KR100543649B1 - 환경 조건에 따른 컴퓨터 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법 및 그 장치 - Google Patents

환경 조건에 따른 컴퓨터 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법 및 그 장치 Download PDF

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Abstract

저장 장치의 동작 동안 동작 파라메터를 최적의 값으로 동적으로 조정함으로써 저장 장치의 효율과 데이터 보전성이 개선될 수 있다는 것이 본 발명에 의해 개시되어 있다. 일 실시예에서, 하드 디스크 드라이브와 같은 저장 장치가 동작하고 있는 환경 조건에 대한 저장 장치의 의존도를 판단하기 위해 저장장치의 물리적 특성이 제조 프로세스동안 측정된다. 저장 장치의 물리적 특성과 저장 장치의 동작 환경이 저장 장치의 성능에 미치는 효과가 판단되고, 저장 장치의 기록 전류의 최적 값이 검색 테이블에 저장된다. 저장 장치가 동작하고 있는 온도가 검색 테이블내 저장된 데이터에 대한 참조(reference)로 이용된다. 사전보상 지연에 대한 최적 값 또한 검색 테이블내에 저장될 수 있다. 저장 장치의 동작 동안, 동작 환경의 온도가 감지되고 검색 테이블에 대한 참조값으로 사용된다. 감지된 온도에 대응하는 사전보상 지연과 기록 전류의 최적 값들이 검색되고, 저장 장치의 사전보상 지연과 기록 전류가 그에 따라 조정된다.
사전보상 지연, 검색 테이블, 동작 파라메터

Description

환경 조건에 따른 컴퓨터 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법 및 그 장치{PROCESSING METHOD AND DEVICE OF DYNAMICALLY ADJUSTING THE OPERATING PARAMETERS OF A COMPUTER STORAGE DEVICE ACCORDING TO ENVIRONMENTAL CONDITIONS}
도 1은 본 발명에서 사용하기 위한 자기 기록 디스크 드라이브 시스템의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도.
도 2는 본 발명의 저장 장치 최적화 장치의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도.
도 3은 본 발명의 저장 장치 파라메터 최적화 모듈의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도.
도 4는 본 발명의 동작 파라메터 조정 방법의 일 실시예를 나타내는 개략적인 흐름도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 디스크 드라이브 112: 자기 디스크
113: 슬라이더 118: 디스크 드라이브 모터
119: 액츄에이터 아암 121: 헤드
125: 데이터 기록 채널 127: 액츄에이터 수단
129: 제어 유닛 200: DASD 최적화 장치 210: DASD 평가 모듈 214: 검색 테이블 생성 모듈
216: DASD 제어기 221: 검색 테이블
222: DASD 최적화 모듈 226: 온도 센서 228: 아날로그-대지탈(A/D) 변환기 230: 멀티플렉서 232: 동작 파라메터 선택 모듈 234: 기록 전류 선택 모듈
236: 사전보상 선택 모듈
본 발명은 컴퓨터 데이터를 저장하기 위하여 사용되는 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 저장 장치 환경의 감지된 온도에 따라 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하는 것에 관한 것이다.
컴퓨터 시스템은 일반적으로 데이터가 그 내부에 기록될 수 있고 이후의 사용을 위해 데이터가 그로부터 판독될 수 있는 매체를 갖는 보조 메모리 저장 장치를 사용한다. 회전 자기 디스크를 포함하는 직접 액세스 저장 장치(direct access storage device: DASD)가 디스크 표면 상에 자기 형태로 데이터를 저장하기 위하여 통상적으로 사용된다. 데이터는 디스크 표면 상에 동심의 방사형으로 형성된 트랙 상에 기록된다. 기록 소자와 판독 센서를 포함하는 자기 헤드가 데이터를 디스크 상에 기록하고 그 후 디스크 표면 상의 트랙으로부터 데이터를 판독하기 위하여 사용된다. 기록 소자와 판독 센서는 함께 자기 기록/판독 변환기로 알려져 있다.
