JPH04353707A - 放射線応用測定装置 - Google Patents
放射線応用測定装置Info
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- JPH04353707A JPH04353707A JP12976191A JP12976191A JPH04353707A JP H04353707 A JPH04353707 A JP H04353707A JP 12976191 A JP12976191 A JP 12976191A JP 12976191 A JP12976191 A JP 12976191A JP H04353707 A JPH04353707 A JP H04353707A
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，紙，プラスチック等の
シ―ト状物質の坪量をオンラインで計測する為の坪量計
に用いられ，更に詳しくは主として放射線源と検出器の
位置変動に基づく誤差の補正をはかった放射線応用測定
装置に関する。
シ―ト状物質の坪量をオンラインで計測する為の坪量計
に用いられ，更に詳しくは主として放射線源と検出器の
位置変動に基づく誤差の補正をはかった放射線応用測定
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射線（例えばβ線）が物質層を通過す
ると，電離作用や励起作用等によって次第にエネルギ―
を失って減衰し，更にこの様な非弾性散乱を多数回受け
て進行方向が変化する。従って測定体の物理量（例えば
厚さ）が増すに伴い透過するβ線粒子の数は減少する。 この様な原理を応用し，シ―ト状の種々の物質の物理量
を測定する装置が知られている。
ると，電離作用や励起作用等によって次第にエネルギ―
を失って減衰し，更にこの様な非弾性散乱を多数回受け
て進行方向が変化する。従って測定体の物理量（例えば
厚さ）が増すに伴い透過するβ線粒子の数は減少する。 この様な原理を応用し，シ―ト状の種々の物質の物理量
を測定する装置が知られている。
【０００３】この様な放射線応用測定装置は図１２に示
す様に放射線源（以下，単に線源という）１と放射線検
出器（以下，単に検出器という）２を対向させて配置し
，その間に被測定体３を挟んで測定するように構成され
ている。この線源からの放射線の空間強度分布は第１３
図に示す様に線源の真上方向が最も強く，正面から遠ざ
かる程弱いガウス状の強度分布となる。従って線源１と
検出器２がＸ，Ｙ方向またはＺ方向に相対的に移動した
場合には，検出器２に入射する放射線量が変化して出力
変動を生じるという問題がある。
す様に放射線源（以下，単に線源という）１と放射線検
出器（以下，単に検出器という）２を対向させて配置し
，その間に被測定体３を挟んで測定するように構成され
ている。この線源からの放射線の空間強度分布は第１３
図に示す様に線源の真上方向が最も強く，正面から遠ざ
かる程弱いガウス状の強度分布となる。従って線源１と
検出器２がＸ，Ｙ方向またはＺ方向に相対的に移動した
場合には，検出器２に入射する放射線量が変化して出力
変動を生じるという問題がある。
【０００４】従来，この種の出力変動を除去する装置と
して図１４（イ），（ロ），（ハ）に示すようなものが
提案されている。即ち，検出器の放射線を受ける部分２
ａ（以下，単に受光部という）に放射線の照射方向およ
びＸ方向に対して直角に吸収板６を配置して，線源１と
受光部２ａとの位置関係の変化に起因する出力変動を軽
減したものである。
して図１４（イ），（ロ），（ハ）に示すようなものが
提案されている。即ち，検出器の放射線を受ける部分２
ａ（以下，単に受光部という）に放射線の照射方向およ
びＸ方向に対して直角に吸収板６を配置して，線源１と
