KR100344092B1 - Cover structure of semiconductor equipment - Google Patents

Cover structure of semiconductor equipment Download PDF

Info

Publication number
KR100344092B1
KR100344092B1 KR1019980060162A KR19980060162A KR100344092B1 KR 100344092 B1 KR100344092 B1 KR 100344092B1 KR 1019980060162 A KR1019980060162 A KR 1019980060162A KR 19980060162 A KR19980060162 A KR 19980060162A KR 100344092 B1 KR100344092 B1 KR 100344092B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cover
lid
container
vessel
opened
Prior art date
Application number
KR1019980060162A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20000043745A (en
Inventor
동 용 정
Original Assignee
주식회사 에스아이테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 에스아이테크 filed Critical 주식회사 에스아이테크
Priority to KR1019980060162A priority Critical patent/KR100344092B1/en
Publication of KR20000043745A publication Critical patent/KR20000043745A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100344092B1 publication Critical patent/KR100344092B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체장비의 덮개구조에 관한 것으로, 개구부가 상면에 형성된 용기(20)와, 용기(10)에 개폐가능하게 힌지고정되고 상면에는 손잡이(28)가 설치되며 하면에는 보강판(26a)이 형성된 덮개(26)와, 덮개(26)가 개방될 때 덮개(26)의 상면을 지지하여 덮개(26)가 소정의 경사각도를 유지하도록 용기(20)의 일단부(22)의 상면에 형성된 스토퍼(30)와, 덮개(26)개방시 덮개(26)하면에 응집된 용액이 덮개(26)의 경사지는 하면을 따라 흘러내려 용기(20)내부로 유입되도록 보강판(26a)일측면에 접하여 경사지게 일체형으로 형성된 가이드(26b)와; 덮개(26)측으로 대류되는 가스를 차단하여 덮개(26)의 하부면에 응집되는 용액의 양을 감소시키도록 용기(20)상측에 하방으로 연장된 차단부재(24)를 제공한다. 덮개의 하부면에 증발된 강산 또는 강알칼리 용액이 응집되더라도 용기의 세척 또는 유지보수시 덮개가 용기로부터 이탈되지 않고 응집된 액체가 용기내로 다시 유입되도록 한 것이다.The present invention relates to a lid structure of a semiconductor device, wherein an opening is formed on the upper surface of the container 20 and the container 10 is hinged to be openable and closed, and a handle 28 is provided on the upper surface thereof and a reinforcing plate 26a on the lower surface thereof. The formed cover 26 and the upper surface of the one end 22 of the container 20 to support the upper surface of the cover 26 when the cover 26 is opened so that the cover 26 maintains a predetermined inclination angle. One side of the reinforcement plate 26a so that the formed stopper 30 and the cover 26 when the cover 26 is opened may flow along the inclined bottom surface of the cover 26 to flow into the container 20. A guide 26b integrally formed to be in contact with the slant; A blocking member 24 extending downwardly above the vessel 20 is provided to block the gas convection towards the lid 26 to reduce the amount of solution agglomerated on the bottom surface of the lid 26. Even if the evaporated strong acid or strong alkaline solution aggregates on the lower surface of the lid, the lid is not removed from the vessel during the cleaning or maintenance of the vessel, and the aggregated liquid is introduced back into the vessel.

Description

반도체장비의 덮개구조Cover Structure of Semiconductor Equipment

본 발명은 반도체장비의 덮개구조에 관한 것이다.The present invention relates to a cover structure of a semiconductor device.

