KR100328346B1 - 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어 - Google Patents

모듈 아이씨 핸들러의 캐리어 Download PDF

Info

Publication number
KR100328346B1
KR100328346B1 KR1019990044786A KR19990044786A KR100328346B1 KR 100328346 B1 KR100328346 B1 KR 100328346B1 KR 1019990044786 A KR1019990044786 A KR 1019990044786A KR 19990044786 A KR19990044786 A KR 19990044786A KR 100328346 B1 KR100328346 B1 KR 100328346B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
module
carrier
pressing
pressing member
present
Prior art date
Application number
KR1019990044786A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010037333A (ko
Inventor
김종원
Original Assignee
정문술
미래산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 정문술, 미래산업 주식회사 filed Critical 정문술
Priority to KR1019990044786A priority Critical patent/KR100328346B1/ko
Publication of KR20010037333A publication Critical patent/KR20010037333A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100328346B1 publication Critical patent/KR100328346B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02Articles
    • B65G2201/0214Articles of special size, shape or weigh
    • B65G2201/022Flat

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 모듈 아이씨 핸들러(handler)에 사용되는 캐리어(carrier)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 복수개의 모듈 아이씨(Module IC)를 홀딩한 상태로 테스트 공정간에 이송시키는 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어에 관한 것이다.
상기 본 발명은 사각틀 형태의 하우징과; 상기 하우징 내에 마주보도록 평행하게 설치된 한 쌍의 설치판과; 상기 각각의 설치판에 등간격으로 설치되어 모듈 IC를 잡아주기 위한 홀딩수단과; 상기 홀딩수단에 의해 고정된 모듈 IC의 상부를 눌러 이탈을 방지하기 위한 누름부재와; 상기 누름부재에 의해 눌려진 모듈 IC를 해제하기 위한 누름해제수단으로 구성되는 것을 특징으로 한다.
이상에서와 같이 본 발명은 챔버의 외부에서 모듈 아이씨를 픽업수단에 의해 캐리어 내에 로딩하도록 되어 있어 캐리어에 로딩된 모듈 아이씨를 챔버의 내부로 용이하게 이송시켜 설정된 온도로 히팅한 다음 테스트를 실시하게 되므로 테스트에 따른 제품의 신뢰도 향상과 더불어, 캐리어에 모듈 아이씨를 로딩 및 언로딩하는 동안 테스트 사이트에서는 고가 장비의 가동률을 극대화하여 동일 시간 내에 많은 양의 모듈 아이씨를 테스트할 수 있는 이점이 있다.

