KR100697218B1 - Probe block assembly for inspecting flat display panel and assembling method therefor - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것으로, 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to a probe block assembly for inspecting a pattern of a flat panel display and a method for assembling the same, wherein a plurality of probe blades are attached to the probe block body by fixing a plurality of probe blades to each other so as to be spaced apart from each other. Since the slits are not required and the alignment process between the probe blade and the insulating slit is not performed, an error in the probe position of the probe blade can be eliminated, so that the inspection can be accurately performed.

평판형 디스플레이, 패널, 검사, 탐침블레이드, 접착제 Flat Panel Displays, Panels, Inspection, Probe Blades, Adhesives

Description

평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법 { Probe block assembly for inspecting flat display panel and assembling method therefor }Probe block assembly for inspecting flat display panel and assembling method therefor}

도 1은 종래 프로브블록의 조립단면도1 is an assembled cross-sectional view of a conventional probe block

도 2는 본 발명에 따른 프로브블록에 장착되는 탐침블레이드의 측면도Figure 2 is a side view of the probe blade mounted to the probe block according to the present invention

도 3a와 3b는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 상태를 개략적으로 설명하기 위한 도면3A and 3B are views for schematically explaining a state in which a probe block for pattern inspection of a flat panel display according to the present invention is assembled;

도 4a 내지 4c는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 일례를 구체적으로 설명하기 위한 도면4A to 4C are views for explaining an example in which the probe block for pattern inspection of the flat panel display according to the present invention is assembled.

도 5는 본 발명에 따라 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정 흐름도5 is a process flow diagram for forming a probe blade bundle according to the present invention.

도 6a 내지 6e는 본 발명에 따른 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정의 일례를 상세히 설명하기 위한 도면6a to 6e are views for explaining in detail an example of a process for forming a probe blade bundle according to the present invention;

※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of code about main part of drawing ※

100: 탐침블레이드 110,120: 탐침100: probe blade 110, 120: probe

130a,130b: 관통공 150: 접착제130a, 130b: through hole 150: adhesive

200: 탐침블레이드 다발 300: 프로브블록 몸체200: probe blade bundle 300: probe block body

310: 굴곡부 320: 조립공310: bend portion 320: assembly worker

400a,400b: 측면 커버 500a,500b,500c,500d: 고정봉400a, 400b: Side cover 500a, 500b, 500c, 500d: Fixed rod

600a,600b: 결합봉 700: 판재600a, 600b: Bonding rod 700: Plate

800: 지그800: jig

본 발명은 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것이다. The present invention relates to a probe block assembly for inspecting a pattern of a flat panel display and a method for assembling the same, and more particularly, by attaching a probe blade bundle formed on the probe block body to which a plurality of probe blades are fixed by an adhesive so as to be spaced apart from each other, Probe for pattern inspection of flat panel display, which does not need insulation slit like technology, and does not need to perform probe blade and insulation slit alignment process, eliminating the error of probe position of probe blade. A block assembly and a method for assembling thereof are provided.

일반적으로, 액정디스플레이 패널(Liquid Crystal Display Panel) 및 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel)과 같은 평판형 디스플레이가 제조되면, 제조된 패널의 전기적, 광학적 이상 여부를 검사하는 공정을 수행한다.In general, when a flat panel display such as a liquid crystal display panel and a plasma display panel is manufactured, a process of inspecting an electrical or optical abnormality of the manufactured panel is performed.

이러한, 검사를 수행하여 패널의 불량품을 가려내기 때문에, 검사 공정은 반 드시 시행되고 있다.Since the inspection is performed to screen out defective products of the panel, the inspection process is necessarily performed.

이 검사 공정을 수행하기 위한 프로브형 검사장치가 존재하게 된다. There is a probe type inspection apparatus for performing this inspection process.