受光部２ａとの位置関係の変化に起因する出力変動を軽
減したものである。
【０００５】図１４（イ）は線源１と受光部２ａおよび
吸収板６の関係を平面図で示すもので，吸収板６は検出
器の受光部の中央部にＸ方向に対して直角に，線源は受
光部の中央に配置されている。吸収板６は長さｌ が受
光部の直径よりも長く，幅Ｗが線源より広く受光窓の直
径より小さいＡｌ板からなり，受光部２ａの前面の中央
部に取付けられて，線源１の放射線ビ―ムの最も強い部
分の一部を遮って受光部２ａに入射する放射線量を減少
させている。線源１は通常安全対策として金属箱等で包
まれており，更に線源箱の出口が薄い金属板等で覆われ
ているので，線源１から放射された放射線は直進しにく
く散乱線となる。このため，放射線ビ―ムの強さは線源
１の正面が最も強く正面から遠ざかる程弱くなる。
吸収板６の関係を平面図で示すもので，吸収板６は検出
器の受光部の中央部にＸ方向に対して直角に，線源は受
光部の中央に配置されている。吸収板６は長さｌ が受
光部の直径よりも長く，幅Ｗが線源より広く受光窓の直
径より小さいＡｌ板からなり，受光部２ａの前面の中央
部に取付けられて，線源１の放射線ビ―ムの最も強い部
分の一部を遮って受光部２ａに入射する放射線量を減少
させている。線源１は通常安全対策として金属箱等で包
まれており，更に線源箱の出口が薄い金属板等で覆われ
ているので，線源１から放射された放射線は直進しにく
く散乱線となる。このため，放射線ビ―ムの強さは線源
１の正面が最も強く正面から遠ざかる程弱くなる。
【０００６】図１４（ロ）は検出器２がＸ方向（向かっ
て左側）にＸ１ ずれた状態を示す側面図で，Ｒは放射
線の等価線量を示している。この様なずれが発生した場
合，向かって左側は線源から遠ざかるので出力は弱くな
るが，向かって右側は吸収板６に遮られていた放射線の
最も強い部分が受光面を照射する様になるので出力は強
くなる。従って受光部が受ける放射線の総量は変化せず
，ずれによる出力変動は発生しない。
て左側）にＸ１ ずれた状態を示す側面図で，Ｒは放射
線の等価線量を示している。この様なずれが発生した場
合，向かって左側は線源から遠ざかるので出力は弱くな
るが，向かって右側は吸収板６に遮られていた放射線の
最も強い部分が受光面を照射する様になるので出力は強
くなる。従って受光部が受ける放射線の総量は変化せず
，ずれによる出力変動は発生しない。
【０００７】図１４（ハ）は検出器がＺ方向（図では上
方向）にｚ１ ずれた状態を示す側面図で，この例では
受光面が線源に近付くので吸収板６で覆われていない部
分は出力が増加する様に作用し，同時に放射線の強い部
分がより広く吸収板６で覆われることになるので放射線
の総量は変化せず，ずれによる出力変動は発生しない。 上記構成によれば，線源と検出器の関係がＸ，Ｚ方向に
移動しても放射線量の総量をほぼ同一にすることが可能
である。なお，Ｙ方向のずれに対しては図示した吸収板
では対応できない。
方向）にｚ１ ずれた状態を示す側面図で，この例では
受光面が線源に近付くので吸収板６で覆われていない部
分は出力が増加する様に作用し，同時に放射線の強い部
分がより広く吸収板６で覆われることになるので放射線
の総量は変化せず，ずれによる出力変動は発生しない。 上記構成によれば，線源と検出器の関係がＸ，Ｚ方向に
移動しても放射線量の総量をほぼ同一にすることが可能
である。なお，Ｙ方向のずれに対しては図示した吸収板
では対応できない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記従
来の放射線応用測定装置においては，検出器の前面に吸
収板を用いて放射感度を調整している為検出器の感度が
１／２〜１／５に低下してしまうという問題があった。 また，吸収板を用いた場合，その配置場所は被測定体の
性質に合わせて試行錯誤しながら決定する必要があった
