KR100371262B1 - 자동 조절기능을 갖는 광학식 종잇장 확인 장치 - Google Patents

Abstract

종잇장의 광학적 특성을 검출하기 위하여 종잇장을 투과한 혹은 종잇장으로부터 반사된 광을 양적으로 검출하는데 있어서, 광학식 종잇장 확인장치는 안정성 및 최적의 정확성으로서 검출 동작한다. 광학식 종잇장 확인장치는 종잇장의 패턴을 광학적으로 검출하여 얻어진 신호를 출력하고, 발광 부재 및 수광 부재를 포함하는 다수의 광 센서; 제어신호에 따라 다수의 광 센서의 발광 부재에 전류를 공급하는 구동장치; 및 종잇장이 소정의 위치에 있지 않는 동안, (a) 상기 발광 부재에 소정의 값의 최대 전류를 공급하고, 그 후 공급 전류를 감소시키기 위해 상기 구동장치에 제어신호를 공급하고, (b) 상기 다수의 광 센서의 각각에 대한 최적의 값, 즉 상기 수광 부재의 출력 전압이 최대 전류에서의 값에 비례하여 소정의 값만큼 변화하였을 때의 공급 전류 값인 최적의 값을 결정 및 저장하고, (c) 상기 종잇장이 소정의 위치에 있을 때, 저장된 상기 최적의 값의 각각에 근거하여 상기 구동장치에 상기 제어신호를 공급하고, 및 (d) 상기 광 센서로부터 검출된 신호를 선택적으로 추출하고 상기 종잇장의 패턴을 의미하는 검출된 데이터를 출력하는 제어장치를 포함한다.

Description

자동 조절기능을 갖는 광학식 종잇장 확인 장치{OPTICAL PAPER SHEET CHECKING APPARATUS HAVING AN AUTOMATIC ADJUSTMENT FUNCTION}

본 발명은 지폐(bank note)와 같은 종잇장을 광학적으로 확인하는 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 본 발명은 다수의 광 센서를 사용하여 투과광 및 반사광을 검출하여 이 검출된 출력사항에 근거하여 확인과정을 수행하는 장치에 관한것이다.

예를 들면, 지폐와 같은 종잇장을 광학적으로 확인하는데 있어서, 확인 과정은 종이 표면에 인쇄된 패턴이 정확한 것인지를 판별하기 위해 수행된다. 많은 경우, 종잇장은 다수의 구성요소를 사용하여 확인된다. 이러한 구성요소의 출력결과는 항상 동일해야만 한다.

출력결과를 항상 동일하게 만드는 통상적인 방법은 광 센서의 구성요소에 있는 각각의 검출 회로에 체적(volume)을 부여하고, 각각의 체적을 조절하여 모든 구성요소의 검출 레벨을 일치시키는 것이다.

그러나, 구성요소가 많을 경우에는 조절이 아주 복잡하다.

예를 들면 일본 특허 출원 번호 제 61-4819 호에 개시된 또 다른 종래 기술에서는, 매질(medium)이 존재하는가의 여부를 판단하기 위하여 광 센서의 민감도가 초기 단계에서 설정된다.

그러나, 이 광 센서는 매질이 존재하는가의 여부만 판단할 뿐이다. 종잇장에 응용되었을 때, 이 광 센서는 검출을 위한 2종류의 값을 갖는 신호를 생성할 뿐, 측정 신호를 생성하지 못한다.

본 발명은 상술한 점을 고려하여 안출된 것으로서, 종잇장의 광학적 특성을 검출하기 위하여 종잇장을 투과한 혹은 종잇장으로부터 반사된 광을 안정성 및 최적의 정확성으로 측정할 수 있는 광학식 종잇장 검출 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 광학식 종잇장 확인 장치는 광학적으로 종잇장의 패턴을 검출하여 얻어진 신호를 출력하고, 발광부재 및 수광 부재를 구비한 다수의 광 센서; 제어 신호에 따라 상기 다수의 광 센서에 있는 발광 부재에 전류를 공급하는 구동 장치; 및 제어 장치를 포함한다. 상기 종잇장이 소정의 위치에 있지 않은 동안, 상기 제어 장치는 상기 발광 부재에 소정의 값의 최대 전류를 공급한다. 그 후, 상기 제어 장치는 전류 공급을 감소시키기 위하여 제어신호를 상기 구동 장치에 제공하고, 상기 다수의 광 센서의 각각에 대한 최적의 값을 판단하여 저장한다. 상기 최적의 값은 상기 수광 부재의 출력 전압이 상기 최대 전류에서의 전압값에 비례하는 소정의 값만큼 변화되었을 때의 공급 전류의 값으로 간주된다. 상기 종잇장이 소정의 위치에 있으면, 상기 제어 장치는 저장된 상기 최적의 값 각각에 근거하여 상기 구동 장치에 제어 신호를 공급하고, 상기 광 센서로부터 검출된 신호를 선택적으로 추출하고, 상기 종잇장의 상기 패턴을 의미하는 검출 데이터를 출력한다.

