KR101514304B1 - Pin Block for Preventing False Defect and Part Probe Station Using the Same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 가성불량 방지를 위한 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기에 관한 것으로, 핀 블록은, 부품검사장비의 핀 블록 PCB와 피검사대상인 부품의 커넥터 사이에 배치되는 핀 블록으로서, 다층의 블록들에 의해 마련되고 측면이 밀폐형 구조를 구비하는 몸체, 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 배열, 및 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 진공 유입용 중앙 홀을 포함하여 구성된다.A pin block is a pin block disposed between a pin block PCB of a part inspecting equipment and a connector of a part to be inspected. The pin block includes a plurality of blocks And a central hole for vacuum inflow through an upper surface and a lower surface of the body.

Description

가성불량 방지를 위한 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기{Pin Block for Preventing False Defect and Part Probe Station Using the Same}Technical Field [0001] The present invention relates to a pin block for preventing a false defect, and a component checker using the pin block.

본 발명은 가성불량 방지를 위한 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기에 관한 것이다. FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a pin block for preventing malfunction and a component inspecting device using the pin block.

연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)은 에폭시 혹은 페놀 등의 열경화성 수지에 동박을 적층한 경성인쇄회로기판(Rigid Printed Circuit Board)과 달리 얇고 자유로운 굴곡성과 함께 무게가 매우 가볍다는 특징을 지니고 있다. 이러한 연성인쇄회로기판은 전자기기의 협소한 공간에 효율적인 배열이 가능하고 소형 및 경량화가 가능하며 설계와 디자인의 자유도가 매우 높아 전자제품의 경박단소화 및 디지털화에 따라 그 수요가 매년 급격히 증가하고 있다. 주요 용도로는 노트북 컴퓨터, 카메라, 휴대전화, AV 기기 등으로 특히 소형 정밀 전자기기류에 많이 사용되고 있다.Flexible Printed Circuit Board (FPCB) is a flexible printed circuit board (FPCB) that is made of a thermosetting resin such as epoxy or phenol. The flexible printed circuit board is thin and flexible and has very light weight have. Such a flexible printed circuit board can be efficiently arranged in a narrow space of electronic equipment, can be made compact and lightweight, and has a very high degree of freedom in design and design, so that the demand for electronic products is rapidly increasing every year . Mainly used for notebook computer, camera, mobile phone, AV equipment, etc. Especially, it is widely used in small precision electronic devices.

일반적으로 FPCB 검사에는 납땜 쇼트, 단선 등을 검사하는 비젼검사, 부품 성능 및 품질을 검사하는 부품검사 등을 실시한다.In general, FPCB inspection includes vision inspection to inspect soldering shorts and disconnection, component inspection to check component performance and quality.

그러나, 종래의 FPCB 부품검사에서는 검사장비에 연결된 FPCB 패턴에 납땜을 실시하여 FPCB를 프로브에 접촉하는 방식으로 여러 개의 프로브 중 단 하나의 프로브가 마모되거나 파손되어 교체하고자 하는 경우 교체가 불가능하고 이에 따라 검사 지그 자체를 재사용할 수 없어 버려야 하는 문제점이 있다.However, in the conventional inspection of the FPCB parts, soldering is performed to the FPCB pattern connected to the inspection equipment and the FPCB is contacted to the probe. When only one probe among the plurality of probes is worn or damaged and is to be replaced, There is a problem that the inspection jig itself can not be reused and must be discarded.

또 다른 종래 기술에서는 전술한 문제를 보완하기 위하여 피검사대상인 FPCB와 프로브를 전기적으로 접촉시킬 때 공압수단에 의해 고정한 후 FPCB의 패턴에 프로브를 탄성적으로 접촉하는 방식을 이용하기도 한다. 하지만, 이러한 방식은 프로브 또는 핀 블록 내의 핀의 마모나 파손시 교체가 용이하다는 장점이 있으나 FPCB의 특성상 FPCB가 약간이라도 휘어지거나 형태의 변화가 있을 때 핀 블록의 핀과 FPCB의 커넥터(패턴)가 정밀하게 접촉하지 못하여 가성불량이 증가하는 문제가 있다. 가성불량은 불량이 아닌 부품을 불량으로 판단하는 부품검사 분야의 용어이다.In order to solve the above-described problem, another conventional technique uses a method of elastically contacting the probe with the pattern of the FPCB after fixing the FPCB to be inspected to the probe by the pneumatic means when making electrical contact with the probe. However, this method has an advantage in that it can be easily replaced when the pins in the probe or pin block are worn or damaged. However, due to the characteristics of the FPCB, when the FPCB slightly warps or changes its shape, There is a problem that the pseudo defect is increased because the contact is not made with precision. Pseudo defect is a term in the field of parts inspection which judges that a component is not defective but is defective.

또한, 대부분의 부품검사에서는 부품이나 부품 어셈블리의 성능 및 품질 검사를 위하여 단독의 검사장비가 이용된다. 예컨대, 휴대폰 부품 등의 작고 정밀한 부품을 시험하기 위한 검사장비에서는 핀 블록이라고 하는 정밀의 커넥터가 사용된다. 그런데, 이러한 핀 블록의 적용 및 동작에서 종종 가성불량이 발생하여 제품 자체가 불량이 아님에도 불량으로 검출하는 사례가 많아 대량 생산의 납기 및 품질관리에 차질이 발생하고 있다.In addition, for most part inspections, a single inspecting instrument is used to inspect the performance and quality of parts and component assemblies. For example, in an inspection apparatus for testing small and precise parts such as mobile phone parts, a precision connector called a pin block is used. However, in the application and operation of such a pin block, there are often cases where a false defect occurs, so that even when the product itself is not defective, many cases are detected as defects, causing a problem in delivery and quality control of mass production.

