KR100701159B1 - 병렬 전도층 구조를 갖는 금속-절연체 전이 소자 - Google Patents
병렬 전도층 구조를 갖는 금속-절연체 전이 소자 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (15)
- 기판의 일정영역에 배치된 제1 전극;상기 제1 전극과 소정의 간격을 이루면서 배치된 제2 전극; 및상기 제1 전극과 제2 전극을 전기적으로 연결하며, 금속-절연체의 전이에 의해 전체가 금속상태로 전이될 수 있는 폭을 가진 적어도 하나 이상의 전도층을 포함하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층은 전기적으로 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층은 산소, 탄소, 반도체 원소(III-V족, II-VI족), 전이금속원소, 희토류원소, 란탄계 원소들을 포함하는 저 농도의 정공이 첨가된 무기물 화합물 반도체 및 절연체, 저 농도의 정공이 첨가된 유기물 반도체 및 절연체, 저 농도의 정공이 첨가된 반도체, 및 저 농도의 정공이 첨가된 산화물 반도체 및 절연체 중에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층은 전체에 걸쳐 균일하게 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 제1 전극 및 제2 전극은 Li, Be, C, Na, Mg, Al, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, Po, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, U, Np, Pu의 금속, 상기 금속들의 화합물 또는 상기 금속 및 상기 화합물을 포함하는 산화물 중에서 선택된 적어도 하나 이상의 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층과 상기 제1 전극 사이 및 상기 전도층과 상기 제2 전극 사이에는 상기 전도층에 흐르는 전류에 의해 발생하는 열을 견딜 수 있는 보호용 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 보호용 전극은 Li, Be, C, Na, Mg, Al, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, Po, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, U, Np, Pu의 금속, 상기 금속들의 화합물 또는 상기 금속 및 상기 화합물을 포함하는 산화물 중에서 선택된 적어도 하나 이상의 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연 체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층의 일측에는 게이트절연막을 게재하면서 상기 전도층의 일정영역을 덮으면서 연장되는 게이트 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제8항에 있어서, 상기 게이트절연막은 상기 전도층의 적어도 일면을 덮는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제8항에 있어서, 상기 전도층 상에는 게이트절연막을 게재하면서 상기 전도층의 일정영역을 덮으면서 연장되는 제3 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제8항에 있어서, 상기 전도층과 상기 기판 사이에 게이트절연막이 게재하면서 상기 전도층의 일정영역을 덮으면서 연장되는 제3 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제8항에 있어서, 상기 전도층과 기판 사이에 게이트절연막을 게재하여 상기 기판의 일정영역을 덮으면서 연장되는 제3 전극을 더 포함하고, 상기 전도층은 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 사이의 전면을 덮는 것을 특징으로 하는 급격한 금 속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 전도층, 상기 제1 전극 및 제2 전극은 보호회로를 이루고, 상기 보호회로와 병렬로 연결된 전기적인 시스템을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제13항에 있어서, 상기 보호회로는 급속한 금속-절연체 전이에 의해 대부분의 전류를 수용하는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
- 제13항에 있어서, 상기 전기적인 시스템은 상기 보호회로에 대부분의 전류가 흐름으로써 보호받는 것을 특징으로 하는 급격한 금속-절연체 전이를 이용한 소자.
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CN2007800106199A CN101410984B (zh) | 2006-02-01 | 2007-01-31 | 具有并联导电层的突变金属-绝缘体转变装置 |
RU2008131700/28A RU2392692C2 (ru) | 2006-02-01 | 2007-01-31 | Прибор с резким переходом металл-изолятор с параллельными проводящими слоями |
US12/162,964 US7989792B2 (en) | 2006-02-01 | 2007-01-31 | Abrupt metal-insulator transition device with parallel MIT material layers |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100927602B1 (ko) * | 2007-12-07 | 2009-11-25 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 전이(mit) 물질 기반의 메모리 셀 및 그메모리 셀의 제조방법 |
WO2013066006A1 (ko) * | 2011-10-31 | 2013-05-10 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 전이 3 단자 소자와 그를 구비한 전기 전자 시스템 및 그에 따른 정전기 잡음 신호 제거 방법 |
US9595673B2 (en) | 2011-10-31 | 2017-03-14 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method for removing electro-static discharge (EDS) noise signal in electronic system including the metal-insulator transition (MIT) 3-terminal device |
US11908931B2 (en) | 2020-10-12 | 2024-02-20 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Monolithic metal-insulator transition device and method for manufacturing the same |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09129839A (ja) * | 1995-11-01 | 1997-05-16 | Toshiba Corp | スイッチング素子 |
KR20000057854A (ko) * | 1999-02-04 | 2000-09-25 | 가나이 쓰토무 | 절연 게이트 트랜지스터 |
KR20050038834A (ko) * | 2003-10-23 | 2005-04-29 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 상전이 고속 스위칭 소자 및 그 제조 방법 |
KR20050043431A (ko) * | 2003-11-06 | 2005-05-11 | 한국전자통신연구원 | 급격한 금속-절연체 상전이형 소자를 포함하는 전류제어회로 |
JP2005210063A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-08-04 | Hitachi Ltd | 電界効果トランジスタおよびその製造方法 |
-
2006
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09129839A (ja) * | 1995-11-01 | 1997-05-16 | Toshiba Corp | スイッチング素子 |
KR20000057854A (ko) * | 1999-02-04 | 2000-09-25 | 가나이 쓰토무 | 절연 게이트 트랜지스터 |
KR20050038834A (ko) * | 2003-10-23 | 2005-04-29 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 상전이 고속 스위칭 소자 및 그 제조 방법 |
KR20050043431A (ko) * | 2003-11-06 | 2005-05-11 | 한국전자통신연구원 | 급격한 금속-절연체 상전이형 소자를 포함하는 전류제어회로 |
JP2005210063A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-08-04 | Hitachi Ltd | 電界効果トランジスタおよびその製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100927602B1 (ko) * | 2007-12-07 | 2009-11-25 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 전이(mit) 물질 기반의 메모리 셀 및 그메모리 셀의 제조방법 |
WO2013066006A1 (ko) * | 2011-10-31 | 2013-05-10 | 한국전자통신연구원 | 금속-절연체 전이 3 단자 소자와 그를 구비한 전기 전자 시스템 및 그에 따른 정전기 잡음 신호 제거 방법 |
US9595673B2 (en) | 2011-10-31 | 2017-03-14 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method for removing electro-static discharge (EDS) noise signal in electronic system including the metal-insulator transition (MIT) 3-terminal device |
US11908931B2 (en) | 2020-10-12 | 2024-02-20 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Monolithic metal-insulator transition device and method for manufacturing the same |
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