KR100613837B1 - 준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 - Google Patents
준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100613837B1 KR100613837B1 KR1020050096471A KR20050096471A KR100613837B1 KR 100613837 B1 KR100613837 B1 KR 100613837B1 KR 1020050096471 A KR1020050096471 A KR 1020050096471A KR 20050096471 A KR20050096471 A KR 20050096471A KR 100613837 B1 KR100613837 B1 KR 100613837B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cleaning
- bubble
- gas
- exhaust
- bubbles
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67057—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F25/00—Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume
- G01F25/20—Testing or calibration of apparatus for measuring volume, volume flow or liquid level or for metering by volume of apparatus for measuring liquid level
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
Claims (9)
- 세정조 내의 세정액 준위 감지 장치에 있어서,세정조 내에 설치되어 가스를 공급하는 가스 공급 라인과,상기 가스에 의한 기포를 배기하기 위한 기포 배기부를 포함하며,상기 기포 배기부는 가스 공급 라인의 하단부를 둘러싸는 기포 차단막과, 기포 차단막 상부면에 연결되어 있는 기포 배기 라인과, 기포를 배출하기 위해 상기 기포 배기 라인의 상단부와 연결되어 있는 배기 포트를 구비한 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 청구항 1에 있어서, 상기 기포 차단막은 하단부의 적어도 일부가 개방된 용기 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 청구항 2에 있어서, 상기 기포 차단막은 가스 공급 라인의 하단부가 위치하지 않는 영역의 하단부가 개방된 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서, 상기 기포 차단막은 원기둥, 다각기둥 또는 반구 형상인 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서, 상기 가스 공급 라인은 상 기 기포 배기부 내에 위치한 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서, 상기 가스 공급 라인과 기포 배기부를 상호 고정시키기 위해 지지대가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 준위 감지 장치.
- 기판을 습식 세정하기 위한 세정 장치에 있어서,세정 처리를 하기 위한 세정조 및 상기 세정조 내에 일측에 가스를 공급하는 가스 공급 라인과, 상기 가스 공급 라인의 하단부를 둘러싸는 기포 차단막과, 기포 배기 라인을 구비하여 가스에 의한 기포를 배기하기 위한 기포 배기부를 구비한 준위 감지 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 세정 장치.
- 청구항 7에 있어서, 상기 기포 차단막은 하단부의 적어도 일부가 개방된 용기 형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 세정 장치.
- 청구항 7에 있어서, 상기 기포 배기부는 세정조의 외부로 연장 형성되어 기포를 배기하는 배기 포트를 포함하는 것을 특징으로 하는 세정 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050096471A KR100613837B1 (ko) | 2005-10-13 | 2005-10-13 | 준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050096471A KR100613837B1 (ko) | 2005-10-13 | 2005-10-13 | 준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100613837B1 true KR100613837B1 (ko) | 2006-08-17 |
Family
ID=37602809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050096471A KR100613837B1 (ko) | 2005-10-13 | 2005-10-13 | 준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100613837B1 (ko) |
-
2005
- 2005-10-13 KR KR1020050096471A patent/KR100613837B1/ko active IP Right Grant
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100376036B1 (ko) | 기판세정방법및장치,기판세정/건조방법및장치 | |
KR100390545B1 (ko) | 기판세정건조장치,기판세정방법및기판세정장치 | |
CN111095512A (zh) | 清洗半导体硅片的方法及装置 | |
KR100613837B1 (ko) | 준위 감지 장치 및 이를 이용한 세정 장치 | |
CN216597515U (zh) | 基片处理装置 | |
KR20100054449A (ko) | 습식 기판 세정 장치 및 그 세정 방법 | |
KR20220014821A (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
KR100947482B1 (ko) | 처리액 감지기를 갖는 밸브, 이를 이용한 기판 처리 장치및 기판 처리 방법 | |
KR100598914B1 (ko) | 약액 재생 시스템 및 약액 재생 방법, 그리고 상기시스템을 가지는 기판 처리 설비 | |
JPH11186211A (ja) | 基板処理装置 | |
KR100719094B1 (ko) | 세정액 공급 장치와 이를 이용한 세정 장치 | |
KR100600196B1 (ko) | 기판용 표면처리 시스템 | |
KR100549203B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 그 방법 | |
KR100789886B1 (ko) | 기판 세정 장치 및 방법 | |
JP5107762B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2001028356A (ja) | 洗浄装置 | |
JP2000005710A (ja) | 基板洗浄装置 | |
KR100632044B1 (ko) | 웨이퍼의 세정장치 및 방법 | |
KR100895965B1 (ko) | 습식세정장치 | |
KR20070030542A (ko) | 처리조의 기포 제거장치 | |
KR20040032200A (ko) | 반도체 웨이퍼 세정 및 건조장치와 이를 이용한 세정 및건조방법 | |
KR100659701B1 (ko) | 세정조 및 이를 구비하는 세정 장치 | |
KR100691496B1 (ko) | 세정조 및 이를 구비하는 세정 장치 | |
KR20050016848A (ko) | 척 세정장치 및 세정방법 | |
KR20090107988A (ko) | 처리액 감지기를 갖는 밸브, 이를 이용한 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130530 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140624 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150701 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160801 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180717 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190701 Year of fee payment: 14 |