KR100307030B1 - 단위면적당중량을측정하는장치 - Google Patents

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Abstract

종이 웨브(10)의 기본중량을 측정하기 위해, 광다이오드 어레이에 의해 형성된 방사선 소스(16) 및 반도체 검출기(20)가 종이 웨브의 양쪽에 측정헤드 내부에 배치된다. 광다이오드 어레이는 금속성 막(30)으로 가시광에 대해 차폐된다. 광다이오드는 종이 웨브를 가로질러 이동되고, 어레이의 각각의 광다이오드의 전류 이외에, 동일하게 위치된 광 다이오드의 광전류의 평규화가 수행되어 측정에서 신호/잡음 관계를 개선시킨다.

Description

단위 면적당 중량을 측정하는 장치
제1도는 본 발명에 따른 장치의 측면도.
제2도는 사용된 검출기의 평면도.
제3도는 사용된 검출기의 횡단면도.
제4도는 테스트 중인 물질과 측정 헤드를 함께 보여주는 측정 시스템의 전체 도면.
본 발명은 청구범위 제1항의 전제부에 따른 테스트 중인 박판 물질의 단위 면적당 중량(기본 중량)을 측정하기 위한 장치에 관한 것이다.
종이 판의 기본 중량을 측정하기 위해, 종이판의 한쪽에 베타 방사선 소스를 그리고 종이판의 다른 한쪽에는 베타 방사선검출기를 이용하는 것이 공지되어 있다. 베타 방사선 소스로서, 예를 들면, 프로메티움 147, 크립톤 85 또는 스트론티움 90이 각각 이용될 수 있다. 선행 기술에서 베타 방사선 검출기는 이온화 챔버이다.
테스트 중인 박판물질 예를 들면, 종이의 기본 중량의 방사계 측정에서, 가로 윤곽(transverse profile)과 관련한 고해상도가 자주 요구된다. 이것은, 예를 들면, 베타 방사선 소스 및 테스트 중인 물질 사이에 보통 배치되는 조리개를 감소시켜, 테스트 중인 물질의 측정 면적을 감소시킴으로써 성취될 수 있다. 이것은 한편으로는 해상도가 증가할 것을 요구하지만, 또 한편으로는 측정된 방사선의 강도를 감소시키게 되어 신호/잡음 관계를 손상시킨다. 이것은 방사선 소스의 활성도를 증가사킴으로써 방지될 수 있지만, 방사선 시료내부의 자기-흡수에 기인한 제약과 방사선 보호 규정에 의한 제약이 있다는 문제가 있다.
나아가 유럽특허 EP-A-0 233 389와 독일특허 DE-A-1 812 893에는 웨브(web)의 기본중량, 밀도, 두께등을 측정하기 위해서, 복수개의 요소로 구성되어 있는 정지된 방사성 소스가 웨브의 한쪽에 배치되어 있고, 상응하여 부속한 요소들이 웨브의 다른한쪽에 배치되어 있는 것이 알려져 있다.
본 발명의 목적은 선행기술로부터 출발하여 바람직한 해상도가 가로 윤곽과 관련하여 간단한 방법으로 성취되는, 기본 중량을 측정하기 위한 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 해결책은 제1항의 특징부에 따라 성취된다. 기본 중량을 측정하기 위한 본 발명에 따른 장치의 유익한 실시예가 추가로 종속항에 기술되어 있다.
첨부된 도면과 관련하여 본 발명의 장치의 한 실시예가 다음에 기술되어 있다.
테스트 중인 박판 물질(10)은, 이동중인 물질(10)을 가로질러 이동하는 측정 헤드의 상부부분(12) 및 하부부분(14) 사이에 배치된다. 상부부분(12) 안에는, 프로메티움 147, 크립톤 85 또는 스트론티움 90 각각에 의해 제공될 수 있는 방사선 소스(16)가 배치된다. 장방형의 구멍을 갖는 조리개(18)는, 물질(10)을 관통하여 측정 헤드의 하부부분(14) 내부의 검출기에 충돌하는 방사선을 바운드(bound) 시킨다. 33a 위치에서 33b 위치로 날개를 전후이동 시킴으로써 방사선 출구는 폐쇄되어, 두-지점의 표준 측정을 수행하고 이로써 물질 없이 신호 값 뿐만 아니라 검출기 장치의 암전류를 측정할 수 있다. 측정기(20)는 반도체 검출기이며, 특히 다수의 띠-형상의 광 다이오드 221내지 22n으로 구성된 거시적인 광검출기 라인 어레이이다. 각각의 광 다이오드 221내지 22n은 증폭기 241내지 24n을 통해 전자 신호처리장치(26)에 접속된다.
온도 변화에 기인한 암전류를 최소화하기 위해 광 다이오드 221내지 22n는 온도에 대해 안정화된 냉각 엘리먼트(28) 위에 배치된다. 그 위에 광 다이오드 221내지 22n는, 물질(10)에 인접한 측면에서 광 방호막(30)에 의해 차폐된다. 막(30)은, 수 ㎛의 두께를 갖는 바람직하게는 금속, 예를 들면, 알루미늄으로 구성되어 있다. 온도 유동에 의한 증폭기 세트 241내지 24n이 전류 증폭 및 암전류의 변화를 최소화하는데 특히 유익한 배치는 냉각 엘리먼트(28), 증폭기(24)의 층 구조이며, 전류증폭을 한정하는 고 저항의 저항소자(35) 및 광 다이오드 (221내지 22n)의 층 구조이다.(제3도)
물질(10)은 웨브 가이딩 엘리먼트(32), (32′)를 거쳐 검출기 측정 헤드(14) 옆으로 통과되어 광 다이오드 라인 어레이(20)에 대해 약간의 일정 거리를 두고 유지된다.
전자 신호 처리 장치(26) 내부에서 모든 광전류는 개별적으로 감지되고 평가되어 관련된 면적 엘리먼트의 중량을 결정한다. 게다가, 윤곽 측정후에, 동일하게 위치된 광 다이오드의 측정결과가 평균화되어 신호/잡음 관계를 증가시킨다. 이것은, 각각의 횡단 후 m개의 측정 엘리먼트(361내지 36m) 각각이 가로 윤곽에서 n개의 광다이오드(22)에 의해 측정되기 때문에 가능하다. 이것으로 한번의 횡단에 대해 n×m 측정 값 mij이 얻어진다. 수 i를 갖는 측정 엘리먼트(36)을 위한 측정결과 Mi는 n개 측정값의 평균값으로부터 계산된다.
이로써 신호/잡음 관계는, 측정 표면이 커서 낮은 국부적 해상도를 갖는 하나의 큰 광다이오드의 측정과 동일하게 된다.