도 1은 본 발명이 적용된 투과광학식 종잇장 확인 장치의 회로 구성의 일 예를 도시하고 있는 다이어그램.

도 2는 본 발명에서 광 센서의 대기시간을 조절하기 위하여 검출 회로(DC)에 의해 수행되는 전류 공급방법을 보여주는 시간표.

도 3은 본 발명에 따른 종잇장 확인 장치의 동작을 보여주는 주 흐름도.

도 4는 도 3의 단계(S102)에서 도시된 대기상태에서의 동작 내용을 보여주는 흐름도 및

도 5는 도 3의 단계(109)에서 확인 장치의 모터 펄스에 의해 수행되는 인터럽트를 보여주는 흐름도.

도 1은 본 발명이 적용된 투과광학식 종잇장 확인 장치의 회로 구성의 일 예를 도시하고 있는 다이어그램이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 투과광 방법을 사용하여 가상선으로 표시된 종잇장(X)을 검출하기 위해, 발광 다이오드(L1 내지 L3) 및 수광 다이오드(P1 내지 P3)가 종잇장(X)이 통과하는 통로에 혹은 종잇장(X)의 지정된 위치에 제공된다.

예를 들면, 종잇장 확인 장치의 경우에, 종잇장이 그 내로 삽입되는틈새(gap) 근처의 종잇장 이송 통로 상의 이송 벨트 사이에 발광 다이오드(L1 내지 L3)가 하나의 열로 배치된다. 따라서, 투과광은 종잇장의 폭에 평행한 3지점에서 검출될 수 있다. 트랜지스터(Tr)는 단일 구동 요소를 포함하여 전류를 발광 다이오드(L1 내지 L3)에 공급한다.

발광 다이오드(L1 내지 L3)는 일련의 순서로 함께 연결되며, 그 일 단은 전원 소스(V+)에 저항(R1)을 거쳐 연결되고, 타 단은 트랜지스터(Tr)의 컬렉터 에미터를 통해 접지되어 있다. 저항(R3)에 의해 접지된 트랜지스터(Tr)의 베이스는 단일 칩 마이크로프로세서를 포함하는 검출 회로(DC)의 디지털/아날로그 변환부에 연결되어 있다. 트랜지스터(Tr)로 흐르는 전류는 베이스 전류를 공급함으로써 제어된다. 수광 다이오드(P1 내지 P3)가 발광 다이오드(L1 내지 L3)를 향하도록 제공되어 각각 짝을 형성한다. 종잇장(X)을 투과한 광을 검출한 후 출력 전류가 증폭기(AMP)에 의해 검출 회로(DC)의 아날로그/디지털 변환부로 공급된다. 검출 회로(DC)는 수광 다이오드(P1 내지 P3)로부터의 검출신호를 처리하고, 검출된 신호에 근거하여 발광 다이오드(L1 내지 L3)로 흐르는 전류를 제어하기 위하여 트랜지스터(Tr)를 구동시킨다. 종잇장 삽입 검출 스위치는 검출 회로(DC)에 연결되어, 종잇장이 삽입될 때마다 재 설정되어, 새로운 종잇장을 검출한다.

도 2는 본 발명에서 광 센서, 즉, 발광 다이오드 및 수광 다이오드 쌍을 포함하는 센서의 대기시간을 조절하기 위하여 검출 회로(DC)에 의해 사용되는 전류 통과방법을 보여주는 시간표이다. 본 발명에서, 최대 전류는 먼저 발광 다이오드에 인가되고, 이 때 수광 다이오드에 의해 검출된 전류에 근거하여 생성되는 최대출력 전압 값(즉, 최대 출력 전압)이 측정된다. 그 후, 전류는 단계적으로 감소하고, 수광 다이오드의 출력 전압이 최대 출력 전압 이하의 소정의 값 이상 떨어지게 되는 지점이 최적으로 조절된 상태인 것으로 간주된다. 따라서, 최적으로 조절된 상태에서 발광 다이오드를 통해 흐르는 전류가 검출되어 저장된다. 이 전류가 광 센서의 최적 조절 값이 되고, 이러한 조절은 100ms 간격으로 수행된다.

즉, 검출 회로(DC)는 100ms 간격의 시작(t0)시에 발광 다이오드(L1 내지 L3)에 최대 전류를 인가한다. 최대 전류값은 수광 다이오드(P1 내지 P3)에 의해 검출된 값 보다 약간 높다. 따라서, 시간(t1)에서 발광 다이오드(L1 내지 L3)에 의해 생성된 광을 검출한 후에, 수광 다이오드(P1 내지 P3)는 항상 최대 값을 출력한다. 최대 값은 증폭기(AMP)를 통해 공급되어 검출 회로(DC)에 저장된다.

그 후, 시간(t2)에서, 검출 회로(DC)는 발광 다이오드(L1 내지 L3)를 통해 흐르는 전류를 단계적으로 감소시킨다. 제1 단계에서, 전류는 발광 다이오드의 최대 전류의 1/256, 30mA 만큼 감소된다. 전류는 시간(t3)에서의 또 다른 단계에서 감소된다.

이와 같은 방법으로, 발광 다이오드(L1 내지 L3)로 흐르는 전류를 감소시키면서, 수광 다이오드(P1 내지 P3)의 검출된 출력이 측정된다. 통상, 수광 다이오드(P1 내지 P3)는 서로 다른 특성을 갖게 된다.

따라서, 전류가 처음으로 발광 다이오드(L1 내지 L3)로 흐르면, 모든 수광 다이오드(P1 내지 P3)는 최대값을 출력하지만, 그 출력은 특정의 단계에서 감소되기 시작한다. 수광 다이오드(P1)는 시간(t4) 및 시간(t5) 사이에서 감소되기 시작하며, 수광 다이오드(P3)는 시간(t5) 및 시간(t6) 사이에서 감소되기 시작하며, 그 후, 각각은 한 번에 한 단계씩 감소한다. 수광 다이오드(P1 내지 P3)의 출력이 소정의 값 만큼 감소하였을 때, 즉, 그 출력이 정확하게 전압차(Vd)만큼 감소하였을 때, 대응하는 수광 다이오드는 최적 레벨의 광을 생성하게 될 것이다. 발광 다이오드(L1 내지 L3)를 통해 흐르는 전류는 이 지점에서 그 최적의 값을 갖는다.

광 센서의 출력은 서로 다른 시간에서 감소하기 시작하기 때문에, 수광 다이오드(P1 내지 P3)는 또한 서로 다른 시간에서 최적의 전류를 얻는다. 수광 다이오드(P1)는 시간(t8) 및 시간(t9) 사이에서 최적의 전류를 얻으며, 수광 다이오드(P2)는 시간(t7) 및 시간(t8)사이에서 최적의 전류를 얻고, 수광 다이오드(P3)는 시간(t9)이 지난 후에 최적의 전류를 얻는다. 검출 회로(DC)는 최적의 전류값을 개별적으로 저장한다. 모든 광 센서의 최적의 전류가 검출되면, 검출 회로(DC)는 발광 다이오드(L1 내지 L3)로의 전류를 차단하고, 100ms 후의 새로운 조절을 위해 대기상태로 들어간다.

그 결과, 검출 회로(DC)는 항상 수광 다이오드(P1 내지 P3)의 검출된 특성에 맞추기 위해 발광 다이오드(L1 내지 L3)로 흐르는 전류를 제어한다.

도 3은 본 발명에 따른 종잇장 확인 장치의 동작을 보여주는 흐름도이다. 이 예에서는 지폐가 확인되는 경우를 예시하고 있다. 전원이 켜지면, 단계(S101)에서 초기화가 진행된다. 초기화는 다양한 유형의 플랙과 CPU 포트를 초기화시키는 것, 및 디지털/아날로그 변환기의 센서의 대응하는 값을 최대값으로 저장하는 것을 포함한다.