Description

모듈 아이씨 핸들러의 캐리어{Carrier of Handler for Module IC}
본 발명은 모듈 아이씨 핸들러(handler)에 사용되는 캐리어(carrier)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 복수개의 모듈 아이씨(Module IC)를 홀딩한 상태로 테스트 공정간에 이송시키는 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어에 관한 것이다.
일반적으로, 모듈 아이씨(이하, '모듈 IC'라 함)(1)란 도 1에 나타낸 바와 같이 기판의 일측면 또는 양측면에 복수개의 아이씨(IC) 및 부품(2)을 납땜 고정하여 독립적으로 회로를 구성한 것으로, 메인기판에 실장되어 용량을 확장시키는 기능을 갖는다.
이러한 모듈 IC(1)는 생산 완료된 IC를 낱개로 판매하는 것보다 고부가 가치를 갖게 되므로 IC생산업체에서 주력상품으로 개발하여 판매하고 있다. 제조공정을 거쳐 조립 생산된 모듈 IC(1)는 가격이 비싸므로 인해 제품의 신뢰성 또한 매우 중요하여 엄격한 품질검사를 통해 양품으로 판정된 제품만을 출하하고, 불량으로 판정된 모듈 IC는 수정 또는 전량 폐기 처분한다.
종래에는 생산 완료된 모듈 IC(1)를 테스트 소켓 내에 자동으로 로딩하여 테스트를 실시한 다음 테스트 결과에 따라 자동으로 분류하여 고객 트레이(customer tray)(미도시됨)내에 언로딩하는 장비가 개발된 바 없었다. 따라서, 생산 완료된 모듈 IC를 테스트하기 위해서는 작업자가 트레이로부터 모듈 IC를 수작업으로 1개씩 꺼내 테스트 소켓 내에 로딩한 다음 설정된 시간동안 테스트를 실시한 후, 테스트 결과에 따라 모듈 IC를 고객 트레이 내에 분류하여 넣어야 되었으므로 모듈 IC의 테스트에 따른 작업능률이 저하되었다. 또한, 단순노동에 따른 지루함으로 인해 생산성의 저하를 초래하게 되었다. 따라서, 모듈 IC를 자동으로 테스트하는 핸들러가 출원인에 의해 개발되어 특허 및 실용신안으로 다수 출원(자사 모델명 ; MR7100, MR7200)된 바 있다.
도 2 및 도 3은 출원인에 의해 개발되어 특허 98-1519호로 선출원된 모듈 아이씨 핸들러를 나타낸 개략도로서, 그 구성을 살펴보면 다음과 같다.
도 2에 도시된 바와 같이 공지의 픽업수단(3)이 트레이 내에 담겨져 있던 1개의 모듈IC(1)를 홀딩하기 위해 트레이 측으로 이송할 때 모듈IC의 양끝을 홀딩하는 핑거(4)는 양측으로 최대한 벌어진 상태를 유지하고 있다.
이러한 상태에서 픽업수단(4)이 트레이 측으로 이동 완료하여 양측으로 벌어진 핑거(4)가 모듈IC(1)의 직상부에 위치한 다음 하강하고 나면 핑거 실린더(5)가 구동하여 양측으로 벌어졌던 핑거(4)를 내측으로 오므리게 되므로 트레이 내의 모듈IC(1)를 홀딩하게 된다.
이와 같이 트레이 내의 모듈 IC(1)를 홀딩하고 나면 픽업수단(3)이 도 2와 같이 테스트 소켓(6)이 위치된 테스트 사이트 측으로 이동하여 테스트 소켓(6)의 직상부에 홀딩하고 있던 모듈 IC(1)를 위치시키고 새로운 모듈 IC를 홀딩하기 위해 트레이 측으로 이송하게 된다.
반복되는 상기한 동작으로 테스트 사이트 측에 설치된 복수개의 테스트 소켓(6)에 테스트할 모듈 IC(1)가 전부 로딩되고 나면 메인 실린더(7) 및 포킹 실린더(8)가 순차적으로 구동하여 푸셔(9)를 하강시키게 되므로 푸셔가 하강하면서 테스트 소켓(6)에 얹혀져 있던 모듈 IC(1)의 상면을 눌러주게 되고, 이에 따라 모듈 IC(1)의 패턴(1a)이 테스트 소켓(6)의 단자와 전기적으로 접속되므로 모듈 IC의 성능 테스트가 가능해지게 된다.
한편, 모듈 IC(1)의 테스트가 완료되고 나면 취출 실린더(10)의 구동으로 취출레버(11)를 회동시켜 테스트 소켓(6)에 꽂혀져 있던 모듈 IC(1)를 홀딩하여 테스트 결과에 따라 고객 트레이 내에 언로딩하게 된다.
그러나, 종래의 핸들러에서는 픽업수단에 의해 모듈 IC(1)를 테스트 소켓(6)측으로 이송시키기 때문에 다음과 같은 문제점이 있었다.
첫째, 픽업수단에 의해 모듈 IC를 홀딩하여 테스트 소켓 내에 로딩 및 언로딩하도록 되어 있어 픽업수단에 의해서는 밀폐된 챔버 내에서 모듈 IC를 핸들링할 수 없기 때문에 모듈 IC를 상온에서밖에 테스트할 수 없었다.
이에따라, 생산 완료된 모듈 IC(1)를 상온에서 테스트하여 양품만을 출하하는 반면, 출하된 모듈 IC를 제품에 장착되어 실제 사용할 때에는 구동에 따라 많은 열의 발생으로 고온의 상태에서 구동하므로 인해 테스트시 조건과 실제 사용할 때의 조건이 차이가 발생되므로 출하된 제품의 신뢰성이 떨어졌다.
둘째, 트레이 내에 담겨져 있던 모듈IC(1) 및 테스트 소켓 내에 있던 모듈 IC(1)를 픽업수단이 홀딩하여 이송시키기 때문에 모듈 IC를 테스트할 동안에는 모듈 IC의 이송이 불가능해져 사이클 타임(Cycle time)이 길어지게 되므로 동일시간내에 많은 양의 모듈 IC를 테스트할 수 없다.