Claims (6)

  1. 이동하는 박판물질의 한쪽에 방사선 소스를 그리고 상기 물질의 다른 한쪽에 반도체 검출기를 포함하는, 테스트 중인 상기 물질, 예를 들면 종이의 기본 중량을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 반도체 검출기(20)가 광 다이오드 라인 어레이(221-22n)에 따라 분할되고 방사선 소스(16)와 함께 테스트 중인 상기 물질에 대해 가로 질러 이동하는 것과, 어레이의 각각의 광다이오드(221-22n)의 각각의 전류의 검출이외에 상기 물질(10)의 운동방향에 대해 비스듬하고 동일하게 위치된 광다이오드의 광전류의 평균화가 수행되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서, 방사선 소스(16) 및 광검출기 라인 어레이(20; 221-22n) 사이의 조리개(18)의 구멍이 광검출기 라인 어레이의 외형과 매칭되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
  3. 제2항에 있어서, 증폭기(241-24n)가 어레이(20)의 각각의 광다이오드(221-22n)에 접속되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 광다이오드 어레이(20)가, 온도에 대해 안정화된 냉각 엘리먼트(28) 위에 위치되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 광다이오드 어레이(20) 이외에 상기 증폭기(34; 241-24n) 및 상기 증폭기와 관련되 고저항의 저항(35)이, 온도에 대해 안정화된 상기 냉각 엘리먼트(28)위에 배치되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 물질(10)은 웨이브 가이딩 엘리먼트(32, 32′)를 통하여 광다이오드 라인 어레이(20)에 대해 일정 거리를 두고 유지되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
KR1019950704650A 1993-06-07 1994-06-03 단위면적당중량을측정하는장치 KR100307030B1 (ko)

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