KR100697218B1 - Probe block assembly for inspecting flat display panel and assembling method therefor - Google Patents
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Abstract
본 발명은 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것으로, 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to a probe block assembly for inspecting a pattern of a flat panel display and a method for assembling the same, wherein a plurality of probe blades are attached to the probe block body by fixing a plurality of probe blades to each other so as to be spaced apart from each other. Since the slits are not required and the alignment process between the probe blade and the insulating slit is not performed, an error in the probe position of the probe blade can be eliminated, so that the inspection can be accurately performed.
평판형 디스플레이, 패널, 검사, 탐침블레이드, 접착제 Flat Panel Displays, Panels, Inspection, Probe Blades, Adhesives
Description
도 1은 종래 프로브블록의 조립단면도1 is an assembled cross-sectional view of a conventional probe block
도 2는 본 발명에 따른 프로브블록에 장착되는 탐침블레이드의 측면도Figure 2 is a side view of the probe blade mounted to the probe block according to the present invention
도 3a와 3b는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 상태를 개략적으로 설명하기 위한 도면3A and 3B are views for schematically explaining a state in which a probe block for pattern inspection of a flat panel display according to the present invention is assembled;
도 4a 내지 4c는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 일례를 구체적으로 설명하기 위한 도면4A to 4C are views for explaining an example in which the probe block for pattern inspection of the flat panel display according to the present invention is assembled.
도 5는 본 발명에 따라 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정 흐름도5 is a process flow diagram for forming a probe blade bundle according to the present invention.
도 6a 내지 6e는 본 발명에 따른 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정의 일례를 상세히 설명하기 위한 도면6a to 6e are views for explaining in detail an example of a process for forming a probe blade bundle according to the present invention;
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of code about main part of drawing ※
100: 탐침블레이드 110,120: 탐침100:
130a,130b: 관통공 150: 접착제130a, 130b: through hole 150: adhesive
200: 탐침블레이드 다발 300: 프로브블록 몸체200: probe blade bundle 300: probe block body
310: 굴곡부 320: 조립공310: bend portion 320: assembly worker
400a,400b: 측면 커버 500a,500b,500c,500d: 고정봉400a, 400b:
600a,600b: 결합봉 700: 판재600a, 600b: Bonding rod 700: Plate
800: 지그800: jig
본 발명은 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법에 관한 것이다. The present invention relates to a probe block assembly for inspecting a pattern of a flat panel display and a method for assembling the same, and more particularly, by attaching a probe blade bundle formed on the probe block body to which a plurality of probe blades are fixed by an adhesive so as to be spaced apart from each other, Probe for pattern inspection of flat panel display, which does not need insulation slit like technology, and does not need to perform probe blade and insulation slit alignment process, eliminating the error of probe position of probe blade. A block assembly and a method for assembling thereof are provided.
일반적으로, 액정디스플레이 패널(Liquid Crystal Display Panel) 및 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel)과 같은 평판형 디스플레이가 제조되면, 제조된 패널의 전기적, 광학적 이상 여부를 검사하는 공정을 수행한다.In general, when a flat panel display such as a liquid crystal display panel and a plasma display panel is manufactured, a process of inspecting an electrical or optical abnormality of the manufactured panel is performed.
이러한, 검사를 수행하여 패널의 불량품을 가려내기 때문에, 검사 공정은 반 드시 시행되고 있다.Since the inspection is performed to screen out defective products of the panel, the inspection process is necessarily performed.
이 검사 공정을 수행하기 위한 프로브형 검사장치가 존재하게 된다. There is a probe type inspection apparatus for performing this inspection process.
도 1은 종래 프로브블록의 조립단면도로서, 이 프로브블록은 한국 공개특허공보 제10-1998-0032242호에 개시되어 있다.1 is an assembly cross-sectional view of a conventional probe block, which is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-1998-0032242.