따라서 본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 생산된 모듈 IC를 일정 온도 하에서 성능 테스트를 실시하여 출하된 제품의 신뢰성을 보다 향상시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 픽업수단이 트레이 내에 담겨져 있던 모듈IC를 캐리어에 로딩 및 언로딩하는 역할만을 수행하도록 하고 복수개의 모듈 IC가 담겨진 캐리어를 테스트 공정간에 이송시키도록 하여 고가 장비의 가동률을 극대화시킬 수 있도록 하는데 있다.
도1은 일반적인 모듈 아이씨를 나타낸 사시도,
도2는 모듈 아이씨 픽업수단이 모듈 아이씨를 홀딩하여 테스트 사이트의 테스트로 소켓에 로딩하는 상태도,
도3은 테스트 소켓에 로딩된 모듈 아이씨를 테스트 소켓 내에 삽입 완료한 상태도,
도4는 본 발명의 캐리어를 보여주는 사시도,
도5는 본 발명의 누름부재를 도시한 사시도,
도6는 본 발명의 캐리어의 홀딩수단을 보여주는 사시도,
도 7은 본 발명의 누름해제수단을 도시한 사시도,
도 8은 도 7의 분해 사시도이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
12 : 하우징 14 : 설치판
18 : 누름부재 20 : 누름해제수단
22 : 홀딩수단 26 : 보조부재
32 : 스프링 36 : 지지부재
38 : 삽입홈 46: 회전블록
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 캐리어는 사각틀 형태의 하우징과, 상기 하우징 내에 마주보도록 평행하게 설치된 한 쌍의 설치판과, 상기 각각의 설치판에 등간격으로 설치되어 모듈 IC를 잡아주기 위한 홀딩수단과, 상기 홀딩수단에 의해 고정된 모듈 IC의 상부를 눌러 이탈을 방지하기 위한 누름부재와, 상기 누름부재에 의해 눌려진 모듈 IC를 해제하기 위한 누름해제수단으로 구성된다.
이하, 본 발명의 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 4내지 도 8은 본 발명에 따른 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어를 도시한 도면으로서, 도4는 본 발명의 캐리어를 보여주는 사시도이고, 도5는 본 발명의 누름부재를 도시한 사시도이다.
먼저, 도4 및 도 5에 도시된 본 발명의 캐리어는 사각틀 형태의 하우징(12)내부 양측에 힌지부(16)를 구비한 설치판(14)이 대응하여 평행하게 설치되어 있고, 상기 설치판(14)에는 등간격으로 다수의 홀딩수단(22)이 설치되어 있다. 상기 홀딩수단(22)은 모듈 아이씨(1)를 고정하기 위한 지지부재(36)를 구비하고 있다.
상기 홀딩수단(22)에 상기 모듈 아이씨(1)가 삽입 고정되어 있고, 상기 모듈 아이씨(1)의 상단 일측부는 상기 설치판(14)의 후부에 구비된 힌지부(16)와 연결되도록 설치된 누름부재(18)에 의해 눌러져 이탈이 방지되도록 구성되어 있다. 상기 누름부재(18)는 상기 힌지부(16)에 의해 화살표 방향으로 회전이 가능하도록 설치되어 있다.
상기 누름부재(18)는 '' 형상을 가지도록 이루어져있고, 상부 접촉판(19)의 하부에는 일단의 스프링(23)이 고정되어 있고, 상기 스프링(23)의 타단은 설치판(14)에 고정되어 누름부재(18)를 탄력적으로 복귀시킬 수 있도록 구성되어 있다.
상기 스프링(23)은 인장 스프링을 사용하며, 평상시에는 상기 누름부재(18)를 당기고 있으며, 모듈 아이씨(10)가 이송되어 오면, 누름해제수단(20)에 의해 인장되어 누름부재(18)를 회전 이동시켜 열려진다.
상기 누름부재(18)는 모듈 아이씨(1)의 상부 양측을 모두 눌러주도록 구성하여도 무방하나 본 발명에서는 모듈 아이씨(1)의 일측을 눌러주는 것으로도 충분한 효과를 발휘할 수 있다.
계속해서, 상기 누름부재(18)의 양단부에는 누름해제수단(20)이 설치되어 있고, 상기 누름해제수단(20)이 모듈 아이씨(1)를 누르고 있던 누름부재(18)의 양측면에는 접촉판(19)이 고정되어 있고, 상기 접촉판(19)을 눌러서 화살표 방향으로이동시켜 줌으로써 모듈 아이씨(1)가 이탈될 수 있도록 한다.
계속해서, 도6은 본 발명의 캐리어의 홀딩수단을 보여주는 사시도이고, 도 7은 본 발명의 누름해제수단을 도시한 사시도이며, 도 8은 도 7의 분해 사시도이다.
상기 도 6에 도시되어 있는 본 발명의 홀딩수단(22)은 몸체(24)와, 상기 몸체(24)의 전방부에 모듈 아이씨(1)가 삽입되는 삽입홈(38)이 형성되어 있고, 상기 삽입홈(38) 내측으로는 모듈 아이씨(1)를 받쳐주는 보조부재(26)가 삽입되어 진다.
이때, 상기 보조부재(26)에는 핀공(27)이 형성되어 있고, 상기 삽입홈(38)에도 핀공(27)이 형성되어 있으며, 상기 삽입홈(38)에 삽입된 보조부재(26)는 일측에서 끼워지는 힌지핀(28)과 타측에서 끼워지는 와셔(30)에 의해 고정된다.
그리고, 상기 몸체(24)의 후방에서는 상기 보조부재(26)의 뒤쪽으로 스프링(32)이 삽설되고, 연속적으로 누름핀(34)이 설치되어 상기 보조부재(26)를 탄력적으로 움직이도록 설치된다.
상기 모듈 아이씨(1)는 상기 보조부재(26)에 의해 탄력지지되어 진다. 한편, 상기 몸체(24)의 전방에는 아래방향으로 수직하게 지지부재(36)가 고정되어 있고, 상기 지지부재(36)는 상단이 개구되고, 하단은 막혀 있는 Y형상으로 이루어져 있으며, 상기 모듈 아이씨(1)가 개구부를 통해 끼워져서 고정된다.