도 1은 종래 프로브블록의 조립단면도로서, 이 프로브블록은 한국 공개특허공보 제10-1998-0032242호에 개시되어 있다.1 is an assembly cross-sectional view of a conventional probe block, which is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-1998-0032242.

즉, 이 종래 프로브블록(60)은 블록몸체(61)에 복수개의 탐침블레이드(62)가 블록몸체(61)의 저면 선단에 구비된 절연슬릿(63)의 슬릿에 안착하여 일정한 간격을 유지한 상태로 지지되고, 이들 복수개의 탐침블레이드(62)들을 2개의 고정봉(64)이 전후단에서 각각 관통되어 그 양쪽 선단이 블록몸체(61)의 측면에 조립되는 사이드커버(도시생략)에 지지됨으로써 블록몸체(61)에 조립되게 되어 있다. That is, the conventional probe block 60 has a plurality of probe blades 62 in the block body 61 is seated in the slit of the insulating slit 63 provided on the bottom end of the block body 61 to maintain a constant interval It is supported in a state, and the plurality of probe blades 62 are supported by a side cover (not shown) in which two fixing rods 64 are respectively penetrated at front and rear ends, and both ends thereof are assembled to the side of the block body 61. As a result, the block body 61 is assembled.

상기한 바와 같은 종래의 프로브블록(60)은 절연슬릿(63)을 블록몸체(61)에 정밀하게 고정되지 않는 경우에는, 탐침블레이드(62)와 절연슬릿(63)이 오정렬이 되는 문제점이 발생한다.As described above, in the conventional probe block 60, when the insulating slit 63 is not precisely fixed to the block body 61, a problem arises in that the probe blade 62 and the insulating slit 63 are misaligned. do.

즉, 상기 탐침블레이드(62)가 상기 절연슬릿(63)의 슬릿에 원활한 안착이 이루어지지 않게 된다.That is, the probe blade 62 is not smoothly seated on the slit of the insulating slit 63.

또한, 전술된 오정렬이 있는 경우, 상기 탐침블레이드(62)가 절연슬릿(63)의 슬릿에 안착될 때 과도한 힘으로 탐침블레이드(62)가 슬릿에 안착되어 슬릿이 파손되게 된다.In addition, in the case of the misalignment described above, when the probe blade 62 is seated on the slit of the insulating slit 63, the probe blade 62 is seated on the slit with excessive force, and the slit is broken.

그러므로, 종래의 기술에서는 탐침블레이드와 절연슬릿의 정밀한 오정렬에 의한 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생되어 검사를 정확하게 하기 어려운 문제점이 있다.Therefore, in the related art, an error in the probe position of the probe blade due to precise misalignment of the probe blade and the insulating slit occurs, which makes it difficult to accurately inspect the probe blade.

본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법을 제공하는 데 목적이 있다.The present invention is to solve the problems described above, by mounting a probe blade bundle made of a plurality of probe blades are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other on the probe block body, there is no need for an insulation slit as in the prior art, and It is an object of the present invention to provide a probe block assembly for pattern inspection of a flat panel display and a method of assembling the same, by eliminating the occurrence of an error in the probe position of the probe blade because the insulation slit does not need to be aligned. have.

상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 1 양태(樣態)는, 일측 선단과 타측 선단에 탐침이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공이 형성되어 있는 탐침블레이드 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발과; According to a first aspect of the present invention, a probe is provided at one end and the other, and a plurality of probe blades having at least two through holes formed therein are spaced apart from each other. Probe blade bundle made of a fixed;

상기 탐침블레이드 다발이 하부에 위치되고, 적어도 둘 이상의 조립공을 갖는 프로브블록 몸체와; A probe block body having the probe blade bundle positioned below and having at least two assembly holes;

상기 탐침블레이드 다발의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체의 양 측면에 각각 위치되고, 상기 프로브블록 몸체의 조립공과 상기 탐침블레이드의 관통공의 위치에 대응되는 공들이 형성된 한 쌍의 측면 커버와; A pair of side covers positioned at both sides of the probe block body corresponding to both sides of the probe blade bundle, and formed with balls corresponding to positions of the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade;

상기 측면 커버의 공들과 상기 프로브블록 몸체의 조립공 및 상기 탐침블레이드의 관통공에 삽입되어 상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 고정시키는 고정봉으로 구성된 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체가 제공된다.Provided is a probe block assembly for pattern inspection of a flat panel display comprising a fixing rod which is inserted into the holes of the side cover and the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade to fix the probe blade bundle to the probe block body. .