통상적으로, 판독/기록 변환기는 단일 공기역학적(aerodynamically) 형태의 블록 물질(일반적으로 세라믹) 상에 위치된다. 슬라이더로도 언급되는 이러한 조립물은 디스크가 회전할 때 디스크의 표면 상부로부터 매우 작은 간격(나노메터 범위)을 두고 떠있다(fly). 변환기 헤드의 최하부 지점이 디스크 표면 상부로부터 떠있는 간격은 관련 기술 분야의 당업자들에게 DASD의 기계적 간격으로 알려져 있다.
변환기의 기록 소자는 일반적으로 자기적 투과성의(permeable) 물질 둘레를 감고 있는 전기 전도체를 포함하는 유도 변환 소자로 구성되어 있다. 데이터는 전도체 코일을 통해 전류를 구동시킴으로써 자기장을 생성하고, 자기적 패턴이 디스크 표면 상에 위치되는 데이터를 나타내도록 함으로써 기록된다. 전도체 코일을 통해 구동되는 전류는 기록 전류로 알려져 있다. 이 전류는 기록 갭에 의해 형성되는 2개의 극들 사이의 기록 헤드 구조물을 빠져나가는 변화하는 자기장을 형성한다. 디스크의 자기적 중심과 이 지점(기록 갭) 사이의 거리는 관련 기술 분야의 당업자들에게 DASD의 자기적 간격으로 알려져 있다.
현재의 DASD에서 사용되는 디스크는 데이터를 그들에 기록하기 위해 요구되는 자기장 세기가 다르다. 데이터가 디스크에 얼마나 쉽게 기록될 수 있는지를 제한하는 주요 요소는 디스크의 보자력(coercivity)이다. 디스크의 보자력은 디스크의 자기화 방향을 영구적으로 변경시키기 위하여 필요한, 기록 헤드에 의해 생성되 는 소망 자기장 세기로 언급된다. 디스크의 보자력이 낮을수록, 디스크 표면 상에 데이터를 기록하는 것이 더 쉬워진다. 기록 헤드에 의해 생성되는 기록 자기장은 자기 기록에 관한 베르트람(Bertram) 이론에 따르면 기록 전류에 비례하기 때문에, 기록 헤드를 더 낮은 보자력 레벨로 구동시키기 위해서는 작은 기록 전류가 필요하다.
DASD의 기계적 및 자기적 간격 특성은 다양한 제조 변수들(예를 들면, 코팅 두께, 높은 플라이(fly) 변화 등)에 의해 영향을 받지만, 주어진 구성요소 세트에 대해 DASD가 제조되면, 상기 변수들은 모든 DASD 조립물의 집단에 비해서 그 영향력이 매우 작다. 그러나, 디스크의 보자력은 디스크 드라이브의 동적 특성이다. 디스크의 보자력은 기록이 시도되는 플럭스 변화는 물론 온도 변화에 매우 민감하다. 현재 기술의 DASD는 사용될 기록 전류를 설정할 때 DASD가 동작할 수 있는 환경의 전체 온도 범위를 고려하지 않는다. 이는 DASD가 동작하는 환경의 온도가 변화함에 따라 데이터를 기록하기 위하여 가해지는 기록 전류가 너무 많거나 너무 적어지는 결과를 낳는다.
너무 작은 기록 전류가 사용될 때, 기록되는 파형은 대체로 왜곡되거나 불완전하게 되어 에러를 발생시킬 수 있다. 너무 큰 기록 전류가 사용될 때, 큰 플린지 전계가 기록 소자의 측면에서 발생할 수 있다. 플린지 전계는 측면 기록 또는 굴곡 변화로 알려진 문제를 초래할 수 있으며, 이는 재판독 성능에서 여러가지 성능 저하를 초래한다. DASD가 저장 공간을 최적화하기 위하여, 디스크 상의 트랙들 사이의 간격 또는 트랙 밀도는 가능한 작을 필요가 있다. 너무 큰 기록 전류로부 터 생성된 플린지 전계는 디스크의 트랙 밀도를 제한한다.
따라서, 관련 기술 분야에서 DASD의 특성과 DASD가 동작하는 환경을 바탕으로 기록 전류를 최적값으로 설정할 수 있는 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치가 필요하다.
