KR100674026B1

KR100674026B1 - 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치

Info

Publication number: KR100674026B1
Application number: KR1020040106218A
Authority: KR
Inventors: 안주원
Original assignee: 엘지전자 주식회사
Priority date: 2004-12-15
Filing date: 2004-12-15
Publication date: 2007-01-25
Also published as: KR20060067437A

Abstract

본 발명은 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드만을 검사하는 보드 검사 장치에 관한 것이다. 주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시키는 주파수 제어부 및 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 발생시키는 데이터 변환부를 포함하는 보드를 검사하는 보드 검사 장치는 주파수 발생부, 주파수 검사부 및 데이터 검사부를 포함한다. 상기 주파수 발생부는 상기 주파수 제어부로부터 상기 주파수 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 주파수 제어 신호에 따라 주파수 신호를 발생시킨다. 상기 주파수 검사부는 상기 발생된 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하여 상기 보드를 검사한다. 상기 데이터 검사부는 상기 발생된 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교한다. 상기 보드 검사 장치는 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드를 검사하므로, 정확하게 보드의 불량을 검사할 수 있을뿐만 아니라 상기 패널 및 집적회로칩의 낭비를 방지할 수 있다.

보드, 검사, 주파수, 데이터

Description

보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치{METHOD OF DETECTING A BOARD AND APPARATUS FOR PERFORMING THE SAME}

도 1은 종래 보드를 검사하는 방법을 설명하기 위한 유기 전계 발광 소자를 도시한 도면이다.

도 2는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 보드 검사 장치를 도시한 블록도이다.

본 발명은 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드만을 검사하는 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치에 관한 것이다.

보드 검사 장치는 유기 전계 발광 소자에서 보드의 특성을 검사하는 장치이다. 그러나, 종래에는 이하에서 상술하는 바와 같이 별도로 보드만을 검사할 수 있는 장치가 없었다.

도 1을 참조하면, 상기 유기 전계 발광 소자는 패널(100), 씨오에프(Chip On Film: 112) 및 보드(126)를 포함한다.

패널(100)은 셀부(102) 및 데이터 라인들(104) 및 스캔 라인들(108)을 포함한다.

셀부(102)는 인듐주석산화물층들(Indium Tin Oxide Films, ITO층들)과 금속전극층들이 교차하는 영역에 형성되는 복수의 서브 픽셀들을 포함한다.

데이터 라인들(104)은 도전체로서, COF(112)에 포함된 집적회로칩(114)으로부터 데이터 신호들을 제공받고, 상기 제공받은 데이터 신호들을 상기 ITO층들에 전송한다.

또한, 데이터 라인들(104)은 각기 종단에 데이터 라인 패드(106)를 포함하고, 상기 데이터 라인 패드들은 COF(112)에 포함된 데이터 출력 전극들(116)과 각기 결합한다.

스캔 라인들(108)은 도전체로서, 집적회로칩(114)으로부터 스캔 신호들을 제공받고, 상기 제공받은 스캔 신호들을 상기 금속전극층들에 전송한다.

또한, 스캔 라인들(108)은 각기 종단에 스캔 라인 패드(110)를 포함하고, 상기 스캔 라인 패드들(110)은 COF(112)에 포함된 스캔 출력 전극들(118)과 각기 결합한다.

COF(112)는 집적회로칩(114), 입력 전극들(120 및 122) 및 출력 전극들(116 및 118)을 포함한다.

집적회로칩(114)은 상기 데이터 신호들을 데이터 출력 전극들(116) 및 데이터 라인들(104)을 통하여 상기 ITO층들에 전송하고, 상기 스캔 신호들을 스캔 출력 전극들(118) 및 스캔 라인들(108)을 통하여 상기 금속전극층들에 전송한다.

또한, 집적회로칩(114)은 주파수 발생부(124)를 포함하며, 주파수 발생부(124)는 보드(126)에 포함된 주파수 제어부(128)의 제어에 의해 소정 주파수를 가지는 스캔 신호들을 발생시킨다.

COF(112)의 입력 전극들(120 및 122)은 각기 보드(126)의 출력 전극들과 연결된다.

주파수 입력 전극(120)은 보드(126)의 주파수 출력 전극(132)과 연결되고, 데이터 변환 입력 전극(122)은 보드(126)의 데이터 변환 출력 전극(134)과 연결된다.

보드(126)는 주파수 제어부(128) 및 데이터 변환부(130)를 포함한다.

주파수 제어부(128)는 외부로부터 입력된 주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시킨다.

또한, 주파수 제어부(128)는 상기 발생된 주파수 제어 신호를 주파수 출력 전극(132) 및 주파수 입력 전극(120)을 통하여 주파수 발생부(124)에 전송한다.

그 결과, 주파수 발생부(124)는 상기 주파수 제어 신호에 상응하는 주파수 신호들, 즉 스캔 신호들을 발생시킨다.

데이터 변환부(130)는 입력 데이터를 알지비 데이터(RGB 데이터)로 변환하고, 상기 알지비 데이터를 데이터 변환 출력 전극(134) 및 데이터 변환 입력 전극(122)을 통하여 집적회로칩(114)에 전송한다. 여기서, 상기 입력 데이터는 0X000, 0X001 등과 같이 이진 데이터가 아니고, 상기 알지비 데이터는 이진 데이터이다.