상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 2 양태(樣態)는, A second preferred aspect for achieving the above objects of the present invention is

복수개의 탐침블레이드 각각이 상호 이격되도록 접착제로 복수개의 탐침블레이드를 고정시켜 탐침블레이드 다발을 만드는 단계와;Fixing the plurality of probe blades with an adhesive so that each of the plurality of probe blades is spaced apart from each other to form a probe blade bundle;

상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법이 제공된다.Provided is a method for assembling a probe block for pattern inspection of a flat panel display including mounting the probe blade bundle on a probe block body.

상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 3 양태(樣態)는, A third preferred aspect for achieving the above objects of the present invention is

일측 선단과 타측 선단에 탐침이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공이 형성되어 있는 탐침블레이드 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발이 적어도 둘 이상의 조립공을 갖는 프로브블록 몸체의 하부에 위치시키는 단계와;Probe is provided at one end and the other end, and a plurality of probe blades in which at least two through holes are formed inside are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other under the probe block body having at least two assembly holes. Positioning;

상기 프로브블록 몸체의 조립공과 상기 탐침블레이드의 관통공의 위치에 대응되는 공들이 형성된 한 쌍의 측면 커버를 준비하는 단계와;Preparing a pair of side covers formed with balls corresponding to positions of the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade;

상기 탐침블레이드 다발의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체의 양 측면에 측면 커버를 장착하는 단계와;Mounting side covers on both sides of the probe block body corresponding to both sides of the probe blade bundle;

상기 측면 커버의 공들과 상기 프로브블록 몸체의 조립공 및 상기 탐침블레이드의 관통공에 고정봉을 삽입시켜 상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 고정시키는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법이 제공된다.Probe block for pattern inspection of the flat panel display comprising the step of fixing the probe blade bundle to the probe block body by inserting a fixed rod into the holes of the side cover and the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade. An assembly method is provided.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 프로브블록에 장착되는 탐침블레이드의 측면도로서, 탐침블레이드(100)는 프로브블록에 장착되어 평판형 디스플레이의 패턴을 검사용하는데 사용된다.2 is a side view of the probe blade mounted to the probe block according to the present invention, the probe blade 100 is mounted to the probe block is used to inspect the pattern of the flat panel display.

이런 탐침블레이드(100)는 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있다.The probe blade 100 is provided with probes 110 and 120 at one end and the other end, and at least two through holes 130a and 130b are formed in the inside.

상기 탐침블레이드(100)의 일측 선단에 형성된 탐침(110)은 평판형 디스플레이의 패턴과 같은 피검사체의 배선과 접촉하게 되며, 타측 선단에 형성된 탐침(120)은 탭IC의 배선에 일대일 대응하여 ACF로 접속되게 된다. The probe 110 formed at one end of the probe blade 100 is in contact with the wiring of the inspected object such as a pattern of a flat panel display, and the probe 120 formed at the other end corresponds to the wiring of the tap IC in a one-to-one correspondence. Will be connected.

도 3a와 3b는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 상태를 개략적으로 설명하기 위한 도면으로서, 먼저, 복수개의 탐침블레이드(100) 각각이 상호 이격되도록(도 3a의 'P'간격) 접착제(150)로 복수개의 탐침블레이드(100)를고정시켜 탐침블레이드 다발(200)를 만든다.(도 3a)3A and 3B are views for schematically illustrating a state in which a probe block for pattern inspection of a flat panel display according to the present invention is assembled. First, each of the plurality of probe blades 100 is spaced apart from each other (' P 'interval) fixing the plurality of probe blades 100 with the adhesive 150 to make the probe blade bundle 200 (Fig. 3a).