본 발명의 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치는 관련 기술의 현재 상태에 대응하여, 특히, 현재 사용가능한 다이나믹 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치에 의해 아직까지 완전히 해결되지 않은 기술상의 문제점과 필요성에 대응하여 개발된 것이다. 따라서, 본 발명의 전체 목적은 기술상의 상기 언급한 많은 단점들을 극복한 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
전술한 목적을 성취하기 위하여, 바람직한 실시예를 통해 본 명세서에서 구현되고 넓게 기술되는 본 발명에 따르면, 개선된 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치가 제공된다.
일 실시예에서 본 발명의 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치는 제조시에 저장 장치의 특성을 규정하기 위해 구성되는 저장 장치 평가 모듈을 포함한다. 저장 장치 평가 모듈은 또한 저장 장치의 최적 동작에 필요한 파라메터들을 결정하고 최적 동작 파라메터를 각각 포함하는 검색 테이블을 생성하기 위해 구성된 검색 테이블 생성 모듈과 동작 파라메터 결정 모듈을 더 포함한다. 검색 테이블 형태의 최적 동작 파라메터는 그 후에 적당한 저장용 저장 장치 제어기에 보내진다. 후자는 저장 장치 그 자체 상의 ROM 검색 테이블 또는 영구 저장 수단일 수 있다. 세부 사항들은 유닛의 실제 실행과 비용에 따라 좌우될 것이다.
저장 장치 평가 모듈에 의해 수행되는 동작은 저장 장치의 제조 동안 수행되고 각각의 제조된 저장 장치에 대해 (선택적으로 필요하면 저장 장치 당 각각의 헤드 디스크 인터페이스에 대해) 수행된다. 대안적으로, 저장 장치 평가 모듈에 의해 수행되는 동작은 저장 장치의 주어진 제조 작업, 또는 저장 장치의 주어진 모델에 대해 한번 수행될 수 있다. 세부 사항들은 시간과 비용 제한조건은 물론 제조 변수들에 따라 좌우될 것이다.
본 발명의 동적 기록 헤드 전류 조정 장치는 저장 장치 동작 환경의 온도에 따라 동작시에 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하도록 구성된 저장 장치 최적화 모듈을 더 포함한다. 온도 센서는 저장 장치가 동작하는 환경의 온도를 감지하기 위해 사용된다. (온도 센서는 A/D 컨버터를 가진 전용 유닛일 수 있으며, 또는 관련 기술 분야의 당업자들에게 잘 알려진 바와 같은, 관통 VCM 코일 저항값과 같은 온도를 추론하는 방법을 사용할 수 있다.) 온도 값은 그 후에 저장 장치 상에 저장된 검색 테이블을 참조하기 위해 사용된다.
주어진 온도에 대한 기록 전류 및 사전보상 지연값에 대한 최적 동작 값은 플럭스 변화를 고려하여 검색 테이블로부터 선택된다. 기록 전류 및 사전보상 지연에 대한 값이 검색 테이블로부터 검색되면, 저장 장치의 기록 전류 및 사전보상 지연은 감지된 온도에 대해서 검색 테이블 내에서 검색되는 값들로 설정된다.
본 발명의 이점 및 목적이 얻어지는 방식이 쉽게 이해되도록 하기 위하여, 상기 간단히 설명된 본 발명에 대한 더 특정적인 설명이 첨부된 도면을 참조로 그의 특정 실시예와 관련하여 제공된다. 이들 도면들이 본 발명의 단지 통상적인 실시예들을 나타내고 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 고려되지 않아야 하며, 본 발명은 첨부된 도면을 통해 더 특정적으로 상세히 기재되고 설명될 것이다.
특정의 동작 파라메터를 그들의 최적 값으로 동적으로 조정함으로써 저장 장치의 효율 및 데이터 완전성이 개선될 수 있다는 것이 본 발명에 의해 밝혀졌다. 일 실시예에서, 저장 장치가 동작하고 있는 환경 조건에서 저장 장치의 의존도를 결정하기 위하여 저장 장치의 물리적 특성이 제조 프로세스동안 측정된다.