특히, 강산 또는 강알칼리와 같은 인체에 유해한 용액이 충전된 반도체장비의 덮개구조에 있어서, 증발 또는 기타 이유로 인해 덮개의 하부면에 응집된 용액이 용기가 개방되더라도 외부로 유출되지 않고 장비내로 다시 유입되도록 함으로써, 덮개개방으로 기인된 용액누출에 의해 장비조작자의 화상을 방지하고 장비설치 장소의 바닥면 또는 장비의 오염/부식을 방지할 수 있도록 구성된 반도체장비의 덮개구조에 관한 것이다.In particular, in the cover structure of a semiconductor device filled with a solution harmful to the human body, such as a strong acid or strong alkali, the solution agglomerated on the lower surface of the cover due to evaporation or other reasons so that even if the container is opened, it does not flow out to the outside and flows back into the equipment. Thus, the present invention relates to a cover structure of a semiconductor device configured to prevent burns of equipment operators and prevent contamination / corrosion of equipment by the leakage of a solution due to opening of the cover.

식각방법에 의해 제조되는 리드프레임의 제조공정을 간단하게 설명하면 다음과 같다. 우선, 식각 리드프레임의 형상을 캐드설계후 SLPP(Super Laser Photo Plotter)를 사용하여 필름에 형상을 감광제작한다. 그런 다음, 마스터 패턴(master pattern)과 워킹 패턴(working pattern)으로 제작되어 노광시 소재와 밀착시켜 제품 형상을 인식시킨다.A manufacturing process of the lead frame manufactured by the etching method will be described briefly as follows. First, the shape of the etch lead frame is CAD-designed, and then the photoresist is formed on the film using SLPP (Super Laser Photo Plotter). Then, it is produced in a master pattern (working pattern) and a working pattern (working pattern) is in close contact with the material during exposure to recognize the product shape.

이후, 원소재를 코팅하기 위하여 금속의 표면을 세정하는 전처리공정이 진행되는데, 이러한 전처리공정은 탈지→온수세→수세→산세→수세→브러쉬(brush)→순수수세 등의 수순에 의해 진행된다. 이와 같이 전처리가 완료된 리드프레임은 금속표면에 감광성 물질인 포터레지스트(photo-resist)를 도포한다.Thereafter, a pretreatment step of cleaning the surface of the metal is performed in order to coat the raw material, and this pretreatment step is performed by a procedure such as degreasing → hot water washing → washing water → pickling → washing → brush → pure water washing. In this way, the lead frame after the pretreatment is coated with a photo-resist (photo-resist), a photosensitive material on the metal surface.

통상적으로 포토레지스트는 수용성 카세인(casein;단백질) 타입으로 적어도 금속의 일면에 대략 7μm의 두께로 침지방법(dipping)에 의해 코팅된다. 그런 다음, 코팅된 원소재에 식각마스크를 밀착한 후 자외선을 사용하여 포토레지스트와의 광화학 반응으로 제품형상을 만든다.Typically the photoresist is a water soluble casein (protein) type and is coated by dipping to a thickness of at least about 7 μm on at least one side of the metal. Then, the etching mask is in close contact with the coated raw material and the product shape is formed by photochemical reaction with photoresist using ultraviolet rays.

그리고, 노광시 감광된 부분(제품형상)외의 감광이 되지 않은 부분을 온수를 사용하여 형상을 만드는 현상공정이 수행된다. 현상공정의 세부공정을 설명하면, 현상공정은 현상→Cr처리→린스→수절(water cut)→건조(post-baking)로 구분된다.Then, a developing process of forming a shape using hot water for a portion that is not exposed other than the portion (product shape) exposed during exposure is performed. Explaining the detailed process of the developing process, the developing process is classified into developing → Cr treatment → rinse → water cut → post-baking.

이렇게 제조된 리드프레임 자재는 염화제이철(FeCl3) 용액을 사용하여 현상시 노출된 금속면을 식각하여 제품형상을 가공한다. 이렇게 제품형상이 가공된 소재표면에 남은 포토레지스트 경화막을 알칼리 세척제를 사용하여 제거하게 되는데, 이러한 박리(stripping)의 세부공정은 박리→온수세→수세→순수수세→건조 수순이다.The lead frame material thus prepared is processed using a ferric chloride (FeCl 3 ) solution to etch the exposed metal surface during development to process the product shape. Thus, the photoresist cured film remaining on the surface of the processed product shape is removed by using an alkali detergent, and the detailed step of stripping is stripping → water washing → washing → pure washing → drying procedure.

