the plurality of slide shafts 36 and capable of fixing the prober fixing frame 25 at an arbitrary position, and a liquid crystal display element. And a backlight 28 that lights up when the inspection is performed. Note that the positioning block 2 is
May be provided, and may be movable on a plane according to the position of the bonding substrate 23.

【0011】以下に、液晶表示素子の検査方法について
説明する。まず、図1(a)に示すように、CF基板1
3とAR基板14を貼り合わせたパネルのCF基板側
を、スクライブライン15に沿って分断し、図1(b)
に示すように、AR基板14のゲート電極線外部端子1
1及びソース電極線外部端子12の対向基板13部分を
除去してできた貼合基板23を、検査装置本体21の位
置決めブロック22に固定する。
Hereinafter, a method of inspecting a liquid crystal display device will be described. First, as shown in FIG.
3 is cut along the scribe line 15 on the side of the CF substrate side of the panel in which the AR substrate 14 and the AR substrate 14 are bonded together.
As shown in FIG.
The bonded substrate 23 formed by removing the counter substrate 13 of the external electrode 1 and the source electrode line external terminal 12 is fixed to the positioning block 22 of the inspection apparatus main body 21.

【0012】次に、プローバ枠25に固定されたプロー
バ24を、プローバ上下用シリンダ27を用いて下降す
る。このようにすれば、貼合基板23のゲート電極外部
端子11及びソース電極線外部端子12がプローバ24
に接触する。
Next, the prober 24 fixed to the prober frame 25 is lowered using the prober vertical cylinder 27. In this manner, the gate electrode external terminal 11 and the source electrode line external terminal 12 of the bonded substrate 23 are
Contact

【0013】その後、バックライト28を点燈させて、
点燈表示検査を行い、検査が終了すると、貼合基板23
を個片切断する。これにより、1回の検査で、良品の液
晶表示素子を複数得ることが可能となる。
Then, the backlight 28 is turned on,
The lighting display inspection is performed, and when the inspection is completed, the bonded substrate 23 is inspected.
Is cut into individual pieces. This makes it possible to obtain a plurality of non-defective liquid crystal display elements by one inspection.

【0014】このような実施の形態1に記載の液晶表示
素子の検査方法では、パネル組立完了後、個片切断する
前に一括点燈表示検査するようにしたので、検査工程の
時間を短縮し、かつ、検査装置の面積生産性向上をする
ことができる。
In the method of inspecting a liquid crystal display element according to the first embodiment, after the panel assembly is completed, the batch lighting display inspection is performed before cutting individual pieces, so that the time of the inspection process is reduced. In addition, the area productivity of the inspection device can be improved.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明の請求項1に記載の液晶表示素子
の検査方法は、プローバを備えた点燈表示検査装置を用
いて、液晶表示素子の目視検査を行う液晶表示素子の検
査方法であって、パネル組立完了後、複数の液晶表示パ
ネルを一括点燈し、上記検査を行うようにしたので、パ
ネル組立完了後、個片切断する前に、複数の液晶表示パ
ネルを一括検査することが可能となり、その結果、検査
工程の時間を短縮し、かつ、検査装置の面積生産性を向
上することができる。
The method for inspecting a liquid crystal display element according to the first aspect of the present invention is a method for inspecting a liquid crystal display element by visually inspecting the liquid crystal display element using a lighting display inspection apparatus having a prober. Therefore, after the panel assembly is completed, a plurality of liquid crystal display panels are turned on all at once, and the above inspection is performed. Therefore, after the panel assembly is completed, a plurality of liquid crystal display panels are collectively inspected before cutting individual pieces. As a result, the time of the inspection process can be shortened, and the area productivity of the inspection device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】ゲート・ソース電極線外部端子の対向基板部分
を分断・除去した貼合基板を示したものである。
FIG. 1 shows a bonded substrate in which a counter substrate portion of a gate / source electrode line external terminal is divided and removed.

【図2】本発明の実施の形態1による液晶表示素子の検
査装置を示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing an inspection device for a liquid crystal display element according to the first embodiment of the present invention.

【図3】従来の液晶表示素子の検査装置を示した図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing a conventional liquid crystal display element inspection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 ゲート電極線外部端子 12 ソース電極線外部端子 13 CF基板 14 AR基板 15 スクライブライン 21 検査装置本体 22 位置決めブロック 23 貼合基板 24 プローバ 25 プローバ固定枠 26 スライドシャフト 27 プローバ上下用シリンダ− 28 バックライト 31 検査装置本体 32 位置決めブロック 33 パネル 34 プローバ 35 プローバ固定枠 36 スライドシャフト 37 プローバ上下用シリンダ− 38 バックライト REFERENCE SIGNS LIST 11 Gate electrode line external terminal 12 Source electrode line external terminal 13 CF substrate 14 AR substrate 15 Scribe line 21 Inspection device body 22 Positioning block 23 Bonding substrate 24 Prober 25 Prober fixing frame 26 Slide shaft 27 Cylinder for prober up / down 28 Backlight 31 Inspection device main body 32 Positioning block 33 Panel 34 Prober 35 Prober fixing frame 36 Slide shaft 37 Prober vertical cylinder 38 Backlight

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プローバを備えた点燈表示検査装置を用
いて、液晶表示素子の目視検査を行う液晶表示素子の検
査方法であって、 パネル組立完了後、複数の液晶表示パネルを一括点燈
し、上記検査を行う、 ことを特徴とする液晶表示素子の検査方法。
1. A method for inspecting a liquid crystal display element by performing a visual inspection of a liquid crystal display element using a lighting display inspection apparatus equipped with a prober. And performing the above-mentioned inspection.
JP2001164942A 2001-05-31 2001-05-31 Inspection method for liquid crystal display element Pending JP2002357626A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007041587A (en) * 2005-07-29 2007-02-15 Phicom Corp Inspecting device for display panel and display panel inspecting method using same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007041587A (en) * 2005-07-29 2007-02-15 Phicom Corp Inspecting device for display panel and display panel inspecting method using same

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