저장 장치의 물리적 특성과 저장 장치의 동작 환경이 저장 장치 성능에 대해 미치는 효과가 판단되면, 저장 장치의 기록 전류에 대한 최적 값이 검색 테이블에 저장된다. 저장 장치가 동작하고 있는 온도가 검색 테이블에 존재하는 데이터에 대한 참조용으로 사용된다. 다른 실시예에서, 사전보상 지연에 대한 최적 값이 또한 검색 테이블에 저장된다. 저장 장치의 동작 동안, 동작 환경의 온도가 감지되고 검색 테이블에 대한 참조값으로 사용된다. 감지된 온도에 대응하는 기록 전류 및 사전보상 지연의 값들이 검색되고 저장 장치의 기록 전류 및 사전보상 지연이 그에 따라 설정된다.
도 1은 본 발명에서 사용하기에 적합한 자기 기록 디스크 드라이브 시스템(100)의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도이다. 본 발명이 CD ROM 드라이브를 포함하는 광학적 및 열적 드라이브와 테이프 드라이브를 포함하여, 컴퓨 터 저장 장치의 많은 다른 타입들에 대해 유용성을 갖는다고 알려져 있다고 하더라도, 본 발명은 하드 디스크 드라이브와 관련된 예에 의해 본 명세서에서 설명될 것이다. 하드 디스크 드라이브는 직접 액세스 저장 장치(DASD)의 한가지 타입이며 일반적으로 저장 장치를 나타낸다. 하드 디스크 드라이브와 같은 DASD의 자료를 통하여 본 발명을 이해하는 것은 관련 기술 분야의 당업자들이 다른 타입의 컴퓨터 데이터 저장 장치로 본 발명을 실행하는 방법을 더욱 쉽게 이해하도록 할 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 디스크 드라이브(100) 시스템은 스핀들(114)상에 지지되고 디스크 드라이브 모터(118)에 의해 회전되는 적어도 하나의 회전가능한 자기 디스크(112)를 포함한다. 각각의 자기 디스크(112) 상의 자기 기록 매체는 동심의 데이터 트랙(도시되지 않음)의 고리모양 패턴 형태이다.
적어도 하나의 슬라이더(113)가 디스크(112) 상에 위치된다. 각각의 슬라이더(113)는 하나 또는 그 이상의 자기 판독/기록 헤드(121)를 지지한다. 디스크가 회전할 때, 슬라이더(113)는 헤드(121)가 자기 디스크(112)의 다른 부분들에 접근할 수 있도록 디스크 표면(122) 상부에서 방사형으로 안 밖으로 이동된다. 각각의 슬라이더(113)는 서스펜션(115)에 의해 액츄에이터 아암(119)에 부착된다. 서스펜션(115)은 슬라이더를 디스크 표면(122)에 대해 기울게 하는 약한 스프링력을 제공한다. 각각의 액츄에이터 아암(119)은 액츄에이터 수단(127)에 부착된다.
도 1에 도시된 액츄에이터 수단(127)은 음성 코일 모터(VCM)일 수 있다. VCM은 고정된 자기장 내에서 이동가능한 코일을 포함하며, 코일 이동의 방향과 속도는 제어기(129)에 의해 공급된 모터 전류 신호에 의해 제어된다.
디스크 저장 시스템이 동작하는 동안, 자기 디스크(112)의 회전은 슬라이더(113)와 디스크 표면(122) 사이에 이 슬라이더(113) 상에 상향 힘 또는 들어올림(lift) 힘을 가하는 에어 베어링(air bearing)(헤드(121)를 포함하며 디스크(112)의 표면과 맞대어 있는 슬라이더(113)의 표면은 에어 베어링 표면(air bearing surface: ABS)으로 언급됨)을 생성한다. 이 에어 베어링은 디스크 표면 상부로부터 서스펜선(115)의 약한 스프링력의 균형을 맞추고 정상 동작 동안 디스크 표면 상부로부터 대체로 일정한 작은 간격 만큼 슬라이더(113)를 약간 들어올려서 지지한다.
디스크 저장 시스템의 다양한 성분들은 제어 유닛(129)에 의해 발생된 내부 클록 신호 및 액세스 제어 신호와 같은 제어 신호에 의해 동작이 제어된다. 통상적으로, 제어 유닛은 논리 제어 회로, 저장 수단 및 마이크로프로세서를 포함한다. 제어 유닛(129)은 라인(123) 상의 드라이브 모터 제어 신호와 라인(128) 상의 헤드 위치 및 검색 제어 신호와 같은 다양한 시스템 동작을 제어하기 위한 제어 신호들을 발생시킨다. 라인(128) 상의 제어 신호들은 슬라이더(113)를 디스크(112) 상의 소망 트랙에 최적으로 이동시켜 위치시키기 위한 소망 전류 프로파일을 제공한다. 판독 및 기록 신호들은 데이터 기록 채널(125)에 의해 기록/판독 헤드(121)로/로부터 통신된다.
일 실시예에서 디스크 저장 시스템의 기록 헤드(121)는 전류가 통과하는 코일과 같은 유도 소자를 포함한다. 기록 전류로 알려진 이러한 전류는 유도 소자 주위에 자기장을 생성한다. 기록 헤드(121)의 자기장은 저장될 데이터의 자기 패 턴을 생성하고 이 자기 패턴은 디스크(112) 상에 위치된다. 자기 패턴을 디스크(12) 상에 위치시키기 위해 기록 헤드(121)로부터 얻어진 자계는 디스크(112)의 보자력에 의해 제어된다. 높은 보자력을 갖는 디스크는 낮은 보자력을 갖는 디스크보다 기록 헤드(121)가 큰 자기장을 발생시키도록 요구한다. 기록 헤드(121)에 의해 발생되는 자계의 양은 기록 헤드 내의 유도 소자를 통과하는 기록 전류의 양에 의해 결정된다. 디스크(112)의 보자력은 모든 환경에서 일정하게 유지되는 것은 아니며, 그러므로 기록 전류는 환경 동작 조건에 따라 조정될 필요가 있다.
도 2는 본 발명의 직접 액세스 저장 장치(direct access storage device: DASD) 최적화 장치(200)의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도이다. DASD 최적화 장치(200)는 DASD 평가 모듈(210), DASD 제어기(216), 및 DASD 최적화 모듈(222)을 포함한다. DASD 최적화 장치(200)는 DASD가 동작하고 있는 환경 조건에 따라 DASD의 성능을 최적화하기 위해 구성된다.
DASD 평가 모듈(210)은 DASD의 동작 온도 범위에 대한 최적의 동작 파라메터를 결정하고 저장하도록 구성된다. 이는 동작 파라메터 결정 모듈(212)과 검색 테이블 생성 모듈(214)을 사용하여 성취된다. 동작 파라메터 결정 모듈(212)은 DASD의 온도 의존도를 결정하도록 구성된다. 도 1과 관련하여 상기 설명된 바와 같이, DASD의 각각의 디스크(112)는 데이터를 디스크 상에 기록하기 위해 요구되는 기록 전류의 총량을 부분적으로 결정하는 일정한 보자력을 갖는다. 디스크의 성능에 영향을 주는 다른 요소는, 디스크의 자기적 간격, DASD가 동작하고 있는 환경의 온 도, 기록되고 있는 디스크의 섹션 밀도, 헤드가 기록하고 있는 데이터 비율, 기록 헤드의 효율 및 실제 헤드 구조를 포함하지만 이들로 제한되는 것은 아니다.
상기 언급된 요소들, 또는 DASD의 물리적 특성은 DASD 평가 모듈(210)에 의해 제조 프로세스동안 측정된다. 이러한 파라메터의 측정이 행해지면, 동작 파라메터 결정 모듈(212)은 DASD에 대한 온도 의존도 모델을 생성한다. 기록 전류 및 사전보상 지연과 같은 DASD의 동작 파라메터가 그 후에 테스트된다. 피드백 루프 프로세스를 사용하여, 동작 파라메터에 대한 최적 동작 값이 테스팅 환경의 온도에서 발견된다. DASD의 온도 의존도와 DASD의 최적 동작 파라메터가 결정되었다면, 제조/테스팅 환경의 온도가 기록된다.
제조/테스팅 환경의 온도, 실험적으로 결정된 DASD의 최적 동작 파라메터 및 디스크 드라이브의 물리적 파라메터들이 그 후에 검색 테이블 생성 모듈(214)에 의해 사용되어 DASD의 최적 동작 파라메터의 검색 테이블(221)을 생성한다. 검색 테이블 생성 모듈(214)은 DASD의 물리적 파라메터들과 함께, 테스팅 환경의 온도와 그 온도에서의 최적 동작 파라메터들을 사용하여 동작가능한 온도 범위에 대한 DASD의 최적 동작 파라메터를 포함하는 검색 테이블(221)을 생성한다. 검색 테이블 생성 모듈(214)에 의해 생성되고 검색 테이블내에 위치되는 정보는 그 후에 DASD 제어기(216)에 전달된다. 다른 온도에 대한 최적의 설정은 관련된 기록 물리학을 바탕으로 한 이론적 계산에 의해 유도될 수 있다. 이는 요구되는 값들이 0e/m degree K로 계산되는 디스크에 대한 온도 변화의 보자력 의존도를 포함하여 물리적 법칙의 실체로서 잘 알려져 있기 때문에 가능하다. 다른 예는 설계의 실험적 또는 이론적 함수인 동적 보자력으로 알려진 기록 속도의 함수로서의 보자력 변화이다.
DASD 제어기(216)는 마이크로콘트롤러(218)와 저장 위치(220)를 포함한다. 저장 위치(220)는 바람직하게는 마이크로콘트롤러(218)에 의해 사용되는 랜덤 액세스 메모리(RAM)의 일부를 포함하며 검색 테이블 생성 모듈(214)에 의해 생성된 검색 테이블을 저장하기 위해 사용된다.
DASD 최적화 모듈(222)은 저장 위치(220)내의 검색 테이블(221)의 정보에 액세스하기 위해 프로그램되거나 구성된다. 일 실시예에서 DASD 최적화 모듈은 동작 파라메터 최적화 모듈(224)을 포함한다. 동작 파라메터 모듈(224)은 바람직하게는 동작 환경의 온도를 감지하고 DASD의 동작 파라메터를 동작을 위한 최적 값으로 설정하도록 구성된다.
도 3은 본 발명의 DASD 동작 파라메터 최적화 모듈(224)의 일 실시예를 나타내는 개략적인 블록도이다. 동작 파라메터 최적화 모듈(224)은 바람직하게는 종래의 DASD내에서 실행되고, 도시된 실시예에서 온도 센서(226), 아날로그-디지탈(A/D) 변환기(228), 멀티플렉서(230) 및, 동작 파라메터 선택 모듈(232)을 포함한다. 온도 센서(224)는 제 3 자(third party) 온도 센서를 포함하고, DASD의 동작 환경의 온도를 감지하도록 구성된다. 대안적으로, 도 1의 음성 코일 모터(VCM)(127)의 코일은 온도 센서로 사용될 수 있다. VCM의 코일에 사용되는 와이어의 전도성은 코일의 온도에 따라서 변화한다. 와이어의 전도성이 온도 변화에 따라 변화하는 양은 알려져 있기 때문에, 와이어의 전도성이 측정될 수 있 고 동작 환경의 온도는 그러한 측정치로부터 유도될 수 있다.
온도 센서(226)의 출력은 아날로그 형태이며 바람직하게는 디지털 형태로 변환된다. 이를 성취하기 위하여, 온도 센서로부터 얻어진 신호는 A/D 변환기(228)를 통과한다. A/D 변환기(228)의 출력은 멀티플렉서(230)를 사용하여 동작 파라메터 선택 모듈(232)로 지나간다. A/D 컨버터, 멀티플렉서, 및 온도 센서(VCM 코일이 온도를 감지하기 위해 사용되는 경우)는 종래의 DASD내의 표준 소자들이고, 결과적으로 본 발명을 실행함으로써 하드웨어 비용이 최소화된다는 것에 주목해야 한다.
도시된 동작 파라메터 선택 모듈(232)은 또한 기록 전류 선택 모듈(234)을 더 포함하고, 선택적으로 사전보상 선택 모듈(236)을 더 포함한다. 온도의 디지털 표현이 동작 파라메터 선택 모듈(232)로 다중송신되면, 기록 전류 선택 모듈(234)은 DASD에 대한 최적 기록 전류를 선택한다. 기록 전류 선택 모듈(234)은 바람직하게는 감지된 온도를 사용하여 DASD 제어기(216)의 저장 위치(220)에 저장된 검색 테이블을 참조하여 최적 기록 전류를 선택하도록 구성된다. DASD 제어기(216)는 감지된 온도에 대응하는 기록 전류를 검색한다.
유사한 절차가 DASD에 대한 최적 사전보상 지연을 선택하기 위해 사용될 수 있다. 사전보상 선택 모듈(236)은 바람직하게는 감지된 온도를 DASD 제어기(216)의 저장 위치(220)에 저장된 검색 테이블에 대한 참조(reference)로 사용함으로써 최적 기록 전류를 선택한다. DASD 제어기(216)는 감지된 온도에 대응하는 기록 전류를 검색한다. 기록 전류 선택 모듈(234)과 사전보상 선택 모듈(236)이 최적 동작 파라메터를 선택하였다면, 이들은 제어 유닛(129)에 보내지고 기록 전류와 사전보상 지연을 동작 온도에 대한 최적값으로 설정하기 위해 사용된다.
도 4는 본 발명의 동작 파라메터 조정 방법(400)의 일 실시예를 나타내는 개략적 흐름도이다. 단계(402)에서, DASD의 물리적 특성이 결정된다. 이 단계는 도 1과 관련하여 상기에 상세히 기재되어 있으며, DASD의 물리적 특성이 DASD의 동작 환경에 의해 어떤 영향을 받을 지를 판단하는 단계를 포함한다. 단계(404)에서, DASD에 대한 최적 동작 파라메터가 규정된다. 이는 바람직하게는 단계(402)에서 결정된 바와 같은 DASD의 물리적 특성을 평가하는 단계와, DASD에 대한 최적 동작 파라메터를 규정하는 단계를 포함한다.
최적 동작 파라메터가 단계(404)에서 규정되었다면, 최적 동작 파라메터를 포함하는 검색 테이블(221)(도 3)이 단계(405)에서 생성된다. 검색 테이블(221)은 기록 전류에 대한 최적의 동작 파라메터를 포함하고, 선택적으로 DASD에 대한 사전보상 지연을 포함한다. 검색 테이블(221)내의 데이터는 온도값에 의해 참조된다. 단계들(402,404,405)은 DASD당 1회 수행되고 DASD가 제조될 때 수행된다. 대안적으로, 단계들(402,404,405)은 DASD 제조 작업당 1회 수행되거나, DASD의 모델 형태 당 1회 수행되며, 얻어진 값은 제조 작업시에 또는 모델 형태 마다 모든 DASD에 적용된다.
단계(406)에서, DASD의 온도가 감지된다. 감지된 온도는 단계(408)에서 검색 테이블(221)을 참조하기 위해 사용된다. 감지된 온도에 대응하는 동작 파라메터는 단계(409)에서 검색 테이블(221)로부터 선택된다. 동작 파라메터가 단계(409)에서 검색 테이블(221)로부터 선택되었다면, 동작 파라메터는 단계(410)에서 DASD의 사전보상 지연과 기록 전류를 조정하기 위해 사용된다.
본 발명은 그의 이론과 필수적인 특징에서 벗어나지 않은 다른 특정한 형태로 구현될 수 있다. 기재된 실시예는 단지 예시적인 것으로 본 발명을 제한하려는 의도는 아니다. 그러므로, 본 발명의 범위는 전술한 설명에 의해서 한정되는 것이 아니라 첨부된 청구항에 의해 한정된다. 청구항과 등가의 의미와 범위내에 있는 모든 변경들이 상기 범위내에서 허용될 수 있다.
상기 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, DASD의 특성과 DASD가 동작하는 환경을 바탕으로 기록 전류를 최적값으로 설정할 수 있는 동적 기록 헤드 전류 조정 방법 및 장치를 제공할 수 있다.

Claims (26)

  1. 저장 장치의 환경 조건에 따라 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하는 방법에 있어서,
    일정 범위의 온도에 대한 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 제조 동안 상기 저장 장치의 동적 보자력를 평가하는 단계와,
    상기 일정 범위의 온도에 대하여 최적 동작 파라메터를 저장하는 단계와,
    상기 저장 장치의 동작 동안 상기 저장 장치 환경의 온도를 감지하는 단계 및,
    상기 감지된 온도와 상기 최적 동작 파라메터에 따라 상기 저장 장치의 상기 동작 파라메터를 조정하는 단계
    를 포함하는 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 제조 동안 상기 저장 장치의 동적 보자력을 평가하는 단계는 상기 저장 장치의 온도 의존도를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 동적 보자력을 평가하는 단계를 더 포함하는 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 제조 동안 상기 저장 장치의 동적 보자력을 평가하는 단계는 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터의 검색(lookup) 테이블을 생성하는 단계를 더 포함하는 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터의 검색 테이블을 생성하는 단계는 최적 동작 파라메터 값들을 온도와 상관시키는 단계를 더 포함하는 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법.
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  12. 저장 장치의 환경 조건에 따라 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하는 방법에 있어서,
    상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 제조 동안 상기 저장 장치의 동적 보자력을 평가하는 단계와,
    일정 범위의 온도에 대한 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 포함하는 검색 테이블을 생성하고 상기 최적 동작 파라메터를 상기 저장 장치의 제어기-상기 저장 장치의 제어기는 상기 검색 테이블이 저장되는 마이크로콘트롤러를 가진 하드 디스크 제어기(HDC)를 포함함-내에 저장하는 단계와,
    상기 저장 장치의 동작 동안 상기 저장 장치 환경의 온도를 감지하는 단계와,
    상기 검색 테이블을 참조하여 상기 감지된 온도에 대한 최적 기록 전류를 결정하는 단계와,
    상기 기록 전류를 상기 검색 테이블의 참조를 통해 얻어진 값으로 설정하는 단계와,
    상기 검색 테이블을 참조하여 상기 감지된 온도에 대한 최적 사전보상 지연을 결정하는 단계 및,
    상기 사전보상 지연을 상기 검색 테이블의 참조를 통해 얻어진 값으로 설정하는 단계
    를 포함하는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 방법.
  13. 저장 장치의 환경 조건에 따라 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터를 동적으로 조정하는 장치에 있어서,
    일정 범위의 온도에 대한 상기 저장 장치의 최적 동작 파라메터를 결정하기 위해 상기 저장 장치의 제조 동안 상기 저장 장치의 동적 보자력을 평가하도록 구성된 저장 장치 평가 모듈과,
    상기 일정 범위의 온도에 대하여 최적 동작 파라메터를 상기 저장 장치의 제어기 내에 저장하도록 구성된 저장 위치와,
    상기 저장 장치의 동작 동안 상기 저장 장치 환경의 온도를 감지하도록 구성된 온도 센서, 및
    상기 온도 센서와 상기 최적 동작 파라메터에 의해 감지된 온도에 따라 상기 저장 장치의 동작 파라메터를 조정하도록 구성된 동작 파라메터 조정 모듈
    을 포함하는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 장치.
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  17. 제 13 항에 있어서, 상기 최적 동작 파라메터를 상기 저장 장치의 제어기 내에 저장하기 위해 구성된 상기 저장 위치는 하드 디스크 제어기(HDC)를 포함하는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 장치.
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  20. 제 13 항에 있어서, 상기 저장 장치 환경의 온도를 감지하기 위해 구성된 상기 온도 센서는 상기 HDC의 음성 코일 모터의 코일을 포함하는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 장치.
  21. 제 13 항에 있어서, 상기 저장 장치 환경의 온도를 감지하기 위해 구성된 상기 온도 센서는 별도의 제 3 자(third party) 온도 센서 소자를 포함하는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 장치.
  22. 제 13 항에 있어서, 상기 온도 센서로부터 수신된 상기 아날로그 신호는 기존의 아날로그-디지털 변환기를 사용하여 디지털 신호로 변환되는 직접 액세스 저장 장치의 동작 파라메터 동적 조정 장치.
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