KR100487393B1 - Process unit and processing unit structure by assembling thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명의 처리장치 구축체(1)는 다수의 처리 유닛(2)을 가로방향으로 연속적으로 설치하여 구성되고, 각 처리 유닛의 최상부에 운송부(3)를 설치하고, 이 운송부(3)내에 설치된 셔틀(SH) 등의 운송장치에 의해 인접한 처리 유닛들 사이에서의 판 형상 피처리물의 이송을 가능하게 하고 있다. 처리 유닛(2)은 한 쌍의 처리 블록(4, 4)과 이들 처리 블록(4, 4) 사이에 배치되는 운반 로봇(R)으로 구성되고, 또한 각각의 처리 유닛(2)은 처리장치 구축체(1)에 대하여 처리 유닛의 수를 증감할 수 있도록 서로 독립하여 있다.The processing apparatus constructing body 1 of the present invention is constructed by continuously installing a plurality of processing units 2 in the horizontal direction, and is provided with a transport unit 3 at the top of each processing unit, and the transport unit 3 is provided. It is possible to transfer the plate-like workpiece between adjacent processing units by a transport device such as a shuttle SH installed therein. The processing unit 2 is constituted by a pair of processing blocks 4 and 4 and a transport robot R disposed between these processing blocks 4 and 4, and each processing unit 2 is a processing device construction. The sieve 1 is independent of each other so that the number of processing units can be increased or decreased.
Description
본 발명은 반도체 웨이퍼나 유리기판 등에 일련의 처리를 실시하는 처리 유닛과, 이 처리 유닛을 집합시킨 처리장치 구축체(構築體)에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
반도체 웨이퍼에 집적회로를 형성하거나 유리기판에 TFT 등의 소자를 형성하기 위해서는, 많은 공정을 필요로 한다.In order to form an integrated circuit on a semiconductor wafer or to form an element such as a TFT on a glass substrate, many processes are required.
예를 들어, 기판 표면에 엑시머 레지스트 막을 형성하는 공정의 일례를 들면, 디하이드레이션 베이킹(dehydration baking), BARC(bottom anti-reflection coating) 도포, 베이킹, 레지스트 전(前)처리, 레지스트 도포, 프리베이킹(pre-baking), 노광(露光), 노광 후 베이킹(PEB), 현상 및 포스트베이킹(post-baking)의 공정을 거치도록 되어 있다.For example, an example of a process of forming an excimer resist film on the surface of a substrate includes dehydration baking, bottom anti-reflection coating (BARC) coating, baking, resist pretreatment, resist coating, and pre free Pre-baking, exposure, post-exposure baking (PEB), development and post-baking are required.
상기한 바와 같은 공정들을 연속적으로 실시하기 위하여, 종래에는 각각의 공정을 실시하는 장치를 수평방향으로 분리하여 라인 형상으로 공정 순서에 따라 배열하고 있다. 또한, 라인 형상으로서는 직선 형상에 한하지 않고, 공장의 형상에 맞추어 L자형 또는 사각형 등의 경우도 있다. In order to carry out the processes as described above, conventionally, the devices for performing the respective processes are separated in the horizontal direction and arranged in line order according to the process order. In addition, as a line shape, it is not limited to a linear shape, According to the shape of a factory, there may be an L-shape or a square.
상술한 바와 같이 종래의 반도체 웨이퍼나 유리기판 등의 처리장치는, 가로방향으로 설비가 연속되어 있어 점유 면적이 커진다.As mentioned above, in the conventional processing apparatuses, such as a semiconductor wafer and a glass substrate, facilities are continued in the horizontal direction, and the occupation area becomes large.
또한, 종래의 처리장치에 있어서는, 공정을 생략할 경우나 새로운 공정을 추가할 경우에, 처리장치의 일부를 제거하거나 다른 장치를 이전부터 존재하는 장치에 연결시키는 것이 곤란하다.In addition, in the conventional processing apparatus, it is difficult to remove a part of the processing apparatus or to connect another apparatus to a previously existing apparatus when omitting the process or adding a new process.
상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명에 따른 처리 유닛은, 반도체 웨이퍼나 유리기판 등의 판 형상 피처리물에 대하여 일련의 처리를 실시하는 것으로서, 이 처리 유닛은 처리 블록과 운반 로봇으로 구성되고, 상기 처리 블록은 다수의 처리장치를 상하방향으로 여러 단(段)으로 겹쳐 쌓아 구성되고, 또한 상기 운반 로봇은 각 단의 처리장치의 위치에서 정지할 수 있는 승강체와, 각 단의 처리장치에 대하여 판 형상 피처리물을 출입시키도록 상기 승강체에 설치된 암(arm)을 구비한 것으로 하였다.In order to solve the above problems, the processing unit according to the present invention performs a series of processing on a plate-like object such as a semiconductor wafer or a glass substrate, the processing unit is composed of a processing block and a transport robot The processing block is configured by stacking a plurality of processing apparatuses in a plurality of stages in the vertical direction, and the transport robot includes a lifting body capable of stopping at the position of the processing apparatus of each stage, and the processing apparatus of each stage. It was assumed that an arm provided on the lifting body was provided to allow the plate-like object to enter and exit.
또한, 본 발명에 따른 다른 예의 처리 유닛은, 반도체 웨이퍼나 유리기판 등의 판 형상 피처리물에 대하여 일련의 처리를 실시하는 것으로서, 이 처리 유닛은 한 쌍의 처리 블록과, 이 한 쌍의 처리 블록 사이에 배치되는 운반 로봇으로 구성되고, 상기 처리 블록은 다수의 처리장치를 상하방향으로 여러 단으로 겹쳐 쌓아 구성되고, 또한 상기 운반 로봇은 각 단의 처리장치의 위치에서 정지할 수 있는 승강체와, 각 단의 처리장치에 대하여 판 형상 피처리물을 출입시키도록 상기 승강체에 설치된 암과, 이 암을 수평면내에서 선회시키는 선회(旋回)기구를 구비한 것으로 하였다.Moreover, the processing unit of the other example which concerns on this invention performs a series of process with respect to plate-shaped to-be-processed object, such as a semiconductor wafer and a glass substrate, and this processing unit comprises a pair of process block and this pair of process It is composed of a transport robot disposed between the blocks, the processing block is configured by stacking a plurality of processing devices in a plurality of stages in the vertical direction, and the lifting robot is a lifting body capable of stopping at the position of the processing device of each stage And an arm provided on the lifting body so that the plate-shaped object is allowed to enter and exit the processing apparatus at each stage, and a swing mechanism for turning the arm in a horizontal plane.
또한, 본 발명에 따른 처리장치 구축체는 상기한 처리 유닛들을 연속적으로 설치하여 구성되고, 각각의 처리 유닛은 처리장치 구축체에 대하여 그 처리 유닛의 수를 증감(增減)할 수 있도록 서로 독립하여 구성되고, 또한 인접한 처리 유닛들 사이에서의 판 형상 피처리물의 이송이 가능하도록 배치되었다.Further, the processing device construct according to the present invention is constructed by continuously installing the above processing units, and each processing unit is independent of each other so that the number of the processing units can be increased or decreased with respect to the processing device construct. And the plate-like workpiece between adjacent processing units.
또한, 처리 유닛들 사이에서의 판 형상 피처리물의 이송을 실시하는 운송장치에 대해서는, 예를 들어, 각각의 처리 유닛의 최상부에 설치한다. 이러한 구성을 취함으로써, 다수의 처리 유닛을 연속적으로 설치하는 것이 용이해진다.In addition, about the conveying apparatus which conveys the plate-shaped object to be processed between processing units, it is provided in the uppermost part of each processing unit, for example. By taking such a configuration, it is easy to install a plurality of processing units continuously.
또한, 상기 처리장치 구축체의 일 측부에 인덱서(indexer) 유닛을 배치할 수 있다. 이 인덱서 유닛은 인덱스 블록과 운반 로봇으로 구성되고, 인덱스 블록은 판 형상 피처리물을 수납하는 카세트를 상하방향으로 분리하여 보유하고, 또한 상기 운반 로봇은 각 단의 카세트의 수납위치에서 정지할 수 있는 승강체와, 상기 카세트에 대하여 판 형상 피처리물을 출입시키도록 상기 승강체에 설치된 암을 구비하고 있다.In addition, an indexer unit may be disposed on one side of the processing apparatus construct. The indexer unit is composed of an index block and a transport robot, and the index block separates and holds a cassette for storing a plate-shaped object in the vertical direction, and the transport robot can stop at the storage position of the cassette at each stage. And a lifting and lowering body, and an arm provided on the lifting and lowering body to allow the plate-shaped object to be inserted into and out of the cassette.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부 도면에 의거하여 설명한다. 여기서, 도 1은 본 발명에 따른 처리장치 구축체의 일례를 나타내는 전체 사시도, 도 2는 상기 처리장치 구축체의 평면도, 도 3은 상기 처리장치 구축체의 일부를 구성하는 처리 유닛의 운반 로봇의 사시도, 도 4는 상기 운반 로봇의 하부의 단면도이다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described based on an accompanying drawing. 1 is an overall perspective view showing an example of a processing device construct according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of the processing device construct, and FIG. 3 is a view of a transport robot of a processing unit constituting a part of the processing device construct. 4 is a cross-sectional view of the lower part of the transport robot.
처리장치 구축체(1)는 다수의 처리 유닛(2, 2, …)을 가로방향으로 연속적으로 설치하여 구성되고, 각 처리 유닛(2)은 처리장치 구축체(1)에 대하여 증감이 가능하도록 서로 독립하여 있다.The processing device constructing
또한, 인접한 처리 유닛(2)들 사이에서의 반도체 웨이퍼나 유리기판 등의 판 형상 피처리물의 이송이 가능하도록, 각 처리 유닛(2)의 최상부에 운송부(3)를 설치하고, 이 운송부(3)내에 설치된 셔틀(SH) 등의 운송장치에 의해 인접한 처리 유닛들 사이에서의 판 형상 피처리물의 이송을 가능하게 하고 있다. 또한, 운송부(3)내에는, 판 형상 피처리물의 얼라인먼트(alignment)를 행하는 기구도 구비되어 있다.In addition, a
각각의 처리 유닛(2)은 처리 블록(4, 4)들과, 이들 처리 블록(4, 4) 사이에 배치되는 운반 로봇(R)으로 구성되고, 상기 처리 블록은, 예를 들어, 회전 컵식 도포장치(RC), 오픈 컵식 도포장치(SC), 감압(減壓) 건조기(VD), 쿨 플레이트(cool plate)(CP), 핫 플레이트(HP), 뒷면 세정장치(BR), 접착장치(AD), 자외선 조사(照射)장치(UV), 에어 프로세서(AP), 현상(現像)장치(DEV), 노광(露光)후 베이킹장치(PB) 등의 처리장치를 여러 단으로 겹쳐 쌓아 구성된다.Each
각각의 상기 처리장치는 세로 치수와 가로 치수가 동일하여, 겹쳐 쌓은 경우, 하나의 입방체를 구성한다. 또한, 처리장치의 두께(상하방향 치수)에 대해서는 각 처리장치마다 다르다.Each said processing apparatus has the same longitudinal dimension and lateral dimension, and when stacked, constitutes one cube. In addition, the thickness (up and down dimension) of the processing apparatus is different for each processing apparatus.
또한, 처리장치 구축체(1)의 일 측에는, 인터페이스(interface) 유닛(5)과, 이 인터페이스 유닛(5)을 통과하여 피처리물이 보내지는 노광장치(6)가 배치되어 있다.In addition, an
또한, 운반 로봇(R)은 각 처리 블록의 처리장치의 위치에서 정지할 수 있는 승강체(10)와, 각 단의 처리장치에 대하여 판 형상 피처리물을 출입시키도록 상기 승강체(10)에 설치된 암(arm)(11, 11)을 구비하고 있다. 이들 암(11, 11)은 실린더 유닛(12, 12)에 의해 서로 반대방향으로 신축(伸縮)하고, 그의 선단(先端)에는 판 형상 피처리물의 둘레를 보유하는 핸드(13)를 구비하고 있다.In addition, the transport robot R includes a
승강체(10)는 윗판(14)과 밑판(15) 사이에 설치된 가이드 로드(16, 16)에 결합되고, 밑판(15)상에 설치한 모터(17)의 구동으로 주행하는 체인(18)에 의해 상하방향으로 이동할 수 있도록 되어 있다.The
또한, 밑판(15)은 별도의 모터(19)에 의해 수평면내에서 180°회전할 수 있고, 이 회전에 의해 상기 암(11, 11)의 위치가 교환되는 구성으로 되어 있다.In addition, the
그런데, 운반 로봇(R)의 하부는 도 4에 도시한 바와 같이 박스(20)내에 수납되고, 이 박스(20)의 내부는 칸막이 벽(21, 21)에 의해 상부 공간(22), 중간부 공간(23) 및 하부 공간(24)으로 구획되고, 중간부 공간(23)으로부터 에어를 도입함으로써, 체인(18)에 부착한 미세한 먼지를 상부 공간(22) 또는 하부 공간(24)으로부터 회수하여, 다수의 처리장치가 중첩되어 있는 장소에 먼지가 들어가지 못하도록 하고 있다.By the way, the lower part of the transport robot R is accommodated in the
다음에, 구체적인 처리장치 구축체의 구성 예를 도 5 내지 도 9에 의거하여 설명한다. 여기서, 도 5는 하지(下地) 반사방지막 형성, 레지스트 도포 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도, 도 6은 도 5의 a-a 방향에서 본 처리 유닛의 정면도, 도 7은 도 5의 b-b 방향에서 본 처리 유닛의 정면도, 도 8은 도 5의 c-c 방향에서 본 처리 유닛의 정면도, 도 9는 도 5의 d-d 방향에서 본 처리 유닛의 정면도이다.Next, a configuration example of the specific processing device construct will be described based on FIGS. 5 to 9. Here, FIG. 5 is an exploded plan view of a processing apparatus construct for performing a base antireflection film formation, resist coating, and developing process, FIG. 6 is a front view of the processing unit seen from the aa direction of FIG. 5, and FIG. The front view of the processing unit seen from the bb direction of 5, FIG. 8 is the front view of the processing unit seen from the cc direction of FIG. 5, FIG. 9 is the front view of the processing unit seen from the dd direction of FIG.
도 5에 나타낸 처리장치 구축체는 인덱스(index)용 처리 유닛(2A), 판 형상 피처리물 표면에 하지층으로서 반사방지막을 도포하는 처리 유닛(2B), 그 반사방지막 상에 레지스트막을 도포하는 처리 유닛(2C), 노광 후의 레지스트막을 현상하는 처리 유닛(2D)으로 구성된다.The processing device construct shown in Fig. 5 is a
인덱스용 처리 유닛(2A)에서는, 운반 로봇(R1)의 양측에, 처리 블록 대신에 카세트 베이스(30, 30, …)가 승강가능하게 설치되어 있다. 이들 카세트 베이스(30, 30, …)는 다른 카세트 베이스와는 독립하여 승강할 수 있고, 또한, 각 카세트(31)의 방향을 90°바꿀 수 있는 구조로 되어 있다.In the
그리고, 인덱스용 처리 유닛(2A)의 동작을 설명하면, 먼저, 카세트 베이스(30)를 공장내의 자동 운송기(컨베이어)의 운송 레벨에 맞추고, 그 자동 운송기로부터 카세트(31)를 카세트 베이스(30) 위에 수취하고, 운반 로봇(R1)이 꺼낼 수 있는 방향으로 카세트(31)를 회전시키고, 운반 로봇(R1)에 의해 카세트(31)로부터 웨이퍼 등의 판 형상 피처리물을 꺼낸다. 그 후, 판 형상 피처리물을 운반 로봇(R1)으로부터 운송부(3)로 옮기고, 이 운송부(3)내에 설치된 셔틀(SH) 등의 운송장치에 의해 인접하는 처리 유닛(2B)의 운송부로 보낸다.Then, the operation of the
처리 유닛(2B)의 운송부로 보내진 피처리물은 그 처리 유닛(2B)의 운반 로봇(R2)에 의해 핫 플레이트(HP1, HP2)로 보내져 디하이드레이션(dehydration)을 실시하여, 피처리물에 함유된 수분을 제거한 후, 쿨 플레이트(CP1)에 의해 냉각 또는 온도 조정되고, 회전식 도포장치(RC1)에 의해 반사방지용 도포액이 도포되고, 감압 건조장치(VD1)에서 어느 정도 건조되고, 오픈 컵식 세정장치(SC1)에 의해 엣지 린싱(edge rinsing)이 실시된 후, 핫 플레이트(HP3, HP4, HP5)를 통과하는 사이에 베이킹(baking)되고, 다시 쿨 플레이트(CP2)에 의해 온도 조정된다. 이후, 반사방지막이 형성된 피처리물은 운반 로봇(R2) 및 셔틀(SH2)에 의해 처리 유닛(2C)으로 보내진다.The to-be-processed object sent to the conveyance part of the
처리 유닛(2C)의 운송부로 보내진 피처리물은 운반 로봇(R3)에 의해 자외선 조사장치(UV1), 접착장치(AD1) 및 쿨 플레이트(CP4)로 차례로 이송되어, 레지스트 전(前)처리가 행해진다. 이어서, 레지스트 전처리를 마친 피처리물에 회전식 도포장치(RC2)에 의해 레지스트 도포액이 도포되고, 감압 건조장치(VD2)에서 어느 정도 건조되고, 오픈 컵식 세정장치(SC2)에 의해 백 사이드 린싱(back-side rinsing)이 실시된 후, 핫 플레이트(HP6, HP7)에 의해 베이킹되고, 다시 쿨 플레이트(CP3)에 의해 온도 조정된다. 이후, 레지스트막이 형성된 피처리물은 운반 로봇(R3) 및 셔틀(SH1)에 의해 처리 유닛(2D)으로 이송된다.The to-be-processed object sent to the conveyance part of the
처리 유닛(2D)의 운송부로 이송된 피처리물은 운반 로봇(R4)에 의해 노광기의 인터페이스 유닛으로 보내지고, 이 인터페이스 유닛을 통과하여 노광기로 보내지며, 노광기에서 노광이 실시된다. 노광이 실시된 피처리물은 다시 처리 유닛(2D)으로 되돌려 보내지고, 이 처리 유닛(2D)의 운반 로봇(R4)에 의해 노광후 베이킹 장치(PB1 또는 PB2)로 보내져 노광후 베이킹이 실시된 다음, 쿨 플레이트(CP5, CP6)에 의해 온도 조정되고, 다시 현상장치(DEV1, DEV2)에서 현상되고, 핫 플레이트(HP8, HP9)에 의해 포스트베이킹(post-baking)된 후, 다시 쿨 플레이트(CP7, CP8)에 의해 온도 조정되고, 각 처리 유닛(2A∼2D)의 일 측의 셔틀(SH2)에 의해 인덱스용 처리 유닛(2A)으로 되돌려 보내지고, 다시 처리 유닛(2A)내의 소정의 카세트(31)내에 수납된다.The to-be-processed object conveyed to the conveyance part of the
도 10은 하지 반사방지막 형성, 레지스트 도포, 표면 반사방지막 형성 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도로서, 이 처리장치 구축체에서는, 레지스트를 도포하는 처리 유닛(2C)과 노광 후의 레지스트막을 현상하는 처리 유닛(2D) 사이에, 레지스트막의 표면에 반사방지막을 형성하는 처리 유닛(2E)을 배치하고 있다.Fig. 10 is an exploded plan view of a processing device construct that performs a base antireflection film formation, resist coating, surface antireflection film formation, and a development step, in which the
처리 유닛(2A∼2D)의 작용은 상기 실시예와 동일하므로 설명을 생략하고, 처리 유닛(2E)의 작용에 대하여 이하에 설명한다.Since the operation of the
즉, 처리 유닛(2E)의 셔틀(SH1)을 통하여 운반 로봇(R4)으로 이송된 피처리물은 쿨 플레이트(CP9)에 의해 온도 조정된 후, 회전식 도포장치(RC3)에 의해 반사방지막용 도포액이 도포되고, 감압 건조장치(VD3)에서 어느 정도 건조되고, 오픈 컵식 세정장치(SC3)에 의해 백 사이드 린싱이 실시된 후, 핫 플레이트(HP10, HP11)에 의해 베이킹되고, 다시 쿨 플레이트(CP10)에 의해 온도 조정된다. 이후, 레지스트막의 표면에 반사방지막이 형성된 피처리물은 처리 유닛(2D)의 운반 로봇(R5)을 통하여 인터페이스 유닛 및 노광기로 보내지고, 노광을 마친 피처리물은 다시 처리 유닛(2D)으로 되돌려 보내져 상기와 마찬가지로 현상이 실시된다.That is, the object to be transported to the transport robot R4 through the shuttle SH1 of the processing unit 2E is temperature-controlled by the cool plate CP9, and then applied to the anti-reflection film by the rotary coating device RC3. The liquid is applied, dried to some extent in the vacuum drying apparatus VD3, backside rinsing is performed by the open cup washing apparatus SC3, and then baked by the hot plates HP10 and HP11, and then again the cool plate ( Temperature is adjusted by CP10). Subsequently, the object with the antireflection film formed on the surface of the resist film is sent to the interface unit and the exposure unit through the transport robot R5 of the
도 11은 레지스트 도포 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도로서, 이 처리장치 구축체에서는, 표준적인 레지스트 도포 및 현상을 실시하는 것이며, 상기한 처리장치 구축체로부터, 하지 반사방지막을 형성하는 처리 유닛(2B) 및 표면 반사방지막을 형성하는 처리 유닛(2E)이 제거되어 있다.Fig. 11 is an exploded plan view of a processing apparatus construct that performs a resist coating and developing step, wherein the processing apparatus construct performs standard resist coating and development, and from the processing apparatus construct, the base antireflection film The
이상에 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 반도체 웨이퍼나 유리기판 등의 판 형상 피처리물에 대하여 일련의 처리를 실시하는 처리 유닛 및 이 처리 유닛을 연속적으로 설치하여 구성되는 처리장치 구축체로서, 기본적으로는, 단일의 처리를 행하는 처리 블록을 상하방향으로 겹쳐 구성하였으므로, 공간의 효과적인 이용이 도모된다.As described above, according to the present invention, there is provided a processing unit that performs a series of processing on a plate-like object such as a semiconductor wafer or a glass substrate, and a processing device construct configured by continuously providing the processing unit. Basically, since the process block which performs a single process is piled up in the vertical direction, the effective use of space is attained.
또한, 다수의 처리 블록을 겹쳐 구성한 처리 유닛의 전체적인 형상을 소정의 치수로 정함으로써, 처리 유닛의 증감이 가능해지고, 일련의 처리를 행하는 처리장치의 구축을 용이하게 행할 수 있다.In addition, by setting the overall shape of the processing unit including a plurality of processing blocks to a predetermined dimension, the processing unit can be increased or decreased, and the construction of a processing apparatus that performs a series of processing can be easily performed.
도 1은 본 발명에 따른 처리장치 구축체의 일례의 전체 사시도.1 is an overall perspective view of an example of a processing apparatus construct according to the present invention;
도 2는 상기 처리장치 구축체의 평면도.2 is a plan view of the processing device construct.
도 3은 상기 처리장치 구축체의 일부를 구성하는 처리 유닛의 운반 로봇의 사시도.3 is a perspective view of a transport robot of a processing unit constituting a part of the processing apparatus construct;
도 4는 상기 운반 로봇의 하부의 단면도.4 is a cross-sectional view of a lower portion of the transport robot.
도 5는 하지(下地) 반사방지막 형성, 레지스트 도포 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도.Fig. 5 is an exploded plan view of a processing device construct that performs a base antireflection film formation, resist coating, and developing processes.
도 6은 도 5의 a-a 방향에서 본 처리 유닛의 정면도.FIG. 6 is a front view of the processing unit seen in the a-a direction of FIG. 5; FIG.
도 7은 도 5의 b-b 방향에서 본 처리 유닛의 정면도.FIG. 7 is a front view of the processing unit seen in the b-b direction of FIG. 5; FIG.
도 8은 도 5의 c-c 방향에서 본 처리 유닛의 정면도.8 is a front view of the processing unit seen in the c-c direction of FIG. 5;
도 9는 도 5의 d-d 방향에서 본 처리 유닛의 정면도.9 is a front view of the processing unit seen in the d-d direction of FIG. 5;
도 10은 하지 반사방지막 형성, 레지스트 도포, 표면 반사방지막 형성 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도.10 is an exploded plan view of a processing apparatus construct that performs a base antireflection film formation, resist coating, surface antireflection film formation, and a developing step.
도 11은 레지스트 도포 및 현상 공정을 실시하는 처리장치 구축체의 전개적 평면도.11 is an exploded plan view of a processing apparatus construct for performing a resist coating and developing step.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1: 처리장치 구축체 2, 2A, 2B, 2C, 2D, 2E: 처리 유닛1:
3: 운송부 4: 처리 블록3: transportation department 4: processing block
5: 인터페이스 유닛 6: 노광(露光)장치5: interface unit 6: exposure apparatus
10: 승강체 R, R1, R2, R3, R4, R5: 운반 로봇10: lifting body R, R1, R2, R3, R4, R5: transport robot
RC: 회전 컵식 도포장치 SC: 오픈 컵식 도포장치RC: Rotary Cup Applicator SC: Open Cup Applicator
VD: 감압 건조기 CP: 쿨 플레이트VD: Decompression Dryer CP: Cool Plate
HP: 핫 플레이트 UV: 자외선 조사장치HP: Hot Plate UV: UV Irradiator
DEV: 현상장치 SH: 셔틀DEV: Developer SH: Shuttle
PB: 노광후 베이킹 장치 AP: 에어 프로세서PB: Post-Exposure Baking Apparatus AP: Air Processor
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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