。本発明は上記従来技術の課題に鑑みて成されたもので
，感度低下がなく，調整工数が不要で高精度な放射線応
用測定装置を実現することを目的とする。
来の放射線応用測定装置においては，検出器の前面に吸
収板を用いて放射感度を調整している為検出器の感度が
１／２〜１／５に低下してしまうという問題があった。 また，吸収板を用いた場合，その配置場所は被測定体の
性質に合わせて試行錯誤しながら決定する必要があった
。本発明は上記従来技術の課題に鑑みて成されたもので
，感度低下がなく，調整工数が不要で高精度な放射線応
用測定装置を実現することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為に
本発明は，放射線源から放射され，シ―ト状の被測定体
を透過してくる放射線を半導体放射線検出器により検出
し，前記被測定体の坪量の測定を行う放射線応用測定装
置において，前記被測定体を透過した放射線の強度分布
を測定する複数の放射線検出器と，該放射線検出器の出
力に基づく放射線強度の分布状態を記憶する第１記憶装
置と，前記記憶された測定信号の値と基準信号の値から
放射線分布のパラメ―タを抽出演算する第１演算装置と
，放射線源と検出器の距離を一定にしておき，坪量が既
知の複数のシ―トを測定した時の基準信号との差のデ―
タと，坪量を一定とし，放射線源と検出器の距離を変化
させた時の基準信号との差のデ―タを記憶した第２記憶
装置と，前記第１，第２演算装置からの出力を入力し前
記被測定体の坪量および放射線源と検出器の位置変動量
を演算する第２演算装置を備えたことを特徴とするもの
である。
本発明は，放射線源から放射され，シ―ト状の被測定体
を透過してくる放射線を半導体放射線検出器により検出
し，前記被測定体の坪量の測定を行う放射線応用測定装
置において，前記被測定体を透過した放射線の強度分布
を測定する複数の放射線検出器と，該放射線検出器の出
力に基づく放射線強度の分布状態を記憶する第１記憶装
置と，前記記憶された測定信号の値と基準信号の値から
放射線分布のパラメ―タを抽出演算する第１演算装置と
，放射線源と検出器の距離を一定にしておき，坪量が既
知の複数のシ―トを測定した時の基準信号との差のデ―
タと，坪量を一定とし，放射線源と検出器の距離を変化
させた時の基準信号との差のデ―タを記憶した第２記憶
装置と，前記第１，第２演算装置からの出力を入力し前
記被測定体の坪量および放射線源と検出器の位置変動量
を演算する第２演算装置を備えたことを特徴とするもの
である。
【００１０】
【作用】測定された放射線の強度分布信号は測定時点に
おける坪量および放射線源と検出器の距離の信号を含ん
でおり，第１記憶装置は複数の検出器に対応したすべて
の放射線強度分布の信号を記憶する。第１演算装置は前
記測定信号値と基準信号の値を比較してその差を演算す
るとともに，あらかじめ定められたパラメ―タを抽出し
てその結果を第２演算演算装置に出力する。第２演算器
は第１演算装置からの出力と第２記憶装置からのデ―タ
を基に坪量変化およびＺ値の変化に関する２種類のパラ
メ―タを組合せて，測定結果から得られたパラメ―タと
一致する組み合わせを演算して坪量を算出する。
おける坪量および放射線源と検出器の距離の信号を含ん
でおり，第１記憶装置は複数の検出器に対応したすべて
の放射線強度分布の信号を記憶する。第１演算装置は前
記測定信号値と基準信号の値を比較してその差を演算す
るとともに，あらかじめ定められたパラメ―タを抽出し
てその結果を第２演算演算装置に出力する。第２演算器
は第１演算装置からの出力と第２記憶装置からのデ―タ
を基に坪量変化およびＺ値の変化に関する２種類のパラ
メ―タを組合せて，測定結果から得られたパラメ―タと
一致する組み合わせを演算して坪量を算出する。
【００１１】
