KR100366131B1 - Lead-free solder with lower melting point and lower dross - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자부품 등의 납땜에 사용되는 무연땜납에 관한 것이다.The present invention relates to a lead-free solder used for soldering electronic components and the like.

본 발명에 따른 무연땜납은 중량%로, Cu: 0.1~ 2.0%, In: 0.01~ 2.0%, P: 0.01~ 1.5%, Bi: 0.1~ 6.5%, 잔량 Sn을 포함하여 조성된다.The lead-free solder according to the present invention is composed of% by weight, Cu: 0.1-2.0%, In: 0.01-2.0%, P: 0.01-1.5%, Bi: 0.1-6.5%, and the balance Sn.

이러한 Sn-Cu-Bi-In-P계 무연땜납은 기존의 Sn-Ag계나 Sn-Cu-Ag계 무연땜납에 비하여 비교적 낮은 용융온도를 갖고 있을 뿐만 아니라 납땜시 드로스(dross) 발생이 적어 반도체나 전자 제품을 납땜할 때 전자 부품에 열손상을 적게 하고 납땜 작업을 원활히 수행할 수 있도록 한다.The Sn-Cu-Bi-In-P-based lead-free solder has a relatively low melting temperature compared to conventional Sn-Ag-based or Sn-Cu-Ag-based lead-free solders, and has less dross during soldering. When soldering electronics, it is possible to reduce the thermal damage to electronic components and to facilitate the soldering operation.

Description

드로스 발생이 적은 저융점 무연땜납{Lead-free solder with lower melting point and lower dross}Lead-free solder with lower melting point and lower dross

본 발명은 전자부품 등의 납땜에 사용되는 무연땜납에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 융점이 낮고 납땜시 드로스(dross) 발생이 적은 무연땜납에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to lead-free solders used for soldering electronic components, and more particularly, to lead-free solders having a low melting point and less dross during soldering.

Sn-Pb계 땜납은 오랜 기간 동안 전자기기의 가장 유효한 접합재료로 사용되어 왔다. 그러나, 최근 땜납을 사용한 전자기기의 폐기할 때 산성비에 의해 땜납 중에 함유된 납 성분이 용출되어 지하수를 오염시키고, 이것이 인체에 흡수되면 지능 저하, 생식 기능 저하 등 인체에 해를 미치는 환경오염 물질로 지적되고 있다. 이러한 문제점으로 인해, 1990년 미국에서 전기전자용 땜납 중의 납 규제에 관한 검토를 발단으로 무연땜납에 관한 연구가 세계적으로 진행되었다.Sn-Pb based solder has been used as the most effective bonding material for electronic devices for a long time. However, recently, when disposing of electronic devices using solder, the lead component contained in the solder is eluted by acid rain, which contaminates the groundwater, and when absorbed by the human body, it is an environmental pollutant that harms the human body such as decreased intelligence and decreased reproductive function. It is pointed out. Due to these problems, research on lead-free solders has been conducted worldwide in 1990 in the United States with the examination of lead regulation in electric and electronic solders.

대표적인 무연땜납으로는 Sn-8.8Zn(융점 199℃), Sn-3.5Ag(융점 221℃), Sn- 0.75Cu(융점 227℃) 등이 있다. 이들 합금 중 Sn-8.8Zn 계 땜납은 젖음성이 아주 나빠서 실용성이 떨어진다. 반면, Sn-3.5Ag와 Sn-0.7Cu 합금은 젖음성과 신뢰성이 무연땜납 중에서 우수하지만 융점이 기존의 대표적인 Sn-37Pb 땜납(융점 183℃)보다 30~ 40℃ 정도 높은 것이 가장 큰 단점이다. 대체로 전자부품에 대한 납땜온도는 땜납의 융점보다 약 50℃ 정도 높다. 또한, 전자부품은 내열 한계가 있기 때문에 융점이 높은 땜납을 사용하면 납땜 온도가 높아지고, 이로 인해 전자 부품이 열손상을 입어서 사용이 곤란하다.Typical lead-free solders include Sn-8.8Zn (melting point 199 ° C), Sn-3.5Ag (melting point 221 ° C), Sn-0.75Cu (melting point 227 ° C), and the like. Of these alloys, Sn-8.8Zn-based solders are very poor in wettability and are not practical. On the other hand, Sn-3.5Ag and Sn-0.7Cu alloys have excellent wettability and reliability among lead-free solders, but their biggest disadvantage is that the melting point is 30-40 ° C higher than the typical Sn-37Pb solder (melting point 183 ° C). Generally, the soldering temperature for electronic components is about 50 ° C above the melting point of the solder. In addition, since electronic components have a heat resistance limit, when solders having a high melting point are used, the soldering temperature is high, which causes thermal damage to the electronic components, making it difficult to use them.