본 발명은, 부품검사장비를 설계 및 제작하는 과정에서 가성불량이라고 하는 문제점을 해결하고자 도출된 것으로, 연성인쇄회로기판(FPCB)을 포함한 부품 또는 부품 어셈블리의 성능 및 품질 검사 시 가성불량의 발생률을 크게 낮출 수 있는 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기를 제공하고자 한다.The present invention has been made to solve the problem of pseudo defect in the process of designing and manufacturing parts inspection equipment, and it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for inspecting parts and component assemblies including a flexible printed circuit board (FPCB) A pin block and a component inspection device using the pin block.

또한, 본 발명은 부품 및 부품 어셈블리(제품)를 검사하는 단독 검사장비 외에 여러 개를 동시에 검사하는 자동화 검사 장비로 구성될 경우에도 동일하게 적용하여 가성불량의 발생률을 크게 낮출 수 있는 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기를 제공하고자 한다.In addition, the present invention can be applied to a pin block and a pin block, which can significantly reduce the incidence of false defects by equally applying the present invention to an automatic inspection device that simultaneously inspects a plurality of parts in addition to a single inspection device for inspecting parts and component assemblies We would like to provide a used parts inspection machine.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 측면에 따른 핀 블록은, 부품검사장비의 핀 블록 PCB(Printed Circuit Board)와 피검사대상인 부품의 커넥터 사이에 배치되는 핀 블록으로서, 다층의 블록들에 의해 마련되고 측면이 밀폐형 구조를 구비하는 몸체, 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 배열, 및 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 중앙 홀을 포함하여 구성된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a pin block, which is disposed between a pin block PCB (Printed Circuit Board) of a component inspection apparatus and a connector of a component to be inspected, And a center hole penetrating between an upper surface and a lower surface of the body. The upper surface and the lower surface of the body may have the same shape.

일 실시예에서, 중앙 홀은 홀 배열의 홀 개수에 따라 복수의 원형 홀 또는 적어도 하나의 장공홀을 포함한다.In one embodiment, the central hole comprises a plurality of circular holes or at least one elongated hole depending on the number of holes in the hole array.

본 발명의 다른 일 측면에 따른 부품검사기는, 다층의 블록들에 의해 마련되고 측면이 밀폐형 구조인 몸체를 구비하며 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 배열 및 중앙 홀을 구비하는 핀 블록과, 핀블록 하면에 결합하며 중앙 홀에 대응하는 진공형성홀을 구비하는 핀 블록 PCB(Printed Circuit Board), 및 핀 블록 PCB 하부에 결합하며 진공형성홀에 연결되는 진공유입부를 구비하는 핀 블록 하단 기구물을 포함하여 구성된다.According to another aspect of the present invention, there is provided a component inspecting apparatus comprising: a pin block provided with a multi-layer block and having a body having a closed side structure and having a hole arrangement and a center hole passing between an upper surface and a lower surface of the body; A pin block PCB (Printed Circuit Board) coupled to the underside of the pin block and having a vacuum forming hole corresponding to the center hole, and a pin block bottom mechanism having a vacuum inlet coupled to the bottom of the pin block PCB and connected to the vacuum forming hole .

일 실시예에서, 진공유입부는 핀 블록 하단 기구물의 상부면에서 골짜기 형태의 채널을 통해 핀 블록 하단 기구물의 상면과 하면 사이를 관통하여 배치되는 진공호스에 연결된다.In one embodiment, the vacuum inlet is connected to a vacuum hose disposed through the valley-shaped channel at the top surface of the pin block bottom mechanism, passing through between the top and bottom surfaces of the pin block bottom mechanism.

일 실시예에서, 진공유입부는 진공형성홀과 대응하며 핀 블록 하단 기구물의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 형태의 진공유입홀로 마련된다.In one embodiment, the vacuum inflow portion corresponds to the vacuum forming hole and is provided with a vacuum inflow hole in the form of a hole passing between the upper surface and the lower surface of the pin block lower mechanism.

일 실시예에서, 중앙 홀의 단면은 홀 배열의 홀 개수에 따라 복수개의 원형 또는 적어도 하나의 타원형으로 마련된다.In one embodiment, the cross-section of the center hole is provided in a plurality of circular or at least one oval shapes depending on the number of holes in the hole arrangement.

일 실시예에서, 부품검사기는, 핀 블록 상부에 배치되며 피검사대상인 부품의 커넥터를 사이에 두고 핀 블록을 압착하는 공압장치를 더 포함한다.In one embodiment, the component inspector further comprises a pneumatic device disposed on the top of the pin block and squeezing the pin block across the connector of the part to be inspected.

본 발명에 따르면, 연성인쇄회로기판(FPCB)을 포함한 부품 및 부품 어셈블리의 성능 및 품질 검사 시 가성불량의 발생률을 크게 낮출 수 있는 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a pin block and a component inspecting device using the pin block, which can greatly reduce the incidence of false defect in quality and quality inspection of components and component assemblies including a flexible printed circuit board (FPCB).

