KR100527307B1 - Substrate processing apparatus - Google Patents

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KR100527307B1
KR100527307B1 KR10-2003-0017990A KR20030017990A KR100527307B1 KR 100527307 B1 KR100527307 B1 KR 100527307B1 KR 20030017990 A KR20030017990 A KR 20030017990A KR 100527307 B1 KR100527307 B1 KR 100527307B1
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토요타코지
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다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤
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Abstract

처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판에 대하여 처리액을 공급하여 기판의 처리를 하는 경우에, 고화성분을 함유한 처리액에 의해 반송롤러나 처리조의 내 벽면 등이 오염되는 것을 방지할 수 있는 장치를 제공하는 것이다. In the case where the processing liquid is supplied to the substrate while the substrate is being transported in the processing tank to treat the substrate, the processing liquid containing the solidified component can prevent the conveying roller, the inner wall surface of the processing tank, and the like from being contaminated. To provide.

기판 1의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 반송롤러(10)의 바로 아래에 액 저장용기(12)를 설치하고, 액 저장용기 내로 현상액을 공급하여 액 저장용기 내를 항상 현상액(14)으로 채우고, 액 저장용기 내에 채워진 현상액 중에 반송롤러 원주면의 일부를 침지시켜 둔다. The liquid storage container 12 is installed directly under the conveying roller 10 for supporting and transporting the substrate by contacting the bottom surface of the substrate 1, and supplying the developer into the liquid storage container to always maintain the developer solution 14 in the liquid storage container. ), And a part of the circumferential surface of the conveying roller is immersed in the developer filled in the liquid storage container.

Description

기판처리장치{SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS}Substrate Processing Equipment {SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS}

본 발명은, 플랫 패널 디스플레이(Flat Pannel Display)용 유리기판, 반도체 웨이퍼, 프린트 기판 등의 기판을 1매씩, 병렬하여 설치된 복수의 반송롤러에 의해 지지하여 반송하면서, 기판에 대하여 세정, 현상, 엣칭, 박막 등의 처리를 실시하는 기판처리장치에 관한 것이다. According to the present invention, the substrates, such as glass substrates for flat panel displays, semiconductor wafers and printed substrates, are cleaned, developed and etched with respect to the substrates while being supported and conveyed by a plurality of conveying rollers arranged in parallel. And a substrate processing apparatus for processing a thin film or the like.

예를 들면 기판 위에 배선패턴을 형성하는 프로세스(Process)에 있어서, 기판의 표면에 형성된 감광성 레지스트(Resist)막을 현상하는 경우, 기판을 1매씩 옆에 두고 반송롤러에 의해 반송하면서 기판 위에 현상액을 담고, 액을 담고나서 소정시간이 경과한 후에 현상반응을 정지시키는 방식의 롤러 반송식 현상처리 장치가 사용된다. 상기 현상처리 장치 개략 구성의 일 예를 도 8에 모식적으로 나타낸다. For example, in the process of forming a wiring pattern on a substrate, when developing a photosensitive resist film formed on the surface of the substrate, the developer is placed on the substrate while the substrate is placed one by one and conveyed by a transfer roller. , The roller conveyance developing apparatus of the system which stops a developing reaction after predetermined time after containing a liquid is used. An example of the schematic structure of the developing apparatus is schematically shown in FIG. 8.

도 8에 나타낸 현상처리 장치는, 입구측 개구(3a) 및 출구측 개구(3b)를 가지는 처리조(2)를 구비하고, 처리조(2)의 내부에는, 복수의 반송롤러(4a,4b,4c)가 병렬하여 설치되고 있다. 그리고, 기판(1)은, 입구측 개구(3a)를 통하여 처리조(2) 내로 반입되고, 반송롤러(4a~4c)에 의해 지지되어 수평방향으로 반송되고, 처리조(2) 내로부터 출구측 개구(3b)를 통하여 반출되어, 다음의 수세처리조(미 도시)로 보내지도록 되어 있다. 처리조(2) 내부의 입구측 개구(3a) 부근에는, 현상액 토출노즐(5)이 설치되어 있다. 또한 처리조(2) 내부의 출구측 개구(3b)의 부근에는, 반송롤러 4c의 바로 위에 반송롤러 4c와 마주하도록, 반송롤러 4c에 지지되어 반송되는 기판(1)의 상면(上面) 쪽에 접촉하는 액(液) 제한 롤러(6)가 설치되어 있다. The developing apparatus shown in FIG. 8 includes a processing tank 2 having an inlet side opening 3a and an outlet side opening 3b, and a plurality of conveying rollers 4a and 4b inside the processing chamber 2. 4c) are provided in parallel. And the board | substrate 1 is carried in into the processing tank 2 through the inlet opening 3a, is supported by the conveying rollers 4a-4c, and is conveyed in a horizontal direction, and exits from the inside of the processing tank 2 It is carried out through the side opening 3b, and is sent to the next water washing tank (not shown). In the vicinity of the inlet side opening 3a inside the processing tank 2, a developing solution discharge nozzle 5 is provided. Moreover, in the vicinity of the exit side opening 3b in the inside of the processing tank 2, it contacts the upper surface side of the board | substrate 1 supported and conveyed by the conveyance roller 4c so that it may face the conveyance roller 4c directly on the conveyance roller 4c. The liquid limiting roller 6 to be provided is provided.

이와 같은 구성의 현상처리 장치에 있어서, 표면에 노광(露光)이 끝난 감광성 레지스트 막이 형성된 기판(1)은, 처리조(2)의 입구측 개구(3a) 부근에 설치된 현상액 토출노즐(5)의 바로 아래 위치를 통과할 때에, 현상액 토출노즐(5) 하단면의 슬릿(Slit)형상 토출구로부터 토출되는 현상액(7)이 표면 위에 담긴다. 액이 담겨진 기판(1)은, 반송롤러 4a,4b에 의해 반송되고 있는 동안에 감광성 레지스트 막의 현상반응이 진행한다. 기판(1)이 처리조(2)의 출구측 개구(3b)의 부근까지 반송되어 오면, 액 제한 롤러(6)에 의해 기판(1) 위에서 현상액(7)이 제거되고, 그 후에, 처리조(2) 내에서 반출된다. 그리고, 기판(1)은, 다음의 수세처리조로 보내져, 감광성 레지스트 막의 현상반응이 완전히 정지된다. In the development apparatus of such a configuration, the substrate 1 having the photosensitive resist film exposed on the surface of the developing solution discharge nozzle 5 provided in the vicinity of the inlet side opening 3a of the processing tank 2. When passing through the position just below, the developer 7 discharged from the slit-shaped discharge port of the bottom face of the developer discharge nozzle 5 is contained on the surface. The developing reaction of the photosensitive resist film advances while the board | substrate 1 in which the liquid was carried is conveyed by the conveyance rollers 4a and 4b. When the board | substrate 1 is conveyed to the vicinity of the exit side opening 3b of the processing tank 2, the developing solution 7 is removed on the board | substrate 1 by the liquid limitation roller 6, and thereafter, a processing tank It is taken out in (2). And the board | substrate 1 is sent to the following water washing tank, and the image development reaction of a photosensitive resist film is completely stopped.

상기한 바와 같은 현상처리 장치에 있어서, 기판(1)의 표면 위로부터 현상액(7), 특히 레지스트를 함유한 현상액(7)이 넘쳐 떨어지면, 상기 현상액이 반송롤러(4a ∼ 4c)의 원주면이나 처리조(2)의 내 벽면 등에 부착하게 된다. 또한, 액 제한 롤러(6)의 원주면은, 레지스트를 함유한 현상액(7)이 항상 부착된 상태로 되어 있다. 그들 부재에 부착된 현상액이 마르면, 레지스트분이 고화(固化)하여 부재가 오염된다. 이 때문에, 파티클(Particle)이 발생하여 기판(1)을 오염시키거나, 센서 등의 기기(器機)의 오동작을 초래하는 원인으로 되거나 하는 문제를 발생시키게 된다. 한편, 그들 문제가 일어나지 않도록 하는 데는, 처리조(2) 내부의 청소작업을 빈번히 행할 필요가 있으나, 처리효율의 저하나 작업의 번잡함을 초래하게 된다. In the above-described developing apparatus, when the developing solution 7, in particular, the developing solution 7 containing a resist overflows from the surface of the substrate 1, the developing solution is formed on the circumferential surface of the conveying rollers 4a to 4c. It adheres to the inner wall surface of the processing tank 2, etc. In addition, the circumferential surface of the liquid limiting roller 6 is in a state where the developer 7 containing a resist is always attached. When the developer adhered to these members dries, the resist powder solidifies and contaminates the members. For this reason, particles generate | occur | produce, and the board | substrate 1 may be polluted, or the problem which may cause the malfunction of apparatuses, such as a sensor, may arise. On the other hand, in order to prevent these problems from occurring, it is necessary to frequently clean the inside of the treatment tank 2, but the treatment efficiency is reduced and the work is complicated.

또한, 상기 방식과는 다른 방식, 즉, 처리조 내에 스프레이 노즐을 설치하고, 스프레이 노즐로부터 현상액 등을, 처리조의 내부 전체로 확산하도록 미스트(Mist) 형상으로 분출시키는 현상방식을 취하는 경우에는, 반송롤러나 처리조의 내 벽면, 센서 등의 표면이 현상액 등으로 항상 젖어 있는 상태가 되므로, 고화된 레지스트에 의한 오염이 일어나기 어렵게 되어, 상기한 문제는 발생하기 어렵다. 그러나, 현상액 등의 미스트가 구석구석까지 미치기 어려운 개소에 반송롤러 등이 설치되고 있는 경우에는, 역시 레지스트를 함유한 현상액에 의한 반송롤러 등의 오염이 생기게 된다. 또한, 상기 방식은, 기본적으로, 미스트 발생을 억제할 필요가 있는 프로세스에서는 채용할 수 없다. In addition, in the case where a spray nozzle is provided in a treatment tank different from the above method, that is, a developing method in which a developer or the like is ejected into a mist shape so as to diffuse the developing solution or the like from the spray nozzle to the entire interior of the treatment tank, the conveyance is Since the surface of the inner wall of the roller, the processing tank, the sensor, or the like is always wet with the developer, the contamination by the solidified resist is less likely to occur, and the above-described problems are less likely to occur. However, when the conveyance roller etc. are provided in the location where mist, such as a developing solution, is hard to reach every corner, contamination of the conveyance roller etc. by the developing solution containing a resist also arises. In addition, the said method cannot be employ | adopted basically in the process which needs to suppress mist generation.

본 발명은, 이상과 같은 사항을 고려하여 이루어 진 것이며, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판에 대하여 처리액을 공급하여 기판의 처리를 하는 경우에, 고화성분을 함유한 처리액에 의해 반송롤러나 처리조의 내벽면 등이 오염되는 것을 방지할 수 있고, 기판의 오염이나 기기의 오동작 등을 막을 수 있는 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made in consideration of the above matters, and in the case where the processing liquid is supplied to the substrate while the substrate is being transported in the processing tank to process the substrate, the transfer roller is carried out by the processing liquid containing a solidified component. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus that can prevent contamination of an inner wall surface of a processing tank and the like, and prevent contamination of a substrate, malfunction of an apparatus, and the like.