도 7 내지 도 8에 도시되어 있는 본 발명의 누름해제수단(20)은 고정블록(40)과, 상기 고정블록(40)의 하단에 끼워지는 힌지핀(42)과, 상기 힌지핀(42)이 자유롭게 회전 가능하도록 삽입되는 상부 고정핀(44)과, 상기 상부 고정핀(44)이 끼워져서 고정이 이루어지는 회전블록(46)과, 상기 회전블록(46)의하부에 끼워지는 하부 고정핀(48) 및 상기 하부 고정핀(48)을 고정하는 와셔(50)로 이루어진다.
상기 누름해제수단(20)은 상기 도 5에 도시되어 있는 모률 아이씨(1)를 눌러주는 누름부재(28)를 열어주기 위한 장치로서, 상기 누름부재(28)가 설치된 하우징(12)의 양측 모서리부에 각각 고정되어 있고, 상기 힌지핀(42)에 의해 회전 가능하도록 설치되어 있다. 상기 회전블록(46)의 바깥쪽으로는 미도시된 액튜에이터가 설치되어 있고, 상기 액튜에이터는 상기 회전블록(46)을 누름부재(28)쪽으로 밀어준다.
상기 액튜에이터(미도시됨)에 의해 밀려진 누름해제수단(20)의 회전블록(46)은 그 끝단부가 누름부재(28)의 접촉판(19)과 접촉됨과 동시에 상기 누름부재(28)와 설치판(14)을 연결하고 있는 스프링(23)의 탄성보다 강한 힘으로 밀어줌으로써 상기 누름부재(28)를 화살표 방향으로 열어주게 된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 작용은 다음과 같다.
도 4에 도시된 바와 같이 구성된 캐리어(100)는 별도의 홀딩수단(22)이 설치되어 모듈 아이씨(1)를 잡아주도록 설치되어 있고, 상기 모듈 아이씨(1)가 이탈되지 않도록 눌러주는 누름부재(18)가 설치되어 있으므로 이러한 상태에서 캐리어(1)가 모듈 아이씨(1)의 로딩 위치에 도달하고 나면, 도시되지 않은 픽업수단에 의해 트레이 내에 담겨있던 복수개의 모듈 아이씨를 홀딩하여 캐리어(100)의 직상부로 이송한다. 이때, 상기 픽업수단에 홀딩된 복수개의 모듈 아이씨(1)가 상기 홀딩수단(22)의 지지부재(36)에 이르게 되면 픽업수단의 이송이 중단된다.
그 후, 픽업수단이 별도의 구동수단에 의해 하강되고, 상기 누름해제수단(20)에 의해 상기 누름부재(18)가 열려진다. 상기 누름부재(18)가 열려지면, 픽업수단에 의해 홀딩되어 있던 모듈 아이씨(1)가 설치판(14)에 설치되어 있는 홀딩수단(22)의 지지부재(36)에 안내됨과 동시에 끼워진다.
계속해서, 상기 모듈 아이씨(1)가 지지부재(36)에 끼워진 후에는 상기 누름해제수단(20)이 누름부재(18)를 해제하여 스프링(23)에 의해 당겨지면서 상기 모듈 아이씨(1)의 일측면이 눌러지게 되므로 캐리어의 이송간 또는 테스트 시 지지부재(36)로부터 이탈되지 않는다.
상기한 바와 같은 동작으로 모듈 아이씨(1)를 지지부재(36)의 사이에 집어넣고 나면 픽업수단이 홀딩상태를 해제하고, 상기 픽업수단은 상승하여 상사점까지 이동한 후, 새로운 모듈 아이씨(1)를 홀딩하기 위해 트레이 측으로 이동하게 되는데 상기 픽업수단이 모듈 아이씨(1)의 홀딩상태를 해제하더라도 모듈 아이씨(1)는 누름부재(18)에 의해 눌려져 있으므로 안정된 상태를 유지하게 된다.
상기와 바와 같이 반복되는 동작으로 지지부재(36)로 모듈 아이씨(1)가 전부 로딩되고 나면 캐리어는 이송수단에 의해 밀폐된 챔버(약 70 - 90도 정도)로 히팅한 다음 테스트 사이트 쪽으로 이송하여 내열성 테스트를 실시하게 된다.
상기 테스트 사이트 내에서 캐리어에 로딩된 모듈 아이씨(1)의 테스트 시 테스트 소켓의 설치 방향에 따라 캐리어를 수평 또는 수직으로 위치시킨 상태에서 콘택할 수 있게 됨은 이해 가능하다.
이 경우, 별도의 푸셔가 하우징(12)에 담겨진 모듈 아이씨(1)를 테스트 소켓 측으로 눌러주게 되므로 모듈 아이씨(1)가 지지부재(36)에서 이탈되지 않고, 테스트 완료 후에는 테스트 소켓에 꽂혀있는 모듈 아이씨(1)를 테스트 소켓에 장착된 별도의 취출레버가 빼주게 되므로 다음 공정(언로딩 공정)으로 모듈 아이씨의 이송이 가능해지게 된다.
그리고, 테스트 사이트에서 테스트 완료 후 캐리어가 언로딩 위치로 이송되고 나면 언로딩부에 위치된 별도의 픽업수단이 이동하여 모듈 아이씨(1)를 홀딩하여 테스트 결과에 따라 언로딩 트레이 내에 분류하여 담음으로써 모듈 아이씨의 내열성 테스트가 완료된다.
이상에서와 같이 상기 누름부재(18)가 상기 모듈 아이씨(1)를 잡아줌으로써 캐리어 내에 모듈 아이씨(1)를 로딩한 상태에서 공정간 핸들링이 원할하게 이루어진다.
이상에서와 같이 본 발명의 모듈 아이씨 캐리어는 챔버의 외부에서 모듈 아이씨를 픽업수단에 의해 캐리어 내에 로딩하도록 되어 있어 캐리어에 로딩된 모듈 아이씨를 챔버의 내부로 용이하게 이송시켜 설정된 온도로 히팅한 다음 테스트를 실시하게 되므로 테스트에 따른 제품의 신뢰도를 향상시키게 된다.
또한 캐리어에 모듈 아이씨를 로딩 및 언로딩하는 동안 테스트 사이트에서는 캐리어에 로딩된 모듈 아이씨의 테스트를 실시하게 되므로 고가 장비의 가동률을 극대화할 수 있게 되고, 이에 따라 동일 시간 내에 많은 양의 모듈 아이씨를 테스트할 수 있는 이점이 있다.

Claims (4)

  1. 사각틀 형태의 하우징과;
    상기 하우징 내에 마주보도록 평행하게 설치된 복수개의 설치판과;
    상기 각각의 설치판에 등간격으로 설치되어 모듈 아이씨를 잡아주기 위한 복수개의 홀딩수단과;
    상기 복수개의 홀딩수단에 의해 고정된 복수개의 모듈 아이씨의 상부를 눌러 이탈을 방지하기 위한 누름부재와;
    상기 누름부재에 의해 눌려진 모듈 아이씨를 해제하기 위한 누름해제수단으로 구성되며,
    상기 홀딩수단은, 전부에 삽입홈이 형성된 몸체와, 상기 삽입홈에 힌지핀에 의해 고정되는 보조부재와, 상기 보조부재의 후부에 설치되어 상기 보조부재를 탄력적으로 밀어주기 위한 스프링 및 누름핀과, 상기 몸체의 전부 아래쪽으로 설치되어 모듈 아이씨를 잡아주기 위한 지지부재로 구성되고,
    상기 누름부재는, 상기 설치판에 구비된 힌지부와 연결되어 회전이동이 가능하도록 하단부에 형성된 각각의 힌지부와, 상기 모듈 아이씨를 눌러주는 상부 접촉판을 구비하는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어.
  2. 삭제
  3. 제 1항에 있어서, 누름해제수단은 하우징에 고정되는 고정블록과; 상기 고정블록의 하부에 힌지핀에 의해 설치되는 상하부 고정핀과; 상기 상하부 고정핀의 사이에 설치되고 상기 누름부재를 밀어주기 위한 회전블록으로 구성되는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어.
  4. 삭제
KR1019990044786A 1999-10-15 1999-10-15 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어 KR100328346B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990044786A KR100328346B1 (ko) 1999-10-15 1999-10-15 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990044786A KR100328346B1 (ko) 1999-10-15 1999-10-15 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010037333A KR20010037333A (ko) 2001-05-07
KR100328346B1 true KR100328346B1 (ko) 2002-03-12

Family

ID=19615529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990044786A KR100328346B1 (ko) 1999-10-15 1999-10-15 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100328346B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101304275B1 (ko) * 2008-09-30 2013-09-11 (주)테크윙 전자부품 테스트 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101304275B1 (ko) * 2008-09-30 2013-09-11 (주)테크윙 전자부품 테스트 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010037333A (ko) 2001-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100334655B1 (ko) 모듈아이씨핸들러의모듈아이씨및캐리어핸들링방법
JP4451992B2 (ja) 試験用電子部品搬送媒体、電子部品試験装置および試験方法
JP3940979B2 (ja) ソケットタイプのモジュールテスト装置
US6152755A (en) Device for loading/unloading modular IC to/from socket in modular IC handler
JP2010202392A (ja) Icオートハンドラ
US6873169B1 (en) Carrier module for semiconductor device test handler
JP3280354B2 (ja) モジュールicハンドラー用キャリヤ
KR100328346B1 (ko) 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어
TW201118380A (en) Opening apparatus for test handler
KR100302517B1 (ko) 모듈아이씨핸들러용캐리어
US6665929B1 (en) Method for transferring a plurality of integrated circuit devices into and/or out of a plurality of sockets
KR100277541B1 (ko) 모듈 아이씨 핸들러용 캐리어
KR100283433B1 (ko) 모듈 아이씨 핸들러의 캐리어 핸들링 장치 및 그 방법
KR100502052B1 (ko) 캐리어 모듈
KR100326640B1 (ko) 모듈아이씨핸들러용캐리어
KR100290033B1 (ko) 번인보드의컨넥터에디바이스를로딩하는방법및그장치
JPH08334546A (ja) 半導体装置のテスト装置
KR100352609B1 (ko) 수평식 테스터 핸들러의 디바이스 콘택장치
KR100277540B1 (ko) 모듈 아이씨 핸들러용 캐리어 모듈
KR100570201B1 (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈
KR100262266B1 (ko) 반도체 소자 테스트용 테스트 트레이의 캐리어모듈
KR102678521B1 (ko) 반도체 칩용 테스트 소켓
KR100302516B1 (ko) 모듈아이씨핸들러용캐리어
KR200157983Y1 (ko) 반도체 소자테스트용 테스트트레이의 캐리어모듈
KR20050092211A (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130131

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140203

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150203

Year of fee payment: 14

LAPS Lapse due to unpaid annual fee