【実施例】図１は本発明の一実施例を示す構成図である
。図において１１１，１１２ 〜１１ｎ は複数（例え
ば５０〜１００個）の半導体放射線検出器であり，１２
は各検出器から出力される電気信号を記憶する第１記憶
装置である。１３は基準値（坪量とＺ値が一定）とその
基準値に対して，Ｚ値を一定として坪量を変化させた場
合の基準値との差および坪量を一定としてＺ値を変化さ
せた場合の基準値との差の信号を記憶しておく第２記憶
装置である。１４は第１記憶装置が記憶している記憶情
報を基に所定のパラメ―タ（ピ―ク値や半値幅または２
５％値等あらかじめ定められた値）を演算する第１演算
装置である。１５は第２演算装置であり，第１演算装置
からの出力と，第２記憶装置に記憶されたあらかじめ定
められた位置でのデ―タを基に坪量変化およびＺ値の変
化に関する２種類のパラメ―タを組合せて，測定結果か
ら得られたパラメ―タと一致する組み合わせを演算して
坪量を算出する。
。図において１１１，１１２ 〜１１ｎ は複数（例え
ば５０〜１００個）の半導体放射線検出器であり，１２
は各検出器から出力される電気信号を記憶する第１記憶
装置である。１３は基準値（坪量とＺ値が一定）とその
基準値に対して，Ｚ値を一定として坪量を変化させた場
合の基準値との差および坪量を一定としてＺ値を変化さ
せた場合の基準値との差の信号を記憶しておく第２記憶
装置である。１４は第１記憶装置が記憶している記憶情
報を基に所定のパラメ―タ（ピ―ク値や半値幅または２
５％値等あらかじめ定められた値）を演算する第１演算
装置である。１５は第２演算装置であり，第１演算装置
からの出力と，第２記憶装置に記憶されたあらかじめ定
められた位置でのデ―タを基に坪量変化およびＺ値の変
化に関する２種類のパラメ―タを組合せて，測定結果か
ら得られたパラメ―タと一致する組み合わせを演算して
坪量を算出する。
【００１２】前記第２記憶装置１３には例えばＺ＝１０
ｍｍ，坪量＝１００ｇ／ｍ２ を基準値とする基準デ―
タ，Ｚ値を一定にして坪量を変化させ，その坪量変化に
応じて変化する基準値との差を演算した多数のデ―タと
，坪量を一定としてＺ値を変化させた場合にそのＺ値の
変化に応じて変化する基準値との差を演算した多数のデ
―タが予め測定され基準分布デ―タとして記憶されてい
る。図２は本発明を実現するための検出部の構成を示す
斜視図である。図において，２０は放射線検出器３０が
配置された上ヘッド，２１はβ線源１が配置された下ヘ
ッドであり，これらのヘッドは平行な２本のア―ム（図
示せず）上に対向して配置されている。Ｘは紙の流れ方
向，Ｙはヘッドの走行方向，Ｚはヘッドの相対位置変化
を示している。
ｍｍ，坪量＝１００ｇ／ｍ２ を基準値とする基準デ―
タ，Ｚ値を一定にして坪量を変化させ，その坪量変化に
応じて変化する基準値との差を演算した多数のデ―タと
，坪量を一定としてＺ値を変化させた場合にそのＺ値の
変化に応じて変化する基準値との差を演算した多数のデ
―タが予め測定され基準分布デ―タとして記憶されてい
る。図２は本発明を実現するための検出部の構成を示す
斜視図である。図において，２０は放射線検出器３０が
配置された上ヘッド，２１はβ線源１が配置された下ヘ
ッドであり，これらのヘッドは平行な２本のア―ム（図
示せず）上に対向して配置されている。Ｘは紙の流れ方
向，Ｙはヘッドの走行方向，Ｚはヘッドの相対位置変化
を示している。
【００１３】図３は本発明で使用する半導体検出器３０
の一例を示す斜視図（ａ），断面図（ｂ）である。これ
らの図において３１は複数の矩形状に仕切られた電気的
絶縁材であり，その仕切られたそれぞれの枠体の中に同
一感度の１個の放射線検出素子３２が配置されている。 枠の一辺は例えば１ｍｍ，枠幅は例えば５０μｍ程度で
ある。この様な検出器は例えば特開昭５６−１５３７７
９号公報により公知である。上記検出器によれば２次元