또한, 본 발명에 따르면, 부품 및 부품 어셈블리(제품)를 검사하는 단독 검사장비 외에 여러 개를 동시에 검사하는 자동화 검사 장비로 구성될 경우에도 동일하게 적용하여 가성불량의 발생률을 크게 낮출 수 있는 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기를 제공할 수 있다.In addition, according to the present invention, even when the automatic inspection apparatus is composed of a single inspection apparatus for inspecting parts and parts assemblies (products), and a plurality of automatic inspection apparatuses simultaneously, the pin block And a component checker using the same.

아울러, 본 발명에 따르면, 부품검사장비의 가성불량 판정에 따라 추출된 가성불량 제품을 재시험하는 시간 및 인건비 등의 손실을 줄여 비용을 절감할 수 있다. 특히, 휴대폰용 부품 생산의 경우 대량의 부품이 검사되어야 하는데, 가성불량이 많거나 자주 발생한다면 부품의 납기 및 품질관리, 나아가 휴대폰 같은 세트 제품에서의 대외 경쟁력이 저하되는 결과를 초래하게 되지만, 본 발명에 따르면, 가성불량의 발생률을 크게 낮춤으로써 전술한 문제점을 해결하여 제품 가격, 신뢰성 등에서 제품 경쟁력을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, it is possible to reduce the cost of retesting a pseudo defective product extracted in accordance with the false defect judgment of the parts inspection equipment, loss of labor cost, and the like. Particularly, in the case of mobile phone parts production, a large number of parts must be inspected. If there is a large number of false defects or frequent occurrence, the delivery and quality control of the parts and the external competitiveness of the set products such as mobile phones will be deteriorated. According to the invention, it is possible to solve the above-described problems by greatly reducing the incidence of false defects, thereby increasing the product competitiveness in terms of product price, reliability, and the like.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 또는 부품 어셈블리를 검사하는 부품검사기를 나타내는 사시도.
도 2는 도 1의 부품검사기에서 부품 어셈블리가 놓인 핀 블록부 및 공압장치의 부분 확대 사시도.
도 3은 도 2의 핀 블록 PCB, 핀 블록 및 부품 어셈플리의 분해 사시도.
도 4는 도 3의 핀 블록의 사시도.
도 5는 비교예의 핀 블록의 사시도.
도 6은 도 4의 핀 블록의 장축 절단 단면도.
도 7은 도 2의 핀 블록 하단 기구물의 사시도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Figure 1 is a perspective view of a part tester for inspecting a part or part assembly in accordance with an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a partially enlarged perspective view of a pneumatic device and a pin block portion on which the component assembly is placed in the component tester of Figure 1;
3 is an exploded perspective view of the pin block PCB, the pin block, and the component assembly of FIG. 2;
Figure 4 is a perspective view of the pin block of Figure 3;
5 is a perspective view of a pin block of a comparative example.
FIG. 6 is a longitudinal sectional view taken along the long axis of the pin block of FIG. 4; FIG.
7 is a perspective view of the lower pin mechanism of FIG. 2;

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 후술하는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and this may vary depending on the intention or custom of the user, the operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout this specification.

본 발명은 검사장비 및 자동화 장비를 제작하기 위한 회로 및 기구설계 기술 그리고 실린더를 이용한 공압장치 설계 기술 등을 바탕으로 고안되었다.The present invention is based on circuit and instrument design techniques for manufacturing inspection equipment and automation equipment, and pneumatic device design technology using cylinders.

부품검사기에서 가성불량을 방지하는 것은 기본적인 과제이며, 가성불량의 구체적인 발생 원인은 핀 블록의 불량접촉에서 비롯된다. 따라서 본 발명에서는 핀 블록 접촉에서의 올바르고 정확한 접촉을 하기 위한 기구적인 해결 방법을 제시한다. 구체적으로는, 부품 어셈블리에 실장된 커넥터와 핀 블록의 해당 핀이 1대1로 정확히 정밀하게 접촉이 이루어질 수 있도록 하는 방안을 제시한다.Preventing false defects in the parts inspection machine is a fundamental problem, and the specific cause of the false defect is caused by bad contact of the pin block. Thus, the present invention provides a mechanical solution for correct and accurate contact in pin block contact. Specifically, it suggests that the connector mounted on the component assembly and the corresponding pin of the pin block can be accurately contacted one by one.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 및 부품 어셈블리를 검사하는 검사장비를 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing an inspection apparatus for inspecting a part and a part assembly according to an embodiment of the present invention;

도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 부품검사기는, 핀 블록(도 3의 10 참조), 핀 블록 PCB(20), 핀 블록 하부 구조물(30), 하우징 몸체(40), 상부 하우징(41), 공압장치(50), 주기판(60) 및 조작패널(70)을 포함하여 구성된다. 핀 블록, 핀 블록 PCB(20) 및 핀 블록 하부 구조물(30)은 핀 블록부를 형성한다.Referring to FIG. 1, the parts inspection machine according to the present embodiment includes a pin block (see 10 in FIG. 3), a pin block PCB 20, a pin block substructure 30, a housing body 40, A pneumatic device 50, a main board 60, and an operation panel 70. [0031] The pin block, the pin block PCB 20 and the pin block substructure 30 form a pin block portion.

핀 블록(Pin Block)은 휴대폰 부품 등의 작고 정밀한 부품을 시험하기 위한 검사장비에서 정밀의 커넥터로 사용되는 장치이다. 즉, 핀 블록은 제품의 커넥터(2)와 핀 블록 PCB(20)를 전기적 및 기구적으로 연결하기 위한 미세한 핀이 내장된 도전성 핀의 일련의 배열 구조를 지칭한다.Pin Block is a device used as a precision connector in test equipment for testing small and precise parts such as mobile phone parts. That is, the pin block refers to a series of arrangements of conductive pins with fine pins embedded therein for electrically and mechanically connecting the connector 2 of the product and the pin block PCB 20.

핀 블록 PCB(20)는 핀 블록과 주기판의 커넥터를 상호 연결한다. 핀 블록 PCB(20)는 핀 블록의 하부에 일체로 고정 결합될 수 있다.The pin block PCB 20 interconnects the pin block and the connector of the mother board. The pin block PCB 20 can be integrally fixed to the lower portion of the pin block.

핀 블록 하부 구조물(30)은 상부 하우징(41) 상에 배열되며 핀 블록 PCB(20)와 핀 블록의 조립체를 지지한다.The pin block substructure 30 is arranged on the upper housing 41 and supports an assembly of the pin block PCB 20 and the pin block.

하우징 몸체(40)는 부품검사기의 주기판(60) 등의 구성요소를 포위하여 보호하며, 그 일측에 조작패널(70)이 마련되는 부분을 구비한다.The housing body 40 surrounds and protects components such as the main panel 60 of the component inspection device and has a portion provided with the operation panel 70 on one side thereof.

상부 하우징(41)은 하우징 몸체(40)의 상부측을 덮고, 그 위에 핀 블록부와 공압장치가 마련되도록 구성된다.The upper housing 41 is configured to cover the upper side of the housing body 40, on which a pin block unit and a pneumatic device are provided.

공압장치(50)는 상부 하우징(41)의 상부에 배열되고, 하우징 몸체(40)에 고정 결합된다. 그리고, 공압장치(50)는 핀 블록 상에 놓이는 제품 커넥터를 압착하여 제품 커넥터(2)와 핀 블록의 신뢰성 있는 접촉을 지원하는 압착부(51)를 구비한다.The pneumatic device 50 is arranged on top of the upper housing 41 and is fixedly coupled to the housing body 40. The pneumatic device 50 has a pressing portion 51 for pressing the product connector placed on the pin block to support reliable contact between the product connector 2 and the pin block.

본 실시예에 있어서, 부품검사기는 개선된 구조를 갖는 핀 블록부를 하나의 기술적 특징으로 한다. 이와 관련하여, 부품검사기는 공압장치(50)에 의해 제품 커넥터와 핀 블록이 잘 접촉되도록 압착하는 부분과, 제품으로부터의 신호를 핀 블럭을 거쳐 주 기판으로 전기적 신호가 전달되도록 하는 핀 블록부 등에 주된 기술적 특징이 있다. 기타의 부분은 부품검사기의 일반적인 형태를 나타낼 수 있다.In this embodiment, the component tester has a technical feature of the pin block portion having the improved structure. In this regard, the component inspecting apparatus includes a part for pressing the product connector and the pin block so as to be in contact with each other by the pneumatic device 50, a pin block part for transmitting the signal from the product to the main board through the pin block, There are main technical features. The other part may represent the general form of the part checker.

도 2는 도 1의 부품검사기에서 부품 어셈블리가 놓인 핀 블록부 및 공압장치의 부분 확대 사시도이다.2 is a partially enlarged perspective view of a pin block portion and a pneumatic device in which the component assembly is placed in the component tester of FIG.

도 2를 참조하면, 본 실시예의 핀 블록부는 핀 블록, 핀 블록 PCB(20) 및 핀 블록 하부 구조물(30)로 이루어진 조립체 또는 적층체로서, 그 상부에 커넥터(2)를 구비한 제품(4)이 놓이는 골짜기 형태의 홈을 구비하고 제품 커넥터(2)가 공압장치(50)의 압착부(51)와 마주하도록 배열된다.2, the pin block portion of the present embodiment is an assembly or laminate composed of a pin block, a pin block PCB 20 and a pin block lower structure 30, and a product 4 And the product connector 2 is arranged so as to face the squeezed portion 51 of the pneumatic device 50. As shown in Fig.

부품 어셈블리(제품)의 커넥터(2)와 핀 블록이 기구적 및 전기적으로 접촉되면, 2차적으로 압착부(51)를 이용하여 핀 블록과 제품 커넥터(2)의 접촉이 잘 되도록 눌러준다.When the connector 2 of the component assembly (product) and the pin block are mechanically and electrically contacted, the pin block 51 is pressed to press the pin block and the product connector 2 with good contact.

이렇게 기구적/전기적으로 연결된 상태에서 핀 블록 PCB(20)와 주기판과의 전기적인 신호 전달을 통하여 부품 어셈블리 내에 존재하는 각종 부품의 성능과 품질을 주어진 사양을 기준으로 양품/불량을 검출하고 조작패널(70)을 통하여 표시하게 된다.In this state of mechanical / electrical connection, electrical signals are transmitted between the pin block PCB 20 and the main board to detect the quality / quality of various parts existing in the component assembly based on a given specification, (70).

도 3은 도 2의 핀 블록 PCB, 핀 블록 및 부품 어셈플리의 분해 사시도이다. 도 3은 도 2를 좀더 상세하게 나타내기 위하여 수직 방향으로 일부 구성요소를 분해하여 도시한 도면이다.3 is an exploded perspective view of the pin block PCB, the pin block and the component assembly of FIG. FIG. 3 is an exploded view of some components in a vertical direction in order to show FIG. 2 in more detail.

도 3을 참조하면, 본 실시예의 핀 블록 PCB(20)는, PCB 기판(21), 주기판과 핀 블록(10) 간의 신호를 전달하기 위한 커넥터(22), 핀 블록 PCB 고정용 홀(23), 핀 블록 고정용 홀(24) 및 진공유입용 홀(이하, 진공형성홀, 25)을 포함하여 구성된다.3, the pin block PCB 20 of the present embodiment includes a PCB substrate 21, a connector 22 for transmitting a signal between the main board and the pin block 10, a pin block PCB fixing hole 23, A pin block fixing hole 24, and a vacuum inflow hole (hereinafter referred to as a vacuum forming hole 25).

핀 블럭 PCB(20)와 핀 블록(10)은 검사장비 제작과정에 이미 조립된 상태를 유지하고 핀 블록(10)과 제품 커넥터(2)는 시험하고자 하는 제품을 작업자가 안착할 때 서로 접촉하도록 조립된다.The pin block PCB 20 and the pin block 10 are already assembled in the manufacturing process of the inspection equipment and the pin block 10 and the product connector 2 are brought into contact with each other Assembled.

즉, 부품검사기는 제품 커넥터(2)와 핀 블록(10)과 핀 블록 PCB(20) 간의 기구적으로 체결된 상태에서 제품(4)의 각종 부품의 성능 및 품질을 시험한다. 여기서, 핀 블록(10)과 핀 블록 PCB(20)는 부품검사기 제작시 초기 조립 후에는 다시 체결을 하지 않아 단단히 고정된 상태이지만 제품 커넥터(2)와 핀 블록(10)은 검사하고자 하는 제품이 안착될 때마다 체결 및 분리를 반복하게 된다.That is, the component inspectors test the performance and quality of various parts of the product 4 in a mechanically fastened state between the product connector 2 and the pin block 10 and the pin block PCB 20. Here, the pin block 10 and the pin block PCB 20 are firmly fixed after being assembled at the time of assembling the component inspectors, but the product connector 2 and the pin block 10 are not fixed to each other, And the fastening and detachment are repeated each time it is seated.

여기에서 가장 중요한 부분은 작업자가 제품(4)을 핀 블록(10) 상에서 체결 및 분리, 특히 체결을 위하여 제품 커넥터(2)를 핀 블록(10)에 어떻게 정확히 안착시키느냐에 따라 가성 불량을 유발하게 될지가 결정되므로 작업자의 정확성과 숙련도를 요구하게 된다. 그러므로, 종래 기술에서는 가성 불량의 해소를 위한 다양한 노력들을 수행할 때 시험 시간의 연장과 더 많은 작업자의 필요성, 인건비 상승 등을 유발하여 비용 상승의 원인이 된다.The most important part here is that the operator may cause a false defect depending on how the product 4 is mounted on the pin block 10, and in particular how the product connector 2 is seated on the pin block 10 for fastening The accuracy and proficiency of the operator is required. Therefore, in the prior art, when various efforts for resolving the false defect are performed, the test time is extended, the number of workers is increased, the labor cost is increased, and the cost is increased.

본 실시예에 따른 제품 커넥터(2)와 핀 블록(10) 간의 압착은, 핀 블록 압착부를 통해서 압착이 이루어지고, 핀 블록(10)과 핀 블록 PCB(20)는 핀 블록 고정홀을 이용하여 서로 단단히 고정된다. 그리고, 핀 블록(10) 내부의 중앙홀(15)이 진공홀로서 작동하기 위하여 핀 블록과 체결되는 핀 블록 PCB(20)의 동일한 위치에 홀(진공형성홀)을 형성한다. 이러한 체결 구조에 의하면, 핀 블록 PCB의 진공형성홀과 핀 블록의 중앙 홀은 기밀하게 밀폐될 수 있다.Compression between the product connector 2 and the pin block 10 according to the present embodiment is performed through a pin block compression bonding portion and the pin block 10 and the pin block PCB 20 are fixed by using a pin block fixing hole They are firmly fixed to each other. A hole (vacuum forming hole) is formed at the same position of the pin block PCB 20 which is fastened to the pin block so that the center hole 15 in the pin block 10 operates as a vacuum hole. According to this fastening structure, the vacuum forming hole of the pin block PCB and the center hole of the pin block can be hermetically sealed.