여기서, 상기 접착제(150)는 에폭시 수지가 바람직하다.Here, the adhesive 150 is preferably an epoxy resin.

그 후, 상기 탐침블레이드 다발(200)를 프로브블록 몸체(300)에 장착한다.(도 3b)Thereafter, the probe blade bundle 200 is mounted on the probe block body 300 (FIG. 3B).

이로써, 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록의 조립은 완성된다.Thus, the assembly of the pattern inspection probe block of the flat panel display is completed.

도 4a 내지 4c는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 일례를 구체적으로 설명하기 위한 도면으로서, 도 4a는 측면도로, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)이 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)의 하부에 위치된다.4A to 4C are views for explaining an example in which the probe block for pattern inspection of the flat panel display according to the present invention is assembled in detail. FIG. 4A is a side view and probes 110 and 120 are provided at one end and the other end. The probe blade bundle 200 having at least two assembling holes 320 formed therein is fixed with an adhesive such that a plurality of probe blades 100 having at least two through holes 130a and 130b formed therein are spaced apart from each other. It is located at the bottom of the block body 300.

여기서, 상기 프로브블록 몸체(300) 하부에는 상기 탐침블레이드 다발(200)의 상부면 형상과 대응되는 굴곡부(310)가 형성되어 있는 것이 바람직하고, 이 프로브블록 몸체(300)의 하부에 형성된 굴곡부(310)에 탐침블레이드 다발(200)을 밀착시켜 위치시키는 것이 조립 정렬을 우수하게 할 수 있다. Here, it is preferable that the bent part 310 corresponding to the shape of the upper surface of the probe blade bundle 200 is formed below the probe block body 300, and the bent part formed at the bottom of the probe block body 300 ( Positioning the probe blade bundle 200 in close contact with 310 may improve assembly alignment.

그리고, 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면과 프로브블록 몸체(300)의 측면은 일치하게 된다.Then, both side surfaces of the probe blade bundle 200 and side surfaces of the probe block body 300 are coincident with each other.

또한, 상기 탐침블레이드 다발(200)에 존재하는 각각의 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)들은 상호 일치되어 대응되어서 연통된다.In addition, the through holes 130a and 130b of each probe blade 100 existing in the probe blade bundle 200 correspond to each other and communicate with each other.

그 후, 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(420)이 형성된 한 쌍의 측면 커버 (400a,400b)를 준비한다.(도 4b)Thereafter, a pair of side covers 400a and 400b in which balls 420 corresponding to positions of the assembly holes 320 of the probe block body 300 and the through holes 130a and 130b of the probe blade 100 are formed are formed. ) Is prepared (FIG. 4b).

마지막으로, 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 측면 커버(400a,400b)를 장착하고, 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(420)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320) 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 고정봉(500a,500b,500c,500d)을 삽입시켜 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시킨다.(도 4c)Finally, side covers 400a and 400b are mounted on both sides of the probe block body 300 corresponding to both sides of the probe blade bundle 200, and the balls 420 of the side covers 400a and 400b. The probe blade bundle 200 is inserted into the assembly hole 320 of the probe block body 300 and the fixing rods 500a, 500b, 500c, and 500d into the through holes 130a and 130b of the probe blade 100. Fix to the probe block body 300. (FIG. 4C)

상기 도 4c의 공정으로 조립된 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체는, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)과; 상기 탐침블레이드 다발(200)이 하부에 위치되고, 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)와; 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 각각 위치되고, 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(320)이 형성된 한 쌍의 측면 커버(400a,400b)와; 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(320)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320) 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 삽입되어 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시키는 고정봉(500a,500b,500c,500d)으로 구성된다.The probe block assembly for pattern inspection of the flat panel display assembled in the process of FIG. 4C includes probes 110 and 120 at one end and the other end thereof, and at least two through holes 130a and 130b are formed in the inside thereof. A probe blade bundle 200 having a plurality of probe blades 100 fixed to each other by an adhesive so as to be spaced apart from each other; A probe block body 300 having the probe blade bundle 200 positioned below and having at least two assembly holes 320; Located on both sides of the probe block body 300 corresponding to both sides of the probe blade bundle 200, respectively, the assembly hole 320 of the probe block body 300 and the through hole 130a of the probe blade 100 A pair of side covers 400a and 400b formed with balls 320 corresponding to the positions of 130b; The probe blade bundle 200 is inserted into the balls 320 of the side covers 400a and 400b and the assembly hole 320 of the probe block body 300 and the through holes 130a and 130b of the probe blade 100. ) Is composed of a fixed rod (500a, 500b, 500c, 500d) for fixing to the probe block body (300).

도 5는 본 발명에 따라 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정 흐름도로서, 복수개의 탐침블레이드를 상호 이격되도록 적층한다.(S10단계)5 is a process flow diagram for forming a probe blade bundle according to the present invention, a plurality of probe blades are stacked to be spaced apart from each other (step S10).

그 다음, 상기 적층된 복수개의 탐침블레이드를 지그에 삽입시켜 고정시킨다.(S20단계)Thereafter, the stacked plurality of probe blades is inserted into and fixed to the jig (S20).

연이어, 상기 탐침블레이드를 접착제로 고정시킨다.(S30단계)Subsequently, the probe blade is fixed with an adhesive. (S30 step)

마지막으로, 상기 지그를 탐침블레이드에서 이탈시킨다.(S40단계)Finally, the jig is separated from the probe blade (step S40).

도 6a 내지 6e는 본 발명에 따른 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정의 일례를 상세히 설명하기 위한 도면으로서, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120) 이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)을 결합봉(600a,600b)에 삽입시켜 복수개의 탐침블레이드를 적층하되, 상기 탐침블레이드(100)의 사이에 일정 두께(T1)를 갖는 판재(700)를 개재시킨다.(도 6a)6A to 6E are views for explaining an example of a process for forming the probe blade bundle according to the present invention in detail, and the probes 110 and 120 are provided at one end and the other end, and at least two through holes ( Insert a through hole (130a, 130b) of the probe blade 100 is 130a, 130b is formed in the coupling rod (600a, 600b) to stack a plurality of probe blades, the constant between the probe blades (100) A plate 700 having a thickness T1 is interposed (FIG. 6A).

이어서, 상기 탐침블레이드(100)의 두께(T2)와 일치되는 간극(T2)(811)이 복수개로 형성되어 지그(Jig)(800)에 상기 복수개의 탐침블레이드(100)를 삽입시킨다.(도 6b)Subsequently, a plurality of gaps T2 811 corresponding to the thickness T2 of the probe blade 100 are formed to insert the plurality of probe blades 100 into the jig 800. 6b)

그 후, 상기 복수개의 탐침블레이드(100)의 일측과 타측에 접착제(150)를 도포한다.(도 6c)Thereafter, the adhesive 150 is applied to one side and the other side of the plurality of probe blades 100 (FIG. 6C).

여기서, 상기 접착제(150)가 에폭시인 경우, 상기 에폭시를 경화시키는 공정이 더 구비된다.Here, when the adhesive 150 is an epoxy, a step of curing the epoxy is further provided.

그 다음, 상기 판재(700)를 제거한다.(도 6d)Then, the plate 700 is removed (FIG. 6D).