그런 다음, 반도체 칩의 본딩패드들과 본딩와이어에 의해 각기 전기적으로 연결되는 리드프레임의 내부리드 선단부 또는 다이패드 상부면에 고순도의 은(Ag)을 부분도금된다. 이러한 도금의 세부공정은 전해탈지→린스→엑티베이션(Activation)→Ag도금→백스트립(back strip)→린스→건조이다.Then, high purity silver (Ag) is partially plated on the inner lead leading end of the lead frame or the upper surface of the die pad which are electrically connected to each other by the bonding pads and the bonding wires of the semiconductor chip. The detailed process of such plating is electrolytic degreasing → rinse → activation → Ag plating → back strip → rinse → drying.

이후, 내부리드 테이핑 및 다운셋 공정과 최종검사(visual and inspection)가 수행된 다음, 포장되어 소비자에게 공급된다.Thereafter, internal lead taping and downset processes and visual and inspection are performed, then packaged and supplied to the consumer.

이상과 같은 공정을 거쳐 제조된 리드프레임은 전술된 바와 같이 강산 또는 강알칼리에 의해 화학적인 반응이 반복수행되어 원하는 패턴이 형성되고 이와 함께 공정간에 온수세, 수세, 순수수세 및 산세와 같이 물이나 산성용액에 의해 세척된 후 건조된다.As described above, the lead frame manufactured through the above process is repeatedly subjected to a chemical reaction by strong acid or strong alkali to form a desired pattern, and water or acid such as hot water washing, washing water, pure water washing and pickling between processes. It is washed by the solution and then dried.

이와 같은 각 공정에 적용되는 장치들은 특별히 노광, 현상과 같은 공정장치 외에는 탱크와 같은 용기의 상단부에 용기내부의 세척이 용이하도록 덮개가 제공되어 있다.Apparatuses applied to each of these processes are provided with a lid to facilitate the cleaning of the inside of the container, particularly at the upper end of the container such as a tank, except for process equipment such as exposure and development.

이러한 덮개(14)는 도 1에 나타나 있는 바와 같이, 용기(10)의 상단 개구부에 형성된 단차면(12)에 재치되어 있다. 통상적으로, 자재는 강산 또는 강알칼리가 충전된 용기를 통과하면서 원하는 도금, 식각 및 박리 등이 수행되며, 이 때의 용액온도는 실온보다 높은 대략 40∼80℃ 정도이다.As shown in FIG. 1, the lid 14 is mounted on the stepped surface 12 formed in the upper end opening of the container 10. Typically, the material is subjected to a desired plating, etching and peeling while passing through a container filled with strong acid or strong alkali, and the solution temperature at this time is about 40 to 80 ° C. higher than room temperature.

따라서, 이러한 용액은 자재에 화학적으로 작용함과 아울러 증발되고, 증발된 기체는 덮개(14)의 하부면에 응집된다. 이렇게 덮개(14)의 하부면에 응집된 액체(L)는 장비조작자가 용기(10)를 세척하거나 유지보수하는 경우에 덮개(14)의 상부면에 형성된 손잡이(16)를 들어올려 용기(10)를 개방하는 경우에 외부로 누출되어 장비의 외장을 오염 또는 부식시키거나 공장의 바닥면을 오염시킴은 물론, 장비조작자의 노출된 피부에 떨어져 화상을 야기하는 안전상의 심각한 문제점이 있었다.Thus, such a solution not only chemically acts on the material but also evaporates, and the vaporized gas agglomerates on the lower surface of the cover 14. The liquid L aggregated on the lower surface of the cover 14 lifts the handle 16 formed on the upper surface of the cover 14 when the equipment operator cleans or maintains the container 10. In case of opening), there is a serious safety problem that leaks to the outside to contaminate or corrode the exterior of the equipment or contaminate the bottom of the factory, as well as causing burns on the exposed skin of the equipment operator.

따라서, 본 발명의 목적은, 장비조작자가 용기의 유지보수 또는 세척을 위해 용기를 개방하더라도 덮개의 하부면에 강산 또는 강알칼리 응집액이 외부로 누출되지 않도록 구성된 반도체장비의 덮개구조를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a cover structure of a semiconductor device configured such that even if the equipment operator opens the container for maintenance or cleaning of the container, no strong acid or strong alkali coagulating liquid leaks to the outside of the cover.

도 1은 종래기술에 의한 반도체장비의 덮개구조를 개략적으로 나타내는 단면도.1 is a cross-sectional view schematically showing a cover structure of a semiconductor device according to the prior art.

도 2는 본 발명의 실시예에 의한 반도체장비의 덮개구조를 개략적으로 나타내는 단면도.2 is a cross-sectional view schematically showing a cover structure of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

≪도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명≫`` Explanation of symbols for main parts of drawings ''

20 : 용기 24 : 차단부재20 container 24 blocking member

26 : 덮개 26a : 보강판26 cover 26a reinforcement plate

26b : 가이드 28 : 손잡이26b: Guide 28: handle

30 : 스토퍼30: stopper

전술한 본 발명의 목적은, 강산 또는 강알칼리 용액이 충전되며 상부면에 개구부가 형성된 용기(20)와, 용기(10)의 연장된 적어도 일단부(22)에 개폐가능하게 힌지 고정되고, 상면에는 손잡이(28)가 설치되며 하면에는 보강판(26a)이 형성된 덮개(26)와, 덮개(26)가 힌지부를 중심으로 개방될 때 덮개(26)의 상면을 지지하여덮개(26)가 소정의 경사각도를 유지하도록 용기(20)의 일단부(22)의 상면에 형성된 스토퍼(30)와, 덮개(26)개방시 덮개(26)하면에 응집된 용액이 덮개(26)의 경사지는 하면을 따라 흘러내려 용기(20)내부로 유입되도록 보강판(26a)일측에 접하여 경사지게 일체형으로 형성된 가이드(26b)와, 덮개(26)측으로 대류되는 가스를 차단하여 덮개(26)의 하부면에 응집되는 용액의 양을 감소시키도록 용기(20)의 일단부(22)로 부터 하방으로 연장된 차단부재(24)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체장비의 덮개구조를 제공함에 의해 달성될 수 있다.The object of the present invention described above, the container 20 is filled with a strong acid or strong alkali solution and the opening is formed in the upper surface, and hinged fixedly open and close to at least one end portion 22 extending from the container 10, the upper surface The handle 28 is installed and the cover 26 having a reinforcing plate 26a is formed on the lower surface thereof, and the cover 26 supports the upper surface of the cover 26 when the cover 26 is opened around the hinge portion. The stopper 30 formed on the upper surface of one end 22 of the container 20 to maintain the inclination angle, and the solution agglomerated on the lower surface of the cover 26 when the cover 26 is opened, the lower surface of the cover 26 is inclined. The guide 26b formed to be integrally inclined in contact with one side of the reinforcing plate 26a so as to flow down and flow into the container 20 and the gas convexed to the cover 26 side are blocked and aggregated on the lower surface of the cover 26. Blocking member 24 extending downward from one end 22 of vessel 20 to reduce the amount of solution. A cover structure of a semiconductor device, characterized in that is compared may be achieved by providing.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2를 참조하면, 본 발명의 반도체장비의 덮개(26)구조는, 실온보다 높은 온도조건하에서 증발 또는 기타 이유로 인해 덮개(26)의 하부면에 응집된 강산 또는 강알카리 액체(L)가 덮개(26)의 개방시 외부로 누출되지 않고 다시 용기(20)내부로 떨어지거나 흘러들어갈 수 있도록 덮개(26)의 일측 하부가 용기(20)의 상단 개구부에 힌지(H)고정되어 있다.Referring to Figure 2, the cover 26 structure of the semiconductor device of the present invention, the cover of the strong acid or strong alkali liquid (L) agglomerated on the lower surface of the cover 26 due to evaporation or other reasons under temperature conditions higher than room temperature The lower side of one side of the lid 26 is hinged to the top opening of the container 20 so that the container 26 may fall or flow back into the container 20 without leaking to the outside when the 26 is opened.

본 발명의 덮개(26) 구조가 적용되는 장치는, 강산 또는 강알카리 용액이 사용되는 도금, 식각 및 박리와 같은 공정을 수행하는 장치들 이외에도 수세, 린스 및 건조장치에 있어서도 덮개(26)가 제공되는 경우에는 모두 적용될 수 있음을 미리 지적한다.The apparatus to which the lid 26 structure of the present invention is applied is provided by the lid 26 in washing, rinsing and drying apparatuses as well as apparatuses for performing processes such as plating, etching and peeling using a strong acid or strong alkali solution. Please note that any such circumstances may apply.

본 발명의 용기(20)는 도 2에 나타나 있는 바와 같이, 강산 또는 강알카리가 충전될 수 있도록 일정한 용적을 갖는 형상으로서, 특별히 개구부가 상단부에 형성되어 있다. 개구부의 형상은 종래기술의 개구부와는 달리 단차가 형성되어 있지 않고 덮개(26)의 일단부가 힌지고정될 수 있도록 상단 가장자리의 일부가 내측으로 연장(22)되어 있다.As shown in Fig. 2, the container 20 of the present invention has a shape with a constant volume so that strong acid or strong alkali can be filled, and an opening is formed in an upper end thereof. Unlike the opening of the prior art, the shape of the opening does not have a step, and a part of the upper edge extends 22 inward so that one end of the cover 26 can be hinged.

덮개(26)는 전술된 바와 같이 개구부의 내측으로 연장된 일단부(22)에 힌지(H)고정되어 있으며, 힌지고정된 일단부(H)에 대향되는 타단부는 개구부의 타단부에 재치되는 구조를 갖는다. 덮개(26)의 상부면에는 개폐를 위한 손잡이(28)가 취부되어 있으며, 하부면에는 덮개(26)를 보강하기 위하여 보강판(26a)이 제공되어 있다.The lid 26 is hinged to one end 22 extending into the opening as described above, and the other end opposite to the hinged one end H is mounted on the other end of the opening. Has a structure. A handle 28 for opening and closing is mounted on an upper surface of the cover 26, and a reinforcement plate 26a is provided on the lower surface to reinforce the cover 26.

덮개(26)구조는 장비조작자에 의해 용기(20)의 유지보수 또는 세척시 덮개(26)가 용기(20)로부터 이탈되지 않기 때문에 공장의 바닥면이나 장비의 외장을 오염/부식시키거나 장비조작자의 화상과 같은 종래기술의 문제점이 해소된다.The lid 26 structure is designed to contaminate / corrode the floor of the factory or the exterior of the equipment or to the equipment operator since the lid 26 is not detached from the vessel 20 during maintenance or cleaning of the vessel 20 by the equipment operator. The problem of the prior art, such as an image, is solved.

그러나, 만약 장비조작자가 덮개(26)를 힘껏 열거나 또는 힌지부분(H)이 헐거워 덮개(26)가 급작스럽게 열려진다면, 덮개(26)의 하부면에 응집된 액체(L)는 종래기술보다는 적은 양이지만 외부로 유출되어 전술된 문제점을 야기할 수 있는 소지가 발생될 수 있다.However, if the operator opens the cover 26 forcibly or if the hinge portion H is loose and the cover 26 is opened suddenly, the liquid L condensed on the lower surface of the cover 26 is less than the prior art. Small amounts can be produced that can leak out and cause the aforementioned problems.

따라서, 힌지(H)부분을 실링재로 코팅하여 덮개(26)가 갑작스럽게 열려지는 것을 방지하는 동시에 힌지(H)부분 틈새를 없앰으로써 가스의 누출도 어느 정도 방지할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.Therefore, it is preferable to prevent the leakage of the gas to some extent by coating the hinge (H) with a sealing material to prevent the cover (26) from being opened suddenly and to eliminate the gap of the hinge (H).