최근, 무연땜납의 융점을 조금이라도 저하시키기 위해, Sn-4.7Ag-1.7Cu 3원 공정을 중심으로 한 무연땜납을 미국의 Iowa 대학(US 5,527,628) 등에서 개발하였다. 그러나, 이 무연땜납은 역시 융점이 217℃ 부근으로 기존의 Sn-37Pb의 융점 183℃보다 여전히 30℃ 정도 높다. 그 외, 일본 센주/마츠시다에서는 Sn-Ag-Cu-Sb계 무연땜납에 대한 특허(특개평 5-50286)를 보유하고 있고, 국내삼성전기에서는 Sn-Ag-In-Bi계 무연땜납에 대한 특허(제168,964호)를 보유하고 있다. 그러나, 이들 무연땜납들의 융점도 Sn-37Pb에 비해 여전히 약 20~ 30℃ 이상 높다.Recently, in order to lower the melting point of lead-free solder even a little, lead-free solder mainly on Sn-4.7Ag-1.7Cu ternary process was developed at Iowa University (US 5,527,628) and the like. However, this lead-free solder also has a melting point around 217 ° C, which is still about 30 ° C higher than the melting point of 183 ° C of Sn-37Pb. In addition, Japan's Senju / Matsushida holds a patent for Sn-Ag-Cu-Sb-based lead-free solders (Japanese Patent Laid-Open No. 5-50286). He holds a patent (No. 168,964). However, the melting point of these lead-free solders is still about 20-30 ° C. or more higher than that of Sn-37Pb.

이렇게 기존의 무연땜납은 융점이 높고 젖음성이 낮기 때문에 현재의 납땜 생산장비로 전자 제품을 납땜하여 조립할 때 많은 문제점을 유발한다. 이로 인해기존의 납땜 장비를 무연 납땜용 장비로 교체해야 하기도 하므로 많은 비용이 들게 된다. 특히, 종래의 무연땜납들은 전자 부품을 납땜할 때 용융땜납의 찌꺼기로 알려진 땜납 산화물인 드로스(dross, 주성분은 SnO) 다량 생성하여 땜납을 산화시키고 납땜부에 혼입되어 납땜 불량을 유발하기도 한다.Since the conventional lead-free solder has a high melting point and low wettability, current soldering production equipment causes many problems when soldering and assembling electronic products. This can be expensive because the existing soldering equipment must be replaced with lead-free soldering equipment. In particular, conventional lead-free solders generate a large amount of dross (a main component, SnO), a solder oxide known as a molten solder residue when soldering an electronic component, oxidizing the solder and incorporating it into a soldering portion, causing solder failure.

본 발명은 반도체나 전자 제품을 납땜할 때 전자 부품의 열손상과 납땜 작업을 원활히 하기 위해 기존의 Sn-Ag계나 Sn-Cu-Ag계 무연땜납에 비하여 납땜하는 과정에서 드로스 발생을 적극적으로 억제할 수 있는 Sn-Cu-Bi-In-P계 무연땜납을 제공함에 그 목적이 있다.The present invention actively suppresses the occurrence of dross in the process of soldering compared to the conventional Sn-Ag-based or Sn-Cu-Ag-based lead-free solders in order to facilitate thermal damage and soldering of electronic components when soldering semiconductors or electronic products. The purpose is to provide a Sn-Cu-Bi-In-P-based lead-free solder.

또한, 본 발명은 Sn-Ag계나 Sn-Ag-Cu-Sb계, Sn-Ag-Cu계 등 기존의 많은 무연땜납보다 비교적 낮은 용점을 갖는 새로운 Sn-Cu-Bi-In-P계 무연땜납을 제공함에 그 목적이 있다.In addition, the present invention provides a new Sn-Cu-Bi-In-P lead-free solder having a lower melting point than many existing lead-free solders such as Sn-Ag, Sn-Ag-Cu-Sb, Sn-Ag-Cu, etc. The purpose is to provide.

도1은 본 발명의 무연땜납에 대한 젖음성 결과 그래프이다.1 is a graph of the wettability result for the lead-free solder of the present invention.

도2는 본 발명의 무연땜납에 대한 가열온도와 열량과의 관계를 보이는 그래프이다.2 is a graph showing the relationship between the heating temperature and the heat amount for the lead-free solder of the present invention.

도3은 본 발명과 종래의 무연땜납에 대한 브리지 시험 결과를 보이는 사진이다.Figure 3 is a photograph showing the bridge test results for the present invention and conventional lead-free solder.

도4는 본 발명의 무연땜납을 이용한 납땜한 접합부의 표면조직사진이다.4 is a surface texture photograph of a soldered joint using lead-free solder of the present invention.

상기 목적 달성을 위한 본 발명의 무연땜납은, 중량%로, Cu: 0.1~ 2.0%, In: 0.01~ 2.0%, P: 0.01~ 1.5%, Bi: 0.1~ 6.5%, 잔량 Sn을 포함하여 조성된다.Lead-free solder of the present invention for achieving the above object, by weight%, Cu: 0.1 ~ 2.0%, In: 0.01 ~ 2.0%, P: 0.01 ~ 1.5%, Bi: 0.1 ~ 6.5%, the composition containing the remaining Sn do.

이하, 본 발명에 따른 무연땜납에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the lead-free solder according to the present invention will be described in detail.

우선, 본 발명에 따른 무연땜납 중에 함유되는 Cu는 땜납의 융점을 저하시키고 열피로 특성을 개선하는 역할을 한다. 이러한 효과를 발휘하기 위해서 Cu는 적어도 약 0.1% 첨가되어야 하지만, 너무 많으면 땜납의 융점을 상승시켜 바람직하지 않으므로 그 상한값을 2.0%로 제한한다. 보다 바람직하게는 상기 Cu의 함량은 약0.1~ 0.75%의 범위로 하는 것이다.First, Cu contained in the lead-free solder according to the present invention serves to lower the melting point of the solder and to improve thermal fatigue characteristics. In order to achieve this effect, Cu should be added at least about 0.1%, but if it is too large, the melting point of the solder is increased, which is undesirable, so the upper limit thereof is limited to 2.0%. More preferably, the Cu content is in the range of about 0.1 to 0.75%.

상기 In은 땜납의 융점을 저하시키고 Bi함유 땜납의 연신율과 강도의 균형을 이루게 하는 효과가 있다. 이러한 효과를 위해서는 In의 함량은 적어도 0.01% 이상은 첨가되어야 한다. 그러나, In의 함량이 너무 많으면 가격 상승의 요인이 되어 경쟁력이 떨어지며 드로스 발생량이 증가하여 바람직하지 않으므로 약 2.0% 이하로 제한하는 것이 좋다.In is effective in reducing the melting point of the solder and balancing the elongation and strength of the Bi-containing solder. In order to achieve this effect, the In content should be added at least 0.01%. However, if the content of In is too high, it becomes a factor of the price increase and the competitiveness is low and the amount of dross generated is not preferable, so it is preferable to limit it to about 2.0% or less.

상기 P는 납땜시 용융땜납의 찌꺼기로 알려진 땜납 산화물인 드로스(dross, 주성분은 SnO) 형성을 억제하는 작용을 한다. 드로스는 용융된 땜납으로 기판에 전자 부품을 납땜할 때 땜납을 산화시키므로써 땜납을 소모하고, 전자 부품의 납땜부에 혼입되면 납땜 불량을 유발하기도 한다. 따라서, 납땜시 드로스는 항상 납땜욕에서 제거해야 하는 불순물이다. 본 발명의 무연땜납 중에 함유되는 P은 Sn, Cu, In에 비해 산화물 생성 자유에너지(△Go)가 적어서 안정한 산화물인 P2O5로 우선 산화되어 다른 원소들의 산화를 억제한다. 이로 인하여 P은 땜납의 대부분을 구성하고 있는 Sn산화물의 생성을 억제하여 드로스 발생을 최소화한다. 또한, P은 Sn 산화물의 생성을 억제하면 용융땜납의 유동성이 증가하여 땜납의 젖음성(wettability)이나 퍼짐성(spreadability)을 향상시키고 브리지(bridge) 성능을 개선하는 역할도 한다. 그 결과 P은 땜납된 부분의 반응층 성장을 억제하여 접합부의 강도 저하를 방지할 수 있다. 이러한 효과를 위해서 P은 적어도 약 0.01% 이상 첨가함이 바람직하다. 그러나, P의 함량이 1.5%를 넘으면 납땜부를 경화시키고, 취성이 생기므로 바람직하지 않다.P acts to suppress the formation of dross (the main component is SnO), which is a solder oxide known as the molten solder residue during soldering. Dross consumes the solder by oxidizing the solder when soldering the electronic component to the substrate with the molten solder, and when soldered into the soldering portion of the electronic component may cause solder failure. Therefore, dross is an impurity that must always be removed from the solder bath when soldering. P contained in the lead-free solder of the present invention is first oxidized to P 2 O 5 , which is a stable oxide because of less oxide generation free energy (ΔG o ) than Sn, Cu, and In, thereby inhibiting oxidation of other elements. As a result, P suppresses the generation of Sn oxide, which constitutes most of the solder, thereby minimizing dross generation. In addition, when P suppresses the production of Sn oxide, the flowability of the molten solder is increased, thereby improving the wettability or spreadability of the solder and improving the bridge performance. As a result, P can suppress the reaction layer growth of the soldered part and can prevent the fall of the strength of a junction part. For this effect, P is preferably added at least about 0.01% or more. However, if the content of P exceeds 1.5%, the soldering portion is cured and brittleness is generated, which is not preferable.

상기 P이외에 Bi를 적정량 첨가하면 땜납의 융점을 저하시킬 수 있고, 특히 땜납의 젖음성을 개선할 수 있다. 이러한 효과를 위해서는 Bi의 함량은 적어도 0.1% 첨가하는 것이 바람직하다. 그러나, Sn과 Bi의 공정조성은 Sn-58%Bi로서 실용화되어 있지만, Bi의 첨가는 땜납의 연신율을 저하시키고 내시효성을 떨어뜨리므로 본 발명에서는 Bi의 함량을 6.5% 이하로 제한함이 바람직하다.If Bi is added in addition to P, the melting point of the solder can be lowered, and in particular, the wettability of the solder can be improved. For this effect, the Bi content is preferably added at least 0.1%. However, although the eutectic composition of Sn and Bi has been put into practical use as Sn-58% Bi, the addition of Bi lowers the elongation of the solder and lowers the aging resistance, so in the present invention, the Bi content is preferably limited to 6.5% or less. Do.

이하, 본 발명의 무연땜납을 실시예를 통하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the lead-free solder of the present invention will be described in detail by way of examples.

[실시예]EXAMPLE

아래 표1과 같이 다양한 조성을 갖는 무연땜납을 준비하고, 각각의 무연땜납에 대하여 젖음성, 융점, 전단 강도, 드로스 발생량, 브리지(bridge) 시험 및 납땜시험을 행하였다.Lead-free solders having various compositions were prepared as shown in Table 1 below, and each of the lead-free solders was subjected to wettability, melting point, shear strength, dross generation amount, bridge test, and solder test.

구분division 화학조성(중량%)Chemical composition (% by weight) 비고Remarks BiBi CuCu InIn PP AgAg SnSn 발명재1Invention 1 66 0.80.8 1.01.0 0.20.2 -- 잔부Balance 발명재2Invention 2 1.71.7 0.80.8 0.150.15 0.110.11 -- 잔부Balance 종래재1Conventional Materials 1 -- -- -- -- 3.53.5 잔부Balance 종래재2Conventional material 2 -- 0.70.7 -- -- 3.53.5 잔부Balance

젖음성 시험Wetting test

표1의 발명재(1)(2)의 무연땜납에 각각 VOC free 및 SSF의 2가지 플럭스를 도포하여 젖음성 시험을 행하였다. 이때, 땜납 용탕의 온도는 235~ 255℃로 하였다. 도1에 그 결과를 나타내었다.Wetting tests were performed by applying two fluxes of VOC free and SSF to the lead-free solder of the inventive material (1) and Table 2, respectively. At this time, the temperature of the solder molten metal was 235-255 degreeC. The results are shown in FIG.

도1에 나타난 바와 같이, 본 발명의 무연땜납은 약 240℃ 부근에서 양호한젖음성을 나타내었으며, 특히 VOC free 플럭스를 도포하였을 때보다 SSF 플럭스를 도포하였을 때 더 나은 젖음성을 보이고 있다.As shown in FIG. 1, the lead-free solder of the present invention exhibited good wettability at about 240 ° C., especially when SSF flux was applied than when VOC free flux was applied.

융점Melting point

표1의 발명재(1)(2)에 따른 무연땜납을 DSC(differential scanning calorimetry) 분석을 행하여 각각의 융점을 확인하였다. 도2는 그 결과를 보이고 있다.The lead-free solder according to the invention material (1) (2) of Table 1 was subjected to differential scanning calorimetry (DSC) analysis to confirm each melting point. 2 shows the result.