이 때, 상기 판재(700)의 제거로 상기 복수개의 탐침블레이드(100)는 판재(700)의 두께만큼 일정한 간격으로 이격되게 된다.At this time, by removing the plate 700, the plurality of probe blades 100 are spaced at regular intervals by the thickness of the plate 700.

마지막으로, 상기 지그(800)에서 복수개의 탐침 블레이드(100)를 이탈시키면, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)이 형성된다.(도 6e)Finally, when the plurality of probe blades 100 are separated from the jig 800, the probes 110 and 120 are provided at one end and the other end, and at least two through holes 130a and 130b are formed in the inside. The probe blade bundle 200 having a plurality of probe blades 100 are formed to be fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other (FIG. 6E).

물론, 여기서, 상기 결합봉(600a,600b)은 제거해야 한다.Of course, here, the coupling rod (600a, 600b) should be removed.

이렇게, 판재(700)를 사용하면, 판재(700)의 두께에 탐침블레이드(100) 사이 간격인 피치(Pitch)가 의존하기 때문에, 파인 피치(Fine pitch)를 구현할 수 있게 된다.As such, when the plate 700 is used, the pitch of the gap between the probe blades 100 depends on the thickness of the plate 700, so that a fine pitch can be realized.

이상 상술한 바와 같이, 본 발명은 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention is equipped with a probe blade body made of a plurality of probe blades are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other in the probe block body, there is no need for an insulation slit as in the prior art, alignment of the probe blade and the insulation slit Since the process does not need to be performed, the error of the probe position of the probe blade can be eliminated, so that the inspection can be performed accurately.

본 발명은 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the invention has been described in detail only with respect to specific examples, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the spirit of the invention, and such modifications and variations belong to the appended claims.

Claims (7)