그리고, 덮개(26)가 완전하게 열리게 되면 덮개(26)의 하부면이 노출되게 되고 그로 인해 덮개(26)의 하부면에 응집된 액체가 완벽하게 떨어지지 않은 상태에서 장비조작자의 부주의로 인해 손이 덮개(26)의 하부면에 닿게 되면 손에 화상을 입게 된다.In addition, when the cover 26 is completely opened, the lower surface of the cover 26 is exposed, and thus, the hands of the operator due to the carelessness of the equipment operator do not completely drop the condensed liquid on the lower surface of the cover 26. Touching the lower surface of the cover 26 causes burns to the hands.

따라서, 본 발명에서는 덮개(26)가 힌지(H)를 중심으로 회동되어 경사지게 지지되도록 용기(20)의 상단에 스토퍼(30)를 제공하여 덮개(26)의 하부면에 응집된 액체(L)가 지속적으로 경사면을 덮개(26)의 경사면을 따라 흘러내리도록 함은 물론, 장비조작자가 부주의로 인해 손이 덮개(26)의 하부면에 접촉되는 것을 미연에 방지하였다. 여기서, 스토퍼(30)의 높이 및 위치는 목적하는 바와 따라 다양하게 변형실시될 수 있다.Therefore, in the present invention, the cover 26 is pivoted about the hinge H to provide a stopper 30 at the top of the container 20 so as to be inclinedly supported so that the liquid L aggregated on the lower surface of the cover 26. In addition to continuously flowing down the inclined surface along the inclined surface of the cover 26, as well as to prevent the operator from inadvertent contact of the hand with the lower surface of the cover 26. Here, the height and position of the stopper 30 may be variously modified as desired.

또한, 덮개(26)개방시 덮개(26)의 경사를 따라 흘러내리는 액체(L)를 신속하게 용기(20)내부로 떨어지도록 덮개(26)의 하부면에 가이드(26b)가 제공되어 있다. 이러한 가이드(26b)는 힌지(H)가 설치된 동일방향의 덮개(26) 일측에 제공된 것으로, 도 2에 나타나 있는 바와 같이 일단부가 덮개(26)의 하부면에 형성된 보강판(26a)의 일측면에 접하여 경사지게 일체형으로 형성된다.In addition, a guide 26b is provided on the lower surface of the lid 26 so that the liquid L flowing down along the inclination of the lid 26 quickly falls into the container 20 when the lid 26 is opened. The guide 26b is provided on one side of the cover 26 in the same direction in which the hinge H is installed, and as shown in FIG. 2, one side of the reinforcing plate 26a formed at one end of the cover 26. It is integrally formed to be inclined in contact with.

용기(20)내에 충전된 강산 또는 강알카리 용액은 전술된 바와 같이 증발되어 용기(20) 내부를 대류하거나 덮개(26)의 하부면에 응집된다. 주로, 덮개(26)의 하부면에 응집된 액체(L)는 체적(중량)이 커지면 떨어져 용기(20)내의 용액과 합류되지만 체적이 작은 경우에는 액체(L)의 표면장력에 의해 하부면에 지속적으로 잔류하게 된다.The strong acid or strong alkali solution filled in the vessel 20 is evaporated as described above to convex the interior of the vessel 20 or to agglomerate on the bottom surface of the lid 26. Mainly, the liquid L agglomerated on the lower surface of the lid 26 falls off when the volume (weight) increases and merges with the solution in the container 20, but when the volume is small, the liquid L is lowered by the surface tension of the liquid L. It will continue to remain.

이러한 액체(L)들이 응집된 덮개(26)를 개방하는 경우에 종래기술에서는 문제점이 발생되며 본 발명에 있어서도 가급적 덮개(26)의 하부면에 응집되는액체(L)의 양을 감소시키는 것이 바람직하다.The problem arises in the prior art when these liquids L are agglomerated and open the lid 26. In the present invention, it is preferable to reduce the amount of the liquid L that is agglomerated on the lower surface of the lid 26. Do.