的に放射線の分布を測定することができる。図４は図３
に示す放射線検出器３０を紙を挟んで放射線源と対向し
て配置した場合の放射線源の空間強度分布を示す図であ
る。放射線検出器２の中央部の円３３はある定められた
値以上のエネルギ―強度の範囲を示している。図４にお
いて円３３の中心に近い検出素子は高い電気信号を出力
し，外周の素子は低い電気信号を出力する。
の一例を示す斜視図（ａ），断面図（ｂ）である。これ
らの図において３１は複数の矩形状に仕切られた電気的
絶縁材であり，その仕切られたそれぞれの枠体の中に同
一感度の１個の放射線検出素子３２が配置されている。 枠の一辺は例えば１ｍｍ，枠幅は例えば５０μｍ程度で
ある。この様な検出器は例えば特開昭５６−１５３７７
９号公報により公知である。上記検出器によれば２次元
的に放射線の分布を測定することができる。図４は図３
に示す放射線検出器３０を紙を挟んで放射線源と対向し
て配置した場合の放射線源の空間強度分布を示す図であ
る。放射線検出器２の中央部の円３３はある定められた
値以上のエネルギ―強度の範囲を示している。図４にお
いて円３３の中心に近い検出素子は高い電気信号を出力
し，外周の素子は低い電気信号を出力する。
【００１４】図５，図６は本発明の前提となる紙の坪量
とＺ値のずれによる放射線強度の関係を実験により求め
た結果を示す図である。図５はＺ値を一定として紙の坪
量を１０５→２１０→３１５→４２０→５２５（ｇ／ｍ
２ ）と変化させた時の放射線の強度分布，図６は坪量
２１０（ｇ／ｍ２ ）の紙を用いてＺ値を変化させたと
きの放射線の強度分布を示している。そしてこれらの図
を比較すると，坪量を変化させた場合とＺ値を変化させ
た場合では変化の仕方が異なってることが分る。即ち，
坪量が変化した場合は放射線の最大強度は低下するが裾
野（例えば全β線量の９５％で示す位置）の位置変化は
ほとんど０である。また，Ｚ値が変化した場合は放射線
の最大強度も低下するが裾野の放射線強度も変化する。 本発明はこの変化の仕方の違いを利用する。
とＺ値のずれによる放射線強度の関係を実験により求め
た結果を示す図である。図５はＺ値を一定として紙の坪
量を１０５→２１０→３１５→４２０→５２５（ｇ／ｍ
２ ）と変化させた時の放射線の強度分布，図６は坪量
２１０（ｇ／ｍ２ ）の紙を用いてＺ値を変化させたと
きの放射線の強度分布を示している。そしてこれらの図
を比較すると，坪量を変化させた場合とＺ値を変化させ
た場合では変化の仕方が異なってることが分る。即ち，
坪量が変化した場合は放射線の最大強度は低下するが裾
野（例えば全β線量の９５％で示す位置）の位置変化は
ほとんど０である。また，Ｚ値が変化した場合は放射線
の最大強度も低下するが裾野の放射線強度も変化する。 本発明はこの変化の仕方の違いを利用する。
【００１５】図７，図８は予め測定した基準分布デ―タ
（例えばＺ＝１０ｍｍ，坪量＝１００ｇ／ｍ２ ）と測
定対象の紙（例えばＺ＝１２ｍｍ，坪量＝１０５ｇ／ｍ
２ ）を測定した放射線強度分布のデ―タを坪量の変化
とＺ値の変化に分離して示すものである。
（例えばＺ＝１０ｍｍ，坪量＝１００ｇ／ｍ２ ）と測
定対象の紙（例えばＺ＝１２ｍｍ，坪量＝１０５ｇ／ｍ
２ ）を測定した放射線強度分布のデ―タを坪量の変化
とＺ値の変化に分離して示すものである。
【００１６】図９，図１０は基準分布デ―タと測定対象
の紙の坪量とＺの差を分離した状態で示すもので，坪量
変化による強度分布の減衰量は一様なので図９に示すよ
うなものとなる。また，Ｚ値が変化した場合は中央部の
減衰量に対して裾野は強度分布が増大する様に変化する
ので図１０に示すようなものとなる（なお，Ｚ値が変化
しても検出器に到達する全β線の総量はほぼ同様なので
斜線で示すＡ＋Ａの面積とＢの面積はほぼ同様となる（
なお，第２記憶装置には例えば黒丸で示すあらかじめ定
められた複数点のデ―タが記憶されている）。図１１は
基準分布デ―タと測定対象の紙のデ―タの差を坪量とＺ
を含めた（即ち，図１１は図９と図１０が混合されてい
る）状態を示す図である。本発明では図９および図１０
に示す２つの差デ―タを図１に示す第２記憶装置１３に
記憶しておき，第１演算装置で抽出したあらかじめ定め
られた位置のデ―タとを例えば次式により演算して坪量
の算出を行う。 βＳＴＤ−Ｍ （Ｒｉ）＝βＢＷ（Ｒｉ）＋βＺ （Ｒ
ｉ）ここで，ＳＴＤ；基準分布デ―タ Ｍ ；測定デ―タ ＢＷ ；坪量の差 Ｚ ；Ｚ値 Ｒｉは検出器の一点を表わしているが，βＳＴＤ−Ｍ
は全点につき同一な結果となるようなβＢＷ（坪量変化
の信号），βＺ （Ｚ位置変化）を求める。
の紙の坪量とＺの差を分離した状態で示すもので，坪量
変化による強度分布の減衰量は一様なので図９に示すよ
うなものとなる。また，Ｚ値が変化した場合は中央部の
減衰量に対して裾野は強度分布が増大する様に変化する
ので図１０に示すようなものとなる（なお，Ｚ値が変化
しても検出器に到達する全β線の総量はほぼ同様なので
斜線で示すＡ＋Ａの面積とＢの面積はほぼ同様となる（
なお，第２記憶装置には例えば黒丸で示すあらかじめ定
められた複数点のデ―タが記憶されている）。図１１は
基準分布デ―タと測定対象の紙のデ―タの差を坪量とＺ
を含めた（即ち，図１１は図９と図１０が混合されてい
る）状態を示す図である。本発明では図９および図１０
に示す２つの差デ―タを図１に示す第２記憶装置１３に
記憶しておき，第１演算装置で抽出したあらかじめ定め
られた位置のデ―タとを例えば次式により演算して坪量
の算出を行う。 βＳＴＤ−Ｍ （Ｒｉ）＝βＢＷ（Ｒｉ）＋βＺ （Ｒ
ｉ）ここで，ＳＴＤ；基準分布デ―タ Ｍ ；測定デ―タ ＢＷ ；坪量の差 Ｚ ；Ｚ値 Ｒｉは検出器の一点を表わしているが，βＳＴＤ−Ｍ
は全点につき同一な結果となるようなβＢＷ（坪量変化
の信号），βＺ （Ｚ位置変化）を求める。
【００１７】ここで，図５に示す坪量の変化に基づく放
射線分布強度の半値幅について着目すると，半値幅Ｈは
いずれの坪量においてもほぼ６ｍｍで変化がない。これ
に対しＺ値が変化した場合はＺ値が６．５ｍｍの場合は
半値幅Ｉは４．５ｍｍ，Ｚ値が１３．５の場合は半値幅
Ｊは５．８ｍｍ，Ｚ値が２０．３の場合は半値幅Ｋは６
．８ｍｍと変化する。図１に示す第２演算器は基準状態
における半値幅と測定した測定対象における半値幅の差
を求め，第２記憶装置が記憶している半値幅の時のにお
ける坪量とＺ値の変化に基づく放射線分布に最も近いも
のを選んで測定時の被測定体の坪量を同定する。なお，
Ｚ値の測定に用いるデ―タとしては半値幅に限ることな
く２５％になる幅を用いても良く，半値幅（５０％）と
２５％の両方の幅を用いても良い。更に全到達β線量（
強度分布への体積に相当）の５０％になる幅を用いても
よく，適当な％における幅を用いても良く，半値幅が５
０％になる幅と全到達β線量の５０％になる幅の組み合
わせでもあっても良く，要はＺ値のずれを正確に演算で
きるものであればよい。
射線分布強度の半値幅について着目すると，半値幅Ｈは
いずれの坪量においてもほぼ６ｍｍで変化がない。これ
に対しＺ値が変化した場合はＺ値が６．５ｍｍの場合は
半値幅Ｉは４．５ｍｍ，Ｚ値が１３．５の場合は半値幅
Ｊは５．８ｍｍ，Ｚ値が２０．３の場合は半値幅Ｋは６
．８ｍｍと変化する。図１に示す第２演算器は基準状態
における半値幅と測定した測定対象における半値幅の差
を求め，第２記憶装置が記憶している半値幅の時のにお
ける坪量とＺ値の変化に基づく放射線分布に最も近いも
のを選んで測定時の被測定体の坪量を同定する。なお，
Ｚ値の測定に用いるデ―タとしては半値幅に限ることな
く２５％になる幅を用いても良く，半値幅（５０％）と
２５％の両方の幅を用いても良い。更に全到達β線量（
強度分布への体積に相当）の５０％になる幅を用いても
よく，適当な％における幅を用いても良く，半値幅が５
０％になる幅と全到達β線量の５０％になる幅の組み合
わせでもあっても良く，要はＺ値のずれを正確に演算で
きるものであればよい。
【００１８】なお，上述においてはＺ位置変化およびそ
の変化に基づく坪量変化信号を求めたが，例えば図４に
円３３で示すような各検出素子の出力のうち，ある出力
値以上の素子の出力を合計すれば検出器の出力はＸ，Ｙ
方向のずれにも影響されない正確な坪量測定が可能とな
る。
の変化に基づく坪量変化信号を求めたが，例えば図４に
円３３で示すような各検出素子の出力のうち，ある出力
値以上の素子の出力を合計すれば検出器の出力はＸ，Ｙ
方向のずれにも影響されない正確な坪量測定が可能とな
る。
【００１９】
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明した様
に，本発明の放射線応用測定装置によれば，感度低下が
なく，調整工数が不要で高精度な放射線応用測定装置を
実現することができる。更に本発明ではＺ方向のずれの
他，第１演算に中心位置のすれを演算させることにより
Ｘ，Ｙ方向のずれの検出も可能なことから，他の物理量
測定の為に搭載されている水分計等の走行特性の補償信
号として用いることも可能である。
に，本発明の放射線応用測定装置によれば，感度低下が
なく，調整工数が不要で高精度な放射線応用測定装置を
実現することができる。更に本発明ではＺ方向のずれの
他，第１演算に中心位置のすれを演算させることにより
Ｘ，Ｙ方向のずれの検出も可能なことから，他の物理量
測定の為に搭載されている水分計等の走行特性の補償信
号として用いることも可能である。
【図１】本発明の放射線応用測定装置の一実施例を示す
構成図である。
構成図である。
【図２】検出部の構成を示す斜視図である。
【図３】検出器の詳細を示す図である。
【図４】図３に示す放射線検出器３０を紙を挟んで放射
線源と対向して配置した場合の放射線源の空間強度分布
を示す図である。
線源と対向して配置した場合の放射線源の空間強度分布
を示す図である。
【図５】紙の坪量の変化と放射線強度の関係を示す図で
ある。
ある。
【図６】Ｚ値のずれと放射線強度の関係を示す図である
。
。
【図７】紙の坪量の変化と放射線強度の関係を示す図で
ある。
ある。
【図８】Ｚ値のずれと放射線強度の関係を示す図である
。
。
【図９】基準となる坪量の放射線分布デ―タと測定対象
の紙の坪量の変化に基づくデ―タの差を示す図である。
の紙の坪量の変化に基づくデ―タの差を示す図である。
【図１０】基準となるＺ値の放射線分布デ―タと測定対
象の紙のＺ値の変化に基づくデ―タの差を示す図である
。
象の紙のＺ値の変化に基づくデ―タの差を示す図である
。
【図１１】坪量とＺ値を含む基準分布デ―タと測定対象
の紙のデ―タの差を示す図である。
の紙のデ―タの差を示す図である。
【図１２】従来例の説明図である。
【図１３】放射線の強度分布を示す図である。
【図１４】従来の位置ずれ補正装置を示す説明図である
。
。
１ 放射線源
１１１ 〜１１ｎ 放射線検出素子１２ 第１記
憶装置 １３ 第２記憶装置 １４ 第１演算装置 １６ 第２演算装置 ２０ 上ヘッド ２１ 下ヘッド ３０ 放射線検出器
憶装置 １３ 第２記憶装置 １４ 第１演算装置 １６ 第２演算装置 ２０ 上ヘッド ２１ 下ヘッド ３０ 放射線検出器
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線源から放射され，シ―ト状の被
測定体を透過してくる放射線を半導体放射線検出器によ
り検出し，前記被測定体の坪量の測定を行う放射線応用
測定装置において，前記被測定体を透過した放射線の強