일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제(150)로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)과; Probes 110 and 120 are provided at one end and the other end, and a plurality of probe blades 100 having at least two through holes 130a and 130b formed therein are fixed with an adhesive 150 to be spaced apart from each other. A blade bundle 200; 상기 탐침블레이드 다발(200)이 하부에 위치되고, 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)와; A probe block body 300 having the probe blade bundle 200 positioned below and having at least two assembly holes 320; 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 각각 위치되고, 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(420)이 형성된 한 쌍의 측면 커버(400a,400b)와; Located on both sides of the probe block body 300 corresponding to both sides of the probe blade bundle 200, respectively, the assembling hole 320 of the probe block body 300 and the through holes 130a and 130b of the probe blade. A pair of side covers 400a and 400b formed with balls 420 corresponding to the positions of the balls 420; 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(420)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립(320)공 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 삽입되어 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시키는 고정봉(500a,500b,500c,500d)으로 구성된 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체.The probe blade bundle is inserted into the balls 420 of the side covers 400a and 400b and the assembly 320 of the probe block body 300 and the through holes 130a and 130b of the probe blade 100. Probe block assembly for pattern inspection of the flat panel display consisting of a fixed rod (500a, 500b, 500c, 500d) for fixing the 200 to the probe block body (300). 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 프로브블록 몸체(300) 하부에는, Under the probe block body 300, 상기 탐침블레이드 다발(200)의 상부면 형상과 대응되는 굴곡부(310)가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체.Probe block assembly for pattern inspection of the flat panel display, characterized in that the bent portion 310 is formed corresponding to the shape of the top surface of the probe blade bundle (200). 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, The method according to claim 1 or 2, 상기 접착제(150)는, The adhesive 150, 에폭시인 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체.Probe block assembly for pattern inspection of a flat panel display, characterized in that the epoxy. 복수개의 탐침블레이드(100) 각각이 상호 이격되도록 접착제(150)로 복수개의 탐침블레이드(100)를 고정시켜 탐침블레이드 다발(200)을 만드는 단계와;Fixing the plurality of probe blades 100 with an adhesive 150 so that each of the plurality of probe blades 100 is spaced apart from each other to make the probe blade bundle 200; 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 장착하는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법. Method for assembling the probe block pattern inspection of the flat panel display comprising the step of mounting the probe blade bundle 200 to the probe block body (300). 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제(150)로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)이 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)의 하부에 위치시키는 단계와;Probes 110 and 120 are provided at one end and the other end, and a plurality of probe blades 100 having at least two through holes 130a and 130b formed therein are fixed with an adhesive 150 to be spaced apart from each other. Positioning the blade bundle 200 under the probe block body 300 having at least two assembly holes 320; 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(420)이 형성된 한 쌍의 측면 커버(400a,400b)를 준비하는 단계와;Prepare a pair of side covers 400a and 400b in which the holes 420 corresponding to the positions of the assembly hole 320 of the probe block body 300 and the through holes 130a and 130b of the probe blade 100 are formed. Making a step; 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 측면 커버(400a,400b)를 장착하는 단계와;Mounting side covers (400a, 400b) on both sides of the probe block body (300) corresponding to both sides of the probe blade bundle (200); 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(420)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320) 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 고정봉(500a,500b,500c,500d)을 삽입시켜 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시키는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법. Fixing rods 500a, 500b, and 500c in the holes 420 of the side covers 400a and 400b, the assembly holes 320 of the probe block body 300, and the through holes 130a and 130b of the probe blade 100, respectively. And 500d) inserting the probe blade bundle 200 to fix the probe block body 300 to the probe block assembly method for pattern inspection of a flat panel display. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, The method according to claim 4 or 5, 상기 탐침블레이드 다발(200)은,The probe blade bundle 200, 복수개의 탐침블레이드(100)를 상호 이격되도록 적층하는 단계와; Stacking the plurality of probe blades 100 to be spaced apart from each other; 상기 적층된 복수개의 탐침블레이드(100)를 지그(800)에 삽입시켜 고정시키는 단계와;Inserting and fixing the plurality of stacked probe blades (100) into a jig (800); 상기 탐침블레이드(100)를 접착제(150)로 고정시키는 단계와;Fixing the probe blade (100) with an adhesive (150); 상기 지그(800)를 탐침블레이드(100)에서 이탈시키는 단계를 수행하여 형성하는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법. Method for assembling the probe block pattern inspection of the flat panel display, characterized in that formed by performing the step of leaving the jig 800 from the probe blade (100). 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, The method according to claim 4 or 5, 상기 탐침블레이드 다발(200)은, The probe blade bundle 200, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)을 결합봉(600a,600b)에 삽입시켜 복수개의 탐침블레이드(100)를 적층하되, 상기 탐침블레이드(100)의 사이에 일정 두께(T1)를 갖는 판재(700)를 개재시키는 단계와;Probes 110 and 120 are provided at one end and the other end, and at least two through holes 130a and 130b of the probe blade 100 are formed at the inner side thereof. Stacking a plurality of probe blades 100 by inserting the probe blades into the plurality of probe blades, and interposing a plate 700 having a predetermined thickness T1 between the probe blades 100; 상기 탐침블레이드(100)의 두께(T2)와 일치되는 간극(T2)이 복수개로 형성되어 지그(Jig)(800)에 상기 복수개의 탐침블레이드(100)를 삽입시키는 단계와;Inserting the plurality of probe blades (100) into a jig (800) by forming a plurality of gaps (T2) matching the thickness (T2) of the probe blade (100); 상기 복수개의 탐침블레이드(100)의 일측과 타측에 접착제(150)를 도포하는 단계와;Applying an adhesive (150) to one side and the other side of the plurality of probe blades (100); 상기 판재(700)를 제거하는 단계와;Removing the plate 700; 상기 지그(800)에서 복수개의 탐침 블레이드(100)를 이탈시키는 단계를 수행하여 형성되는 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법. Method for assembling a probe block for pattern inspection of a flat panel display, characterized in that formed by performing the step of leaving the plurality of probe blades (100) in the jig (800).
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