즉, 이 종래 프로브블록(60)은 블록몸체(61)에 복수개의 탐침블레이드(62)가 블록몸체(61)의 저면 선단에 구비된 절연슬릿(63)의 슬릿에 안착하여 일정한 간격을 유지한 상태로 지지되고, 이들 복수개의 탐침블레이드(62)들을 2개의 고정봉(64)이 전후단에서 각각 관통되어 그 양쪽 선단이 블록몸체(61)의 측면에 조립되는 사이드커버(도시생략)에 지지됨으로써 블록몸체(61)에 조립되게 되어 있다. That is, the
상기한 바와 같은 종래의 프로브블록(60)은 절연슬릿(63)을 블록몸체(61)에 정밀하게 고정되지 않는 경우에는, 탐침블레이드(62)와 절연슬릿(63)이 오정렬이 되는 문제점이 발생한다.As described above, in the
즉, 상기 탐침블레이드(62)가 상기 절연슬릿(63)의 슬릿에 원활한 안착이 이루어지지 않게 된다.That is, the
또한, 전술된 오정렬이 있는 경우, 상기 탐침블레이드(62)가 절연슬릿(63)의 슬릿에 안착될 때 과도한 힘으로 탐침블레이드(62)가 슬릿에 안착되어 슬릿이 파손되게 된다.In addition, in the case of the misalignment described above, when the
그러므로, 종래의 기술에서는 탐침블레이드와 절연슬릿의 정밀한 오정렬에 의한 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생되어 검사를 정확하게 하기 어려운 문제점이 있다.Therefore, in the related art, an error in the probe position of the probe blade due to precise misalignment of the probe blade and the insulating slit occurs, which makes it difficult to accurately inspect the probe blade.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및 그의 조립방법을 제공하는 데 목적이 있다.The present invention is to solve the problems described above, by mounting a probe blade bundle made of a plurality of probe blades are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other on the probe block body, there is no need for an insulation slit as in the prior art, and It is an object of the present invention to provide a probe block assembly for pattern inspection of a flat panel display and a method of assembling the same, by eliminating the occurrence of an error in the probe position of the probe blade because the insulation slit does not need to be aligned. have.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 1 양태(樣態)는, 일측 선단과 타측 선단에 탐침이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공이 형성되어 있는 탐침블레이드 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발과; According to a first aspect of the present invention, a probe is provided at one end and the other, and a plurality of probe blades having at least two through holes formed therein are spaced apart from each other. Probe blade bundle made of a fixed;
상기 탐침블레이드 다발이 하부에 위치되고, 적어도 둘 이상의 조립공을 갖는 프로브블록 몸체와; A probe block body having the probe blade bundle positioned below and having at least two assembly holes;
상기 탐침블레이드 다발의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체의 양 측면에 각각 위치되고, 상기 프로브블록 몸체의 조립공과 상기 탐침블레이드의 관통공의 위치에 대응되는 공들이 형성된 한 쌍의 측면 커버와; A pair of side covers positioned at both sides of the probe block body corresponding to both sides of the probe blade bundle, and formed with balls corresponding to positions of the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade;
상기 측면 커버의 공들과 상기 프로브블록 몸체의 조립공 및 상기 탐침블레이드의 관통공에 삽입되어 상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 고정시키는 고정봉으로 구성된 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체가 제공된다.Provided is a probe block assembly for pattern inspection of a flat panel display comprising a fixing rod which is inserted into the holes of the side cover and the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade to fix the probe blade bundle to the probe block body. .
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 2 양태(樣態)는, A second preferred aspect for achieving the above objects of the present invention is
복수개의 탐침블레이드 각각이 상호 이격되도록 접착제로 복수개의 탐침블레이드를 고정시켜 탐침블레이드 다발을 만드는 단계와;Fixing the plurality of probe blades with an adhesive so that each of the plurality of probe blades is spaced apart from each other to form a probe blade bundle;
상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법이 제공된다.Provided is a method for assembling a probe block for pattern inspection of a flat panel display including mounting the probe blade bundle on a probe block body.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 3 양태(樣態)는, A third preferred aspect for achieving the above objects of the present invention is
일측 선단과 타측 선단에 탐침이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공이 형성되어 있는 탐침블레이드 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발이 적어도 둘 이상의 조립공을 갖는 프로브블록 몸체의 하부에 위치시키는 단계와;Probe is provided at one end and the other end, and a plurality of probe blades in which at least two through holes are formed inside are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other under the probe block body having at least two assembly holes. Positioning;
상기 프로브블록 몸체의 조립공과 상기 탐침블레이드의 관통공의 위치에 대응되는 공들이 형성된 한 쌍의 측면 커버를 준비하는 단계와;Preparing a pair of side covers formed with balls corresponding to positions of the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade;