청구항 1에 관한 발명은, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판 처리장치에 있어서, 기판의 아래면 쪽에 접촉하고 기판을 지지하여 반송하는 반송롤러의 바로 밑에 액 저장 용기를 설치하고, 그 액 저장 용기 내로 습윤(濕潤)용액을 공급하여 액 저장 용기 내를 항상 습윤용액으로 채우는 액 공급수단을 구비하고, 상기 액 저장 용기 내에 채워진 습윤용액 중에 상기 반송롤러의 원주면의 일부를 침지(浸漬)시켜 두는 것을 특징으로 한다. The invention according to claim 1 is a substrate processing apparatus for treating a substrate with a processing liquid while transporting the substrate in a processing tank, wherein the liquid storage container is placed directly under the transport roller that contacts the bottom surface of the substrate and supports and transports the substrate. And a liquid supply means for supplying the wet solution into the liquid storage container and always filling the inside of the liquid storage container with the wet solution, and part of the circumferential surface of the conveying roller in the wet solution filled in the liquid storage container. It is characterized by soaking (浸漬).

청구항 2에 관한 발명은, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판 처리장치에 있어서, 기판의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 반송롤러에 근접하는 동시에 반송롤러에 의해 지지되는 기판의 높이 위치로부터 아래쪽으로, 토출구가 반송롤러와 마주하도록 액 토출수단을 배치하고, 상기 액 토출수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비한 것을 특징으로 한다. The invention according to claim 2 is a substrate processing apparatus for treating a substrate with a processing liquid while conveying the substrate in a processing tank, wherein the substrate is in contact with a lower surface of the substrate to be close to a conveying roller for supporting and conveying the substrate. And a liquid supply means for disposing the liquid discharge means so that the discharge port faces the conveyance roller from the height position of the substrate supported by the substrate, and supplying the wet solution to the liquid discharge means.

청구항 3에 관한 발명은, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판 처리장치에 있어서, 기판의 아래면 쪽에 접촉하고 기판을 지지하여 반송하는 반송롤러의 부근이고 반송롤러에 의해 지지되는 기판의 높이 위치로부터 아래쪽으로, 상기 반송롤러의 바로 위에 반송롤러와 마주하도록 설치되고 반송롤러에 지지되어 반송되는 기판의 상면쪽에 접촉하는 상부롤러와 토출구가 마주하도록 액 토출수단을 설치하고, 그 액 토출수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비한 것을 특징으로 한다. The invention according to claim 3 is a substrate processing apparatus for treating a substrate with a processing liquid while conveying the substrate in a processing tank, wherein the substrate is in the vicinity of a conveying roller that contacts the bottom surface of the substrate and supports and conveys the substrate. Downward from the height position of the supported substrate, the liquid discharge means is provided so as to face the conveying roller directly above the conveying roller and to face the upper roller contacting the upper surface side of the substrate conveyed by the conveying roller and being discharged, And liquid supply means for supplying the wet solution to the liquid discharge means.

청구항 4에 관한 발명은, 청구항 3 기재의 기판 처리장치에 있어서, 상기 반송롤러 및 상기 상부롤러를 위쪽 위치와 아래쪽 위치 사이에서 이동가능하게 지지하고 상기 액 토출수단은, 반송롤러 및 상부롤러가 위쪽으로 위치한 때에 반송롤러에 의해서 지지되는 기판의 높이 위치로부터 아래쪽에 위치하도록 설치되고, 반송롤러 및 상부롤러가 아래쪽에 위치한 때에는, 상기 반송롤러가, 그것보다 기판의 반송방향에 있어서 상류쪽으로 설치된 다른 반송롤러와 마찬가지 높이로 위치함과 동시에, 반송롤러 및 상부롤러에 기판이 접촉하지 않도록 제어되는 것을 특징으로 한다. According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of claim 3, the transfer roller and the upper roller are movably supported between an upper position and a lower position. When the conveying rollers and the upper rollers are positioned below the height position of the substrate supported by the conveying rollers when they are positioned, the conveying rollers are other conveyances provided upstream in the conveying direction of the substrate. At the same height as the roller, it is characterized in that the substrate is controlled so as not to contact the conveying roller and the upper roller.

청구항 5에 관한 발명은, 청구항 4 기재의 기판 처리장치에 있어서, 상기 반송롤러 및 상부롤러를, 반송롤러의 축심선의 연장선 상의 일점을 중심으로 하여 연직면 내에서 요동하도록 지지하고, 경사 자세로 되는 위쪽 위치와 수평자세로 되는 아래쪽 위치 사이에서 이동시키는 것을 특징으로 한다. According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of claim 4, the conveying roller and the upper roller are supported so as to oscillate in the vertical plane about one point on the extension line of the axis line of the conveying roller, and become an inclined posture. And between the position and the lower position of the horizontal posture.

청구항 6에 관한 발명은, 청구항 4 또는 청구항 5기재의 기판 처리장치에 있어서, 상기 반송롤러 와 상기 상부롤러가 액 제한 롤러이며, 그 액 제한 롤러와 상기 다른 반송롤러 사이에, 액 제한 롤러와 일체적으로 위쪽 위치와 아래쪽 위치 사이를 이동하도록 지지되어 기판의 아래면 쪽으로 접촉하고 기판을 지지하여 반송하는 복수의 반송롤러를 설치한 것을 특징으로 한다. According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of claim 4 or 5, the conveying roller and the upper roller are liquid limiting rollers, and are integrated with the liquid limiting rollers between the liquid limiting rollers and the other conveying rollers. It is characterized in that a plurality of conveying rollers, which are supported to move between an upper position and a lower position, are in contact with the lower surface of the substrate and support and convey the substrate.

청구항 7에 관한 발명은, 청구항 2 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 기재된 기판 처리장치에 있어서, 상기 액 공급 수단은, 상기 토출구로부터 상기 반송롤러를 향하여 토출된 습윤용액이 액 튀김에 의해 비산하지 않는 정도의 저압에서 상기 액 토출수단으로 습윤용액을 공급하는 것을 특징으로 한다. According to a seventh aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 6, the liquid supply means does not scatter the wet solution discharged from the discharge port toward the conveying roller by liquid splashing. Characterized in that the wet solution is supplied to the liquid discharge means at a low pressure of the degree.

청구항 8에 관한 발명은, 청구항 2 내지 청구항 7중 어느 한 항에 기재된 기판 처리장치에 있어서, 기판을 반송하여 기판을 처리하고 있는 기간 중에 있어서, 상기 반송롤러가 기판의 하면 쪽과 접촉하고 있지 않을 때 상기 액 토출수단의 토출구로부터 습윤용액을 토출하여 반송롤러가 기판의 아래면 쪽과 접촉하고 있을 때는 액 토출수단의 토출구로부터 습윤용액을 토출하지 않도록, 상기 액 공급수단으로부터 액 토출수단으로 간헐적으로 습윤용액을 공급하도록 하는 것을 특징으로 한다. In the invention according to claim 8, in the substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 7, the conveying roller is not in contact with the lower surface side of the substrate during the period of conveying the substrate and processing the substrate. When the wet solution is discharged from the discharge port of the liquid discharge means and the conveying roller is in contact with the lower side of the substrate, the wet solution is intermittently from the liquid supply means to the liquid discharge means so as not to discharge the wet solution from the discharge port of the liquid discharge means. It is characterized by supplying a wet solution.

청구항 9에 관한 발명은, 청구항 2 내지 청구항 8중 어느 한 항에 기재된 기판 처리장치에 있어서, 기판을 반송하고 있지 않은 기간 중에 있어서, 상기 액 공급 수단으로부터 상기 액 토출수단으로 일정시간 마다 간헐적으로 습윤용액을 공급하도록 한 것을 특징으로 한다. In the invention according to claim 9, the substrate processing apparatus according to any one of claims 2 to 8, wherein the substrate is wetted intermittently from the liquid supply means to the liquid discharge means at regular intervals during a period in which the substrate is not conveyed. It is characterized by supplying a solution.

청구항 10에 관한 발명은, 처리조 내에 있어서 기판을 처리액으로 처리하는 기판 처리장치에 있어서, 상기 처리조의 경사진 안 바닥면 위에 습윤용액을 토출하는 액 토출수단을, 안 바닥면의 경사방향 상부에 설치하고, 상기 액 토출수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비 한 것을 특징으로 한다. The invention according to claim 10 is a substrate processing apparatus for treating a substrate with a processing liquid in a processing tank, comprising: liquid discharging means for discharging a wet solution onto an inclined inner bottom surface of the processing tank, the upper portion being inclined in the bottom direction of the inner bottom surface; And a liquid supply means for supplying a wet solution to the liquid discharge means.

청구항 1에 관한 발명의 기판처리장치에 에서는, 액 공급수단으로부터 액 저장 용기 내로 습윤용액이 공급되어, 액 저장용기 내가 항상 습윤용액으로 채워지고, 상기 액 저장용기 내에 채워진 습윤용액 중에 반송롤러 원주면의 일부가 침지된다. 이에 따라, 반송롤러의 원주면은 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에, 기판의 표면 위로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐흘러 반송롤러의 원주면에 부착하여도, 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분이 고화하는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화한 레지스트에 의해 반송롤러가 오염된다고 하는 것을 피할 수 있다. 또한, 액 저장용기 내에 채워진 습윤용액 중에 반송롤러가 침지될 뿐으로, 액 튀김을 일으킬 염려가 없다. 따라서, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 습윤용액으로서 재 이용하도록 한 경우라도, 액 튀김에 의해, 레지스트 함유 현상액이 기판에 부착하여 기판을 오염하거나, 레지스트 함유 현상액이 센서 등의 기기에 부착하여 오동작을 초래하든지 하는 경우가 없다. In the substrate processing apparatus of claim 1, the wet solution is supplied from the liquid supply means into the liquid storage container so that the liquid storage container is always filled with the wet solution, and the conveying roller circumferential surface in the wet solution filled in the liquid storage container. Part of is submerged. As a result, the circumferential surface of the conveying roller is always wetted with a wet solution. For this reason, even if a processing liquid, for example, a developer containing a resist overflows from the surface of the substrate and adheres to the circumferential surface of the conveying roller, the developer does not dry out, so that the resist powder does not solidify. Therefore, it can be avoided that the conveying roller is contaminated by the solidified resist. In addition, only the conveying roller is immersed in the wet solution filled in the liquid storage container, there is no fear of liquid splashing. Therefore, even when the developer containing the resist is recycled as a wet solution while circulating, for example, the resist containing developer adheres to the substrate and contaminates the substrate, or the resist-containing developer is applied to devices such as sensors. There is no case to cause malfunction by attaching.

청구항 2에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 토출수단의 토출구로부터 반송롤러를 향하여 습윤용액이 토출되는 것에 의해, 반송롤러는 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에, 기판의 표면 위로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐흘러 반송롤러에 부착하여도, 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트 분이 고화하는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화한 레지스트에 의해 반송롤러가 오염되는 경우를 피할 수 있다. 또한, 액 토출수단은 반송롤러에 근접하여 설치되어 있으므로, 액 튀김이 생기기 어렵고, 습윤용액이 광범위하게 비산하는 경우는 없다. 따라서, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 습윤용액으로서 재이용 하도록 한 경우라도, 액 튀김에 의해 레지스트 함유 현상액이 기판에 부착하여 기판을 오염시키거나, 레지스트 함유 현상액이 센서 등의 기기에 부착하여 오동작을 초래하거나 하는 경우는 없다. 또한, 액 토출수단이 기판의 높이 위치로부터 아래쪽에 설치되어 있으므로, 액 토출수단의 토출구로부터 레지스트 함유 현상액이 넘쳐 흘렀다 하더라도, 현상액이 기판위에 부착하는 경우는 없다. In the substrate processing apparatus of the second aspect of the present invention, the wet roller is discharged from the discharge port of the liquid discharge unit toward the transfer roller, whereby the transfer roller is always wet with the wet solution. For this reason, even if a processing liquid, for example, a developer containing a resist overflows from the surface of the substrate and adheres to the conveying roller, the developer does not dry out, so that the resist does not solidify. Therefore, the case where the conveyance roller is contaminated by the solidified resist can be avoided. Further, since the liquid discharge means is provided in close proximity to the conveying roller, liquid splashing is unlikely to occur, and the wet solution does not scatter widely. Therefore, even if the developer containing the resist is recycled as a wet solution while circulating, for example, the resist containing developer adheres to the substrate and contaminates the substrate, or the resist-containing developer adheres to devices such as sensors. There is no case of malfunction. In addition, since the liquid ejecting means is provided below the height position of the substrate, even if a resist-containing developer flows from the ejection opening of the liquid ejecting means, the developer does not adhere to the substrate.

청구항 3에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 토출수단의 토출구로부터 반송롤러의 바로 위에 설치된 상부롤러를 향하여 습윤용액이 토출되는 것에 의해 상부롤러는 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 됨과 동시에, 상부롤러의 원주면을 따라서 습윤용액이 반송롤러의 원주면에 흘러 내리는 것에 의해, 반송롤러도 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에, 기판의 상면쪽에 접촉하는 상부롤러에 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 부착하여도, 또한, 기판의 표면위에서 현상액이 넘쳐흘러 반송롤러에 부착하여도, 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분이 고화하는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화한 레지스트에 의해 상부롤러 및 반송롤러가 오염되는 것을 피할 수 있다. 또한, 액 토출수단은 반송롤러의 부근에 설치되어 있으므로, 액 튀김이 생기기 어렵고, 습윤용액이 광범위하게 비산하는 경우는 없다. 따라서, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 습윤용액으로서 재이용 하도록 하는 경우라도, 액 튀김에 의해, 레지스트 함유 현상액이 기판에 부착하여 기판을 오염시키거나, 레지스트 함유 현상액이 센서 등의 기기에 부착하여 오동작을 초래하거나 하는 경우가 없다. 또한, 액 토출수단이 기판의 높이 위치로부터 아래쪽에 설치되어 있으므로, 액 토출수단의 토출구로부터 레지스트 함유 현상액이 넘쳐 흐른다 하더라도, 현상액이 기판 위에 부착하는 일은 없다. In the substrate processing apparatus according to claim 3, the wet roller is discharged from the discharge port of the liquid discharge unit toward the upper roller provided immediately above the transfer roller, and the upper roller is always wet with the wet solution, As the wet solution flows down the circumferential surface of the conveying roller along the circumferential surface, the conveying roller is also always wetted with the wet solution. For this reason, even if a developing solution containing a treatment solution, for example, a resist, adheres to the upper roller in contact with the upper surface side of the substrate, and the developing solution dries on the surface of the substrate and adheres to the conveying roller, the developing solution may dry out. Therefore, the resist powder does not solidify. Therefore, it is possible to avoid contamination of the upper roller and the conveying roller by the solidified resist. In addition, since the liquid discharge means is provided in the vicinity of the conveying roller, liquid splashing is unlikely to occur, and the wet solution does not scatter widely. Therefore, even when the developer containing the resist is recycled as a wet solution while circulating, for example, the resist containing developer adheres to the substrate and contaminates the substrate, or the resist-containing developer is applied to devices such as sensors. It does not cause malfunction by attaching. In addition, since the liquid discharge means is provided below the height position of the substrate, even if the resist-containing developer flows from the discharge port of the liquid discharge means, the developer does not adhere to the substrate.

청구항 4에 관한 발명의 기판처리장치에 에서는, 반송롤러 및 상부롤러가 위쪽에 위치한 때에, 액 토출수단이 기판의 높이 위치로부터 아래쪽에 위치하므로, 액 토출수단의 토출구로부터 현상액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐 흘렀다 하더라도, 현상액이 기판 위에 부착하는 경우는 없다. 한편, 반송롤러 및 상부롤러가 아래쪽에 위치한 때에는, 반송롤러 및 상부롤러에 기판이 접촉하지 않으므로, 액 토출수단의 토출구로부터 레지스트 함유 현상액이 넘쳐 흘렀다 하더라도, 현상액이 기판 위에 부착될 염려가 없다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 4, when the conveying roller and the upper roller are located above, the liquid ejecting means is located below the height position of the substrate, so that the developer, for example, a resist is discharged from the ejection opening of the liquid ejecting means. Even if the contained developer overflows, the developer does not adhere to the substrate. On the other hand, when the conveying roller and the upper roller are located below, the substrate does not come into contact with the conveying roller and the upper roller, so that even if the resist-containing developer overflows from the discharge port of the liquid ejecting means, there is no fear that the developer will adhere onto the substrate.

청구항 5에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 반송롤러 및 상부롤러가, 반송롤러의 축심선의 연장선 위의 일점을 중심으로 하여 연직면 내에서 요동하는 것에 의해 위쪽 위치와 아래쪽 위치 사이를 이동한다, 그리고, 위쪽 위치에 있어서는 반송롤러 및 상부롤러가 경사자세로 되므로, 반송롤러에 의해 지지되는 기판도 경사되며, 이 때문에, 기판의 표면 위로부터 처리액이 흘러 떨어진다. In the substrate processing apparatus of Claim 5, a conveyance roller and an upper roller move between an upper position and a lower position by oscillating in a perpendicular surface centering on one point on the extension line of the axis line of a conveyance roller, and In the upper position, since the conveying roller and the upper roller are inclined, the substrate supported by the conveying roller is also inclined, so that the processing liquid flows from the surface of the substrate.

청구항 6에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액(液) 제한 롤러에 의해, 반송롤러에 의해 지지되고 반송되어 온 기판으로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 제거되고, 그 때에 액 제한 롤러의 원주면에 레지스트 함유 현상액이 부착되어도, 액 제한 롤러는 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 되므로, 현상액은 마르는 경우가 없으며, 이 때문에, 액 제한 롤러의 원주면에서 레지스트분이 고화하는 경우는 없게 된다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 6, the developer containing the processing liquid, for example, the resist, is removed from the substrate supported by the conveying roller and conveyed by the liquid limiting roller. Even if a resist-containing developer is adhered to the circumferential surface of the roller, the liquid limiting roller is always wet with a wet solution, so that the developer does not dry out, and therefore, the resist powder does not solidify on the circumferential surface of the liquid limiting roller. .

청구항 7에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 공급수단으로부터 액 토출수단에는, 액 토출수단의 토출구로부터 반송롤러를 향하여 토출된 습윤용액이 액 튀김에 의해 비산하지 않는 정도의 저압에서 습윤용액이 공급되므로, 액 튀김이 보다 생기기 어렵고, 습윤용액이 광범위하게 비산하는 경우는 없다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 7, the wet solution is supplied from the liquid supply means to the liquid discharge means at a low pressure such that the wet solution discharged from the discharge port of the liquid discharge means toward the conveying roller does not scatter by liquid splashing. Therefore, liquid splashing is less likely to occur, and the wet solution does not scatter widely.

청구항 8에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 기판을 반송하여 기판을 처리하고 있는 기간 중에 있어서, 반송롤러가 기판의 아래면쪽과 접촉하고 있지 않을 때에 액 토출수단의 토출구로부터 습윤용액이 토출되어, 반송롤러가 기판의 아래면 쪽과 접촉하고 있을 때에는 액 토출수단의 토출구로부터 습윤용액이 토출되지 않으므로, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액을 순환하면서 습윤용액으로서 재이용 하도록 한 경우에 액 토출수단의 토출구로부터 토출된 레지스트 함유 현상액이 기판에 부착하여 기판을 오염시키는 염려가 없다.In the substrate processing apparatus of Claim 8, during the process of conveying a board | substrate and processing a board | substrate, when a conveyance roller is not in contact with the lower surface side of a board | substrate, a wet solution is discharged from a discharge port of a liquid discharge means, and conveyance is carried out. Since the wet solution is not discharged from the discharge port of the liquid discharge means when the roller is in contact with the lower side of the substrate, for example, from the discharge port of the liquid discharge means when the recycling solution containing the resist is recycled and reused as the wet solution. There is no fear that the discharged resist-containing developing solution adheres to the substrate and contaminates the substrate.

청구항 9에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 기판을 반송하고 있지 않은 기간 중에 있어서, 액 공급수단으로부터 액 토출수단으로 일정시간 마다 간헐적으로 습윤용액이 공급되므로, 반송롤러 또는 상부롤러 및 반송롤러는 습윤용액으로 젖은 상태로 유지됨과 동시에, 습윤용액의 사용량이 저감된다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 9, during the period in which the substrate is not conveyed, the wet solution is intermittently supplied from the liquid supply means to the liquid discharge means every fixed time, so that the conveying roller or the upper roller and the conveying roller are wetted. While being kept wet with the solution, the amount of the wet solution used is reduced.

청구항 10에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 토출수단으로부터 처리조의 안 바닥면의 경사에 따라서 안 바닥면 위를 흘러 내리므로, 안 바닥면의 전체가 습윤용액으로 항상 젖은 상태로 된다. In the substrate processing apparatus of the present invention according to the tenth aspect, since the inner bottom surface flows down from the liquid discharge means along the inclination of the inner bottom surface of the treatment tank, the entire inner bottom surface is always wet with the wet solution.

이 때문에, 기판의 표면 위로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 안 바닥면 위에 넘쳐흘러도, 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분이 고화되는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화한 레지스트에 의해서 처리조의 안 바닥 면이 오염되는 경우를 피할 수 있다. For this reason, even if a processing liquid, for example, a developer containing a resist, overflows from the surface of the substrate onto the inner bottom surface, the developer does not dry out, so that the resist powder does not solidify. Thus, the case where the inner bottom surface of the treatment tank is contaminated by the solidified resist can be avoided.

[실시형태]Embodiment

이하, 본 발명의 알맞은 실시형태에 대하여 도 1 내지 도 7을 참조하면서 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of this invention is described, referring FIGS.

도 1은, 제 1 발명 실시형태의 일 예를 나타내며, 기판처리장치, 예를 들면 현상처리장치 구성요소의 하나인 반송롤러의 하나를 일부 단면으로 나타낸 측면도이다. 1 shows an example of the first embodiment, and is a side view showing, in partial cross section, one of the conveying rollers that is one of the components of the substrate processing apparatus, for example, the developing apparatus.

현상처리장치 전체의 구성에 대해서는 도 8에 기초하여 상술하였으므로 그 설명을 생략하나, 도 1에 나타내는 반송롤러 10은, 도 8에 나타낸 현상처리장치의 복수 반송롤러(4a∼4c) 중, 처리조(2)의 중간 부근에 배치된 반송롤러 4b에 대응하는 것이다. Since the structure of the whole image development apparatus was mentioned above based on FIG. 8, the description is abbreviate | omitted, but the conveyance roller 10 shown in FIG. 1 is the processing tank among the multiple conveyance rollers 4a-4c of the image development apparatus shown in FIG. It corresponds to the conveyance roller 4b arrange | positioned near the middle of (2).

반송롤러 10은, 그 원주면이 기판(1)의 아래면 쪽의 폭방향 전체에 걸쳐서 접촉하는 원주형상을 이루고 있다. 상기 반송롤러 10은, 기판(1)을 지지하여 반송함과 동시에 기판(1)의 아래면 쪽의 폭방향 전체에 걸쳐서 접촉하면서 회전하는 것에 의해 기판의 아래면 쪽 을 세정하는 기능을 가지고 있다. 반송롤러 10의 바로 아래에는, 액 저장용기(12)가 설치되어 있다. 액 저장용기(12) 내에는, 액 공급원으로부터 송급(送給)펌프(15)에 의해 공급되는 습윤용액, 예를 들면 기판(1)의 표면 위로부터 처리조 바닥부로 흘러내려 회수탱크(미도시)에 회수되고 회수탱크로부터 송급펌프(15)에 의해 송액(送液)되는 현상액(14)이 수용되어 있다. 액 저장용기(12) 내에는, 연속하여 현상액이 공급되어 있고, 액 저장용기(12) 내는 항상 현상액(14)으로 채워진 상태이며, 액 저장용기(12)의 상부로부터 넘쳐나온 현상액은 회수되어 순환 사용된다. 그리고, 액 저장용기(12) 내에 채워진 현상액(14) 중에 반송롤러 10의 원주면 일부가 침지(浸漬)되어 있다. The conveyance roller 10 has comprised the circumferential shape which the circumferential surface contacts over the whole width direction of the lower surface side of the board | substrate 1. As shown in FIG. The conveying roller 10 has a function of cleaning the lower side of the substrate by rotating the substrate 1 while supporting and conveying the substrate 1 and rotating while contacting the entire lower side of the substrate 1 in the width direction. Immediately below the conveyance roller 10, a liquid storage container 12 is provided. In the liquid storage container 12, a wetting solution supplied by the supply pump 15 from the liquid supply source, for example, flows down from the surface of the substrate 1 to the bottom of the treatment tank (not shown). ), And the developer 14 which is conveyed by the supply pump 15 from the recovery tank is accommodated. The developer is continuously supplied into the liquid storage container 12, and the liquid storage container 12 is always filled with the developer 14, and the developer overflowed from the upper portion of the liquid storage container 12 is recovered and circulated. Used. Then, a part of the circumferential surface of the conveying roller 10 is immersed in the developing solution 14 filled in the liquid storage container 12.

도 1에 나타낸 구성을 구비한 장치에서는, 액 저장용기(12) 내에 채워진 현상액(14) 중에 반송롤러 10의 원주면 일부가 침지되므로, 반송롤러 10의 원주면은 현상액(14)으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에, 기판(1)의 표면 위로부터 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐흘러 반송롤러 10의 원주면에 부착하여도, 반송롤러 10의 원주면에서 현상액이 말라서 레지스트분이 고화한다고 하는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화된 레지스트에 의한 반송롤러 10이 오염될 염려가 없게 된다. 또한, 액 저장용기(12) 내에 채워진 현상액(14) 중에 반송롤러 10만이 침지되므로, 액 튀김을 발생시킬 염려는 없다. 따라서, 액 튀김에 의해, 레지스트를 함유한 현상액이 기판(1)에 부착하여 기판(1)을 오염시키거나, 레지스트 함유 현상액이 센서 등의 기기에 부착하여 오동작을 초래하거나 하는 경우는 일어나지 않는다. In the apparatus having the structure shown in FIG. 1, part of the circumferential surface of the conveying roller 10 is immersed in the developing solution 14 filled in the liquid storage container 12, so that the circumferential surface of the conveying roller 10 is always wet with the developing solution 14. It becomes For this reason, even if the developer containing a resist overflows from the surface of the board | substrate 1, and adheres to the circumferential surface of the conveyance roller 10, it will not be said that the resist powder solidifies because the developing solution dries on the circumferential surface of the conveyance roller 10. Therefore, there is no fear that the conveyance roller 10 by the solidified resist will be contaminated. In addition, since only the conveyance roller 10 is immersed in the developing solution 14 filled in the liquid storage container 12, there is no fear of generating liquid splashing. Therefore, the splashing of the liquid does not occur when the developer containing the resist adheres to the substrate 1 to contaminate the substrate 1, or the resist-containing developing solution adheres to devices such as sensors to cause malfunction.

다음에, 도 2는, 제 2 발명의 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러의 하나를 나타내는 측면도이다. 상기 도 2에 나타내는 반송롤러 16은, 도 8에 나타낸 현상처리장치의 복수 반송롤러(4a∼4c) 중, 처리조(2)의 중간 부근 및 출구쪽 개구(3b)부근에 각각 배치된 반송롤러(4b,4c)를 제외한 대부분의 반송롤러 4a에 대응하는 것이다. Next, FIG. 2: shows an example of embodiment of 2nd invention, and is a side view which shows one of the conveyance roller which is one of the components of a developing processing apparatus. The conveyance roller 16 shown in the said FIG. 2 is the conveyance roller arrange | positioned in the vicinity of the intermediate | middle of the processing tank 2, and the vicinity of the exit side opening 3b, among the several conveyance rollers 4a-4c of the image processing apparatus shown in FIG. It corresponds to most conveying rollers 4a except for (4b, 4c).

반송롤러 16은, 원판형이고, 회전지지축(18)의 양단부에 한 쌍 고착되고, 또는 회전지지축(18)에 복수개, 예를 들면 회전지지축(18)의 양단부 및 중앙부에 3개 고착되어 있다. 그리고, 상기 반송롤러 16에 근접한 위치이고 반송롤러 16으로 지지되는 기판(1)의 높이 위치로부터 하방의 위치에, 토출구(22)가 반송롤러 16과 대향하도록 액 토출노즐(20)이 설치되어 있다. 액 토출노즐(20)에는, 도 1과 마찬가지로, 예를 들면 기판(1)의 표면 위로부터 처리조 바닥부에 흘러내려 회수탱크에 회수된 현상액이 회수탱크로부터 송급펌프에 의해서 공급되고 있다. 이 때, 액 토출노즐(20)로 현상액을 공급하는 압력은, 토출구(22)로부터 반송롤러 16으로 향하여 토출된 현상액(14)이 액 튀김에 의해 비산하지 않는 정도의 저압으로 설정된다. The conveying roller 16 has a disk shape and is fixed to a pair of both ends of the rotary support shaft 18, or a plurality of the conveying rollers 16 are fixed to the both ends and the center of the rotary support shaft 18, for example. It is. The liquid discharge nozzle 20 is provided so that the discharge port 22 faces the conveying roller 16 at a position near the conveying roller 16 and below the height position of the substrate 1 supported by the conveying roller 16. . 1, for example, the developing solution which flowed into the process tank bottom part from the surface of the board | substrate 1 from the surface of the board | substrate 1, and was collect | recovered to the recovery tank is supplied by the supply pump from a recovery tank. At this time, the pressure for supplying the developing solution to the liquid discharge nozzle 20 is set at a low pressure such that the developing solution 14 discharged from the discharge port 22 toward the conveying roller 16 does not scatter by liquid splashing.

액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터 반송롤러 16으로 향하는 현상액(14)의 토출은, 기판(1)을 반송하면서 처리하고 있는 기간 중에 있어서는, 반송롤러 16이 기판(1)의 아래면 쪽과 접촉하고 있지 않음과 동시에, 기판(1)이 상기 반송롤러 16의 부근에도 존재하고 있지 않을 때에 한다. 반송롤러 16이 기판(1)의 아래면 쪽과 접촉하고 있을 때와 부근에 기판(1)이 존재하고 있을 때에는 액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터 현상액을 토출하지 않도록 한다. 이와 같이 현상액의 토출을 간헐적으로 하는 것에 의해, 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 재이용 하도록 하는 경우에, 액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터 토출된 레지스트 함유 현상액이나 그 날리는 거품이 기판(1)에 부착하여 기판(1)을 오염하는 염려를 없앨 수 있다. 한편, 기판(1)을 반송하고 있지 않은 기간 중에 있어서는, 액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터 반송롤러 16으로 향하는 현상액(14)의 토출은, 일정시간 마다 간헐적으로 행하도록 한다. 이와 같이 현상액의 토출을 일정시간마다 간헐적으로 행하는 데 따라, 기판(1)의 처리를 행하고 있지 않은 동안에도 반송롤러 16을 젖은 상태로 유지하여 레지스트분의 고화를 방지할 수 있음과 동시에, 현상액의 사용량을 저감할 수 있다. In the period during which the discharge of the developing solution 14 directed from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 to the transport roller 16 is being processed while transporting the substrate 1, the transport roller 16 is the lower surface of the substrate 1. At the same time, the substrate 1 is not present in the vicinity of the conveying roller 16. The developer is not discharged from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 when the transfer roller 16 is in contact with the lower surface side of the substrate 1 and when the substrate 1 is present. In this way, when the developer is intermittently discharged, the developer containing the resist is recycled while circulating the developer containing the resist, and the resist-containing developer and the blowing bubbles discharged from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 are separated from the substrate ( Attachment to 1) eliminates the risk of contaminating the substrate 1. On the other hand, during the period in which the substrate 1 is not conveyed, the discharge of the developing solution 14 directed from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 to the conveying roller 16 is intermittently performed at a predetermined time. In this way, the developer is discharged intermittently at regular intervals, so that the conveyance roller 16 can be kept wet even when the substrate 1 is not being processed, thereby preventing the solidification of the resist. The usage amount can be reduced.

도 2에 나타낸 구성을 구비한 장치에서는, 액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터 반송롤러 16을 향하여 현상액(14)이 토출되는 것에 의해, 반송롤러 16은 현상액(14)으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에, 기판(1)의 표면 위에서, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐흘러 반송롤러 16에 부착하여도, 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분은 고화되지 않게 된다. 따라서, 고화된 레지스트에 의해 반송롤러 16이 오염된다고 하는 경우가 방지된다. 또한, 액 토출노즐(20)의 토출구(22)로부터는 현상액(14)이 저압에서 토출되고, 동시에, 반송롤러 16의 근접위치로부터 반송롤러 16을 향하여 현상액(14)이 토출되므로, 액 튀김이 발생하기 어렵고, 현상액(14)이 광범위하게 비산하는 경우는 없다. 따라서, 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 재 이용하는 경우라도, 레지스트 함유 현상액이 액 튀김에 의해 기판(1)을 오염시키거나 센서 등의 기기에 부착되어 오동작을 초래하거나 하는 경우가 없다. 또한, 액 토출노즐(20)은, 기판(1)의 높이 위치로부터 아래쪽에 설치되어 있으므로, 토출구(22)로부터 레지스트 함유 현상액이 넘쳐 흘렀다 하더라도, 상기 현상액이 기판(1) 위에 부착되는 염려는 없다. In the apparatus having the configuration shown in FIG. 2, the developing solution 14 is discharged from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 toward the conveying roller 16, so that the conveying roller 16 is always wet with the developing solution 14. It becomes For this reason, even if it adheres to the conveyance roller 16 by overflowing the developing solution containing a resist, for example on the surface of the board | substrate 1, since the developing solution does not dry, the resist powder does not solidify. Therefore, the case where the conveyance roller 16 is contaminated by the solidified resist is prevented. Further, the developing solution 14 is discharged at a low pressure from the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20, and at the same time, the developing solution 14 is discharged from the proximal position of the conveying roller 16 toward the conveying roller 16. It is hard to generate | occur | produce, and the developing solution 14 does not scatter widely. Therefore, even when the developer containing the resist is recycled while being recycled, the resist-containing developer does not contaminate the substrate 1 by splashing the liquid or adhere to equipment such as a sensor to cause a malfunction. In addition, since the liquid discharge nozzle 20 is provided below the height position of the substrate 1, even if a resist-containing developer flows from the discharge port 22, there is no fear that the developer will adhere onto the substrate 1. .

또한, 도 3은, 도 2 발명의 다른 실시형태를 나타내는 반송롤러의 측면도이다. 상기 도 3에 나타낸 실시형태에서는, 액 토출노즐(20)의 토출구(22)가 아래방향으로 경사지게 설치되어 있다. 도 2에 나타낸 실시형태와 같이, 토출구(22)가 위 방향으로 되도록 액 토출노즐(20)을 배치하면, 토출구(22)로부터의 액 토출을 정지시킨 때에 토출구(22)로부터 액이 넘쳐 흐를 염려가 없어지는 데 대하여, 도 3에 나타낸 실시형태 에서는, 토출구(22)로부터 액이 넘쳐 흐를 가능성이 있다. 단, 액 토출노즐(20)은, 2점쇄선(L)에서 나타내는 기판(1)의 높이 위치로부터 아래쪽으로 배치되어 있으므로, 토출구(22)로부터 넘쳐 흐른 레지스트 함유 현상액이 기판(1) 위에 부착될 염려는 없다. 3 is a side view of the conveyance roller which shows another embodiment of FIG. In the embodiment shown in FIG. 3, the discharge port 22 of the liquid discharge nozzle 20 is inclined downward. As in the embodiment shown in FIG. 2, when the liquid ejection nozzles 20 are disposed so that the ejection openings 22 face upwards, the liquid overflows from the ejection openings 22 when the liquid ejection from the ejection openings 22 is stopped. In the embodiment shown in FIG. 3, there is a possibility that the liquid overflows from the discharge port 22. However, since the liquid discharge nozzle 20 is disposed downward from the height position of the substrate 1 indicated by the double-dotted line L, the resist-containing developer that overflowed from the discharge port 22 is attached onto the substrate 1. There is no worry.

다음으로, 도 4는, 제 3 발명의 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러 및 액(液) 제한 롤러를 나타내는 측면도이다. 상기 도 4에 나타내는 반송롤러(24)는, 도 8에 나타낸 현상처리 장치의 복수의 반송롤러 4a ∼ 4c 중, 처리조(2)의 출구쪽 개구(開口:3b) 부근에 배치된 반송롤러 4c에 대응하는 것이다. Next, FIG. 4: shows the example of embodiment of 3rd invention, and is a side view which shows the conveyance roller and liquid limiting roller which are one of the components of a developing processing apparatus. The conveyance roller 24 shown in the said FIG. 4 is the conveyance roller 4c arrange | positioned in the vicinity of the exit opening 3b of the processing tank 2 among the some conveyance rollers 4a-4c of the image processing apparatus shown in FIG. To counteract.

반송롤러 24의 바로 위에 반송롤러 24와 대향하도록 설치된 액 제한 롤러(26)는, 그 원주면이 기판(1)의 위면 쪽의 폭방향 전체에 걸쳐서 접촉하는 원주형상을 이루고 있고, 반송롤러 24에 의해 지지되며 반송되는 기판(1)의 위면 쪽의 폭방향 전체에 걸쳐서 접촉하면서 회전하는 것에 의해, 기판(1) 위에 담겨진 사용이 끝난 현상액을 기판(1) 위로부터 제거하는 기능을 가지고 있다. 그리고, 반송롤러 24의 부근이고, 반송롤러 24에 의해 지지되며 반송되는 기판(1)의 높이 위치(도 4 중에 2점쇄선 L로 나타낸다)보다 아래쪽에, 액 제한 롤러(26) 와 토출구(30)가 대향하도록 액 토출 노즐(28)이 설치되어 있다. 상기 액 토출 노즐(28)에는, 도 2에 나타낸 액 토출 노즐(20)과 마찬가지로, 예를 들면 기판(1)의 표면 위로부터 처리조 바닥부에 흘러내려 회수탱크에 회수된 현상액이 회수 탱크로부터 송급펌프에 의해 공급되고 있다. 이 때, 액 토출노즐(28)로 현상액을 공급하는 압력은, 토출구(30)로부터 액 제한 롤러(26)로 향하여 토출된 현상액(14)이 액 튀김에 의해서 비산하지 않는 정도의 저압으로 설정된다.  The liquid limiting roller 26 provided on the conveying roller 24 so as to face the conveying roller 24 has a circumferential shape whose circumferential surface is in contact with the entire width direction of the upper surface side of the substrate 1, It rotates while contacting and rotating over the whole width direction of the upper surface side of the board | substrate 1 supported and conveyed, and has the function to remove the used developer contained on the board | substrate 1 from the board | substrate 1. Then, the liquid limiting roller 26 and the discharge port 30 are located below the height position (indicated by the dashed-dotted line L in FIG. 4) of the substrate 1 which is supported by the conveying roller 24 and conveyed. ) Is disposed so that the liquid discharge nozzles 28 face each other. Similarly to the liquid discharge nozzle 20 shown in FIG. 2, the liquid discharge nozzle 28 flows, for example, a developer from the recovery tank that flows from the surface of the substrate 1 to the bottom of the processing tank and is recovered from the recovery tank. It is supplied by the supply pump. At this time, the pressure for supplying the developing solution to the liquid discharge nozzle 28 is set to a low pressure such that the developing solution 14 discharged from the discharge port 30 toward the liquid limiting roller 26 does not scatter by liquid splashing. .

액 토출노즐(28)의 토출구(30)로부터 반송롤러 16을 향하는 현상액(14)의 토출은, 도 2에 나타낸 액 토출노즐(20)과 마찬가지로, 기판(1)을 반송하면서 처리하고 있는 기간 중에 있어서는, 반송롤러 24 및 액 제한 롤러(26)가 기판(1) 과 접촉하고 있지 않고, 또한, 기판(1)이 상기 반송롤러 24의 부근에도 존재하고 있지 않을 때 행하고, 반송롤러 24 및 액 제한 롤러(26)가 기판(1) 과 접촉하고 있을 때나 부근에 기판(1)이 존재하고 있을 때에는 액 토출노즐(28)의 토출구(30)으로부터 현상액이 토출되지 않도록 한다. 또한, 기판(1)을 반송하고 있지 않은 기간 중에 있어서는, 액 토출노즐(28)의 토출구(30)로부터 액 제한 롤러(26)를 향하는 현상액(14)의 토출은, 일정시간 마다 간헐적으로 행하도록 한다. The discharge of the developing solution 14 from the discharge port 30 of the liquid discharge nozzle 28 toward the conveying roller 16 is performed during the process of conveying the substrate 1, similarly to the liquid discharge nozzle 20 shown in FIG. In this case, the conveying roller 24 and the liquid limiting roller 26 are not in contact with the substrate 1, and the substrate 1 is not present in the vicinity of the conveying roller 24. When the roller 26 is in contact with the substrate 1 or when the substrate 1 is present in the vicinity, the developer is not discharged from the discharge port 30 of the liquid discharge nozzle 28. In the period in which the substrate 1 is not conveyed, the discharge of the developing solution 14 from the discharge port 30 of the liquid discharge nozzle 28 toward the liquid limiting roller 26 is intermittently performed at a predetermined time interval. do.

도 4에 나타낸 구성을 구비한 장치에서는, 액 토출노즐(28)의 토출구(30)로부터 액 제한 롤러(26)를 향하여 현상액(14)이 토출되는 것에 따라, 액 제한 롤러(26)는 현상액으로 항상 젖은 상태로 된다. 또한, 액 제한 롤러(26)의 원주면 위에 토출된 현상액(14)은, 액 제한 롤러(26)의 원주면을 따라서 아래쪽의 반송롤러 24의 원주면으로 흘러 내리는 것에 의해, 반송롤러 24도 현상액으로 항상 젖은 상태로 된다. 이 때문에 기판(1)의 상면 쪽에 접촉하는 액 제한 롤러(26)에 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 부착되고, 또한, 기판(1)의 표면 위에서 넘쳐 흐른 레지스트 함유 현상액이 반송롤러 24에 부착하여도 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분이 고화되는 경우는 없게 된다. 따라서, 고화된 레지스트에 의하여 액 제한 롤러(26) 및 반송롤러 24가 오염되는 경우가 방지된다. 또한, 액 토출노즐(28)의 토출구(30)로부터는 현상액(14)이 저압으로 토출되고, 또한, 반송롤러 24 부근 위치로부터 액 제한 롤러(26)로 향하여 현상액(14)이 토출되므로, 액 튀김이 발생하기 어렵고, 현상액(14)이 광범위하게 비산하는 경우는 없다. 따라서 , 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 재이용 하도록한 경우라도, 레지스트 함유 현상액이 액 튀김에 의해 기판(1)을 오염시키거나 센서 등의 기기에 부착되어 오동작을 초래하거나 하는 경우가 없다. 또한, 액 토출노즐(28)은, 기판(1)의 높이 위치로부터 아래쪽에 설치되어 있으므로, 토출구(30)로부터 레지스트 함유 현상액이 넘쳐 흘렀다 하더라도, 상기 현상액이 기판(1) 위에 부착할 염려는 없다.In the apparatus having the configuration shown in FIG. 4, the developing solution 14 is discharged from the discharge port 30 of the liquid discharge nozzle 28 toward the liquid limiting roller 26. The roller 26 is always wet with a developing solution. In addition, the developing solution 14 discharged on the circumferential surface of the liquid limiting roller 26 flows down to the circumferential surface of the lower conveying roller 24 along the circumferential surface of the liquid limiting roller 26 to thereby develop the conveying roller 24 degrees. It always gets wet. For this reason, the developer containing the resist, for example, adheres to the liquid limiting roller 26 which contacts the upper surface side of the board | substrate 1, and the resist containing developer which overflowed on the surface of the board | substrate 1 adheres to the conveyance roller 24, for example. Even if the developer is not dried, the resist powder is not solidified. Therefore, the case where the liquid limiting roller 26 and the conveying roller 24 are contaminated by the solidified resist is prevented. In addition, the developing solution 14 is discharged at a low pressure from the discharge port 30 of the liquid discharge nozzle 28, and the developing solution 14 is discharged from the position near the conveying roller 24 toward the liquid limiting roller 26. Frying hardly occurs, and the developer 14 does not scatter widely. Therefore, even when the developer containing the resist is recycled while being recycled, the resist containing developer does not contaminate the substrate 1 by splashing the liquid or adhere to devices such as sensors to cause malfunction. In addition, since the liquid discharge nozzle 28 is provided below the height position of the substrate 1, even if a resist-containing developer flows from the discharge port 30, there is no fear that the developer will adhere to the substrate 1. .

도 5 및 도 6은, 제 3 발명의 변형예를 나타내며, 도 5는, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러 및 액 제한 롤러(26)를 나타내는 측면 단면도이며, 도 6은 동일한 정면도이다. 본 도 5 및 도 6에 나타내는 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 52, 54는, 도 8에 나타낸 현상처리장치의 처리조(2)의 출구쪽 개구(3b) 부근에 배치된 반송롤러(4c) 와 그 부근의 것을 나타낸다. 5 and 6 show a modification of the third invention, FIG. 5 is a side sectional view showing a conveying roller and a liquid limiting roller 26 which are one of the components of the developing apparatus, and FIG. 6 is the same front view. . The conveying roller 60 and liquid limiting rollers 52 and 54 shown in this FIG. 5 and FIG. 6 are the conveying roller 4c arrange | positioned near the exit side opening 3b of the processing tank 2 of the developing apparatus shown in FIG. It shows the vicinity.

상기 변형예에 관한 현상처리장치는, 처리조(2) 내의 대부분의 영역에서는 기판(1)을 수평자세로 반송하고, 처리조(2)의 하류측 부근에서 기판(1)을 경사자세로 하여 다음공정으로 반출하는 것이다. 그 때문에, 처리조(2)의 하류측 부근(즉 출구측 개구(3b)에 가까운 위치)을 제외한 영역에서는, 기판(1)은, 처리조(2) 내에 고정된 반송롤러 62에 의하여 수평자세로 반송된다. 또한, 그것 이외의 영역, 즉 출구쪽 개구(3b)에 가까운 영역에서는, 기판(1)은, 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 52, 54에 의해 반송된다. 액 제한 롤러 52, 54는, 그 사이를 기판(1)이 통과가능하도록 미세한 틈새를 형성하도록 설치되어 있다. 반송롤러 60 및 액 제한 롤러(52, 54)는, 롤러 설치부재(64,66)에 설치되어 진다. 롤러 설치부재(64,66)는, 도 6에 나타내는 바와 같이, 액 제한 롤러 52의 회전축(68)의 연장선 위의 점을 통과하는 동시에 기판의 반송방향과 평행한 직선(도 6 중의 점 O를 통과하는 동시에 지면에 수직한 직선)을 중심으로 하여, 도시하지 않은 구동원의 구동에 의해 상하방향으로 소정각도 (일점쇄선 A와 A,가 이루는 각도) 만큼 선회(旋回) 가능하게 설치되어 있다.In the development apparatus according to the above modification, the substrate 1 is conveyed in a horizontal posture in most regions in the processing bath 2, and the substrate 1 is inclined in the vicinity of the downstream side of the processing bath 2. It is carried out to the next process. Therefore, in the region except the downstream vicinity of the processing tank 2 (that is, the position close to the outlet side opening 3b), the substrate 1 is horizontally positioned by the conveying roller 62 fixed in the processing tank 2. Is returned. Moreover, in the area | region other than that, ie, the area | region near the exit side opening 3b, the board | substrate 1 is conveyed by the conveyance roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54. As shown in FIG. The liquid limiting rollers 52, 54 are provided to form a fine gap therebetween so that the substrate 1 can pass therebetween. The conveying roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 are provided in the roller mounting members 64 and 66. As shown in FIG. 6, the roller mounting members 64 and 66 pass through the point on the extension line of the rotating shaft 68 of the liquid limiting roller 52, and make a straight line (point O in FIG. 6 parallel to the conveyance direction of a board | substrate). At the same time passing by the center of a straight line) perpendicular to the page, by the driving of the drive source not shown in the vertical direction a predetermined angle (angle a one-dot chain line a is and a, forming) by turning (旋回) is possibly installed.

롤러 설치부재(64,66)가 가장 아래의 위치에 있는 상태에서는, 도 5의 (a) 및 도 6 중의 실선으로 나타내는 바와 같이, 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 (52,54)는 수평위치로 된다. 그리고, 상기 수평위치의 액 제한 롤러 52와 인접하는 반송롤러 60의 사이에는, 기판(1)이 반송롤러 60 위에 반송되어 온 것을 검출하는 검출장치(70)의 진자(振子:72)가 설치되어 있다. 진자(72)의 하류쪽에는, 수평위치인 액 제한 롤러 54에 대하여 현상액을 토출하는 액 토출노즐 74가 설치되어 있다. 액 토출노즐 74는, 수평위치의 액 제한 롤러 54와 대략 평행으로 되도록 설치된 노즐관(75)에, 도 5의 지면 안길이 방향으로 복수열 설치되어 있다. 상기 노즐관(75)에는, 도 2에 나타낸 액 토출노즐 20과 마찬가지로, 예를 들면 기판(1)의 표면 위로부터 처리조 바닥부에 흘러내려서 회수탱크로 회수된 현상액이 회수탱크로부터 송급펌프에 의해 공급되고 있다. 검출장치 70 및 노즐관(75)은 처리조(2)에 고정하여 설치된다. 또한, 롤러 설치부재(64,66)에 설치된 반송롤러 60 중 가장 상류측의 것과 반송롤러 62와의 사이에도, 기판(1)을 검출하는 검출장치 76이 설치되어 있다. 롤러 설치부재(64,66)가 가장 위의 위치에 있는 상태에서는, 도 5의 (b) 및 도 6 중의 2점쇄선으로 나타내는 바와 같이, 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 (52,54)는, 점 O의 쪽이 낮게 되도록 경사지고, 더욱이 또한, 그들 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 (52,54)는, 그 가장 낮은 위치가, 노즐(75)보다도 높은 위치로 된다. 또한, 도 5의 (b)에서는, 안길이 방향 롤러의 경사를 고려하여 표현하고 있지 않다.In the state where the roller mounting members 64 and 66 are in the lowest position, as shown by the solid lines in Figs. 5A and 6, the conveying roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 are placed in the horizontal position. do. And between the liquid limiting roller 52 of the said horizontal position and the conveyance roller 60 which adjoins, the pendulum 72 of the detection apparatus 70 which detects that the board | substrate 1 was conveyed on the conveyance roller 60 is provided, have. Downstream of the pendulum 72, the liquid in the horizontal position A liquid discharge nozzle 74 for discharging the developing solution with respect to the limiting roller 54 is provided. The liquid discharge nozzle 74 is provided in the nozzle pipe 75 provided so that it may become substantially parallel with the liquid restriction roller 54 of a horizontal position in the column depth direction of FIG. Similarly to the liquid discharge nozzle 20 shown in FIG. 2, the nozzle tube 75 includes, for example, a developer that flows from the surface of the substrate 1 to the bottom of the treatment tank and is recovered from the recovery tank to the supply pump. It is supplied by. The detection apparatus 70 and the nozzle tube 75 are fixed to the processing tank 2 and installed. Moreover, the detection apparatus 76 which detects the board | substrate 1 is provided also between the uppermost side and the conveyance roller 62 among the conveyance rollers 60 provided in the roller mounting members 64,66. In the state where the roller mounting members 64 and 66 are in the uppermost position, as shown by the dashed-dotted line in FIGS. 5B and 6, the conveying roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 are The point O is inclined so as to be lower, and furthermore, those conveying rollers 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 have their lowest positions higher than the nozzles 75. In addition, in FIG.5 (b), inclination of a depth direction roller is not considered and represented.

상기 현상처리장치의 동작은, 다음과 같다. 현상처리장치에 있어서, 기판(1)은 처리조(2)의 입구쪽 개구(도 5에는 미도시)로부터 수평자세로 반입되고, 현상액 토출노즐(5)로부터 토출된 현상액이 기판(1) 위에 담겨, 그 상태에서 현상처리를 하면서 반송롤러 62에 의해 수평자세 상태로 하류쪽으로 향하여 반송된다. 이 때, 롤러 설치부재(64,66)는 가장 아래의 위치에 있고, 반송롤러 60 및 액 제한 롤러 (52,54)는 수평위치로 되어 있다. 그리고 또한, 이 때 액 토출노즐(74)로부터 현상액이 토출되어 있으며, 토출된 현상액은 액 제한 롤러 54에 걸리고, 액 제한 롤러 54는 현상액으로 젖은 상태로 유지된다. 또한, 액 제한 롤러 54의 아래쪽에 있는 액 제한 롤러 52도, 액 제한 롤러 54로부터 흘러내린 현상액으로 젖은 상태로 유지된다. 이 때문에, 액 제한 롤러 (52,54)가 건조하여 레지스트분이 고화하는 경우는 없다. The operation of the developing apparatus is as follows. In the developing apparatus, the substrate 1 is loaded horizontally from the inlet opening (not shown in FIG. 5) of the processing tank 2, and the developer discharged from the developer discharge nozzle 5 is placed on the substrate 1. It is conveyed to the downstream by the conveyance roller 62 in the horizontal posture state, developing in that state. At this time, the roller mounting members 64 and 66 are in the lowest position, and the conveying roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 are in the horizontal position. At this time, the developer is discharged from the liquid discharge nozzle 74, and the discharged developer is caught by the liquid limiting roller 54, and the liquid limiting roller 54 is kept wet with the developer. Further, the liquid limiting roller 52 under the liquid limiting roller 54 is also kept wet with the developer flowing down from the liquid limiting roller 54. For this reason, the liquid limiting rollers 52 and 54 do not dry, and the resist powder does not solidify.

그리고, 기판(1)이 반송되어 와서 검출장치 76의 진자(振子:78)를 움직이면, 액 토출노즐(74)로부터 현상액의 토출은 정지된다. 이것은, 기판(1)이 액 토출노즐(74)로부터 현상액의 토출을 계속하면, 토출된 현상액의 물보라가 기판(1)에 걸려 처리 얼룩 등의 불량을 발생시킬 가능성이 있기 때문이다. 그리고, 또 다시 기판(1)이 반송되어 검출장치 70의 진자(72)를 움직이면, 반송롤러 60의 회전구동이 정지되고, 기판(1)이 반송롤러 60 위에 정지한다. 그리고, 그 후, 상기 구동원이 구동되어서, 롤러 설치부재(64,66)가 상승하여 반송롤러 60은 점 O 쪽이 낮게 되도록 경사지고, 그 위에 타고 있는 기판(1)도 경사자세로 된다. 이에 따라, 기판(1) 위에 담겨 있는 현상액의 대부분은 아래쪽으로 흘러 떨어져 대략적으로 액 제한 된다. 그리고, 액의 대부분이 흘러 떨어지면, 다시 반송롤러 60 및 액 제한 롤러(52,54)가 회전구동되고, 기판(1)은 경사자세 상태로 하류쪽으로 향하여 반송되며, 상기 경사자세의 위치에 맞추어서 형성된 출구쪽 개구(3b)로부터 반출되어 다음공정으로 반송된다. 이 때, 롤러 설치부재(64,66)가 상승하고 있는 것으로부터, 액 토출노즐(74) 나 검출장치 70의 진자(72)는, 반송롤러 60 보다도 아래쪽에 위치하는 것으로 되고, 기판(1)의 반송의 장해가 되는 경우는 없으며, 또한, 액 토출노즐(74)로부터 액이 무작정 새어 나와도, 기판(1)에 부착되는 경우가 없다. 기판(1)이 출구쪽 개구(3b)로부터 반출되면, 롤러 설치부재(64,66)가 하강하여 다음 기판을 기다린다. And when the board | substrate 1 is conveyed and the pendulum 78 of the detection apparatus 76 is moved, discharge of the developing solution from the liquid discharge nozzle 74 is stopped. This is because when the substrate 1 continues to discharge the developer from the liquid discharge nozzle 74, the spray of the discharged developer may be caught on the substrate 1 and cause defects such as processing stains. When the substrate 1 is conveyed again and the pendulum 72 of the detection apparatus 70 is moved again, the rotational driving of the conveying roller 60 is stopped, and the substrate 1 stops on the conveying roller 60. Then, after that, the drive source is driven to raise the roller mounting members 64 and 66 so that the conveyance roller 60 is inclined so that the point O is lowered, and the substrate 1 on which it is also inclined is inclined. As a result, most of the developer contained on the substrate 1 flows downward and is approximately liquid limited. Then, when most of the liquid flows down, the conveying roller 60 and the liquid limiting rollers 52 and 54 are rotated again, and the substrate 1 is conveyed downward in the inclined posture, and formed in accordance with the position of the inclined posture. It is carried out from the exit side opening 3b, and is conveyed to the next process. At this time, since the roller mounting members 64 and 66 are raised, the pendulum 72 of the liquid discharge nozzle 74 and the detection apparatus 70 is located below the conveyance roller 60, and the board | substrate 1 Does not interfere with the conveyance of the liquid crystal. Moreover, even if the liquid leaks out of the liquid discharge nozzle 74, it does not adhere to the substrate 1. When the substrate 1 is taken out from the outlet opening 3b, the roller mounting members 64 and 66 descend to wait for the next substrate.

또한, 도 7은, 제 4 발명 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소인 처리조의 바닥부를 나타내는 단면도이다. 도 7에 나타낸 장치에서는 처리조 32의 경사한 안 바닥 면(34)의 경사방향 상부에, 토출구(38)가 안 바닥 면(34)을 향한 액 토출노즐(36)이 설치되어 있다. 상기 액 토출노즐(36)에는, 예를 들면 기판(1)의 표면 위로부터 처리조 바닥부에 흘러내려 회수탱크에 회수된 현상액이 회수탱크로부터 공급된다. 7 is a cross-sectional view showing an example of the fourth invention embodiment and showing the bottom of a processing tank that is a component of a developing apparatus. In the apparatus shown in FIG. 7, the liquid discharge nozzle 36 with the discharge port 38 facing the inner bottom face 34 is provided on the inclined upper portion of the inclined inner bottom face 34 of the treatment tank 32. The developer discharged from the recovery tank is supplied to the liquid discharge nozzle 36 by, for example, flowing from the surface of the substrate 1 to the bottom of the treatment tank and recovered in the recovery tank.

도 7에 나타낸 구성을 구비한 장치에서는, 액 토출노즐(36)의 토출구(38)로부터 처리조(32)의 안 바닥면(34)의 경사방향 상부로 현상액(14)이 토출되고, 상기 토출된 현상액(14)은 안 바닥면(34)의 경사에 따라서 안 바닥면(34) 위를 흘러 내린다. 이 때문에, 안 바닥면(34)의 전체가 현상액(14)으로 항상 젖은 상태로 된다. 따라서, 기판(1)의 표면위로부터 레지스트를 함유한 현상액이 안 바닥면(34) 위에 넘쳐흘러도, 상기 현상액은 마르는 경우가 없으므로, 레지스트분이 고화되는 경우는 없게 되며, 고화된 레지스트에 의해서 처리조(32)의 안 바닥면(34)이 오염되는 일이 방지된다. In the apparatus with the structure shown in FIG. 7, the developing solution 14 is discharged from the discharge port 38 of the liquid discharge nozzle 36 to the inclined direction upper part of the inner bottom surface 34 of the processing tank 32, and the said discharge is performed. The developed developer 14 flows down the inner bottom 34 according to the inclination of the inner bottom 34. For this reason, the entire inner bottom 34 is always wetted with the developing solution 14. Therefore, even if the developer containing the resist overflows on the inner bottom surface 34 from the surface of the substrate 1, the developer does not dry out, so that the resist powder does not solidify. Contamination of the inner bottom surface 34 of 32 is prevented.

또한, 상술한 기재에 있어서는, 현상처리장치에 대하여 설명하였으나, 본 발명은, 세정, 에칭, 박막 등의 처리를 하는 기판처리장치에도 적용할 수 있다. In addition, in the above-mentioned description, although the development processing apparatus was demonstrated, this invention is applicable also to the substrate processing apparatus which processes washing | cleaning, an etching, and a thin film.

청구항 1 내지 청구항 3에 관한 각 발명의 기판처리장치를 사용하면, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판에 대하여 처리액을 공급하여 기판의 처리를 하는 경우에, 레지스트를 함유한 현상액과 같이 고화성분을 함유한 처리액에 의해서 반송롤러 또는 상부롤러 및 반송롤러가 오염되는 것을 방지할 수 있고, 기판의 오염이나 기기의 오동작 등을 방지할 수 있다. 그리고, 처리조의 내부 청소작업을 빈번히 할 필요가 없으므로, 처리효율의 저하나 작업의 번잡성을 초래하는 경우가 없다. When the substrate processing apparatus of each invention of Claims 1-3 is used, when a process liquid is supplied to a board | substrate and a board | substrate is processed while conveying a board | substrate in a processing tank, it solidifies like a developing solution containing a resist. It is possible to prevent the conveying roller or the upper roller and the conveying roller from being contaminated by the treatment liquid containing the same, and to prevent contamination of the substrate, malfunction of the apparatus, and the like. In addition, since it is not necessary to frequently perform internal cleaning of the treatment tank, there is no case that the treatment efficiency is lowered or the complexity of the work is caused.

청구항 4에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 반송롤러 및 상부롤러가 위쪽 및 아래쪽의 어디에 위치한 때에도, 액 토출수단의 토출구로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 넘쳐 흘렀다 하여도 현상액이 기판 위에 부착될 염려가 없다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 4, even when the conveying roller and the upper roller are located above and below, even if the developing solution containing the processing liquid, for example, the resist flows from the discharge port of the liquid discharging means, There is no fear to be attached on top.

청구항 5에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 반송롤러 및 상부롤러가 연직면 내에서 요동하는 것에 의해 위쪽 위치와 아래쪽 위치와의 사이를 이동하고, 위쪽 위치에 있어서는 반송롤러에 의해 지지되는 기판이 경사하는 것에 따라, 기판의 표면 위로부터 처리액의 일부가 흘러 떨어져 제거된다. In the substrate processing apparatus of Claim 5, a conveyance roller and an upper roller move between an upper position and a lower position by rocking in a perpendicular surface, and in the upper position, the board | substrate supported by a conveying roller inclines. As a result, a part of the processing liquid flows off from the surface of the substrate and is removed.

청구항 6에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 제한 롤러에 의해서 기판으로부터 처리액, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액이 제거된 때에 액 제한 롤러의 원주면에 레지스트 함유 현상액이 부착하여도, 액 제한 롤러의 원주면에서 레지스트분이 고화하는 것을 방지할 수 있다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 6, even if a resist-containing developer is adhered to the circumferential surface of the liquid-limiting roller when the developing solution containing the processing liquid, for example, a resist is removed from the substrate by the liquid-limiting roller, the liquid-limiting roller is limited. It is possible to prevent the resist powder from solidifying on the circumferential surface of the roller.

청구항 7에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 액 튀김이 잘 생기기 어렵고, 습윤용액의 비산(飛散)을 보다 효과적으로 억제할 수 있다. In the substrate processing apparatus according to the seventh aspect, liquid splashing is less likely to occur, and scattering of the wet solution can be more effectively suppressed.

청구항 8에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 예를 들면 레지스트를 함유한 현상액을 순환시키면서 습윤용액으로서 재이용 하도록한 경우에, 액 토출수단의 토출구로부터 토출된 레지스트 함유 현상액에 의해서 기판을 오염시킨다고 하는 염려를 없앨 수 있다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 8, for example, when the developer containing the resist is recycled as a wet solution, the substrate may be contaminated by the resist containing developer discharged from the discharge port of the liquid discharge means. Can be eliminated.

청구항 9에 관한 발명의 기판처리장치에서는, 반송롤러 또는 상부롤러 및 반송롤러가 오염되는 것을 방지하면서, 습윤용액의 사용량을 저감할 수 있다. In the substrate processing apparatus of the invention according to claim 9, the amount of the wet solution can be reduced while preventing the conveying roller, the upper roller, and the conveying roller from being contaminated.

청구항 10에 관한 발명의 기판처리장치를 사용하면, 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판에 대하여 처리액을 공급하여 기판의 처리를 하는 경우에, 레지스트를 함유한 현상액과 같이 고화성분을 함유한 처리액에 의해서 처리조의 안 바닥면이 오염되는 경우를 방지할 수 있으며, 기판의 오염이나 기기의 오동작 등을 방지할 수 있다. 그리고, 처리조 내부의 청소작업을 빈번히 할 필요도 없으므로, 처리효율의 저하나 작업의 번잡성을 초래하는 경우가 없다. When the substrate processing apparatus of the invention according to claim 10 is used, when the processing liquid is supplied to the substrate while the substrate is being conveyed in the processing tank, the substrate contains a solidified component, such as a developer containing a resist. It is possible to prevent contamination of the inner bottom surface of the treatment tank by the liquid, and to prevent contamination of the substrate and malfunction of the equipment. In addition, since it is not necessary to frequently clean the inside of the treatment tank, there is no case that the treatment efficiency is lowered or the complexity of the work is caused.

도 1은 제 1 발명의 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러의 하나를 일부단면으로 나타내는 측면도이다. 1 shows an example of an embodiment of the first invention, and is a side view showing one of the conveying rollers, which is one of the components of the developing apparatus, in a partial cross section.

도 2는 제 2 발명의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러의 하나를 나타내는 측면도이다. Fig. 2 shows an example of the second invention and is a side view showing one of the conveying rollers which is one of the components of the developing apparatus.

도 3은 제 2 발명의 다른 실시형태를 나타내는 롤러의 측면도이다. It is a side view of the roller which shows another embodiment of 2nd invention.

도 4는 제 3 발명의 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러 및 액(液) 제한 롤러를 나타내는 측면도이다. 4 shows an example of the embodiment of the third invention, and is a side view showing a conveying roller and a liquid limiting roller which are one of the components of the developing apparatus.

도 5는 제 3 발명의 변형예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소의 하나인 반송롤러 및 액 제한 롤러를 나타내는 측면 단면도이다. Fig. 5 is a side sectional view showing a modification of the third invention and showing a conveying roller and a liquid limiting roller which are one of the components of the developing apparatus.

도 6은 도 5에 나타낸 액 제한 롤러의 정면도이다. FIG. 6 is a front view of the liquid limiting roller shown in FIG. 5. FIG.

도 7은 제 4 발명의 실시형태의 일 예를 나타내며, 현상처리장치의 구성요소인 처리조의 바닥부를 나타내는 단면도이다. 7 shows an example of the embodiment of the fourth invention, and is a cross-sectional view showing a bottom portion of a treatment tank that is a component of a developing apparatus.

도 8은 현상처리장치의 개략구성의 일 예를 나타내는 모식도이다. 8 is a schematic view showing an example of a schematic configuration of a developing apparatus.

(부호의 설명)(Explanation of the sign)

1 ... 기판 2, 32 ... 처리조1 ... substrate 2, 32 ... processing tank

10,16,24,60,62 ... 반송롤러 12 ... 액 저장용기10,16,24,60,62 ... conveying roller 12 ... liquid storage container

14 ... 현상액 20, 28, 36 ... 액 토출노즐14 ... developer 20, 28, 36 ... liquid discharge nozzle

22, 30, 38 ... 액 토출노즐의 토출구 26 ... 액 제한 롤러22, 30, 38 ... discharge port of liquid discharge nozzle 26 ... liquid limiting roller

34 ... 처리조의 안 바닥면 52,54 ... 액 제한 롤러34 ... inner bottom of treatment tank 52, 54 ... liquid limiting roller

64.66 ... 롤러 설치부재 70,76 ... 검출장치64.66 ... roller mounting member 70, 76 ... detection device

74 ... 액 토출노즐 75 ... 노즐관74 ... liquid discharge nozzle 75 ... nozzle tube

Claims (11)

처리조 내에 있어서 기판(基板)을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판처리장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate with a process liquid, conveying a board | substrate in a processing tank, 기판의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 반송롤러(10)의 바로 아래에 액 저장용기를 설치하고, 그 액 저장용기 내로 처리액에 함유되는 성분이 고화하는 것을 방지하는 습윤(濕潤)용액을 공급하여 액 저장용기 내를 항상 습윤용액으로 채우는 액 공급수단을 구비하고, 상기 액 저장용기 내에 채워진 습윤용액 중에 상기 반송롤러의 원주면의 일부를 침지(沈漬)시켜 두는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.A liquid storage container is provided directly under the conveying roller 10 that contacts and lowers the substrate to support and convey the substrate, and wets the component to be solidified in the processing liquid into the liquid storage container. And a liquid supply means for supplying a solution to fill the liquid storage container with a wet solution at all times, and immersing a part of the circumferential surface of the conveying roller in the wet solution filled in the liquid storage container. Substrate processing apparatus. 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판처리장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate with a process liquid, conveying a board | substrate in a processing tank, 기판의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 반송롤러에 근접하는 동시에 반송롤러에 의하여 지지되는 기판의 높이위치로부터 아래쪽으로, 토출구가 반송롤러와 대향하도록 액 토출 수단을 설치하고, 상기 액 토출 수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비한 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The liquid discharge means is provided so that the discharge port faces the conveying roller downward from the height position of the substrate supported by the conveying roller while being close to the conveying roller that supports and conveys the substrate in contact with the lower surface side of the substrate. And a liquid supply means for supplying the wet solution to the means. 처리조 내에 있어서 기판을 반송하면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판처리장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate with a process liquid, conveying a board | substrate in a processing tank, 기판의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 반송롤러의 부근이고 반송롤러에 의하여 지지되는 기판의 높이위치로부터 아래쪽에, 상기 반송롤러의 바로 위에 반송롤러와 대향하도록 설치되고 반송롤러에 지지되어 반송되는 기판의 윗면 쪽에 접촉하는 상부롤러와 토출구가 대향하도록 액 토출 수단을 설치하고, 상기 액 토출 수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비한 것을 특징으로 하는 기판처리장치.It is in the vicinity of the conveying roller which is in contact with the lower surface side of the substrate and is supported by the conveying roller and installed below the height position of the substrate supported by the conveying roller, directly above the conveying roller. And a liquid supply means for supplying a wet solution to the liquid ejecting means, the liquid ejecting means being provided so that the upper roller contacting the upper surface side of the substrate to be conveyed and the ejection port face each other. 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 반송롤러 및 상기 상부롤러가 위쪽 위치와 아래쪽 위치의 사이에서 이동가능하게 지지되고, 상기 액 토출수단은, 반송롤러 및 상부롤러가 위쪽으로 위치한 때에, 반송롤러에 의하여 지지되는 기판의 높이위치로부터 아래쪽에 위치하도록 설치되고, 반송롤러 및 상부롤러가 아래쪽으로 위치한 때에는, 상기 반송롤러가 그것 보다 기판의 반송방향에 있어서 상류쪽에 설치된 다른 반송롤러와 같은 높이에 위치함과 동시에, 반송롤러 및 상부롤러에 기판이 접촉하지 않도록 제어되는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The conveying roller and the upper roller are movably supported between an upper position and a lower position, and the liquid ejecting means is located from a height position of a substrate supported by the conveying roller when the conveying roller and the upper roller are positioned upward. When the conveying roller and the upper roller are positioned downward, the conveying roller is located at the same level as other conveying rollers installed upstream in the conveying direction of the substrate, and at the same time, the conveying roller and the upper roller Substrate processing apparatus, characterized in that the substrate is controlled so as not to contact. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 반송롤러 및 상기 상부롤러가, 반송롤러의 축심선의 연장선 상의 일점을 중심으로하여 연직면 내에서 요동하도록 지지되고, 경사자세가 되는 위쪽 위치와 수평자세로 되는 아래쪽 위치 사이를 이동하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The conveying roller and the upper roller are supported so as to oscillate in the vertical plane about one point on the extension line of the axis line of the conveying roller, and move between an upper position inclined posture and a lower position in horizontal posture. Substrate processing apparatus. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 반송롤러 와 상기 상부롤러가, 액(液) 제한 롤러이며, 상기 액 제한 롤러와 상기 다른 반송롤러 사이에, 액 제한 롤러와 일체적으로 위쪽 위치와 아래쪽 위치 사이를 이동하도록 지지되고 기판의 아래면 쪽에 접촉하여 기판을 지지하고 반송하는 복수의 반송롤러가 설치된 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The conveying roller and the upper roller are liquid limiting rollers, and are supported between the liquid limiting rollers and the other conveying rollers so as to move between the upper limiting position and the lower position integrally with the liquid limiting roller and beneath the substrate. A substrate processing apparatus characterized by comprising a plurality of conveying rollers for supporting and conveying a substrate in contact with the surface. 제 2항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 2 to 6, 상기 액 공급수단은, 상기 토출구로부터 상기 반송롤러를 향하여 토출된 습윤용액이 액 튀김에 의해 비산하지 않을 정도의 저압으로 상기 액 토출수단에 습윤용액을 공급하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.And the liquid supply means supplies the wet solution to the liquid discharge means at a low pressure such that the wet solution discharged from the discharge port toward the conveying roller does not scatter by liquid splashing. 제 2항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 2 to 6, 기판을 반송하여 기판을 처리하고 있는 기간 중에 있어서, 상기 반송롤러가 기판의 아래면 쪽과 접촉하고 있지 않을 때에 상기 토출수단의 토출구로부터 습윤용액을 토출하고 반송롤러가 기판의 아래면 쪽과 접촉하고 있을 때에는 액 토출수단의 토출구로부터 습윤용액을 토출하지 않도록, 상기 액 공급수단으로부터 습윤용액을 토출하지 않도록, 상기 액 공급수단으로부터 액 토출수단으로 간헐적으로 습윤용액을 공급하도록 하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.During the period of conveying the substrate and processing the substrate, when the conveying roller is not in contact with the lower side of the substrate, the wet solution is discharged from the discharge port of the discharging means, and the conveying roller is in contact with the lower side of the substrate. Wherein the wet solution is intermittently supplied from the liquid supply means to the liquid discharge means so as not to discharge the wet solution from the discharge port of the liquid discharge means, and not to discharge the wet solution from the liquid supply means. Device. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 기판을 반송하고 있지 않은 기간 중에 있어서, 상기 액 공급수단으로부터 상기 액 토출수단으로 일정시간마다 간헐적으로 습윤용액을 공급하도록 하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치. The substrate processing apparatus characterized by supplying a wet solution intermittently every fixed time from said liquid supply means to said liquid discharge means in a period in which the substrate is not conveyed. 처리조 내에 있어서 기판을 반송해가면서 기판을 처리액으로 처리하는 기판처리장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate with a process liquid, conveying a board | substrate in a processing tank, 상기 처리조의 경사한 안 바닥면 위로 습윤용액을 토출하는 액 토출수단을, 안 바닥면의 경사방향 상부에 설치하고, 상기 액 토출수단으로 습윤용액을 공급하는 액 공급수단을 구비한 것을 특징으로 하는 기판처리장치.And a liquid supply means for discharging the wet solution onto the inclined inner bottom surface of the treatment tank at an upper portion in the inclined direction of the inner bottom surface and supplying the wet solution to the liquid discharging means. Substrate processing apparatus. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 처리조내에서 반송되는 기판의 윗면 쪽에서 처리액이 공급되어 그 기판의 처리가 행해지는 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The substrate processing apparatus characterized by supplying a process liquid from the upper surface side of the board | substrate conveyed in the said processing tank, and processing of the board | substrate.
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