따라서, 본 발명에서는 용기(20)의 내벽을 따라 상승하여 덮개(26) 방향으로 대류되는 가스를 차단시켜 덮개(26)의 하부면에 응집되는 액체(L)의 양을 감소시키도록 용기(20)의 내벽에 차단부재(24)를 제공하였다.Accordingly, in the present invention, the container 20 is raised to block the gas convex in the direction of the cover 26 by rising along the inner wall of the container 20 so as to reduce the amount of liquid L aggregated on the lower surface of the cover 26. A blocking member 24 is provided on the inner wall of the).

이러한 차단부재(24)는 용기(20)의 상단 개구부의 연장된 단부(22)로부터 하방으로 연장되도록 형성됨이 바람직하다. 본 발명의 덮개(26)가 일측으로 편심되어 있기 때문에 전술된 차단부재(24)가 일측에만 형성되어 있지만, 이에 한정되지 않고 차단부재(24)는 목적하는 대류의 차단을 위해 덮개(26)의 구조에 따라 다양하게 변형실시될 수 있다.The blocking member 24 is preferably formed to extend downward from the extended end 22 of the top opening of the container 20. Since the cover 26 of the present invention is eccentric to one side, the above-described blocking member 24 is formed only on one side, but the present invention is not limited thereto, and the blocking member 24 may be formed by the cover 26 to block the desired convection. Various modifications may be made depending on the structure.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명의 구조에 의하면, 덮개의 하부면에 증발된 강산 또는 강알칼리 용액이 응집되더라도 용기의 세척 또는 유지보수시 덮개가 용기로부터 이탈되지 않고 응집된 액체가 용기내로 다시 유입되도록 함으로써 종래 발생되던 장비작업자의 화상과 같은 문제점을 해소할 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the structure of the present invention, even when the strong acid or strong alkali solution evaporated on the lower surface of the cover, the cover is not separated from the container during cleaning or maintenance, so that the condensed liquid flows back into the container. There is an effect that can solve the problems such as the image of the equipment operator that occurred in the past.

Claims (1)

강산 또는 강알칼리 용액이 충전되며 상부면에 개구부가 형성된 용기(20);A container 20 filled with a strong acid or strong alkali solution and having an opening formed in an upper surface thereof; 상기 용기(10)의 연장된 적어도 일단부(22)에 개폐가능하게 힌지고정되고, 상면에는 손잡이(28)가 설치되며 하면에는 보강판(26a)이 형성된 덮개(26);A cover 26 which is hinged and fixed to an extended at least one end 22 of the container 10, a handle 28 is installed on an upper surface thereof, and a reinforcement plate 26a is formed on a lower surface thereof; 상기 덮개(26)가 힌지부를 중심으로 개방될 때 상기 덮개(26)의 상면을 지지하여 상기 덮개(26)가 소정의 경사각도를 유지하도록 상기 용기(20)의 일단부(22)의 상면에 형성된 스토퍼(30);When the lid 26 is opened around the hinge portion, the lid 26 supports an upper surface of the lid 26 so that the lid 26 maintains a predetermined inclination angle to the upper surface of one end 22 of the container 20. A stopper 30 formed; 상기 덮개(26)개방시 상기 덮개(26)하면에 응집된 용액이 상기 덮개(26)의 경사지는 하면을 따라 흘러내려 상기 용기(20)내부로 유입되도록 상기 보강판(26a)일측면에 접하여 경사지게 일체형으로 형성된 가이드(26b); 및When the cover 26 is opened, the solution agglomerated on the lower surface of the cover 26 flows along the inclined lower surface of the cover 26 to be in contact with one side of the reinforcing plate 26a to flow into the container 20. A guide 26b integrally formed obliquely; And 상기 덮개(26)측으로 대류되는 가스를 차단하여 상기 덮개(26)의 하부면에 응집되는 용액의 양을 감소시키도록 상기 용기(20)의 일단부(22)로 부터 하방으로 연장된 차단부재(24)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체장비의 덮개구조.Blocking member extending downward from one end 22 of the vessel 20 to block the gas convection toward the lid 26 to reduce the amount of solution agglomerated on the lower surface of the lid 26 ( 24) The cover structure of the semiconductor equipment, characterized in that it comprises a.
KR1019980060162A 1998-12-29 1998-12-29 Cover structure of semiconductor equipment KR100344092B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980060162A KR100344092B1 (en) 1998-12-29 1998-12-29 Cover structure of semiconductor equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980060162A KR100344092B1 (en) 1998-12-29 1998-12-29 Cover structure of semiconductor equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000043745A KR20000043745A (en) 2000-07-15
KR100344092B1 true KR100344092B1 (en) 2002-11-23

