JP3482330B2 - Processing unit construct - Google Patents

Processing unit construct

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JP3482330B2
JP3482330B2 JP34110097A JP34110097A JP3482330B2 JP 3482330 B2 JP3482330 B2 JP 3482330B2 JP 34110097 A JP34110097 A JP 34110097A JP 34110097 A JP34110097 A JP 34110097A JP 3482330 B2 JP3482330 B2 JP 3482330B2
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英典 宮本
康爾 上田
泰一郎 青木
裕史 佐藤
泰之 佐藤
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は半導体ウェーハやガラス
基板等に一連の処理を施す処理ユニットを集合した処理
装置構築体に関する。 【0002】 【従来の技術】半導体ウェーハに集積回路を形成したり
ガラス基板にTFT等の素子を形成するには、多くの工
程を必要とする。例えば、基板表面にエキシマレジスト
膜を形成する工程の一例を挙げると、デハイドレーショ
ンベーク、BARC(ボトム・アンチ・リフレクション
・コーティング)塗布、ベーク、レジスト前処理、レジ
スト塗布、プリベーク、露光、露光後ベーク(PE
B)、現像及びポストベークの工程を経るようにしてい
る。 【0003】上記の如き工程を連続して行うため、従来
にあっては各工程を行う装置を水平方向に離間してライ
ン状に工程順に配列している。尚、ラインの形状として
は直線状に限らず、工場の形状に合せてL型或いは矩形
等の場合もある。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
半導体ウェーハやガラス基板等の処理装置は、横方向に
設備を連続しており、占有面積が大きくなる。また従来
の処理装置にあっては、工程を省略する場合や、新たな
工程を追加する場合に、処理装置の一部を取り除いた
り、他の装置を以前からある装置につなげることが困難
である。 【0005】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
発明に係る処理装置構築体は、処理ユニットを連設して
構成され、この処理ユニットは一対の処理ブロックと、
この一対の処理ブロックの間に配置される移し換えロボ
ットとから構成され、前記処理ブロックは複数の処理装
置を上下方向に段積み重ねてなり、また前記移し換えロ
ボットは前記各段の処理装置の位置で停止可能な昇降体
と、前記各段の処理装置に対し板状被処理物を出し入れ
すべく前記昇降体に設けられたアームと、このアームを
水平面内で旋回せしめる旋回機構とを備え、また前記
処理ブロックの中段部分には隣接する処理ユニットとの
間での板状被処理物の受け渡しを行う搬送が組み込ま
れた構成とした。 【0006】本発明にあっては、上記したように各処理
ユニット毎に1台のロボットが備えられている。このよ
うに、1つの処理ユニット毎に1台のロボットがあるの
で、多数の処理ユニット(ステーション)を隣接させて
もロボットの負荷に影響はなく、スループットを低下さ
せることがない。 【0007】また、ロボットは処理ユニット間で移動す
ることはなく昇降動とアームの伸縮動のみを行うため、
機構が簡略化される。そして、ロボットが処理ユニット
間で移動することがなくとも、処理ブロックの一部に板
状被処理物の受け渡しを行うシャトルコンベア等の搬送
装置を設けているので、この搬送装置にバッファ機構を
もたせることで、処理ユニット内の処理にのみ律速さ
れ、隣接する処理ユニット間におけるスループットの制
約がない。つまり、隣の処理ユニットの影響を受けな
い。 【0008】 【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。ここで、図1は本発明に係る処理装置構築体
の一例を示す全体斜視図、図2は同処理装置構築体の平
面図、図3は同処理装置構築体の一部を構成する処理ユ
ニットの移し換えロボットの斜視図、図4は同移し換え
ロボットの下部の断面図である。 【0009】処理装置構築体1は複数の処理ユニット2
…を横方向に連設して構成され、各処理ユニット2…は
処理装置構築体1に対して増減が可能となるように互い
に独立している。 【0010】また隣接する処理ユニット2…間での半導
体ウェーハやガラス基板等の板状被処理物の受け渡しが
可能となるように、各処理ユニット2…の中段に搬送部
3を設け、この搬送部3内に設けたシャトルコンベア
(SH)等の搬送装置によって隣接する処理ユニット間
での板状被処理物の受け渡しを可能としている。尚、搬
送部3内においては板状被処理物のアライメントを行う
機構も設けている。 【0011】前記処理ユニット2は処理ブロック4,4
とこれら処理ブロック4,4間に配置される移し換えロ
ボット(R)とから構成され、前記処理ブロックは例え
ば、回転カップ式塗布装置(RC)、オープンカップ式
塗布装置(SC)、減圧乾燥器(VD)、クールプレー
ト(CP)、ホットプレート(HP)、裏面洗浄装置
(BR)、アドヒージョン装置(AD)、紫外線照射装
置(UV)、エアプロセッサー(AP)、現像装置(D
EV)、露光後ベーク装置(PB)等の処理装置を段積
み重ねて構成される。尚、本実施例の場合、各装置の中
段部分に前記したように搬送部3が配置される。 【0012】上記各処理装置は縦寸法と横寸法が同一
で、段積み重ねた場合に1つの直方体を構成する。尚、
処理装置の厚さ(上下方向寸法)については各処理装置
毎に異なる。また、処理装置構築体1の一側にはインタ
ーフェイスユニット5とこのインターフェイスユニット
5を介して被処理物が送り込まれる露光装置6を配置し
ている。 【0013】また、移し換えロボット(R)は各処理ブ
ロックの処理装置の位置で停止可能な昇降体10と、前
記各段の処理装置に対し板状被処理物を出し入れすべく
前記昇降体10に設けられたアーム11,11とを備え
ている。このアーム11,11はシリンダユニット1
2,12によって互いに反対方向に伸縮し、その先端に
は板状被処理物の周囲を保持するハンド13を備えてい
る。 【0014】昇降体10は天板14と底板15間に設け
たガイドロッド16,16に係合し、底板15上に設け
たモータ17の駆動で走行するチェーン18にて上下方
向に移動可能とされている。 【0015】また、底板15は別のモータ19にて水平
面内で180°回転可能とされ、この回転により前記ア
ーム11,11の位置が入れ替わる構成になっている。 【0016】ところで、移し換えロボット(R)の下部
の構造は、図4に示すようにボックス20内に収納さ
れ、このボックス20内は仕切り壁21にて上部空間2
2,中間部空間23及び下部空間24に分けられ、中間
部空間23からエアを導入し、チェーン18に付着した
微細なゴミを上部空間22または下部空間24から回収
し、複数の処理装置が積み重なっている箇所にゴミを持
ち込まないようにしている。 【0017】次に具体的な処理装置構築体の構成例を図
5乃至図7に基づいて説明する。ここで、図5はSOG
の塗布を行う処理装置構築体の展開的平面図、図6は図
5のa−a方向から見た処理ユニットの正面図、図7は
図5のb−b方向から見た処理ユニットの正面図であ
る。 【0018】SOG塗布処理装置構築体は、インデック
ス用の処理ユニット2A、SOGを塗布する処理ユニッ
ト2Bから構成される。インデックス用の処理ユニット
2Aは移し換えロボット(R1)の両側に、処理ブロッ
クの代りとしてカセット台30…を昇降可能に設けてい
る。これらカセット台30…は他のカセット台とは独立
して昇降動でき、また各カセット31の向きを90°変
えることができる構造となっている。 【0019】そしてインデックス用の処理ユニット2A
の動作は、先ずカセット台30を工場内の自動搬送機の
搬送レベルに合わせ、自動搬送機からカセット31をカ
セット台30に受け取り、ロボット(R1)が取り出す
ことができる方向にカセット31をターンさせ、ロボッ
ト(R1)にてカセット31からウェーハ等の板状被処
理物を取り出す。この後、ロボット(R1)から板状被
処理物を搬送部3に移し、この搬送部3内に設けたシャ
トル(SH)等の搬送装置によって隣接する処理ユニッ
ト2Bの搬送部に送り込む。 【0020】SOGを塗布する処理ユニット2Bの搬送
部に送り込まれた被処理物は、処理ユニット2Bの移し
換えロボット(R2)によって紫外線照射装置(UV
1)及びクールプレート(CP)に順次送り込まれて前
処理が行われる。 【0021】次いで、前処理が済んだ被処理物は回転塗
布装置(RC1)によってSOG塗布液が塗布され、回
転乾燥装置(SD)である程度乾燥され、オープンカッ
プ式洗浄装置(SC1)にてバックサイドリンスがなさ
れ、この後ホットプレート(HP1)、(HP2)、
(HP3)にてベークされ、更にクールプレート(C
P)で温度調整される。この時、クールプレート(C
P)部分をクーリングエリア(CA)に置き換えてもよ
い。尚、クーリングエリア(CA)とは、被処理物を自
然に放置した状態で温度調整を行う所である。また、ホ
ットプレート(HP4)、(HP5)、(HP6)はホ
ットプレート(HP1)、(HP2)、(HP3)と同
じ働きをする。 【0022】この後、移し換えロボット(R2)、シャ
トル(SH1)によってベーク炉のインターフェースに
送られ、このインターフェースを介してベーク炉に送ら
れベークされる。ベーク炉はインターフェースに対して
1つでもよいが、2つ設けることも可能である。 【0023】ベークが終了した被処理物は、各処理ユニ
ット2A〜2Bの一側のシャトル(SH2)にてインデ
ックス用の処理ユニット2Aに戻され、更に処理ユニッ
ト2A内の所定のカセット31内に収納される。 【0024】 【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
半導体ウェーハやガラス基板等の板状被処理物に対し一
連の処理を行う処理ユニット及びこの処理ユニットを連
設して構成される処理装置として、基本的には上下方向
に単一の処理を行う処理ブロックを重ねて構成したの
で、空間の有効利用が図れる。 【0025】また、複数の処理ブロックを重ねて構成し
た処理ユニットの全体形状を、所定寸法に定めること
で、処理ユニット同士の増減が可能となり、一連の処理
を行う処理装置の構築が容易に行える。 【0026】また、本発明によれば、1つの処理ユニッ
ト毎に1台のロボットがあるので、多数の処理ユニット
を隣接させてもロボットの負荷に影響はなく、スループ
ットを低下させることがない。 【0027】更に、ロボットは処理ユニット間で移動す
ることはなく昇降動とアームの伸縮動のみを行うため、
機構が簡略化され、また、ロボットが処理ユニット間で
移動することがなくとも、処理ブロックの一部に板状被
処理物の受け渡しを行うシャトルコンベア等の搬送装置
を設けているので、この搬送装置にバッファ機構をもた
せることで、処理ユニット内の処理にのみ律速され、隣
接する処理ユニット間におけるスループットの制約がな
い。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus assembly in which processing units for performing a series of processing on a semiconductor wafer, a glass substrate or the like are assembled. 2. Description of the Related Art Many steps are required to form an integrated circuit on a semiconductor wafer or to form an element such as a TFT on a glass substrate. For example, examples of steps for forming an excimer resist film on a substrate surface include dehydration bake, BARC (bottom anti-reflection coating) application, bake, resist pretreatment, resist application, pre-bake, exposure, and post-exposure bake. (PE
B), development and post-baking steps. In order to continuously perform the above-described steps, conventionally, apparatuses for performing the respective steps are horizontally separated from each other and are arranged in a line shape in the order of the steps. The shape of the line is not limited to a straight line, but may be L-shaped or rectangular according to the shape of the factory. [0004] As described above, conventional processing apparatuses for semiconductor wafers, glass substrates, and the like have a large number of occupied areas because the equipment is continuous in the lateral direction. Further, in the case of a conventional processing apparatus, when a process is omitted or a new process is added, it is difficult to remove a part of the processing device or to connect another device to an existing device. . [0005] In order to solve the above-mentioned problems, a processing apparatus construct according to the present invention is provided with a series of processing units, and the processing units comprise a pair of processing blocks,
A transfer robot disposed between the pair of processing blocks, wherein the processing block is formed by stacking a plurality of processing apparatuses in a vertical direction, and the transfer robot is configured to position the processing apparatus in each of the stages. An elevating body that can be stopped at, an arm provided on the elevating body for taking in and out a plate-like workpiece to and from the processing apparatus at each stage, and a turning mechanism for turning the arm in a horizontal plane, In the middle part of each of the processing blocks, a transport unit for transferring a plate-like workpiece to and from an adjacent processing unit is incorporated. In the present invention, as described above, one robot is provided for each processing unit. As described above, since one robot is provided for each processing unit, even if a large number of processing units (stations) are adjacent to each other, the load on the robot is not affected and the throughput is not reduced. Further, since the robot does not move between the processing units, but only moves up and down and expands and contracts the arm,
The mechanism is simplified. Even if the robot does not move between the processing units, a transfer device such as a shuttle conveyor for transferring the plate-like workpiece is provided in a part of the processing block. Therefore, the transfer device has a buffer mechanism. Thus, only the processing in the processing unit is limited, and there is no restriction on the throughput between the adjacent processing units. That is, it is not affected by the adjacent processing unit. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Here, FIG. 1 is an overall perspective view showing an example of a processing apparatus construct according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of the processing apparatus construct, and FIG. 3 is a processing unit constituting a part of the processing apparatus construct. FIG. 4 is a cross-sectional view of the lower part of the transfer robot. The processing apparatus construct 1 includes a plurality of processing units 2
Are connected in the horizontal direction, and the processing units 2 are independent of each other so that the processing units 2 can be increased or decreased. A transfer section 3 is provided at the middle stage of each processing unit 2 so that a plate-like workpiece such as a semiconductor wafer or a glass substrate can be transferred between adjacent processing units 2. A transfer device such as a shuttle conveyor (SH) provided in the section 3 enables a plate-like workpiece to be transferred between adjacent processing units. Note that a mechanism for aligning the plate-like workpiece is provided in the transport unit 3. The processing unit 2 includes processing blocks 4 and 4
And a transfer robot (R) disposed between the processing blocks 4 and 4. The processing block includes, for example, a rotary cup type coating device (RC), an open cup type coating device (SC), and a reduced pressure dryer. (VD), cool plate (CP), hot plate (HP), back surface cleaning device (BR), adhesion device (AD), ultraviolet irradiation device (UV), air processor (AP), developing device (D
EV) and a processing device such as a post-exposure bake device (PB). In the case of the present embodiment, the transport unit 3 is disposed in the middle part of each device as described above. Each of the above-mentioned processing units has the same vertical dimension and horizontal dimension, and forms one rectangular parallelepiped when stacked in stages. still,
The thickness (vertical dimension) of the processing device differs for each processing device. In addition, an interface unit 5 and an exposure device 6 into which an object to be processed is sent via the interface unit 5 are arranged on one side of the processing apparatus construct 1. Further, the transfer robot (R) includes an elevating body 10 that can be stopped at the position of the processing device of each processing block, and the elevating body 10 for moving a plate-like workpiece into and out of the processing device of each stage. And arms 11 and 11 provided in the arm. The arms 11, 11 are cylinder units 1
2 and 12 extend and contract in opposite directions, and the end thereof is provided with a hand 13 for holding the periphery of the plate-like workpiece. The elevating body 10 is engaged with guide rods 16, 16 provided between the top plate 14 and the bottom plate 15, and can be moved up and down by a chain 18 driven by a motor 17 provided on the bottom plate 15. Have been. The bottom plate 15 is rotatable by 180 ° in a horizontal plane by another motor 19, and the positions of the arms 11, 11 are switched by this rotation. The lower structure of the transfer robot (R) is housed in a box 20, as shown in FIG.
2, divided into an intermediate space 23 and a lower space 24, air is introduced from the intermediate space 23, fine dust attached to the chain 18 is collected from the upper space 22 or the lower space 24, and a plurality of processing devices are stacked. Do not take garbage into places where they are located. Next, a specific example of the configuration of the processing apparatus construct will be described with reference to FIGS. Here, FIG.
FIG. 6 is a front view of the processing unit viewed from the aa direction in FIG. 5, and FIG. 7 is a front view of the processing unit viewed from the bb direction in FIG. FIG. The SOG coating apparatus construction includes an index processing unit 2A and an SOG coating unit 2B. The processing unit 2A for indexing is provided with cassette tables 30... As a substitute for processing blocks on both sides of the transfer robot (R1) so as to be able to move up and down. These cassette tables 30 can be moved up and down independently of the other cassette tables, and the direction of each cassette 31 can be changed by 90 °. The processing unit 2A for the index
First, the cassette table 30 is adjusted to the transfer level of the automatic transfer device in the factory, the cassette 31 is received from the automatic transfer device into the cassette table 30, and the cassette 31 is turned in a direction that the robot (R1) can take out. Then, a plate-like workpiece such as a wafer is taken out of the cassette 31 by the robot (R1). Thereafter, the plate-like workpiece is transferred from the robot (R1) to the transport unit 3, and is sent to the transport unit of the adjacent processing unit 2B by a transport device such as a shuttle (SH) provided in the transport unit 3. The object to be processed, which has been sent to the transport section of the processing unit 2B for applying SOG, is transferred to an ultraviolet irradiation device (UV) by the transfer robot (R2) of the processing unit 2B.
1) and are sequentially sent to the cool plate (CP) to perform pretreatment. Next, the pretreated object is coated with an SOG coating liquid by a rotary coating device (RC1), dried to some extent by a rotary drying device (SD), and backed by an open cup type cleaning device (SC1). Side rinse is performed, and then hot plates (HP1), (HP2),
(HP3) and baked in a cool plate (C
The temperature is adjusted in P). At this time, cool plate (C
The part P) may be replaced with a cooling area (CA). The cooling area (CA) is a place where the temperature is adjusted while the object to be processed is left naturally. The hot plates (HP4), (HP5) and (HP6) have the same function as the hot plates (HP1), (HP2) and (HP3). Thereafter, the transfer robot (R2) and the shuttle (SH1) send the baking furnace to the interface of the baking furnace, and send the baking furnace to the baking furnace via this interface for baking. One baking furnace may be provided for the interface, but two baking furnaces may be provided. After the baking is completed, the object to be processed is returned to the indexing processing unit 2A by the shuttle (SH2) on one side of each of the processing units 2A to 2B, and further stored in a predetermined cassette 31 in the processing unit 2A. Is stored. As described above, according to the present invention,
As a processing unit for performing a series of processes on a plate-like workpiece such as a semiconductor wafer or a glass substrate, and a processing apparatus configured by connecting the processing units in series, basically, a single process is performed in a vertical direction. Since the processing blocks are overlapped, the space can be effectively used. Further, by setting the overall shape of a processing unit formed by stacking a plurality of processing blocks to a predetermined size, the number of processing units can be increased or decreased, and a processing apparatus for performing a series of processing can be easily constructed. . Further, according to the present invention, since one robot is provided for each processing unit, even if a large number of processing units are adjacent to each other, the load on the robot is not affected and the throughput is not reduced. Further, since the robot does not move between the processing units, but only moves up and down and expands and contracts the arm,
Since the mechanism is simplified, and even if the robot does not move between the processing units, a transfer device such as a shuttle conveyor for transferring a plate-like workpiece is provided in a part of the processing block. By providing the device with a buffer mechanism, only the processing in the processing unit is limited, and there is no restriction on the throughput between adjacent processing units.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明に係る処理装置構築体の一例の全体斜視
図 【図2】同処理装置構築体の平面図 【図3】同処理装置構築体の一部を構成する処理ユニッ
トの移し換えロボットの斜視図 【図4】同移し換えロボットの下部の断面図 【図5】SOGの塗布を行う処理装置構築体の展開的平
面図 【図6】図5のa−a方向から見た処理ユニットの正面
図 【図7】図5のb−b方向から見た処理ユニットの正面
図 【符号の説明】 1…処理装置構築体、2,2A,2B…処理ユニット、
3…搬送部、4…処理ブロック、5…インターフェイス
ユニット、6…露光装置、10…昇降体、11…アー
ム、18…チェーン、R,R1,R2…移し換えロボッ
ト、RC…回転カップ式塗布装置、SC…オープンカッ
プ式塗布装置、VD…減圧乾燥器、CP…クールプレー
ト、HP…ホットプレート、UV…紫外線照射装置、S
H…シャトル。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an overall perspective view of an example of a processing apparatus construct according to the present invention. FIG. 2 is a plan view of the processing apparatus construct. FIG. FIG. 4 is a perspective view of a transfer robot of a processing unit to be configured. FIG. 4 is a cross-sectional view of a lower portion of the transfer robot. FIG. 5 is an exploded plan view of a processing apparatus assembly for applying SOG. FIG. FIG. 7 is a front view of the processing unit viewed from the bb direction in FIG. 5 [Description of reference numerals] 1. Processing apparatus construct, 2, 2A, 2B processing unit ,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Convey part, 4 ... Process block, 5 ... Interface unit, 6 ... Exposure apparatus, 10 ... Elevating body, 11 ... Arm, 18 ... Chain, R, R1, R2 ... Transfer robot, RC ... Rotating cup type coating device , SC: open cup type coating device, VD: reduced pressure dryer, CP: cool plate, HP: hot plate, UV: ultraviolet irradiation device, S
H ... Shuttle.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 裕史 岡山県井原市木之子町6186番地 タツモ 株式会社内 (72)発明者 佐藤 泰之 岡山県井原市木之子町6186番地 タツモ 株式会社内 (56)参考文献 特開 平10−284568(JP,A) 特開 平8−46010(JP,A) 特開 平8−162514(JP,A) 特開 平10−12693(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 49/07 H01L 21/027 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Hiroshi Sato 6186 Kinokocho, Ihara-shi, Okayama Prefecture, inside Tatsumo Corporation (72) Inventor Yasuyuki Sato 6186 Kinokocho, Ihara-shi, Okayama Prefecture, inside Tatsumo Corporation (56) References JP-A-10-284568 (JP, A) JP-A-8-46010 (JP, A) JP-A-8-162514 (JP, A) JP-A-10-12693 (JP, A) (58) Survey Field (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/68 B65G 49/07 H01L 21/027

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 半導体ウェーハやガラス基板等の板状被
処理物に対し一連の処理を行う処理装置構築体であっ
て、この処理装置構築体は処理ユニットを連設して構成
され、この処理ユニットは一対の処理ブロックと、この
一対の処理ブロックの間に配置される移し換えロボット
とから構成され、前記処理ブロックは複数の処理装置を
上下方向に段積み重ねてなり、また前記移し換えロボッ
トは前記各段の処理装置の位置で停止可能な昇降体と、
前記各段の処理装置に対し板状被処理物を出し入れすべ
く前記昇降体に設けられたアームと、このアームを水平
面内で旋回せしめる旋回機構とを備え、また前記処理
ブロックの中段部分には隣接する処理ユニットとの間で
の板状被処理物の受け渡しを行う搬送が組み込まれて
いることを特徴とする処理装置構築体。
(57) [Claim 1] A processing apparatus structure for performing a series of processing on a plate-like workpiece such as a semiconductor wafer or a glass substrate, wherein the processing apparatus structure includes a processing unit. The processing unit includes a pair of processing blocks and a transfer robot disposed between the pair of processing blocks. The processing block includes a plurality of processing devices stacked vertically. The transfer robot further comprises an elevating body that can be stopped at the position of the processing device at each stage,
Wherein comprising an arm provided on said elevating body so as to out the plate-like object to be processed to the processing unit of each stage, and a turning mechanism which allowed to pivot the arm in a horizontal plane, also the middle portions of the respective processing blocks A processing apparatus construct, wherein a transport unit for transferring a plate-like workpiece to and from an adjacent processing unit is incorporated.
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