본 실시예에서는 핀 블록(10) 위에 제품 커넥터(2)를 아주 정확히 안착시키지 않더라도, 혹은 제품의 FPCB의 형태가 다소 구부러지거나 변형이 있어도 도 4 내지 도 7을 참조하여 이하에서 설명하는 진공 홀의 작동으로 편차 없이 핀 블록(10) 상에 제품 커넥터(2)를 안착시킬 수 있다. 이처럼, 본 실시예에서는 전술한 방식으로 가성불량 발생 요인을 제거할 수 있는 점을 주된 기술적 특징으로 한다.In this embodiment, even if the product connector 2 is not seated on the pin block 10 very accurately, or if the shape of the FPCB of the product is somewhat bent or deformed, the operation of the vacuum hole described below with reference to Figs. 4 to 7 So that the product connector 2 can be seated on the pin block 10 without any deviation. As described above, the main feature of the present embodiment is that the cause of the pseudo defect can be eliminated in the above-described manner.

도 4는 도 3의 핀 블록의 사시도이다. 도 5는 비교예의 핀 블록의 사시도이다.4 is a perspective view of the pin block of Fig. 5 is a perspective view of a pin block of a comparative example.

도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 기존 방식에 따른 비교예의 핀 블록(10a)과 본 실시예의 핀 블록(10)의 대비점을 핀 블록 내부의 진공홀 유무 및 핀 블록 측면의 밀봉 구조(진공 유지를 위한 기구적인 밀봉 구조) 등에서 확인할 수 있다.4 and 5, the contrast point between the pin block 10a of the comparative example according to the conventional method and the pin block 10 of the present embodiment is determined by the presence or absence of a vacuum hole in the pin block and the sealing structure Mechanical sealing structure for vacuum maintenance).

좀더 구체적으로 설명하면, 본 실시예의 핀 블록(10)은, 다층의 블록들에 의해 마련되는 몸체(11), 몸체의 측면(12), 몸체(11)의 상부와 하부를 관통하는 복수의 핀을 구비한 핀 배열(14), 몸체(11) 중앙부에서 상부와 하부를 관통하는 복수의 중앙 홀(15), 및 고정 홀(16)을 포함하여 구성된다. 고정 홀(16)은 핀 블록 PCB(20)의 핀 블록 고정 홀(24)에 대응하여 배열된다.More specifically, the pin block 10 of the present embodiment includes a body 11, a body 12, and a plurality of pins (not shown) that pass through the upper and lower portions of the body 11, A plurality of central holes 15 penetrating the upper and lower portions in the central portion of the body 11, and a fixing hole 16. The pin hole 14 is formed in the center of the body 11, The fixing holes 16 are arranged corresponding to the pin block fixing holes 24 of the pin block PCB 20.

핀 블록(10) 상에 부품 커넥터(2)를 정확히 안착시켜 가성불량을 방지하는 본 실시예의 구현 방식에 있어서, 진공이 유입되는 순간 제품 커넥터와 핀 블록과 핀 블록 PCB와 진공유입부 간의 기구적 밀폐가 아주 중요한데, 만일 밀폐가 완전하지 못하면 진공유입에서 진공 누설이 발생하고 누설로 인한 소정의 진공의 힘만큼 흡착력이 약화하여 부품검사기가 제대로 작동하지 못할 수 있다.In the embodiment of the present embodiment in which the component connector 2 is correctly seated on the pin block 10 to prevent false defects, the mechanical connector between the pin connector and the pin block and the pin block PCB and the vacuum inlet Sealing is very important, if the sealing is not perfect, vacuum leakage may occur at the vacuum inflow and the suction force may be weaker than the predetermined vacuum force due to the leakage, which may prevent the component inspector from operating properly.

즉, 도 5에 도시한 바와 같이, 비교예의 핀 블록(10a)은 그 측면이 개방되어 개구부(12a)가 존재하므로, 만일 진공을 형성하고자 하는 경우에도 공기 누설로 인하여 핀 블록 상에 제품 커넥터가 완전히 흡착되지 못하게 된다.That is, as shown in Fig. 5, the pin block 10a of the comparative example is open at its side and has the opening 12a, so that even if a vacuum is to be formed, It will not be completely adsorbed.

반면에, 도 4에 도시한 바와 같이 본 실시예에 따른 핀 블록(40)에서는, 중앙의 세 개의 홀(15)에서의 진공 상태 유지를 위하여 중앙 홀(15) 외에 공기가 누설될 수 있는 통로를 완전히 차단한다. 핀 블록(12)의 측면(12)에는 어떠한 개구부로 형성되지 않는다.4, in the pin block 40 according to the present embodiment, in order to maintain the vacuum state in the three central holes 15, a passage . It is not formed as any opening in the side surface 12 of the pin block 12. [

도 6은 도 4의 핀 블록의 장축 절단 단면도이다.FIG. 6 is a longitudinal sectional view of the pin block of FIG. 4; FIG.

도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 핀 블록(10)은 다층의 블록들에 의해 마련되는 몸체(11), 몸체(11) 내에서 핀(17)이 삽입되는 복수의 핀삽입홀을 구비한 핀 배열(14), 몸체(11)의 상부 및 하부를 관통하는 중앙 홀(15) 및 고정 홀(16)을 포함하여 구성된다.6, the pin block 10 according to the present embodiment includes a body 11 provided with multi-layer blocks, a plurality of pin insertion holes into which the pins 17 are inserted in the body 11 A pin arrangement 14, a center hole 15 passing through the upper and lower portions of the body 11, and a fixing hole 16. [

몸체(11)를 형성하는 다층의 블록들은 블록들 사이에 소정의 공간을 가질 수 있지만, 외부와 연결되어 공기 순환을 허용하는 개구부를 구비하지 않는다. 따라서, 몸체(11)를 상하측에서 관통하는 중앙 홀과 사방 측면의 밀폐 구조를 통해 핀 블록(10)의 상부 중앙부에 효과적으로 진공을 형성함으로써 핀 블록에 제품 커넥터를 밀착시킬 수 있고, 그에 의해 부품검사 시 가성불량의 발생률을 크게 저감시킬 수 있다.The multi-layer blocks forming the body 11 may have a predetermined space between the blocks but do not have openings connected to the outside to allow air circulation. Therefore, the product connector can be brought into close contact with the pin block by effectively forming a vacuum in the upper central portion of the pin block 10 through the center hole and the sealing structure on the four sides through the body 11 from the upper and lower sides, It is possible to greatly reduce the incidence of false falsehood during the examination.

도 7은 도 2의 핀 블록 하단 기구물의 사시도이다.FIG. 7 is a perspective view of the lower pin mechanism of FIG. 2; FIG.

도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 핀 블록 하단 기구물(30)은, 핀 블록 PCB의 적어도 일부를 수용하기 위한 제1 오목부(31), 핀 블록 PCB 고정용 홀(32), 제품(2)을 수용하기 위한 제2 오목부(33), 하단 기구물의 상부와 하부를 관통하는 진공호스(34), 진공유입부(35) 및 기구물 고정용 홀(36)을 포함하여 구성된다.7, the pin block lower end mechanism 30 according to the present embodiment includes a first recess 31 for receiving at least a part of the pin block PCB, a hole 32 for fixing the pin block PCB, 2, a vacuum hose 34 passing through the upper and lower portions of the lower mechanism, a vacuum inflow portion 35, and a tool fixing hole 36. The first and second recesses 33,

본 실시예의 부품검사기가 정확히 작동하기 위해서는 핀 블록 내의 중앙홀, 핀 블록 PCB상의 진공형성홀, 및 하단 기구물의 진공유입부가 정확히 일치가 되어야 한다. 이러한 일치 구조에 따르면, 진공 유입을 받아들여 제품상의 커넥터가 핀 블록에 정확히 안착될 수 있다.The center hole in the pin block, the vacuum forming hole on the pin block PCB, and the vacuum inflow of the bottom structure must be precisely matched for the part checker of this embodiment to operate correctly. According to this matching structure, the vacuum inflow can be accepted and the connector on the product can be correctly seated in the pin block.

진공유입부(35)는 하부 측에서 진공호스와 연결되는 홀 형태를 구비하거나 하단 기구물의 몸체 상부에서 골짜기 형태의 채널을 통해 진공호스(34)에 연결되는 진공 채널 구조를 구비할 수 있다. 여기서, 진공유입부의 홀이나 진공호스의 단면 형상은 원형, 긴 형태의 원형 홀, 즉 장공홀의 형태를 가질 수 있다.The vacuum inflow part 35 may have a hole shape connected to the vacuum hose at the lower side or may have a vacuum channel structure connected to the vacuum hose 34 through the valley shaped channel at the upper part of the body of the lower structure. Here, the cross-sectional shape of the hole or the vacuum hose of the vacuum inflow portion may have a circular or long-shaped circular hole, that is, a shape of a long hole.

또한, 부품검사기 내의 여러 군데 진공이 필요할 때, 각 홀마다 진공호스(34)가 적용되는 것이 아니라 진공호스가 한 개의 진공홀을 유입하고 나머지 진공홀은 기구적으로 골짜기 형태의 움푹 패인 형태의 일종의 진공골을 형성함으로써 진공호스의 수량 축소 및 기구적인 두께도 더 경박하게 구성할 수 있다.Further, when a plurality of vacuums in the part inspecting machine are required, not the vacuum hose 34 is applied to each hole, but the vacuum hose flows in one vacuum hole and the remaining vacuum holes are a kind of depression in the form of a valley By forming the vacuum bone, the volume reduction and mechanical thickness of the vacuum hose can be made even thinner.

전술한 실시예에 의하면, 제품상의 커넥터 주변 FPCB(연성회로기판) 등이 약간 휘거나 형태의 변화가 있어도 핀 블록의 중앙 홀과 측면 밀폐 구조 및 핀 블록부의 기구적인 진공 채널 구조에 의해 부품 어셈블리의 커넥터와 핀 블록 간의 정확한 접촉을 구현할 수 있으므로 가성불량을 효과적으로 방지할 수 있다.According to the above-described embodiment, even if the connector peripheral FPCB (flexible circuit board) or the like on the product slightly bends or changes in shape, the center hole and the side sealing structure of the pin block and the mechanical vacuum channel structure of the pin block portion, Accurate contact between the connector and the pin block can be realized, so that the false defect can be effectively prevented.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.It will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention as defined by the following claims . It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

10: 핀 블록
20: 핀 블록 PCB
30: 핀 블록 하부 구조물
40: 하우징 본체
50: 공압장치
60: 주기판
70: 조작패널10: Pin block
20: Pin block PCB
30: Pin block substructure
40: housing body
50: Pneumatic device
60:
70: Operation panel

Claims (7)

부품검사장비의 핀 블록 PCB(Printed Circuit Board)와 피검사대상인 부품의 커넥터 사이에 배치되는 핀 블록에 있어서,
다층의 블록들에 의해 마련되고 측면이 밀폐형 구조를 구비하는 몸체;
상기 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 배열; 및
상기 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 중앙 홀;
을 포함하되, 상기 중앙 홀은 상기 홀 배열의 홀 개수에 따라 복수의 원형 홀 또는 적어도 하나의 장공홀을 포함하는 핀 블록.A pin block disposed between a pin block PCB (Printed Circuit Board) of a component inspection apparatus and a connector of a component to be inspected,
A body provided by multi-layer blocks and having a side-by-side structure;
A hole array penetrating between an upper surface and a lower surface of the body; And
A center hole penetrating between an upper surface and a lower surface of the body;
Wherein the center hole comprises a plurality of circular holes or at least one elongated hole according to the number of holes in the hole array. 삭제delete 다층의 블록들에 의해 마련되고 측면이 밀폐형 구조인 몸체를 구비하며 상기 몸체의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 배열 및 중앙 홀을 구비하는 핀 블록;
상기 핀블록 하면에 결합하며 상기 중앙 홀에 대응하는 진공형성홀을 구비하는 핀 블록 PCB(Printed Circuit Board); 및
상기 핀 블록 PCB 하부에 결합하며 상기 진공형성홀에 연결되는 진공유입부를 구비하는 핀 블록 하단 기구물;
을 포함하되, 상기 진공유입부는 상기 핀 블록 하단 기구물의 상부면에서 골짜기 형태의 채널을 통해 상기 핀 블록 하단 기구물의 상면과 하면 사이를 관통하여 배치되는 진공호스에 연결되는 부품검사기.A pin block having a body having a closed side structure, the pin block being provided by multi-layer blocks and having a hole arrangement and a center hole passing between an upper surface and a lower surface of the body;
A pin block PCB (Printed Circuit Board) coupled to a bottom surface of the pin block and having a vacuum forming hole corresponding to the center hole; And
A pin block bottom mechanism coupled to the bottom of the pin block PCB and having a vacuum inlet connected to the vacuum forming hole;
Wherein the vacuum inflow portion is connected to a vacuum hose disposed through an upper surface of the pin block lower end mechanism through a valley shaped channel and between an upper surface and a lower surface of the pin block lower end mechanism. 삭제delete 청구항 3에 있어서,
상기 진공유입부는 상기 진공형성홀과 대응하며 상기 핀 블록 하단 기구물의 상면과 하면 사이를 관통하는 홀 형태의 진공유입홀로 마련되는 부품검사기.The method of claim 3,
Wherein the vacuum inflow part is provided with a vacuum inflow hole corresponding to the vacuum forming hole and passing through a space between the upper surface and the lower surface of the pin block lower end mechanism. 청구항 3에 있어서,
상기 중앙 홀의 단면은 상기 홀 배열의 홀 개수에 따라 복수개의 원형 또는 적어도 하나의 타원형으로 마련되는 부품검사기.The method of claim 3,
Wherein a cross section of the center hole is provided in a plurality of circular or at least one elliptical shapes depending on the number of holes in the hole array. 청구항 3에 있어서,
상기 핀 블록 상부에 배치되며 피검사대상인 부품의 커넥터를 사이에 두고 상기 핀 블록을 압착하는 공압장치를 더 포함하는 부품검사기.The method of claim 3,
And a pneumatic device disposed on the pin block and pressing the pin block with a connector of a part to be inspected therebetween.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108761309B (en) * 2018-05-23 2024-05-17 昆山龙雨智能科技有限公司 Testing device
KR102245209B1 (en) * 2020-12-01 2021-04-27 넥스트(주) Vacuum adsorption module
KR102416190B1 (en) * 2022-05-06 2022-07-05 주식회사 코아시스 Rolling core block unit and apparatus for testing electonic camera module having the same

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100759080B1 (en) * 2006-06-30 2007-09-19 주식회사 엔티에스 A socket for testing electonic module
KR100816443B1 (en) * 2006-08-25 2008-03-27 하이텍교역 주식회사 auto contactor of flexible printed circuit board
KR20090005875A (en) * 2007-07-10 2009-01-14 삼성전자주식회사 A socket, and test equipment and method with the socket
JP2009115798A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Shokan Jo H-pin block
KR101186204B1 (en) * 2010-12-28 2012-10-10 (주)인텍 Test apparatus for Flexible Printed Circuit Board
KR101252449B1 (en) * 2012-02-01 2013-04-16 주식회사 티에프이 Test socket for semiconductor
KR200471076Y1 (en) * 2013-07-25 2014-01-29 (주) 네스텍코리아 Socket for testing electronics

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100759080B1 (en) * 2006-06-30 2007-09-19 주식회사 엔티에스 A socket for testing electonic module
KR100816443B1 (en) * 2006-08-25 2008-03-27 하이텍교역 주식회사 auto contactor of flexible printed circuit board
KR20090005875A (en) * 2007-07-10 2009-01-14 삼성전자주식회사 A socket, and test equipment and method with the socket
JP2009115798A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Shokan Jo H-pin block
KR101186204B1 (en) * 2010-12-28 2012-10-10 (주)인텍 Test apparatus for Flexible Printed Circuit Board
KR101252449B1 (en) * 2012-02-01 2013-04-16 주식회사 티에프이 Test socket for semiconductor
KR200471076Y1 (en) * 2013-07-25 2014-01-29 (주) 네스텍코리아 Socket for testing electronics

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