Family

ID=19567001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980060162A KR100344092B1 (en) 1998-12-29 1998-12-29 Cover structure of semiconductor equipment

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100344092B1 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276534U (en) * 1985-11-01 1987-05-16
JPS6298229U (en) * 1985-12-11 1987-06-23
JPS63180927U (en) * 1987-05-14 1988-11-22
JPH0420229U (en) * 1990-06-12 1992-02-20
JPH077141U (en) * 1993-06-25 1995-01-31 大日本スクリーン製造株式会社 Liquid tank opening and closing device
JPH0786226A (en) * 1993-09-10 1995-03-31 Sony Corp Cleaning device
KR970003197U (en) * 1995-06-24 1997-01-24 Cleaning Tank Cover of Wet Cleaner

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276534U (en) * 1985-11-01 1987-05-16
JPS6298229U (en) * 1985-12-11 1987-06-23
JPS63180927U (en) * 1987-05-14 1988-11-22
JPH0420229U (en) * 1990-06-12 1992-02-20
JPH077141U (en) * 1993-06-25 1995-01-31 大日本スクリーン製造株式会社 Liquid tank opening and closing device
JPH0786226A (en) * 1993-09-10 1995-03-31 Sony Corp Cleaning device
KR970003197U (en) * 1995-06-24 1997-01-24 Cleaning Tank Cover of Wet Cleaner

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000043745A (en) 2000-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5922138A (en) Liquid treatment method and apparatus
JPH0264646A (en) Developing method for resist pattern and developing device using the same
KR100874395B1 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR100344092B1 (en) Cover structure of semiconductor equipment
JP3495121B2 (en) Cleaning method and apparatus
JPS61247034A (en) Cleaning method of semiconductor slice
JP3237386B2 (en) Cleaning / drying method and cleaning equipment
JPS6347935A (en) Semiconductor substrate washing apparatus
JP4212437B2 (en) Substrate processing equipment
JPH09162156A (en) Treating method and treating system
JP2000100761A (en) Semiconductor device manufacturing method and apparatus
KR100935718B1 (en) Device of cleaning for wafer and the method for cleaning of wafer using the same
KR100706237B1 (en) Apparatus for cleaning substrate, chamber used in manufacturing substrate, and method for sealing the chamber from the outside air
KR20080096065A (en) Substrate cleaning apparatus and method
JPS62198126A (en) Processor
JP3487507B2 (en) Surface treatment equipment
JP2541238Y2 (en) Substrate lifting prevention device for substrate cleaning tank
JPS6085529A (en) Treater for chemical for semiconductor wafer
JP2007173278A (en) Apparatus for cleaning semiconductor substrate and method of manufacturing semiconductor device
JPH09153475A (en) Semiconductor cleaning/drying method and device
JPH024269A (en) Photoresist removing method
JPH03203234A (en) Wafer washing device
KR200373861Y1 (en) Chemical bath designed to prevent an over-etch of a wafer
JPH0132046Y2 (en)
KR100321546B1 (en) Apparatus and method for chuck cleaning of transfer robot

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070508

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee