KR100693070B1 - 투명전도막의 접착력 시험방법 - Google Patents
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Abstract
Description
수직인가하중을 상승시켜가면서 파괴가 예상되는 하중범위를 찾는 단계와;
상기 예상 하중범위 내에서 일정 하중을 가하여 투명전도막(13)을 전도성 스타일러스(10)로 가로지르면서 스크래치 하되, 스크래치할 때 양단 저항값을 저항센서(14)로 측정하는 단계와;
전도성 스타일러스(10)에 다른 일정 하중을 가하여 투명전도막(13)을 긁으면서 양단 저항값을 저항센서(14)로 측정하는 과정을 반복 실시하여 투명전도막이 단락이 되는 임계하중을 찾는 단계;를 포함하여 형성하는 것을 특징으로 하는 투명전도막의 접착력 시험방법을 제공하는데 목적이 있다.
즉, SiO2/Si 시험편의 경우와 달리 ITO와 같은 투명전도막(13)이 비교적 소프트한 재질로 되어 시험이 진행되는 동안 높은 수직하중에서 파괴가 발생하였지만 주목할 만한 음향센서 신호는 검출되지 않았음을 알 수 있다.
100g의 수직하중에서의 저항값은 약 0.28㏀을 나타내었는데, 이는 전도성 스타일러스(10)가 투명전도막을 파괴하여 일부 하부 유리기판에 접촉되었거나 측면부위와 투명전도막이 일부 접촉하기 때문에 어느 정도의 저항값을 나타내게 되는 것이다.
투명전도막(13)의 띠는 폭을 1cm, 길이를 3cm이상으로 함이 바람직하며, 투명전도막(13)의 두께는 증착법에 따라서 달리하지만 통상 200-1000nm의 범위를 가지도록 하였다.
Claims (1)
- 투명전도막을 기판상에 직사각형 모양으로 패터닝하여 시험편을 준비하고, 스타일러스에 하중을 가하면서 시험편으로 준비된 투명전도막에 스크래치를 형성하며, 스크래치를 형성할 때에 발생하는 음향값과 저항값을 측정하여 접착력의 임계하중을 찾는 방법에 있어서;수직인가하중을 상승시켜가면서 파괴가 예상되는 하중범위를 찾는 단계와;상기 예상 하중범위 내에서 일정 하중을 가하여 투명전도막(13)을 전도성 스타일러스(10)로 가로지르면서 스크래치 하되, 스크래치할 때 양단 저항값을 저항센서(14)로 측정하는 단계와;전도성 스타일러스(10)에 다른 일정 하중을 가하여 투명전도막(13)을 긁으면서 양단 저항값을 저항센서(14)로 측정하는 과정을 반복 실시하여 투명전도막이 단락이 되는 임계하중을 찾는 단계;를 포함하여 형성하는 것을 특징으로 하는 투명전도막의 접착력 시험방법.
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JP2003344264A (ja) | 2002-05-27 | 2003-12-03 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 荷電粒子検出による薄膜材料特性計測方法及び装置 |
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