상기 탐침블레이드 다발의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체의 양 측면에 측면 커버를 장착하는 단계와;Mounting side covers on both sides of the probe block body corresponding to both sides of the probe blade bundle;
상기 측면 커버의 공들과 상기 프로브블록 몸체의 조립공 및 상기 탐침블레이드의 관통공에 고정봉을 삽입시켜 상기 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 고정시키는 단계를 포함하여 이루어진 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립방법이 제공된다.Probe block for pattern inspection of the flat panel display comprising the step of fixing the probe blade bundle to the probe block body by inserting a fixed rod into the holes of the side cover and the assembly hole of the probe block body and the through hole of the probe blade. An assembly method is provided.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 프로브블록에 장착되는 탐침블레이드의 측면도로서, 탐침블레이드(100)는 프로브블록에 장착되어 평판형 디스플레이의 패턴을 검사용하는데 사용된다.2 is a side view of the probe blade mounted to the probe block according to the present invention, the
이런 탐침블레이드(100)는 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있다.The
상기 탐침블레이드(100)의 일측 선단에 형성된 탐침(110)은 평판형 디스플레이의 패턴과 같은 피검사체의 배선과 접촉하게 되며, 타측 선단에 형성된 탐침(120)은 탭IC의 배선에 일대일 대응하여 ACF로 접속되게 된다. The
도 3a와 3b는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 상태를 개략적으로 설명하기 위한 도면으로서, 먼저, 복수개의 탐침블레이드(100) 각각이 상호 이격되도록(도 3a의 'P'간격) 접착제(150)로 복수개의 탐침블레이드(100)를고정시켜 탐침블레이드 다발(200)를 만든다.(도 3a)3A and 3B are views for schematically illustrating a state in which a probe block for pattern inspection of a flat panel display according to the present invention is assembled. First, each of the plurality of
여기서, 상기 접착제(150)는 에폭시 수지가 바람직하다.Here, the adhesive 150 is preferably an epoxy resin.
그 후, 상기 탐침블레이드 다발(200)를 프로브블록 몸체(300)에 장착한다.(도 3b)Thereafter, the
이로써, 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록의 조립은 완성된다.Thus, the assembly of the pattern inspection probe block of the flat panel display is completed.
도 4a 내지 4c는 본 발명에 따른 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록이 조립되는 일례를 구체적으로 설명하기 위한 도면으로서, 도 4a는 측면도로, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)이 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)의 하부에 위치된다.4A to 4C are views for explaining an example in which the probe block for pattern inspection of the flat panel display according to the present invention is assembled in detail. FIG. 4A is a side view and
여기서, 상기 프로브블록 몸체(300) 하부에는 상기 탐침블레이드 다발(200)의 상부면 형상과 대응되는 굴곡부(310)가 형성되어 있는 것이 바람직하고, 이 프로브블록 몸체(300)의 하부에 형성된 굴곡부(310)에 탐침블레이드 다발(200)을 밀착시켜 위치시키는 것이 조립 정렬을 우수하게 할 수 있다. Here, it is preferable that the
그리고, 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면과 프로브블록 몸체(300)의 측면은 일치하게 된다.Then, both side surfaces of the
또한, 상기 탐침블레이드 다발(200)에 존재하는 각각의 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)들은 상호 일치되어 대응되어서 연통된다.In addition, the through
그 후, 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(420)이 형성된 한 쌍의 측면 커버 (400a,400b)를 준비한다.(도 4b)Thereafter, a pair of side covers 400a and 400b in which
마지막으로, 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 측면 커버(400a,400b)를 장착하고, 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(420)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320) 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 고정봉(500a,500b,500c,500d)을 삽입시켜 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시킨다.(도 4c)Finally, side covers 400a and 400b are mounted on both sides of the
상기 도 4c의 공정으로 조립된 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체는, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)과; 상기 탐침블레이드 다발(200)이 하부에 위치되고, 적어도 둘 이상의 조립공(320)을 갖는 프로브블록 몸체(300)와; 상기 탐침블레이드 다발(200)의 양측면에 해당되는 프로브블록 몸체(300)의 양 측면에 각각 위치되고, 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320)과 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)의 위치에 대응되는 공들(320)이 형성된 한 쌍의 측면 커버(400a,400b)와; 상기 측면 커버(400a,400b)의 공들(320)과 상기 프로브블록 몸체(300)의 조립공(320) 및 상기 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)에 삽입되어 상기 탐침블레이드 다발(200)을 프로브블록 몸체(300)에 고정시키는 고정봉(500a,500b,500c,500d)으로 구성된다.The probe block assembly for pattern inspection of the flat panel display assembled in the process of FIG. 4C includes
도 5는 본 발명에 따라 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정 흐름도로서, 복수개의 탐침블레이드를 상호 이격되도록 적층한다.(S10단계)5 is a process flow diagram for forming a probe blade bundle according to the present invention, a plurality of probe blades are stacked to be spaced apart from each other (step S10).
그 다음, 상기 적층된 복수개의 탐침블레이드를 지그에 삽입시켜 고정시킨다.(S20단계)Thereafter, the stacked plurality of probe blades is inserted into and fixed to the jig (S20).
연이어, 상기 탐침블레이드를 접착제로 고정시킨다.(S30단계)Subsequently, the probe blade is fixed with an adhesive. (S30 step)
마지막으로, 상기 지그를 탐침블레이드에서 이탈시킨다.(S40단계)Finally, the jig is separated from the probe blade (step S40).
도 6a 내지 6e는 본 발명에 따른 탐침블레이드 다발을 형성하기 위한 공정의 일례를 상세히 설명하기 위한 도면으로서, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120) 이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100)의 관통공(130a,130b)을 결합봉(600a,600b)에 삽입시켜 복수개의 탐침블레이드를 적층하되, 상기 탐침블레이드(100)의 사이에 일정 두께(T1)를 갖는 판재(700)를 개재시킨다.(도 6a)6A to 6E are views for explaining an example of a process for forming the probe blade bundle according to the present invention in detail, and the
이어서, 상기 탐침블레이드(100)의 두께(T2)와 일치되는 간극(T2)(811)이 복수개로 형성되어 지그(Jig)(800)에 상기 복수개의 탐침블레이드(100)를 삽입시킨다.(도 6b)Subsequently, a plurality of
그 후, 상기 복수개의 탐침블레이드(100)의 일측과 타측에 접착제(150)를 도포한다.(도 6c)Thereafter, the adhesive 150 is applied to one side and the other side of the plurality of probe blades 100 (FIG. 6C).
여기서, 상기 접착제(150)가 에폭시인 경우, 상기 에폭시를 경화시키는 공정이 더 구비된다.Here, when the adhesive 150 is an epoxy, a step of curing the epoxy is further provided.
그 다음, 상기 판재(700)를 제거한다.(도 6d)Then, the
이 때, 상기 판재(700)의 제거로 상기 복수개의 탐침블레이드(100)는 판재(700)의 두께만큼 일정한 간격으로 이격되게 된다.At this time, by removing the
마지막으로, 상기 지그(800)에서 복수개의 탐침 블레이드(100)를 이탈시키면, 일측 선단과 타측 선단에 탐침(110,120)이 구비되어 있고, 내측에는 적어도 둘 이상의 관통공(130a,130b)이 형성되어 있는 탐침블레이드(100) 복수개가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발(200)이 형성된다.(도 6e)Finally, when the plurality of
물론, 여기서, 상기 결합봉(600a,600b)은 제거해야 한다.Of course, here, the coupling rod (600a, 600b) should be removed.
이렇게, 판재(700)를 사용하면, 판재(700)의 두께에 탐침블레이드(100) 사이 간격인 피치(Pitch)가 의존하기 때문에, 파인 피치(Fine pitch)를 구현할 수 있게 된다.As such, when the
이상 상술한 바와 같이, 본 발명은 복수개의 탐침블레이드가 상호 이격되도록 접착제로 고정되어 이루어진 탐침블레이드 다발을 프로브블록 몸체에 장착하여, 종래 기술과 같은 절연슬릿이 필요없고, 탐침블레이드와 절연슬릿의 정렬공정을 수행하지 않아도되어 탐침블레이드의 탐침위치의 오류가 발생을 제거함으로써, 검사를 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention is equipped with a probe blade body made of a plurality of probe blades are fixed with an adhesive so as to be spaced apart from each other in the probe block body, there is no need for an insulation slit as in the prior art, alignment of the probe blade and the insulation slit Since the process does not need to be performed, the error of the probe position of the probe blade can be eliminated, so that the inspection can be performed accurately.
본 발명은 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the invention has been described in detail only with respect to specific examples, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the spirit of the invention, and such modifications and variations belong to the appended claims.
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