KR100329738B1 - 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법 - Google Patents

와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100329738B1
KR100329738B1 KR1019990065805A KR19990065805A KR100329738B1 KR 100329738 B1 KR100329738 B1 KR 100329738B1 KR 1019990065805 A KR1019990065805 A KR 1019990065805A KR 19990065805 A KR19990065805 A KR 19990065805A KR 100329738 B1 KR100329738 B1 KR 100329738B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wire bonding
bonding
chips
cameras
chip
Prior art date
Application number
KR1019990065805A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010058472A (ko
Inventor
구자현
이용희
Original Assignee
박종섭
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990065805A priority Critical patent/KR100329738B1/ko
Priority to US09/749,796 priority patent/US20010007084A1/en
Priority to JP2001000218A priority patent/JP2001291735A/ja
Publication of KR20010058472A publication Critical patent/KR20010058472A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100329738B1 publication Critical patent/KR100329738B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/60Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78703Mechanical holding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 패키지 공정의 시간을 단축하도록 하는데 적합한 와이어본딩 장치와 그를 이용한 와이어본딩 방법에 관한 것으로, 이를 위한 본 발명은 복수개의 반도체칩이 부착된 리드프레임, 동시에 복수개의 상기 반도체 칩에 대한 영상 획득을 위한 카메라를 복수개 구비하고 인접한 상기 카메라의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 본드헤드, 상기 카메라의 개수만큼의 작업지역을 두고 인접한 상기 작업지역의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 윈도우클램퍼를 포함하여 이루어진다.

Description

와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법{APPARATUS FOR WIRE BONDING AND METHOD FOR WIRE BONDING USING THE SAME}
본 발명은 반도체 소자의 패키지 방법에 관한 것으로, 특히 와이어본딩시간을 감소시키는데 적합한 와이어본딩 장치와 그를 이용한 본딩 방법에 관한 것이다.
일반적으로 반도체소자의 제조 공정중 와이어 본딩장치는 하나의 리드프레임 (Leadframe)에 부착된 각각의 반도체 칩에 대하여 본딩할 칩의 본딩포인트 (Bonding point)와 리드프레임의 본딩포인트(bonding point)를 인식하고, 인식된 본딩포인트를 와이어(Wire)로 연결한다. 즉 와이어 본딩장치에 있어서 본딩포인트를 인식하는 패턴인식저장시간(Pattern Recognition time Saving;'PRS')과 본딩포인트를 와이어로 연결하는 본딩과정에서 대부분 공정 시간이 소요된다.
도 1 은 종래기술의 비병렬 와이어본딩 장치를 나타내고 있는 구성 블록도로서, 단일 X-Y 스테이지 상에 본딩포인트인식을 위한 하나의 카메라(1)와 와이어본딩을 위한 하나의 트랜스듀서(Transducer)(2)로 구성되는 본드헤드(Bond Head)(3)와 다수의 반도체칩(4a,4b,4c)이 부착된 리드프레임(5)을 핸들링하기 위한 하나의 윈도우 클램퍼(Window clamper)(6)와 하나의 히터블록(Heater block)(7)으로 구성되며, 상기 윈도우 클램퍼(6)는 하나의 작업지역(6a)이 구비되어 있다.
상기와 같이 구성된 비병렬 와이어본딩 장치는 리드프레임(5)의 반도체칩 (4a,4b,4c)중 하나가 윈도우 클램퍼(6)의 하나의 작업지역(6a)에 위치하면 카메라 (1)를 이용해 반도체칩(4a,4b,4c)중의 하나와 리드프레임(5)의 영상을 획득하고 본딩포인트인식을 위한 중앙처리장치가 그 영상을 분석해서 본딩포인트를 인식하고 트랜스듀서(2)를 이용해 와이어본딩한다. 그리고 예를들어 특정 칩(4a)에 대한 와이어본딩이 끝나면 리드프레임(5)을 움직여 다음 칩(4b)을 윈도우 클램퍼(6)의 작업지역(6a)에 위치시키고 본딩포인트인식 과정과 와이어본딩 과정을 반복한다.