도2에서도 알 수 있듯이, 본 발명의 무연땜납은 융점이 기존의 대표적인 무연땜납(종래재1)에 비하여 약 4℃ 낮다. 또한, 가장 대표적인 무연땜납인 Sn-Ag-Cu계 중 융점이 가장 낮은 종래재(2)와 비교할 때 융점이 대등하거나 약간 낮지만, Ag이 포함되지 않아서 가격이 저렴하다. 더욱이, 본 발명의 무연땜납은 Ag 함량을 극도로 줄인 미국 Kester사의 Sn-0.2Ag-2Cu-0.85Sb(용융범위 226~ 228℃)에 비해서는 융점이 약 10℃ 이상 낮다는 장점을 가지고 있다. 따라서, 본 발명의 무연땜납을 사용하면 납땜온도가 240℃ 정도까지 저하될 수 있기 때문에 기존의 무연땜납을 사용할 때보다 약 10℃ 낮은 온도에서 납땜을 수행할 수 있다.As can be seen from FIG. 2, the lead-free solder of the present invention has a melting point of about 4 ° C. lower than that of a conventional representative lead-free solder (traditional material 1). In addition, the melting point is comparable to or slightly lower than that of the conventional Sn-Ag-Cu series, which is the most representative lead-free solder, having the lowest melting point. However, since Ag is not included, the price is low. Moreover, the lead-free solder of the present invention has the advantage that the melting point is lower than about 10 ℃ compared to Sn-0.2Ag-2Cu-0.85Sb (melting range 226 ~ 228 ℃) of the U.S. Kester, which dramatically reduced the Ag content. Accordingly, when using the lead-free solder of the present invention, the soldering temperature may be lowered to about 240 ° C., so that soldering may be performed at a temperature about 10 ° C. lower than that of the conventional lead-free solder.

전단강도Shear strength

구리 기판 위에 3.1×1.5×0.7mm 크기의 적층세라믹 커패시터(multi-layer ceramic capacitor; MLCC)를 실장하고, 발명재(1)(2)의 무연땜납을 이용하여 실장된 기판을 약 240℃에서 리플로(reflow) 납땜한 후, 각각의 경우에 대하여 전단 강도값을 알아보았다. 이때 전단 팁(shear tip)의 이동속도는 0.2mm/min으로 설정하였다.A multilayer ceramic capacitor (MLCC) having a size of 3.1 × 1.5 × 0.7 mm is mounted on a copper substrate, and the board mounted with the lead-free solder of the inventive material (1) (2) is rippled at about 240 ° C. After reflow soldering, the shear strength values were examined for each case. At this time, the moving speed of the shear tip was set to 0.2 mm / min.

그 결과 발명재(1)(2)의 무연땜납을 사용하였을 때 전단 강도값은 각각 약 1.5kgf, 2.3kgf로 양호한 접합강도를 보였다.As a result, when the lead-free solder of Invention Material (1) and (2) was used, the shear strength values were about 1.5 kgf and 2.3 kgf, respectively.

드로스 발생량Dross generation

표1의 발명재(2)와 종래재(2)을 각각 약 250℃에서 용융시켜 강제 교반시킨 후 각 땜납 용융물에서 1시간 동안 생성된 드로스 양을 조사하였다.Inventive material (2) and conventional material (2) of Table 1 were melted at about 250 ° C. forcibly stirred, and the amount of dross generated in each solder melt for 1 hour was investigated.

종래재(2)의 경우 드로스의 양이 무연땜납 1g 당 약 0.209g 정도 발생된 반면, 발명재(2)의 경우 약 0.1246g만이 발생되어 그 절반 수준으로 감소되었다.In the case of the conventional material (2), the amount of dross was generated about 0.209g per 1g of lead-free solder, whereas in the case of the invention material (2), only about 0.1246g was generated, which was reduced to about half.

드로스는 전술한 바와 같이, 땜납을 소모하고, 닙땜부에 혼입되면 납땜의 성능을 떨어뜨리므로 납땜작업 중 납땜욕에서 주기적으로 제거해 주어야 한다. 따라서, 이를 위한 인력과 시간이 소요될 것이다.As described above, the dross consumes the solder and should be periodically removed from the solder bath during the soldering operation since the dross degrades the performance of the solder when incorporated into the nip solder. Therefore, manpower and time will be required for this.

브리지 시험Bridge test

표1의 발명재(2)와 종래 가장 대표적으로 인정받고 있는 종래재(2)의 무연땜납에 대하여 브리지 시험을 행하였다. 브리지 시험이란 미세한 전자 부품의 단자 리드 간에 납땜을 할 때 단락이 일어나는 정도를 조사하는 시험으로서, 단락이 일어나면 전자 제품을 사용할 수 없으므로 중요한 불량시험 중 하나이다. 브리지 발생율이 적은 땜납일수록 단자간의 단락이 적으므로 우수한 소재라고 할 수있다.The bridge test was done about the lead-free solder of the invention material 2 of Table 1, and the prior art material 2 most conventionally recognized. The bridge test is a test to investigate the degree of short circuit when soldering between terminal leads of minute electronic components. It is one of the important failure tests because electronic products cannot be used when a short circuit occurs. Solder with a low bridge generation rate is a good material because there is less short circuit between terminals.

도3a 및 도3b는 피치 간격이 각각 0.6mm, 1.3mm인 발명재(2)의 무연땜납의 경우이고, 도3c 및 도3d는 피치 간격이 각각 0.6mm, 1.3mm인 종래재(2)의 무연땜납의 경우이다.3A and 3B show the lead-free solder of the invention material 2 having a pitch spacing of 0.6 mm and 1.3 mm, respectively, and FIGS. 3C and 3D show the conventional material 2 having a pitch spacing of 0.6 mm and 1.3 mm, respectively. In the case of lead-free solder.

이러한 브리지 시험 결과, 도3에 도시된 바와 같이, 발명재(2)와 종래재(2)의 무연땜납 모두 회로간 피치 0.6mm 및 1.3mm에서 브리지 발생이 없는 우수한 성능을 보였다.As a result of this bridge test, as shown in Fig. 3, both the lead-free solder of the invention material 2 and the prior art material 2 showed excellent performance without the occurrence of bridge at the pitch between 0.6 mm and 1.3 mm.

납땜실험Soldering Experiment

발명재(1)(2)의 무연땜납을 이용하여 Cu 기판 상에 MLCC의 단자를 약 240℃에서 리플로 납땜하였다. 이때, 플럭스로는 SSF를 사용하였다. 이렇게 납땜된 접합부의 표면 조직을 관찰하고, 그 결과를 도4에 나타내었다.The lead of MLCC was reflow soldered at about 240 degreeC on Cu board | substrate using the lead-free solder of invention material (1) (2). At this time, SSF was used as the flux. The surface structure of the solder joint thus soldered was observed, and the results are shown in FIG.

도4에 나타난 바와 같이, 본 발명의 무연땜납을 사용하여 납땜한 결과, 기존의 Sn-Pb 땜납과 거의 동등한 납땜온도인 약 230~ 250℃에서도 납땜이 아주 양호하게 수행되어지는 것을 확인할 수 있었다.As shown in FIG. 4, as a result of soldering using the lead-free solder of the present invention, it was confirmed that soldering was performed very well even at about 230 to 250 ° C., which is almost the same solder temperature as the conventional Sn-Pb solder.

상술한 바와 같이, 본 발명의 Sn-Cu-Bi-In-P계 무연땜납은 기존의 Sn-Ag계나 Sn-Cu-Ag계 무연땜납에 비하여 납땜 과정에서 드로스 발생이 적어 납땜 작업을 원활히 수행할 수 있다. 또한, 본 발명의 무연땜납은 비교적 낮은 용융온도를 갖고 있어 반도체나 전자 제품을 납땜할 때 전자 부품의 열손상이 적다.As described above, the Sn-Cu-Bi-In-P-based lead-free solder of the present invention has less dross in the soldering process than the conventional Sn-Ag-based or Sn-Cu-Ag-based lead-free solders, so that the soldering operation is smoothly performed. can do. In addition, the lead-free solder of the present invention has a relatively low melting temperature, so that the thermal damage of electronic components is small when soldering a semiconductor or an electronic product.

Claims (1)

중량%로, Cu: 0.1~ 2.0%, In: 0.01~ 2.0%, P: 0.01~ 1.5%, Bi: 0.1~ 6.5%, 잔량 Sn을 포함하여 조성되는 저융점 무연땜납.Low melting point lead-free solder composed of Cu: 0.1% to 2.0%, In: 0.01% to 2.0%, P: 0.01% to 1.5%, Bi: 0.1% to 6.5%, and residual amount of Sn.
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