이하, 종래의 검사 과정을 상술하겠다.

종래 검사 장치는 사용자가 설정한 주파수가 발생되었는 지의 여부를 판단하기 위하여, 주파수 제어부(128)에 입력되는 상기 주파수 입력 신호와 주파수 발생부(124)로부터 발생되어 패널(102)의 스캔 라인들에 제공된 상기 스캔 신호들을 비교하였다.

비교 결과, 상기 주파수 입력 신호와 상기 스캔 신호들의 주파수 차이가 사용자가 설정한 범위를 벗어나는 경우, 종래 검사 장치는 주파수 불량이 발생되었다고 판단한다. 그러나, 이 경우, 주파수 불량이 보드(126), COF(112) 및 패널(100) 중 어느 부분으로부터 발생되었는 지를 판단하지 못하였다.

또한, 종래의 검사 장치는 데이터 불량을 판단하기 위하여, 상기 입력 데이터와 상기 데이터 출력 전극들(116)로부터 출력되는 데이터 신호들을 비교하였다.

비교 결과, 상기 입력 데이터와 상기 데이터 신호들이 일치하지 않는 경우, 종래 검사 장치는 데이터 불량이 발생되었다고 판단한다. 그러나, 이 경우에도, 데이터 불량이 보드(126) 및 COF(112) 중 어느 부분에 의해 발생되었는 지를 판단하지 못하였다.

요컨대, 종래의 검사 장치는 패널(100), 집적회로칩(112) 및 보드(126)를 별도로 검사할 수 없었다.

그러므로, 패널, 집적회로칩 및 보드를 각기 별도로 검사할 수 있는 검사 장치가 요구된다. 특히, 상기 보드를 상기 패널 및 집적회로칩과 별도로 검사할 수 있는 보드 검사 장치가 요구된다.

본 발명의 목적은 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드만을 검사할 수 있는 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치를 제공하는 것이다.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시키는 주파수 제어부 및 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 발생시키는 데이터 변환부를 포함하는 보드를 검사하는 보드 검사 장치는 주파수 발생부, 주파수 검사부 및 데이터 검사부를 포함한다. 상기 주파수 발생부는 상기 주파수 제어부로부터 상기 주파수 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 주파수 제어 신호에 따라 주파수 신호를 발생시킨다. 상기 주파수 검사부는 상기 발생된 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하여 상기 보드를 검사한다. 상기 데이터 검사부는 상기 발생된 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교한다.

본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시키는 주파수 제어부 및 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 발생시키는 데이터 변환부를 포함하는 보드를 검사하는 방법은 상기 발생된 주파수 제어 신호에 따라 주파수 신호를 발생시키는 단계; 상기 발생된 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하는 단계; 상기 신호들의 비교 결과에 따라 상기 보드의 불량을 판단하는 단계; 상기 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교하는 단계; 및 상기 데이터의 비교 결과에 따라 상기 보드의 불량을 판단하는 단계를 포함한다.

본 발명에 따른 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치는 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드를 검사하므로, 정확하게 보드의 불량을 검사할 수 있을뿐만 아니라 상기 패널 및 집적회로칩의 낭비를 방지할 수 있다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치의 바람직한 실시예를 자세히 설명하도록 한다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 보드 검사 장치(200)는 주파수 발생부(202), 주파수 검사부(204) 및 데이터 검사부(206)를 포함한다.

이하, 본 발명의 보드 검사 장치(200)를 설명하기 전에 보드(126)에 대하여 상술하겠다.

주파수 제어부(128)는 외부로부터 입력되는 주파수 입력 신호를 분석하고, 상기 분석된 주파수 입력 신호에 상응하는 주파수 제어 신호를 발생시키며, 상기 발생된 주파수 제어 신호를 주파수 발생부(202)에 전송한다.

데이터 변환부(130)는 외부로부터 전송되는 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 생성한다.

예를 들어, 상기 입력 데이터는 0X000, 0X001 등과 같이 이진 데이터가 아니 다. 그러므로, 데이터 변환부(130)는 이진 데이터가 아닌 상기 입력 데이터를 변환하여 이진 데이터인 알지비 데이터를 생성한다.

이하, 본 발명의 보드 검사 장치(200)를 상술하겠다.

상기 보드 검사 장치(200)는 유기 전계 발광 소자에서 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드(126)만의 특성을 검사하는 장치이다.

주파수 발생부(202)는 주파수 제어부(128)로부터 상기 주파수 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 주파수 제어 신호를 분석한다.

이어서, 주파수 발생부(202)는 상기 주파수 제어 신호의 분석에 따라 주파수 신호를 발생시키고, 상기 발생된 주파수 신호를 주파수 검사부(204)에 전송한다.

다만, 검사 과정이 아닌 실제로 유기 전계 발광 소자가 구동될 때에는, 상기 주파수 신호는 스캔 라인에 인가되는 스캔 신호에 해당한다. 상세하게는, 집적회로칩은 주파수 제어부(128)로부터 전송된 주파수 제어 신호를 이용하여 소정 주파수를 가지는 스캔 신호들을 발생시키고, 상기 발생된 스캔 신호들을 패널의 스캔 라인들에 순차적으로 인가한다.