이와같이 종래의 비병렬 와이어본딩 장치는 본딩과정 중에는 본딩포인트인식시간을 저장하지 않으므로 하나의 칩에 대하여 본딩포인트인식에 소요되는 시간이 P, 본딩과정에 소요되는 시간이 Q 라고 가정하고, 하나의 리드프레임(6)에 부착된 칩(4a,4b,4c)의 개수가 N이라면, 그 리드프레임(6)에 부착된 모든 칩을 본딩하기 위해서는 총 N(P+Q)의 시간이 소요된다.
대부분의 와이어본딩 장치는 와이어본딩 과정을 제어하는 중앙처리장치(CPU)와 본딩포인트인식을 수행하는 중앙처리장치가 구분되어 있다. 하지만 종래의 비병렬 와이어본딩 장치는 본딩과정중에는 본딩포인트인식을 하지 않는다. 즉 본딩과정 중에는 패턴인식을 담당하는 중앙처리장치가 동작하지 않는다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 카메라를 두개 이상 이용하여 두개 이상의 칩과 리드프레임에 대한 영상을 획득하여 하나의 칩을 본딩하는 공정 중에 다음에 본딩할 칩들에 대해 본딩포인트인식 과정을 미리 진행하므로써, 본딩장치의 작업시간의 단축효과를 증가시키는데 적합한 와이어본딩 장치와 그를 이용한 본딩 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1 은 종래기술에 따른 와이어본딩 장치의 구성 블록도,
도 2 는 본 발명의 실시예에 따른 와이어본딩 장치의 구성 블록도
도 3 은 본 발명의 실시예에 다른 와이어본딩 방법을 나타낸 플로우챠트.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
21a,21b,21c : 카메라 22 : 트랜스듀서
23 : 본드 헤드 24a,24b,24c : 칩
25 : 리드프레임 26 : 윈도우 클램퍼
26a,26b,26c : 작업지역 27 : 히터블록
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 와이어본딩 장치는 복수개의 반도체칩이 부착된 리드프레임, 동시에 복수개의 상기 반도체 칩에 대한 영상 획득을 위한 카메라를 복수개 구비하고 인접한 상기 카메라의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 본드헤드, 상기 카메라의 개수만큼의 작업지역을 두고 인접한 상기 작업지역의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 윈도우 클램퍼를 포함하여 구성됨을 특징으로 하고, 이를 이용한 와이어본딩 방법은 카메라와 트랜스듀서로 구성된 본드헤드, 윈도우클램퍼, 다수개의 칩이 부착된 리드프레임이 구비된 와이어본딩 장치의 와이어본딩방법에 있어서, 상기 모든 칩에 대해 상기 윈도우 클램퍼에 들어가는 순서대로 일련번호를 부여하는 제 1 단계, 상기 윈도우 클램퍼에 구성된 작업지역의 개수, 일련번호가 부여된 상기 칩의 번호를 초기화하는 제 2 단계, 상기 일련번호가 부여된 칩중 하나를 첫 번째 작업지역으로 이동시키는 제 3 단계, 상기 본드헤드에 구비된 다수개의 카메라중 첫 번째 카메라를 상기 첫 번째 작업지역으로 이동시켜 상기 모든 작업지역에 위치한 칩의 영상을 획득하는 제 4 단계, 상기 카메라에 상응하는 작업지역에 위치한 칩의 영상을 분석하여 본딩포인트를 인식함과 동시에 인식된 본딩포인트를 와이어본딩하는 제 5 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 2 는 본 발명의 실시예에 따른 병렬 와이어본딩 장치를 나타낸 구성 블록도로서, 본드 헤드(23)에 다수 개의 카메라(21a,21b,21c)가 구성되며 상기 카메라 (21a,21b,21c)에 대응하여 윈도우 클램퍼(26)에 다수 개의 작업지역(26a.26b,26c)을 구성한다.
도 2 에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 병렬 와이어본딩 장치는 복수 개의 반도체칩(24a,24b,24c)이 부착된 리드프레임(25), 동시에 복수 개의 상기 반도체 칩(24a,24b,24c)에 대한 영상 획득을 위한 카메라(21a,21b,21c)를 복수개 구비하는 본드 헤드(23), 상기 다수 개의 카메라(21a,21b,21c)의 개수만큼의 작업지역(26a ,26b, 26c)으로 구성된 윈도우 클램퍼(26)로 구성된다.
그리고 상기 본드 헤드(23)는 와이어를 칩에 본딩하는 트랜스듀서(22)를 더 구비하며 두개 이상의 카메라(21a,21b,21c)가 있고, 인접한 카메라들(21a,21b,21c)의 중심점간의 거리(A')는 리드프레임(25)에 부착된 인접한 칩(24a,24b,24c)의 중심점간의 거리(A')와 동일하다. 또한 상기 윈도우 클램퍼(26)에 2개 이상의 작업지역(26a,26b,26c)이 있고, 인접한 작업지역(26a,26b)의 중심점간의 거리(A)는 리드프레임(25)에 부착되어 있는 인접한 칩(24a,24b)의 중심점 간의 거리(A') 및 인접한 카메라(21a,21b)의 중심점간의 거리(A')와 동일하다. 또한 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(도 3의 200)는 모든 작업지역(26a,26b,26c)에 있는 칩의 영상을 동시에 가지고 있으며, 첫 번째 작업지역에 있는 칩의 영상부터 차례대로 분석해서 본딩포인트를 인식하고 그 결과를 와이어본딩 중앙처리장치(도 3의 100)에 알려준다.
그리고 본드헤드(23)는 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(100)가 인식한 본딩포인트를 바탕으로 트랜스듀서(22)를 이용하여 병렬적으로 와이어본딩을 한다. 또한 리드프레임(25)에 부착된 칩의 개수와 작업지역의 개수가 다르기 때문에, 다수 개의 칩(24a,24b,24c)이 상기 윈도우 클램퍼(26)에 들어갈 때는 윈도우클램퍼(26)에 있는 작업지역의 개수만큼 움직인다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 병렬 와이어본딩 장치의 동작에 대해 첨부도면 도 3 을 참조하여 설명하기로 한다.
도 3 은 본 발명의 실시예에 따른 병렬 와이어본딩 장치의 동작을 나타낸 플로우챠트로서, 윈도우클램퍼(26)의 작업지역 개수를 n(1∼ n개), 본드헤드(23)의 카메라 번호를 c, 작업지역 번호를 b(1∼n개), 일련번호가 부여된 칩의 번호를 i 라 한다. 그리고 작업지역(26a,26b,26c) 중 첫번째 작업지역을 '26a'라하고, 일련번호가 1 인 칩을 '24a'라 하며, 첫번 째 카메라를 '21a' 라 하여 설명하기로 한다.
먼저 와이어본딩 중앙처리장치(100)는 리드프레임(25)에 부착된 모든 칩 (24a,24b,24c)에 대해 각 칩이 윈도우 클램퍼(26)에 들어가는 순서대로 1,2,3,...과 같이 일련번호를 부여한다(101). 그리고 상기 작업지역의 개수 n 은 작업지역의 개수로 초기화하고 일련번호가 부여된 칩의 번호 i 는 1 로 초기화한다.
이어 i 번째 칩(24a)을 윈도우클램퍼(26)의 첫 번째 작업지역(26a)으로 이동시킨다. 이 때 i+1,i+2,...,i+n 번째 칩은 각각 2,3,n 번째 작업지역에 위치한다. 여기서 리드프레임(25)에 부착된 칩의 개수는 윈도우 클램퍼(26)의 작업지역의 개수보다 많다.
이어 본드 헤드(23)의 첫 번째 카메라(21a)를 첫 번째 작업지역(26a)으로 이동시키는데, 이 때 2,3,..,n 번째 카메라는 각각 2,3,n 번째 작업지역에 위치한다.여기서 카메라의 개수와 작업지역의 개수는 동일하다. 상기 각각의 카메라 (21a,21b,21c)가 해당 작업지역(26a,26b,26c)으로 이동되었을 때, 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(200)는 작업지역(26a,26b,26c)에 위치하는 모든 칩의 영상을 획득한다(105).
이어 상기 와이어본딩 중앙처리장치(100)는 작업지역 번호 b가 1이면 b 번째 작업지역에 있는 칩의 본딩포인트 인식이 마무리되기를 기다리고(107), 이어 b 번째 작업지역에 있는 칩을 와이어본딩한다(108). 동시에 상기 모든칩의 영상을 획득한 후(105), 상기 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(200)는 카메라번호 c가 1 이면 c 번째 카메라에 해당하는 작업지역에 있는 칩의 영상을 분석해서 본딩포인트를 인식한다(106).
그리고 와이어본딩을 위한 중앙처리장치(100)는 상기 b 번째 작업지역이 n 보다 클때까지 즉, 모든 작업지역에 위치하는 칩에 대한 와이어본딩을 실시하고 (109), 모든 칩에 대한 와이어본딩이 완료될때까지 리드프레임에 부착된 나머지 일련번호가 부여된 칩을 작업지역으로 이동시킨다(110). 또한 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(200)는 모든 작업지역에 해당하는 칩의 영상분석이 완료될때까지 즉, c > n 보다 클때까지 본딩포인트인식을 반복한다(106a).
다시 말하면 종래기술의 비병렬 와이어본딩 장치가 특정 칩에 대한 와이어본딩이 끝나면 리드프레임을 움직여 다음 칩을 윈도우클램퍼의 작업지역에 위치시키고 본딩포인트인식과정과 와이어본딩 과정을 반복하는 반면, 본 발명의 병렬 와이어본딩 장치는 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(200)와 와이어본딩 중앙처리장치(100)가 병렬적으로 동작하므로써 패키지의 와이어본딩을 위한 시간을 단축할 수 있다.
이어 상기의 패키지의 와이어본딩을 위한 시간 단축에 대해 상세하게 종래기술과 본 발명의 실시예를 비교하여 설명하기로 한다.
우선 리드프레임(25)이 이동되는 시간은 무시하며 종래기술의 비병렬 와이어본딩 장치는 하나의 칩을 처리하는데 필요한 전체 시간의 60%정도를 실제로 와이어본딩을 하는데 소요하고 나머지 약 40%정도를 본딩포인트인식을 위한 PRS 중앙처리장치(200)가 소요한다.
예를 들어, 하나의 QFP(Quadruple Flat Package) 리드 칩을 처리하는데 소요되는 예상 시간은 본딩포인트인식 시간은 20초, 본딩시간은 30초가 되므로 하나의 QFP리드칩을 처리하는데 소요되는 총 시간은 20+30=50초가 된다.
그러나 본 발명에서 제시한 병렬 와이어본딩 장치는 첫 번째 작업지역에 있는 칩을 제외한 두 번째 작업지역 이후의 칩에 대한 본딩포인트인식 과정은 첫 번째 작업지역에 있는 칩의 와이어본딩 과정 중에 수행된다. 따라서 윈도우 클램퍼 (26)에 있는 작업지역의 개수가 n 개라면 n-1번의 본딩포인트인식 시간이 절약된다. 즉 평균적으로 본 발명의 병렬 와이어본딩 장치는 본딩포인트인식 시간을 약 1/n로 단축하므로 특정 반도체칩에 대한 본딩포인트 인식시간이 P, 와이어본딩시간이 Q 라 하면 그 반도체 칩을 처리하는데 소요되는 평균시간은 (P/n + Q)가 된다. 이로써 처리할 수 있는 반도체 칩의 개수가 많아지게 된다.
예를 들면, 하나의 QFP 리드칩을 처리하는데 소요되는 예상 시간은 본딩포인트인식 시간은 20/n 초가 되고, 본딩시간은 30초가 되어 윈도우클램퍼에 있는 작업지역의 개수가 3 개일 때 하나의 반도체칩에 대한 본딩포인트인식과 와이어본딩을 위한 시간은 평균적으로 (20/3+30)=36.66초가 된다.
따라서 본 발명의 병렬 와이어본딩 장치는 반도체 제조 공정 중 와이어본딩 시간을 현저히 감소시키는 시간단축효과(r)가 있다.
상기 본딩포인트인식시간(20초), 와이어본딩시간(30초) 및 작업지역의 개수 (3개)을 상기 수학식에 대입하면 시간단축효과 r = 40/150 = 26.66% 이다. 즉 작업지역의 개수가 3 개일 때 병렬 와이어본딩 장치는 종래기술의 비병렬 와이어본딩 장치에 비해 QFP 리드칩을 처리하는 시간을 약 26% 단축할 수 있으므로 단위시간 동안 본딩하는 반도체칩의 개수를 늘릴 수 있다.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
상술한 바와 같은 본 발명의 병렬 와이어본딩 장치는 와이어본딩 과정중에 본딩포인트인식을 동시에 수행하므로써 작업지역의 개수가 N 개일때 본딩포인트인식을 위한 본딩포인트인식 시간이 1/N 만큼 감소되므로 반도체칩의 패키지 공정에 소요되는 공정시간을 감소시킬수 있는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 복수개의 반도체칩이 부착된 리드프레임;
    동시에 복수개의 상기 반도체 칩에 대한 영상 획득을 위한 카메라를 복수개 구비하고 인접한 상기 카메라의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 본드헤드; 및
    상기 카메라의 개수만큼의 작업지역을 두고 인접한 상기 작업지역의 중심점간의 거리가 상기 반도체칩의 중심점간의 거리와 동일하게 구성된 윈도우클램퍼
    를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 와이어본딩 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 본드헤드는,
    상기 반도체칩의 와이어본딩을 위한 중앙처리장치;
    상기 와이어본딩의 본딩포인트인식을 위한 중앙처리장치; 및
    상기 반도체칩에 와이어본딩을 실시하는 트랜스듀서
    를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 와이어본딩 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 본딩포인트인식을 위한 중앙처리장치는 상기 윈도우 클램퍼의 모든 작업지역에 있는 상기 반도체칩의 영상을 동시에 획득하는 것을 특징으로 하는 와이어본딩 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 카메라는 상기 작업지역과 상응하여 위치하도록 상기 작업지역과 동일한 개수로 구성됨을 특징으로 하는 와이어본딩 장치.
  5. 카메라와 트랜스듀서로 구성된 본드헤드, 윈도우 클램퍼, 다수개의 칩이 부착된 리드프레임이 구비된 와이어본딩 장치의 와이어본딩방법에 있어서,
    상기 모든 칩에 대해 상기 윈도우 클램퍼에 들어가는 순서대로 일련번호를 부여하는 제 1 단계;
    상기 윈도우 클램퍼에 구성된 작업지역의 개수(n), 일련번호가 부여된 상기 칩의 번호를 초기화하는 제 2 단계;
    상기 일련번호가 부여된 칩중 하나를 첫 번째 작업지역으로 이동시키는 제 3 단계;
    상기 본드헤드에 구비된 다수개의 카메라중 첫 번째 카메라를 상기 첫 번째 작업지역으로 이동시켜 상기 모든 작업지역에 위치한 칩의 영상을 획득하는 제 4단계; 및
    상기 카메라에 상응하는 작업지역에 위치한 칩의 영상을 분석하여 본딩포인트를 인식함과 동시에 인식된 본딩포인트를 와이어본딩하는 제 5 단계
    를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 와이어본딩 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 4 단계에서,
    상기 첫 번째 카메라가 상기 첫 번째 작업지역으로 이동하면 나머지 카메라도 각각 상기 작업지역에 상응하도록 동시에 이동되는 것을 특징으로 하는 와이어본딩 방법.
KR1019990065805A 1999-12-30 1999-12-30 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법 KR100329738B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990065805A KR100329738B1 (ko) 1999-12-30 1999-12-30 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법
US09/749,796 US20010007084A1 (en) 1999-12-30 2000-12-28 Automatic wire bonder and method for implementing thereof
JP2001000218A JP2001291735A (ja) 1999-12-30 2001-01-04 自動ワイヤボンディング装置及びその方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990065805A KR100329738B1 (ko) 1999-12-30 1999-12-30 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010058472A KR20010058472A (ko) 2001-07-06
KR100329738B1 true KR100329738B1 (ko) 2002-03-21

Family

ID=19632973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990065805A KR100329738B1 (ko) 1999-12-30 1999-12-30 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100329738B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100604670B1 (ko) * 1999-12-30 2006-07-25 주식회사 하이닉스반도체 와이어본딩 장치 및 그를 이용한 본딩 방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102601518B1 (ko) * 2018-01-09 2023-11-14 쿨리케 앤드 소파 인더스트리즈, 인코포레이티드 클램핑 시스템을 포함하는 와이어 본딩 기계를 작동하는 시스템 및 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100604670B1 (ko) * 1999-12-30 2006-07-25 주식회사 하이닉스반도체 와이어본딩 장치 및 그를 이용한 본딩 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010058472A (ko) 2001-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6478211B2 (en) Device and method for clamping and wire-bonding the leads of a lead frame one set at a time
US5816477A (en) Wire bonding apparatus and method
US7654436B2 (en) Wire bonding system utilizing multiple positioning tables
EP0446937B1 (en) Method of manufacturing a semiconductor device using bonding wires of different material
KR100329738B1 (ko) 와이어 본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법
KR100616497B1 (ko) 와이어본딩 장치와 그를 이용한 본딩 방법
KR100329740B1 (ko) 와이어본딩 장치와 그를 이용한 와이어 본딩 방법
KR100604670B1 (ko) 와이어본딩 장치 및 그를 이용한 본딩 방법
US20010007084A1 (en) Automatic wire bonder and method for implementing thereof
KR100252732B1 (ko) 내부 리드선 본딩 방법 및 장치
JP2006511066A (ja) ワイヤボンディング方法及び装置
KR100629272B1 (ko) 와이어 본딩 방법
JPH05136195A (ja) ワイヤボンデイング装置
KR0134166Y1 (ko) 반도체 제조장치의 와이어 본딩장치
KR100585601B1 (ko) 와이어본딩위치 보정방법
KR100348830B1 (ko) 더블본딩 방지의 화상인식 방법
JP4080143B2 (ja) ワイヤボンダ
KR100273881B1 (ko) 와이어본딩방법
KR930009005A (ko) 반도체 조립장비의 본딩 제어방법
KR20020088269A (ko) 리젝트 유니트를 스킵하는 볼 그리드 어레이 패키지용와이어 본딩 방법
EP4283671A3 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JPH031550A (ja) ワイヤボンダ
KR19990010136A (ko) 패턴 인식 장치 및 이를 이용한 그라운드 본딩 위치 인식방법
JPH08316259A (ja) 半導体製品のワイヤボンディング方法および装置
JP2005129553A (ja) 半導体装置の製造方法およびそれに用いられる半導体製造装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110222

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee