KR100472729B1 - Data output buffer - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 메모리장치의 데이터 출력버퍼에 관한 것으로, 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼는, 출력인에이블신호와 독출 데이터신호를 입력하여 출력노드에 실리는 전압레벨을 결정하는 구동부와, 상기 구동부의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀업하는 풀업트랜지스터와, 상기 구동부의 풀다운제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀다운하는 풀다운트랜지스터를 가지는 데이터 출력버퍼에 있어서, 상기 구동부의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀업하는 제2풀업트랜지스터와, 상기 출력노드에 연결되어 기준전압을 출력하는 풀업전류 제어수단과, 상기 풀업제어신호가 상기 제2풀업트랜지스터로 입력되는 경로상에 형성되고 상기 기준전압의 입력에 응답하여 동작하는 스위칭수단과, 상기 스위칭수단과 상기 제2풀업트랜지스터사이에 연결되고 상기 기준전압의 입력에 응답하여 상기 제2풀업트랜지스터의 채널전류를 클램프시키도록 조절하는 클램프수단을 구비하여, 피크전류를 감소시키고 스피드를 고속화하는 효과가 있다.The present invention relates to a data output buffer of a semiconductor memory device. The data output buffer according to the present invention includes a driver for inputting an output enable signal and a read data signal to determine a voltage level on an output node; A data output buffer having a pull-up transistor for inputting a pull-up control signal to pull up the output node, and a pull-down transistor for inputting a pull-down control signal of the driver to pull-down the output node. A second pull-up transistor for pulling up the output node, a pull-up current control means connected to the output node to output a reference voltage, and a pull-up control signal formed on a path through which the pull-up control signal is input to the second pull-up transistor and Switching means operative in response to an input of the switching means and the second pool; There is an effect that connection between the transistor and having a clamp means for controlling so that in response to input of the reference voltage clamp the channel current of the second pull-up transistor, reducing the peak current and speeding up the speed.
Description
본 발명은 반도체 메모리장치(Semiconductor Memory Device)의 데이터 출력버퍼(Data Output Buffer)에 관한 것으로, 특히 피크전류(peak current) 발생을 억제하면서 고속 동작을 수행하도록 한 데이터 출력버퍼에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a data output buffer of a semiconductor memory device, and more particularly, to a data output buffer capable of performing a high speed operation while suppressing peak current.
데이터 출력버퍼라 함은 반도체 메모리장치 또는 기타 집적회로 등에 있어서 소자 내부의 신호를 외부로 출력하는 버퍼를 말한다. 따라서 이 데이터 출력버퍼는 내부로부터 전달되어 온 신호를 크게 구동하여 외부로 출력하도록 하는 기능을 제대로 수행하여야 하는 주된 역할을 담당하여야 한다.The data output buffer refers to a buffer that outputs a signal inside an element to an external device in a semiconductor memory device or other integrated circuit. Therefore, this data output buffer should play the main role to properly perform the function to drive the signal transmitted from the inside to the outside.
도1은 종래기술에 의한 데이터 출력버퍼의 구조를 나타내고 있다. 도1의 구성은, 출력인에이블신호 poe와 센스앰프로부터 독출된 데이터인 sa를 입력하여 출력노드(14)에 실리는 전압레벨을 결정하는 구동부(100)와, 상기 구동부(100)의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)에 논리 "하이(high)"신호를 출력하는 풀업(pull-up)트랜지스터(P1)와, 상기 구동부(100)의 풀다운제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)에 논리 "로우(low)"신호를 출력하는 풀다운(pull-down)트랜지스터(N1)와, 상기 구동부(100)의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)에 논리 "하이(high)"신호를 출력하는 제2풀업트랜지스터(P2)가 주요 구성을 이루고 있다. 그리고 도1에서 출력노드(14)에는 출력신호 dout1을 안정화시키기 위한 저항(R1, R2)과 캐패시터(C), 그리고 클램프(clamp)용 피모스(P3) 및 엔모스(N2) 트랜지스터가 연결되어 있다. 또한 구동부(100)는 4개의 인버터(2,4,8,12)와 노어게이트(6) 및 낸드게이트(10)으로 구현되어 있는바, 이는 다른 논리 구성을 가질 수도 있다.1 shows the structure of a data output buffer according to the prior art. The configuration of FIG. 1 includes a driver 100 for determining the voltage level on the output node 14 by inputting the output enable signal poe and data read from the sense amplifier, and pull-up control of the driver 100. A pull-up transistor P1 for inputting a signal to output a logic “high” signal to the output node 14 and a pull-down control signal of the driver 100 to input the output node (P1). A pull-down transistor N1 for outputting a logic "low" signal to the output signal 14 and a pull-up control signal of the driver 100, and a logic " high " The second pull-up transistor P2 for outputting the " " 1, resistors R1 and R2, capacitor C, PMOS P3 and NMOS transistors for stabilizing the output signal dout1 are connected to the output node 14. have. In addition, the driving unit 100 is implemented with four inverters 2, 4, 8, and 12, the NOR gate 6, and the NAND gate 10, which may have different logic configurations.
도1에서의 동작특성을 살피면, 먼저 출력인에이블신호 poe가 인에이블되고 센스앰프로부터 독출된 데이터인 sa가 논리 하이(high)로 입력되면 구동부(100)의 출력신호는 논리 로우(low)가 된다. 그래서 제1풀업트랜지스터(P1) 및 제2풀업트랜지스터(P2)가 온(on)되고(이때는 풀다운트랜지스터(N1)는 오프(off)상태임) 출력노드(14)에는 논리 하이(high)레벨의 신호가 출력된다. 다음으로 출력인에이블신호 poe가 인에이블되고 센스앰프로부터 독출된 데이터인 sa가 논리 로우로 입력되면 구동부(100)의 출력신호는 논리 하이가 된다. 그래서 제1풀업트랜지스터(P1) 및 제2풀업트랜지스터(P2)가 오프되고 풀다운트랜지스터(N1)는 온되어 출력노드(14)에는 논리 로우레벨의 신호가 출력된다.Referring to the operation characteristic of FIG. 1, when the output enable signal poe is first enabled and sa, which is data read from the sense amplifier, is input to a logic high, the output signal of the driver 100 is a logic low. do. Thus, the first pull-up transistor P1 and the second pull-up transistor P2 are turned on (in this case, the pull-down transistor N1 is off) and the output node 14 has a logic high level. The signal is output. Next, when the output enable signal poe is enabled and sa, which is data read from the sense amplifier, is input to the logic low, the output signal of the driver 100 becomes logic high. Thus, the first pull-up transistor P1 and the second pull-up transistor P2 are turned off, the pull-down transistor N1 is turned on, and a logic low level signal is output to the output node 14.
그러나 도1과 같은 종래의 데이터 출력버퍼는 다음과 같은 문제점이 있어 왔다. 즉, 도1과 같은 데이터 출력버퍼의 구성에서는 고속동작을 위해서 제1 및 제2풀업트랜지스터(P1),(P2)와 풀다운트랜지스터(N1)는 사이즈(size)가 크게 되는데, 이들 제1 및 제2풀업트랜지스터(P1),(P2)가 동작하면서 피크전류(peak current)가 발생하면서 동시에 전체 소비전류를 증가시켜 노이즈(noise)가 발생할 우려가 있다. 그래서 특히 높은 고전압하에서의 동작을 억제시키게 되며, 또한 노이즈를 감소시키기 위해 제1 및 제2풀업트랜지스터(P1),(P2)와 풀다운트랜지스터(N1)는 사이즈를 작게 하는데, 이렇게 되면 스피드(speed)가 저하되는 문제점이 있어 왔다.However, the conventional data output buffer as shown in FIG. 1 has the following problems. That is, in the configuration of the data output buffer as shown in FIG. 1, the first and second pull-up transistors P1 and P2 and the pull-down transistor N1 have a large size for high speed operation. 2 As the pull-up transistors P1 and P2 operate, a peak current may be generated and noise may be generated by increasing the total current consumption. Therefore, the first and second pull-up transistors P1, P2 and pull-down transistor N1 are made smaller in size, in order to suppress operation under particularly high high voltage, and to reduce noise. There has been a problem of deterioration.
따라서 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 피크전류의 발생을 방지시키면서 전체 소비전류를 줄인 데이터 출력버퍼를 제공함을 그 목적으로 한다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a data output buffer which reduces the total current consumption while preventing the generation of peak current.
또한 본 발명의 다른 목적은 노이즈 발생을 억제하면서 스피드 저하를 방지하는 데이터출력버퍼를 제공함에 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a data output buffer for preventing the speed decrease while suppressing the generation of noise.
상기 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼는, 출력인에이블신호와 독출 데이터신호를 입력하여 출력노드에 실리는 전압레벨을 결정하는 구동부와, 상기 구동부의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀업하는 풀업트랜지스터와, 상기 구동부의 풀다운제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀다운하는 풀다운트랜지스터를 가지는 데이터 출력버퍼에 있어서, 상기 구동부의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드를 풀업하는 제2풀업트랜지스터와, 상기 출력노드에 연결되어 기준전압을 출력하는 풀업전류 제어부과, 상기 풀업제어신호가 상기 제2풀업트랜지스터로 입력되는 경로상에 형성되고 상기 기준전압의 입력에 응답하여 동작하는 스위칭부과, 상기 스위칭부과 상기 제2풀업트랜지스터사이에 연결되고 상기 기준전압의 입력에 응답하여 상기 제2풀업트랜지스터의 채널전류를 클램프시키도록 조절하는 클램프부을 구비함을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, a data output buffer includes a driver configured to input an output enable signal and a read data signal to determine a voltage level on an output node, and to input the pull-up control signal of the driver to output the output signal. A data output buffer having a pull-up transistor for pulling up a node and a pull-down transistor for pulling down the output node by inputting a pull-down control signal of the driver; A pull-up transistor, a pull-up current controller connected to the output node to output a reference voltage, a switching unit formed on a path through which the pull-up control signal is input to the second pull-up transistor and operating in response to the input of the reference voltage; A reference charge connected between the switching unit and the second pull-up transistor; And a clamp unit configured to clamp the channel current of the second pull-up transistor in response to the input of the voltage.
상기 풀업전류 제어부은 상기 풀업제어신호에 의해 구동되고 상기 출력노드를 통해 공급되는 전압 레벨에 응답된 기준전압을 출력하도록 구성됨을 특징으로 한다.The pull-up current controller is configured to output a reference voltage driven by the pull-up control signal and in response to a voltage level supplied through the output node.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 도면에서 종래기술과 동일한 구성요소에 대하여는 동일한 도면 부호를 인용하였다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. do. In the drawings, the same reference numerals are used for the same components as in the prior art.
도2는 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼의 실시 회로도이다.2 is an exemplary circuit diagram of a data output buffer according to the present invention.
도2는, 출력인에이블신호 poe와 센스앰프로부터 독출된 데이터 sa를 입력하여 출력노드(14)에 실리는 전압레벨을 결정하는 구동부(100)와, 상기 구동부(100)의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)를 풀업(pull-up)하는 풀업트랜지스터(P11)와, 상기 구동부(100)의 풀다운제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)를 풀다운(pull-down)하는 풀다운트랜지스터(N11)와, 상기 구동부(100)의 풀업제어신호를 입력하여 상기 출력노드(14)를 풀업하는 제2풀업트랜지스터(P12)와, 상기 출력노드(14)에 연결되어 기준전압 vref, vrefb를 출력하는 풀업전류 제어부(200)과, 상기 풀업제어신호가 상기 제2풀업트랜지스터(P12)로 입력되는 경로상에 형성되고 상기 기준전압 vref, vrefb의 입력에 응답하여 동작하는 스위칭부으로서의 제1패스게이트(pass1)(이는 트랜스미션(transmission)게이트라고도 함)와, 상기 제1패스게이트(pass1)와 상기 제2풀업트랜지스터(P12)사이에 연결되고 상기 기준전압 vrefb의 입력에 응답하여 상기 제2풀업트랜지스터(P12)의 채널(channel)전류를 클램프(clamp)시키도록 조절하는 클램프부으로서의 피모스트랜지스터(P13)이 주요 구성을 이루고 있다.2 shows a driver 100 for inputting the output enable signal poe and data sa read out from the sense amplifier to determine a voltage level on the output node 14, and a pull-up control signal of the driver 100. A pull-up transistor P11 for pulling up the output node 14 and a pull-down transistor for pulling down the output node 14 by inputting a pull-down control signal of the driving unit 100. (N11), a second pull-up transistor P12 for pulling up the output node 14 by inputting a pull-up control signal of the driving unit 100, and connected to the output node 14 to receive reference voltages vref and vrefb. A first pass as a switching unit configured to output a pull-up current controller 200 and the pull-up control signal to be input to the second pull-up transistor P12 and operate in response to input of the reference voltages vref and vrefb. Gate pass1 (which is called a transmission gate) And a channel current of the second pull-up transistor P12 connected between the first passgate pass1 and the second pull-up transistor P12 in response to an input of the reference voltage vrefb. PIM transistor P13 as a clamp part which is adjusted to clamp is the main structure.
도2에서 구동부(100)와 제1풀업트랜지스터(P11)와 풀다운트랜지스터(N11), 그리고 출력노드(14)에 연결된 저항(R1, R2)과 캐패시터(C), 그리고 클램프(clamp)용 피모스(P14) 및 엔모스(N12) 트랜지스터는 전술한 도1의 구성과 동일한 구성으로 실시되었다.In FIG. 2, resistors R1 and R2, capacitors C, and clamps connected to the driving unit 100, the first pull-up transistor P11, the pull-down transistor N11, and the output node 14 are shown. The P14 and NMOS transistors N12 were implemented in the same configuration as that in FIG.
도2에서 풀업전류 제어부(200)은 상기 풀업제어신호에 의해 구동되고 상기 출력노드(14)를 통해 공급되는 전압 레벨에 응답된 기준전압 vref, vrefb를 출력하도록 구성되었다. 즉, 전원전압단에 연결되고 상기 풀업제어신호에 응답하여 전압을 기준노드(22)로 전달하는 피모스트랜지스터(P15)와, 상기 출력노드(14)와 기준노드(22)사이에 연결되고 상기 풀업제어신호에 응답하여 동작하는 제2패스게이트(pass2)와, 상기 기준노드(22)에 연결되고 상기 기준노드(22)에 유입되는 전압 레벨에 응답된 상기 기준전압 vref, vrefb를 출력하는 기준전압발생부(200A)로 구성되었다. 상기 기준전압발생부(200A)은, 상기 기준노드(22)에 소오스(source)가 연결되고 상기 풀업제어신호를 게이트입력하는 피모스트랜지스터(P16)과, 상기 피모스트랜지스터(P16)에 직렬연결되고 게이트(gate)와 드레인(drain)이 공통 접속된 피모스트랜지스터(P17)과, 상기 피모스트랜지스터(P17)과 접지전압단 사이에 연결된 저항(R3)와, 상기 피모스트랜지스터(P17)와 저항(R3) 사이의 공통단자에 입력부가 연결된 인버터(16)과, 상기 인버터(16)에 직렬연결되고 기준전압 vref를 출력하는 인버터(18)과, 상기 인버터(18)에 직렬연결되고 기준전압 vrefb를 출력하는 인버터(20)으로 실시 구성되었다. 여기서 상기 기준전압발생부(200A)의 출력신호인 기준전압 vref 및 vrefb는 상기 기준전압발생부(200A)을 구성하는 각 트랜지스터들의 사이즈 및 임계전압(threshold voltage)값 그리고 저항값에 따라 그 스위칭 시점을 조절 가능하다. In FIG. 2, the pull-up current controller 200 is configured to output the reference voltages vref and vrefb driven by the pull-up control signal and responsive to the voltage level supplied through the output node 14. That is, the PMOS transistor P15 is connected to a power supply voltage terminal and transmits a voltage to the reference node 22 in response to the pull-up control signal, and is connected between the output node 14 and the reference node 22. A second pass gate pass2 operating in response to a pull-up control signal, and a reference connected to the reference node 22 and outputting the reference voltages vref and vrefb in response to a voltage level flowing into the reference node 22. It consists of a voltage generator 200A. The reference voltage generator 200A has a source connected to the reference node 22 and a PMO transistor P16 for gate-input the pull-up control signal, and a PMO transistor P16 connected in series. And a PMOS transistor P17 having a gate and a drain connected to each other, a resistor R3 connected between the PMOS transistor P17 and a ground voltage terminal, and a PMOS transistor P17. An inverter 16 having an input connected to a common terminal between the resistors R3, an inverter 18 connected in series with the inverter 16 and outputting a reference voltage vref, and a series voltage connected in series with the inverter 18. It was implemented by the inverter 20 which outputs vrefb. Here, the reference voltages vref and vrefb, which are output signals of the reference voltage generator 200A, are switched according to sizes, threshold voltage values, and resistance values of the transistors constituting the reference voltage generator 200A. Is adjustable.
도2에 따른 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼의 동작을 설명하겠다.The operation of the data output buffer according to the present invention according to FIG. 2 will be described.
먼저, 출력인에이블신호 poe가 논리 로우(low)일 때에는 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼는 전술한 도1의 종래의 데이터 출력버퍼와 동일한 동작을 수행한다.First, when the output enable signal poe is logic low, the data output buffer according to the present invention performs the same operation as the conventional data output buffer of FIG.
출력인에이블신호 poe가 논리 하이(high)이면,(이때 센스앰프로부터 독출된 데이터인 sa는 논리 하이로 가정함) 구동부(100)를 통해 논리 로우가 되면서 제1 및 제2패스게이트(pass1)(pass2)는 온(on)된다. 이때 출력노드(14)를 통한 출력신호 dout2가 논리 하이레벨로 된다. 여기서 기준전압발생부(200A)을 구성하는 각 트랜지스터들의 사이즈 및 임계전압(threshold voltage)값 그리고 저항값에 의해 기준전압 vref는 논리 로우에서 하이로, 그리고 기준전압 vrefb는 논리 하이에서 논리 로우로 스위칭(switching)된다. 그래서 제1패스게이트(pass1)은 오프(off)되고 동시에 제2풀업트랜지스터(P12)도 오프된다. 그러면서 처음 동작시 풀업동작은 제1 및 제2풀업트랜지스터(P11)(P12)를 통해 수행되던 것이 제1풀업트랜지스터(P11)만에 의해 수행하게 된다. 그래서 이전보다 낮은 출력을 발생하게 된다. 그래서 풀업동작을 위해 소비되는 전류량이 감소하게 된다.If the output enable signal poe is logical high (assuming that sa, which is data read from the sense amplifier, is logical high), the output enable signal poe is logic low through the driving unit 100 and the first and second passgates pass1. (pass2) is on. At this time, the output signal dout2 through the output node 14 becomes a logic high level. Here, the reference voltage vref is switched from logic low to high, and the reference voltage vrefb is switched from logic high to logic low by the size, threshold voltage value, and resistance value of each transistor constituting the reference voltage generator 200A. (switching) Thus, the first pass gate pass1 is turned off and at the same time, the second pull-up transistor P12 is also turned off. In the first operation, the pull-up operation is performed by the first and second pull-up transistors P11 and P12 only by the first pull-up transistor P11. This results in lower output than before. Thus, the amount of current consumed for the pullup operation is reduced.
또한 출력노드(14)를 통한 출력신호 dout2가 논리 로우로 되도록 풀다운트랜지스터(N11)이 동작할 시에, 도1보다도 낮은 전압레벨에서 풀다운이 발생하므로 이때 소모되는 전류량도 감소하게 되고 동시에 피크성 전류의 발생을 방지하게 된다. 그리고 동시에 풀다운과정이 고속화될 수 있음에 의해 스피드도 빨라지게 된다.In addition, when the pull-down transistor N11 operates so that the output signal dout2 through the output node 14 becomes a logic low, pulldown occurs at a voltage level lower than that of FIG. Will be prevented. At the same time, the pulldown process can be speeded up, thereby increasing the speed.
도3은 종래기술에 대비되는 본 발명의 전압 파형도이고, 도4는 종래기술에 대비되는 본 발명의 전류파형도이다. 그리고 도5는 종래기술에 대비되는 본 발명의 소비전류 테이블을 보여주고 있다. 도시된 파형특성에 나타나는 바와 같이, 그 소비전류의 양이 감소한 것이 확인된다. 도면에서 vcur1은 P1에 흐르는 커런트를, vcur2는 P11에 흐르는 커런트를, mxn503은 N1에 흐르는 커런트를, mxn621은 N11에 흐르는 커런트를 각각 나타낸다.Figure 3 is a voltage waveform diagram of the present invention as compared to the prior art, Figure 4 is a current waveform diagram of the present invention compared to the prior art. 5 shows a current consumption table of the present invention as compared to the prior art. As shown in the waveform characteristics shown, it is confirmed that the amount of current consumption is reduced. In the figure, vcur1 represents a current flowing through P1, vcur2 represents a current flowing through P11, mxn503 represents a current flowing through N1, and mxn621 represents a current flowing through N11.
상술한 내용은 본 발명의 실시예에 관하여 설명이 이루어졌지만, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위내에서 다양한 실시가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the foregoing has been described with respect to embodiments of the present invention, those skilled in the art will understand that various implementations are possible within the scope of the technical idea of the present invention.
예컨대 데이터 출력버퍼의 구동부 및 출력단의 구조는 도1의 구조를 예로 들었지만 이는 얼마든지 달라질 수 있다. 또한 풀업전류 제어부은 그 논리구성을 고려하여 다르게 설계될 수도 있다.For example, the structure of the driving unit and the output terminal of the data output buffer has the structure of FIG. 1 as an example, but this may vary. In addition, the pull-up current controller may be designed differently in consideration of its logic configuration.
상술한 바와 같이 본 발명은, 데이터 출력버퍼가 풀업 동작시 소비되는 전류량을 감소시키는 효과가 있다. 또한 데이터 출력버퍼가 풀다운 동작시 전류소비를 줄이면서 고속동작을 구현할 수 있다.As described above, the present invention has the effect of reducing the amount of current consumed during the pull-up operation of the data output buffer. In addition, the data output buffer can achieve high-speed operation while reducing current consumption during pull-down operation.
도1은 종래기술에 의한 데이터 출력버퍼 회로도.1 is a data output buffer circuit diagram according to the prior art.
도2는 본 발명에 의한 데이터 출력버퍼 회로도.2 is a data output buffer circuit diagram according to the present invention.
도3은 종래기술에 대비되는 본 발명의 전압 파형도.Figure 3 is a voltage waveform diagram of the present invention compared to the prior art.
도4는 종래기술에 대비되는 본 발명의 전류파형도.Figure 4 is a current waveform diagram of the present invention compared to the prior art.
도5는 종래기술에 대비되는 본 발명의 소비전류 테이블.5 is a current consumption table of the present invention compared to the prior art.
* 도면의 주요 부호에 대한 설명* Description of the main symbols in the drawing
P1,P2,P11,P12: 풀업 트랜지스터P1, P2, P11, P12: Pullup Transistors
N1,N11: 풀다운 트랜지스터 N1, N11: pull-down transistor
pass1,pass2: 패스게이트pass1, pass2: passgate
100: 구동부100: drive unit
200: 풀업전류 제어부200: pull-up current control unit
200A: 기준전압 발생부200A: reference voltage generator
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980054490A (en) * | 1996-12-27 | 1998-09-25 | 김영환 | Output Buffer Circuit for Noise Reduction |
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KR19990046869A (en) * | 1997-12-01 | 1999-07-05 | 김영환 | Output buffer of semiconductor memory device |
KR20000019453A (en) * | 1998-09-11 | 2000-04-15 | 김영환 | Output buffer of semiconductor memory device |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980054490A (en) * | 1996-12-27 | 1998-09-25 | 김영환 | Output Buffer Circuit for Noise Reduction |
KR19980057056A (en) * | 1996-12-30 | 1998-09-25 | 김영환 | High Speed Output Buffer Circuit |
KR19980076176A (en) * | 1997-04-07 | 1998-11-16 | 문정환 | Data output buffer circuit |
KR19990046869A (en) * | 1997-12-01 | 1999-07-05 | 김영환 | Output buffer of semiconductor memory device |
KR20000019453A (en) * | 1998-09-11 | 2000-04-15 | 김영환 | Output buffer of semiconductor memory device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108305647A (en) * | 2017-01-11 | 2018-07-20 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | The reading circuit of output driver and memory |
CN108305647B (en) * | 2017-01-11 | 2020-09-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | Output driver and read circuit of memory |
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