KR100667466B1 - 파이프의 광휘 비파괴 검사시스템 - Google Patents
파이프의 광휘 비파괴 검사시스템 Download PDFInfo
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Description
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- 파이프들에 수소가스가 공급되며, 소둔로를 거치면서 파이프내면에 공급되는 수소가스에 의하여 파이프의 내면이 거울과 같은 조도로 유지하도록 하는 반도체용 파이프의 광휘 비파괴 검사시스템에 있어서,직관 교정된 파이프(10)가 직관교정완료주행로울(110), 대기판(130), 대기로울(140)을 거쳐 검사진입로울(200)에 안내되어, 비파괴검사대(300)를 통과하도록 하고, 비파괴검사대(300)를 통과한 파이프(10)는 검사완료로울(310)에서 불량품이동레버(320) 및 합격품이동레버(340)에 의하여 분리되고, 상기 합격품의 파이프(10)는 정척, 면취대기판(450)에서 왕복동로울(440)의 왕복이동에 의하여 파이프(10) 끝단이 정척으로 절단과 끝단의 면취가 이루어지고, 상기 면취된 파이프(10)가 이동로울(500)에 안내되어 에어크리너(600)에서 파이프(10)가 클리닝되고, 에어클리닝대기순차판(610)을 통하여 포장대(700)로 순차 추출될 수 있도록 됨을 특징으로 하는 파이프의 광휘 비파괴 검사시스템.
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- 2005-08-11 KR KR1020050073952A patent/KR100667466B1/ko active IP Right Grant
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