度分布を測定する複数の放射線検出器と，該放射線検出
器の出力に基づく放射線強度の分布状態を記憶する第１
記憶装置と，前記記憶された測定信号の値と基準信号の
値から放射線分布のパラメ―タを抽出演算する第１演算
装置と，放射線源と検出器の距離を一定にしておき，坪
量が既知の複数のシ―トを測定した時の基準信号との差
のデ―タと，坪量を一定とし，放射線源と検出器の距離
を変化させた時の基準信号との差のデ―タを記憶した第
２記憶装置と，前記第１，第２演算装置からの出力を入
力し前記被測定体の坪量および放射線源と検出器の位置
変動量を演算する第２演算装置を備えたことを特徴とす
る放射線応用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12976191A JPH04353707A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 放射線応用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12976191A JPH04353707A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 放射線応用測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04353707A true JPH04353707A (ja) | 1992-12-08 |
Family
ID=15017549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12976191A Pending JPH04353707A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 放射線応用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04353707A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007500846A (ja) * | 2003-07-28 | 2007-01-18 | エイビービー インコーポレイテッド | ウェブの修正を伴ったベータ線の使用によるウェブの坪量などの特徴を測定するためのシステムおよび方法 |
| JP2008267861A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Yokogawa Electric Corp | シート物理量測定装置 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP12976191A patent/JPH04353707A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007500846A (ja) * | 2003-07-28 | 2007-01-18 | エイビービー インコーポレイテッド | ウェブの修正を伴ったベータ線の使用によるウェブの坪量などの特徴を測定するためのシステムおよび方法 |
| JP4845731B2 (ja) * | 2003-07-28 | 2011-12-28 | エイビービー インコーポレイテッド | ウェブの修正を伴ったベータ線の使用によるウェブの坪量などの特徴を測定するためのシステムおよび方法 |
| JP2008267861A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Yokogawa Electric Corp | シート物理量測定装置 |
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