초기화가 끝나면, 도 2에 설명된 대기상태 조절이 단계(S102)에서 수행된다.(이 동작의 흐름은 도 4를 이용하여 나중에 상세히 설명될 것이다.) 대기상태 조절이 끝나면, 검출 회로(DC)가 정상적으로 동작하는가가 단계(S103)에서 확인된다. 검출 회로(DC)가 불규칙적으로 동작하는 것이 발견되면, 작업순서는 단계(S102)로 복귀하고 대기 상태 조절이 두 번째로 수행된다. 검출회로(Dc)가 정상적으로 작동하는 것으로 확인되면, 작업 순서는 단계(S104)로 바뀐다.

지폐가 검출장치의 입구로 삽입되면, 장치는 대기 상태로부터 작동 상태로 변한다(S104). 단계(S105)에서, 이송모터가 전방으로 회전되어 지폐를 장치로 전달한다. 지폐가 삽입되기 시작할 때, 확인장치는 단계(S106)에서 "상태 = 1"로 변한다. 단계(S107)에서, 아날로그/디지털 변환기의 제로 채널 데이터(0-channel data)가 실질적인 측정치로서 추출된다.

다음, 작업순서는 지폐를 확인한 직후 투과광의 양 측정치(A)가 감소하였는가, 즉, "측정치(A) < Vw(0) × 0.9" 인가를 판단하는 단계(S108)로 바뀐다. Vw는 장치 내에 지폐가 없는 대기상태 동안에 얻어진 측정치이며, 측정치(A)가 대기상태 측정치(Vw)의 90% 이하로 감소하였을 때 지폐가 삽입되어진 것으로 판단된다. 작업순서는 이러한 측정치(A)가 얻어질 때까지 단계(S106)로 반복적으로 복귀한다.

지폐가 삽입된 것으로 판단되면, 단계(S109)에서, 장치는 "상태 = 2"로 바뀌는데, 여기에서 신호는 지폐 전달 모터의 회전과 연동되어 생성된 인터럽트 펄스에 따라 처리된다(이 신호 처리는 도 5에 근거하여 나중에 설명될 것이다.). 이 지점에서, ADR = 0 이고 지폐의 측정 위치는 참조위치 "0"으로 설정된다.

동작여유를 포함하여, 이 처리를 위해 필요한 시간은 2초로 간주되고, 단계(S110)에서, 타이머는 2초로 설정된다. 지폐가 2초 내에 확인되면, 작업순서는 다음 공정으로 바뀐다. 한편, 2초 내에 확인되지 않으면, 에러가 발생한 것으로 간주되고 공정은 취소된다.

단계(S111)에서는 2초가 경과하였나를 판단하고, 단계(S112)에서는 지폐의 특성을 검출하는 데이터 처리가 2초 내에 수행된다. 특성이 검출되면, 확인장치는 단계(S114)에서 "상태 = 0" 으로 설정되어, 확인장치는 지폐의 진위판별을 종료하고 이송 모터를 정지시킨다. 지폐 이송데이터 후처리와 같은 필요한 처리가 수행되는 단계(S115)로 동작이 바뀌고, 확인장치는 단계(S102)의 대기상태로 다시 들어간다.

한편, 타이머가 단계(S111)에서 2초를 초과하면, 지폐가 고착된 것으로 간주되고, 에러 처리가 단계(S113)에서 수행된다. 단계(S114)에서, 장치는 "상태 = 0"으로 설정되고, 모터는 꺼진다. 단계(S115)에서 고착된 지폐를 회수하기 위한 처리 다음으로, 장치는 다시 대기상태로 들어간다.

도 4는 도 3의 단계(S102)에서 도시된 대기상태에서의 동작 내용을 보여주는 흐름도이다. 이 흐름도는 그 구조가 도 1에, 그리고 그 동작이 도 2에 도시되어 있는 확인 장치의 광 센서의 출력 조절을 보여주고 있다.

단계(S201)에서, 장치의 모든 부분은 초기 설정으로 설정된다. 이 것에는 (a)에러 = 0 으로 설정, 즉, 회수 에러 데이터를 지움; (b)N = 센서의 수, 즉, 광 센서의 수로 설정; (c)CNT = 0, 즉, 조절된 센서의 수를 계산하는 카운터를 0 으로설정; (d)FSEN(i) = 0 으로 설정, 즉, 모든 광 센서의 조절 완료 플랙을 0 으로 설정; (e)VSEN = MAXV 로 설정, 즉, 검출 회로(도 1)의 디지털/아날로그 변환기의 출력을 그 최대값, 예를 들면, 8개의 비트(bit)가 있는 경우 "255"로 설정하는 것이 포함된다.

후속 단계(S202)에서, Vout = VSEN, 즉 디지털/아날로그 변환기는 그 최대값을 출력한다. 단계(S203)에서, 특정의 대기시간이 제공된다. 이 것은 디지털/아날로그 변환기의 출력으로부터 발광 다이오드의 광 생성, 수광 다이오드의 수광, 및 수광 다이오드에 의해 수광된 광의 값이 안정된 포화상태(saturation)에 도달할 때까지의 약 20μ초의 시간이 대기시간으로 간주되기 때문이다.

시간이 경과된 후에, 단계(S204)에서, i = 0, 즉 측정될 광 센서가 0번째인 상태가 된다. 단계(S205)로부터 그 이후 공정으로, 각각의 광 센서가 조절된다. 단계(S205)에서, Vin = ADV(i), 즉 광 센서 번호(i)의 출력 전압이 추출된다. 이 경우, "번호(i)"는 번호 0이고, 후속 단계(S206) 내지 단계(S213)에서, 출력 전압은 0번째 광 센서로부터 N번째 광 센서까지 차례대로 추출된다.

단계(S206)에서, FSEN(i) = 0, 즉 센서가 아직 측정되지 않았는지를 판단한다. 센서가 아직 측정되지 않았다면, 단계(S207)에서, 측정 전압(Vin)이 소정의 값(예를 들면 1.5V)보다 큰지를 판단한다. 소정의 값은 정확한 측정을 보장할 수 있게 하는 최소 전압을 의미한다. 측정 전압(Vin)이 소정의 값보다 작으면, 더러움으로 인해 측정이 불가능한 것으로 간주되어 측정하지 않고 단계(S218)로 처리가 이동된다. 그 후, 단계(S219)에서, 발광 다이오드가 광을 생성하는 것을 방지하기위하여 출력(Vout)이 0으로 설정된다.

측정 전압(Vin)이 1.5V 보다 크면, 처리는 디지털/아날로그 변환기의 출력 전압(VSEN)이 256개의 단계의 최대값인 가를 판단하는 단계(S208)로 이동한다. 최대값이면, 그 지점에서 수광된 광의 레벨이 단계(S211)에서 저장된다. 단계(S212)에서, 제1 광 센서로 나아가기 위해 i는 i+1 로 증가된다. 단계(S213)에서, 이 광 센서가 N번째 광 센서가 아닌 것을 확인한 후에, 작업 순서는 단계(S205)로 복귀한다.

단계(S205)로부터 단계(S208)까지의 동작을 반복하면서 측정되는 디지털/아날로그 변환기의 전압(VSEN)이 최대값(MAXV)이 아니면, 단계(S209)에서, 수광된 광의 최대 레벨(SENMAX(i))에서 측정 전압(Vin)을 뺀 값이 0.2V 보다 큰가를 판단한다. 큰 경우에는 조절점에 도달한 것으로 간주하고 처리공정은 단계(S210)로 옮아간다.

단계(S210)에서, 4개의 목록이 설정되는데: (a)SEN(i) = VSEN, 이 것에 의해 디지털/아날로그 변환기의 출력 전압은 광 센서 번호(i)(이 경우, 제1 광 센서)에 대한 최적 전압으로 저장되고; (b)측정 전압을 각 센서의 대기상태 전압(Vw)으로 설정하고; (c)조절될 광 센서를 의미하는 카운터의 계산값(CNT = CNT+1)에 "1"을 더하고; 및 (d)조절된 센서 번호(i)(이 경우, 제1 센서)의 플랙을 "1" 로 설정된다.

상술한 바와 같이, 단계(S212)에서, 다음 광 센서는 i = i+1 로 특정화 된다. 이 것은 N번 째 센서까지 반복된다(S213). 이제 디지털/아날로그 변환기로부터의 최대(VSEN) 출력보다 한 단계 낮은 단계에서의 모든 광 센서의 출력이 확인된다. 그 후, 또 다른 낮은 단계에서의 광 센서의 출력이 확인 된다.

단계(S215)에서, 또 다른 단계에 의해 감소되었을 때 디지털/아날로그 변환기의 출력 전압(VSEN)이 0 이 아니란 것을 확인한다. 단계(S216)에서, 카운터에 의해 계산된 값이 N 에 도달하지 않았다는 것을 확인한다. 그 다음 작업처리는 단계(S202)로 복귀하고 상술한 동작이 반복된다. 이러한 동작에서, 카운터에 의해 계산된 값이 N 에 도달하여 모든 광 센서가 조절되었음을 알리면, 작업처리는 단계(S219)로 이동하여 발광 다이오드로 전원을 공급하지 않으면서 주 공정으로 복귀한다.

또한 디지털/아날로그 변환기로부터 출력된 전압(VSEN)이 0 인 경우에러 처리가 단계(S217)에서 수행된다. 그 후, 작업 처리는 주 공정으로 복귀한다.

도 5는 도 3의 단계(109)에서 확인 장치의 모터 펄스에 의해 수행되는 인터럽트를 보여주는 흐름도이다. 이 흐름도에 도시된 바와 같이, 지폐를 이송하기 위한 모터가 회전되면, 모터와 연동되는 펄스 생성기에 의해 생성된 펄스가 발생할 때 확인장치는 인터럽트를 건다. 인터럽트 펄스는 지폐가 0.2mm 내지 0.5mm 간격으로 이송될 때 마다 생성된다. 이송 모터가 회전하면, 단계(S301)에서, 상태 = 2 인가, 즉 모터 펄스 인터럽트를 수행할 상태인가를 판단한다. 상태가 인터럽트를 수행할 상태인 것으로 확인되면, 식별될 광 센서의 수가 단계(S302)에서 N 으로 설정되고 센서의 수(j)는 0 으로 설정된다.

그 다음, 처리는 단계(S303)으로부터 그 이후의 동작으로 옮아간다.단계(S303)에서, Vout = SEN(j), 즉 디지털/아날로그 변환기는 도 4 에 기술된 바와 같이 대기 상태에 저장된 각 센서의 최적 발광 전류에 대응하는 전압(SEN(j))을 출력한다. 단계(S304)에서, 소정의 대기시간이 수광 다이오드의 수광 레벨이 안정될 때까지 제공된다.

아날로그/디지털 변환기의 광 센서 번호(j)의 측정치(ADV(j))가 측정치(Vin)로서 주어진다. 그 결과, 단계(S306)에서 다음의 계산

VDATA(j, ADR) = Vin * 100/Vw(j)

이 수행되어, 측정치는 유전율(permittivity)로 변환된다. 변환 후에, 유전율은 각 광 센서의 주소에 저장된다.

이 공정에 의해, 예를 들면, 제1 광 센서의 측정 데이터는 유전율 데이터로 저장되고, 측정치는 다음 광 센서로부터 추출된다. 즉, 단계(S307)에서, j는 j+1로 증가되고, 단계(S308)에서, j = N 이 아니라면 후속 제2 광 센서에 대한 측정치가 저장된다.

모든 광 센서의 유전율 데이터가 저장되면, Vout은 단계(S309)에서 0으로 설정되어 발광 다이오드로의 전류는 차단된다. 단계(S310)에서, VDATA(0, ADR) < TLEVEL 인가, 즉 지폐가 최종 위치에 도달하지 않고 측정이 계속되어야 하는 가를 확인한다.

지폐가 그 최종 위치에 도달하지 않았으면, 단계(S311)에서, 지폐의 다음 위치를 측정하고 측정 데이터를 저장하기 위한 준비로서 ADR 은 ADR+1 로 증가된다. 단계(S312)에서, ADR < MAXADR 인가, 즉 지폐의 최대 길이가 도달되었는가를 판단한다. 도달되지 않았다면, 처리는 주 공정으로 복귀한다.

지폐의 최대 길이가 도달되면, 지폐는 너무 긴 것으로 간주되고, 작업처리는 에러 처리를 위해 단계(S313)로 이동한다. 단계(S314)에서, 동작의 종료가 상태 = 3 으로 표시되고, 작업 처리순서는 주 공정으로 복귀한다. 단계(S310)에서 지폐의 최종 위치에 도달되면, 작업 처리순서는 또한 단계(S314)로 이동하여 상태 = 3 이 후의 주 공정으로 복귀한다.

상술한 실시예에서, 종잇장에는 지폐가 포함되지만, 본 발명은 금태환 지폐(gold note), 쿠폰 등에도 적용 가능하다.

상술한 실시예는 투과광 시스템을 포함하지만, 그 대신에 반사광 시스템을 포함할 수 도 있다.

상술한 실시예에서, 발광 부재는 하나의 연속된 방법으로 연결되지만, 평행하게 연결될 수도 있고 단일의 구동장치에 의해 구동될 수도 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 광 센서를 사용하여 종잇장으로부터 추출된 광학적으로 검출된 데이터에 기반하여 종잇장 상에 인쇄된 패턴을 식별하는 장치는 발광 부재 및 수광 부재를 포함하고, 종잇장이 확인 되고 있지 않는 동안에 소정의 최대 전류가 각각의 발광 부재에 공급됨으로써, 수광 부재로부터 출력된 전류는 시간에 따라 소정의 값 만큼 감소하게 된다. 수광 부재의 출력이 최대 통과 전류 시의 값으로부터 소정의 값 만큼 감소될 때의 전류의 값이 최적의 값으로서 저장되어 종잇장을 확인할 때 공급되는 전류로 사용된다. 따라서, 광 센서는 항상최적의 상태로 유지될 수 있고, 그 광학적 특성을 검출하기 위해 종잇장을 투과한 광은 안정성 있게 검출될 수 있다.

Claims (6)

1. 광학식 종잇장 확인 장치에 있어서,

   광학적으로 종잇장의 패턴을 검출하여 얻어진 신호를 출력하고, 발광부재 및 수광 부재를 구비한 다수의 광 센서;

   제어 신호에 따라 상기 다수의 광 센서에 있는 발광 부재에 전류를 공급하는 구동 장치; 및

   상기 종잇장이 소정의 위치에 있지 않은 동안, (a) 상기 발광 부재에 소정의 값의 최대 전류를 공급한 후, 전류 공급을 감소시키기 위하여 제어신호를 상기 구동 장치에 제공하고, (b) 상기 다수의 광 센서의 각각에 대한 최적의 값을 판단 및 저장하는데, 상기 최적의 값은 상기 수광 부재의 출력 전압이 상기 최대 전류에서의 값에 비례하는 소정의 값만큼 변화되었을 때의 공급 전류의 값이고, (c) 상기 종잇장이 소정의 위치에 있을 때, 저장된 상기 최적의 값 각각에 근거하여 상기 구동 장치에 제어 신호를 공급하고, (d) 상기 광 센서로부터 검출된 신호를 선택적으로 추출하고, 상기 종잇장의 상기 패턴을 의미하는 검출 데이터를 출력하는 제어장치

   를 포함하는 광학식 종잇장 확인장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 종잇장이 상기 소정의 위치에 있는가를 검출하는 검출장치를 추가로 포함하는 광학식 종잇장 확인장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 다수의 광 센서의 상기 발광 부재는 직렬 또는 병렬로 연결되어 있고, 전류가 단일 구동장치에 의해 상기 발광 부재들에 공급되는 광학식 종잇장 확인장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 제어장치는 상기 종잇장이 상기 소정의 위치에 있지 않은 동안 상기 발광 부재로의 전류의 공급을 상기 최대 전류로부터 소정의 시간 간격으로 단계적으로 감소시키는 광학식 종잇장 확인장치.
5. 제4항에 있어서, 상기 발광 부재로의 전류의 공급을 상기 최대 전류로부터 소정의 시간 간격으로 단계적으로 감소시킬 때, 상기 제어장치는 상기 소정의 시간 간격동안 소정의 지점에서 상기 수광 부재의 출력 전압을 추출하는 광학식 종잇장 확인장치.
6. 제1항에 있어서, 상기 종잇장이 상기 소정의 위치에 있지 않을 때, 상기 제어장치는 상기 발광 부재로 상기 최대 전류를 공급하고, 전류의 공급을 감소시키고, 상기 최대 전류가 공급될 때의 값과 비교하여 상기 소정의 값만큼 상기 수광 부재의 출력 전압이 변화하였을 때의 전류의 공급을 상기 최적의 값으로 간주하고, 상기 다수의 광 센서의 각각에 대한 상기 최적의 값을 결정 및 저장하며, 이러한 동작을 소정의 시간 사이클에 따라 반복하는 광학식 종잇장 확인장치.