주파수 검사부(204)는 주파수 발생부(202)로부터 상기 주파수 신호를 수신하고, 외부로부터 상기 주파수 입력 신호를 수신한다.

그런 후, 주파수 검사부(204)는 상기 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 보드(126)의 주파수 불량 여부를 판단한다.

예를 들어, 상기 주파수 입력 신호에 120㎐에 해당하는 주파수 신호를 발생시키는 정보가 포함되었을 때 주파수 발생부(202)가 105㎐와 125㎐ 사이의 주파수 신호를 발생시키는 경우, 주파수 검사부(204)는 사용자가 설정한 주파수에 해당하는 주파수 신호가 정상적으로 발생되었다고 판단한다. 즉, 보드 검사 장치(200)는 보드(126)의 주파수 제어부(128)가 정상적으로 동작한다고 판단한다.

반면에, 주파수 발생부(202)가 100㎐에 해당하는 주파수 신호를 발생시키는 경우, 주파수 검사부(204)는 사용자가 설정한 주파수에 해당하는 주파수 신호가 발생되지 않았다고 판단한다. 즉, 보드 검사 장치(200)는 보드(126)의 주파수 제어부(128)에 불량이 발생되었다고 판단한다.

종래의 검사 장치에서는 집적회로칩으로부터 스캔 라인들에 제공되는 스캔 신호들을 패널의 스캔 라인들로부터 수신하여 보드(126)의 주파수 불량 여부를 검사하였지만, 본 발명의 보드 검사 장치(200)는 상기 집적회로칩이나 상기 패널과 별도로 보드(126)로부터 직접 주파수 불량 여부를 검사할 수 있다.

요컨대, 종래의 검사 장치는 상기 패널 및 집적회로칩이 상기 보드에 결합된 후에 불량 검사를 하였으므로, 상기 보드에 불량이 난 경우 상기 패널 및 집적회로칩이 낭비되어졌었다. 반면에, 본 발명의 보드 검사 장치(200)는 상기 패널 및 집적회로칩이 보드(126)에 결합되기 전에 보드(126)만을 별도로 검사하므로 보드(124)에 불량이 난 경우에도 상기 패널 및 집적회로칩이 낭비되지 않는다.

데이터 검사부(206)는 데이터 변환부(128)로부터 전송된 상기 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교한다.

상기 알지비 데이터와 상기 입력 데이터가 서로 일치하는 경우, 데이터 검사부(206)는 보드(126)의 데이터 변환부(130)가 정상적으로 동작한다고 판단한다.

반면에, 상기 알지비 데이터와 상기 입력 데이터가 일치하지 않는 경우, 데이터 검사부(206)는 보드(126)의 데이터 변환부(130)가 오동작하였다고 판단한다.

요컨대, 종래의 검사 장치에서는 상기 집적회로칩의 출력 전극으로부터 출력되는 데이터 신호들을 이용하여 데이터 불량 여부를 판단하나, 본 발명의 보드 검사 장치(200)는 상기 집적회로칩과 별도로 보드(124)만을 검사하여 데이터 불량 여부를 판단한다.

그러므로, 본 발명의 보드 검사 장치(200)는 종래의 검사 장치와 달리 상기 패널 및 집적회로칩이 보드(126)에 결합되기 전에 보드(126)만을 별도로 검사하므로 보드(126)에 불량이 난 경우에도 상기 패널 및 집적회로칩이 낭비되지 않는다.

상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 보드 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치는 패널 및 집적회로칩과 별도로 보드를 검사하므로, 정확하게 보드의 불량을 검사할 수 있을뿐만 아니라 상기 패널 및 집적회로칩의 낭비를 방지할 수 있는 장점이 있다.

Claims

주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시키는 주파수 제어부 및 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 발생시키는 데이터 변환부를 포함하는 보드를 검사하는 보드 검사 장치에 있어서,

상기 주파수 제어부로부터 상기 주파수 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 주파수 제어 신호에 따라 주파수 신호를 발생시키는 주파수 발생부;

상기 발생된 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하여 상기 보드를 검사하는 주파수 검사부; 및

상기 발생된 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교하는 데이터 검사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 보드 검사 장치.
삭제
주파수 입력 신호에 따라 주파수 제어 신호를 발생시키는 주파수 제어부 및 입력 데이터를 변환하여 알지비 데이터를 발생시키는 데이터 변환부를 포함하는 보드를 검사하는 방법에 있어서,

상기 발생된 주파수 제어 신호에 따라 주파수 신호를 발생시키는 단계;

상기 발생된 주파수 신호와 상기 주파수 입력 신호를 비교하는 단계;

상기 신호들의 비교 결과에 따라 상기 보드의 불량을 판단하는 단계;

상기 알지비 데이터와 상기 입력 데이터를 비교하는 단계; 및

상기 데이터의 비교 결과에 따라 상기 보드의 불량을 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 보드 검사 방법.
삭제