FI112115B - Pintapainon mittauslaite - Google Patents
Pintapainon mittauslaite Download PDFInfo
- Publication number
- FI112115B FI112115B FI955844A FI955844A FI112115B FI 112115 B FI112115 B FI 112115B FI 955844 A FI955844 A FI 955844A FI 955844 A FI955844 A FI 955844A FI 112115 B FI112115 B FI 112115B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- measured
- product
- linear
- photodiode group
- measuring
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
112115
Pintapainon mittauslaite. - Mätanordning för yttryck.
Esillä oleva keksintö kohdistuu laitteeseen tasomaisen mitattavan tavaran pintapainon mittaamiseksi patenttivaati-5 muksen 1 johdanto-osan mukaisesti.
Paperirainan pintapainon määrittämiseksi on tunnettua käyttää beta-säteilylähdettä paperirainan yhdellä puolella ja beta-säteilydetektoria paperirainan toisella puolella.
10 Beta-säteilylähteenä käytetään esimerkiksi Promethium 146, Krypton 85 tai Strontium 90. Beta-säteilydetektori on tekniikan tasossa tavallisesti ionisaatiokammio, se voi kuitenkin olla muodostettu myös puolijohdediodin avulla, joka on suojattu näkyvää valonsäteilyä vastaan metallifolion muodos-15 sa olevan päällisen avulla, kuten tunnettua julkaisusta WO 88/07671. Tämä tunnettu laite toimii mitattavan tavaran tiheyden mittaamiseksi ja siten myös pintapainon mittaamiseksi .
20 Edelleen on tunnettua julkaisuista EP-A-0 233 389 ja DE-A-1 812 893 materiaalirainan pintapainon, tiheyden ja paksuuden mittaamiseksi järjestää stationäärinen, useammasta elementistä koostuva säteilylähde materiaalirainan yhdelle puolelle ja vastaavasti järjestetyt elementin materiaalirai-25 nan toiselle puolelle.
, ; Tasomaisen mitattavan tavaran, kuten esimerkiksi paperin, · radiometrisen pintapainomittauksen yhteydessä vaaditaan : useasti korkeampaa erotuskykyä poikittaisprofiilissa. Tämä ’ 30 voidaan saavuttaa pienentämällä mitattavan tavaran mittaus- pintaa, samalla kun esimerkiksi tavallisesti beta-säteily-: j lähteen ja mitattavan tavaran väliin järjestettyä himmennin- tä pienennetään vastaavasti. Tämä johtaa toisaalta vaadit-. tuun suurempaan erotuskykyyn, toisaalta kuitenkin mit- • ; 35 tasäteilyn intensiteetin pienenemiseen ja siten signaali/ko- hinasuhteen huononemiseen. Tätä voidaan vastustaa lisäämällä : radioaktiivisen lähteen aktiviteettia. Tässä suhteessa 2 112115 kuitenkin annetaan rajat radioaktiivisessa valmisteessa olevan itseabsorption johdosta sekä säteilysuojateknisten määräysten johdosta.
5 Lähtien tästä tekniikan tasosta esillä olevan keksinnön tehtävänä on tämän vuoksi aikaansaada laite pintapainon mittaamiseksi, jonka avulla voidaan saavuttaa toivottu poikittaisprofiilin erottelukyky yksinkertaisemmalla tavalla.
10 Tämän tehtävän ratkaisu onnistuu patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa olevien piirteiden mukaisesti. Muut keksinnön mukaisen pintapainon mittaamiseen tarkoitetun laitteen kehitysmuodot on nähtävissä epäitsenäisissä vaati-15 muksissa.
Seuraavana kuvataan oheenliitetyn piirustuksen kuvioiden yhteydessä keksinnön mukaisen laitteen eräs suoritusmuo-toesimerkki. Piirustuksissa: 20 kuvio 1 esittää keksinnön mukaisen laitteen sivukuvantoa; kuvio 2 esittää päältä nähtyä kuvantoa käytetystä detekto-rista; ·;ί. 25 « ·« ·.
kuvio 3 esittää detektorin poikkileikkausta; ja ·'·* · kuvio 4 esittää mittausjärjestelmän kokonaiskuvantoa mitat- !.: : tavan tavaran ja mittavaunun kanssa.
30
Tasomainen mitattava tavara 10 on mittapään yläosan 12 ja : alaosan 14 välissä, joka mittapää liikkuu poikittain liikku- van mitattavan tavaran 10 suhteen. Yläosaan 12 on järjestet-,· , ty radioaktiivinen lähde 16, joka voi olla muodostettu ' ’ 35 Promethium 147:n, Krypton 85:n tai Strontium 90:n avulla.
* * Himmennin 18 varustettuna suorakulmaisella aukolla rajoittaa ; radioaktiivista säteilyä, joka työntyy mitattavan tavaran 10 3 112115 läpi ja osuu mittapään alaosassa 14 olevalle detektorille 20. Kääntämällä korvaketta 33 asennosta 33a asentoon 33b voidaan säteilyn lähtö sulkea, jotta voidaan suorittaa kaksipistestandardointi ja mitata sekä detektorilaitteen 5 elektrodipimeävirta että signaalin korkeus ilman mitattavaa tavaraa. Detektori 20 on puolijohdedetektori ja muodostuu erityisesti useammasta juovamaisesta fotodiodista 221-22n koostuvasta makroskooppisesta lineaarisesta fotodirektori-ryhmästä. Kukin fotodiodi 221-22n on liitetty vahvistimen 10 241-24n kautta elektroniseen signaalin käsittely-yksikköön 26.
Pimeävirtojen minimoimiseksi lämpötilamuutoksen seurauksena fotodiodi 221-22n on järjestetty lämpötilastabilisoidulle 15 jäähdytyselementille 28. Edelleen fotodiodit 221-22n on suojattu mitattavan tavaran 10 viereisellä puolella valotii-viillä foliolla 30. Folio 30 koostuu edullisesti metallista, esim. alumiinista, jolla on muutamien mikrometrien paksuus. Eräs erityisen sovelias järjestely pimeävirtamuutoksien 20 minimoimiseksi sekä vahvistinrakenneryhmän 241-24n virtavah-vistuksen muutoksien minimoimiseksi vahvistimen lämpötila-ryöminnän johdosta on kerroksittainen jäähdytyselementin 28, vahvistimen 24, korkeaohmisten vastusten 35, jotka määrittävät virtavahvistuksen, ja fotodiodien 221-22n järjestely 25 (kuvio 3).
Mitattava tavara 10 johdetaan rainanohjauselementtien 32, .: 32' kautta direktorimittapään 14 ohi, rainan pitämiseksi : vähäisellä vakioetäisyydellä lineaarisesta fotodiodiryhmästä J·· 30 20.
Elektronisessa signaalinkäsittely-yksikössä 26 kerätään kaikki fotovirrat yksittäisesti ja analysoidaan, jotta ,· p saadaan määrättyä kyseessä olevien pintaelementtien paino.
'· 35 Tämän lisäksi saadaan signaali/kohinasuhteen nostamiseksi * profiilimittauksen mukaan ilmaistua määrätyssä paikoissa : olevien fotodiodien mittatulokset. Tämä on mahdollista, 4 112115 koska kunkin poikittaiskulun mukaisesti kukin m mittaele-menttiä 361-36m poikittaisprofiilissa mitataan n fotodiodilla 22. Tämän avulla saadaan n x m mittaustulosta m^j yhtä poi-kittaisylitystä kohti. Mittaustulos Μ.^ numerolla i varustet-5 tua mittaelementtiä 36 varten saadaan sitten n mittausarvon keskiarvona: n
Ml “ ή 21 mi 1 j = 1 10 Tämän avulla saavutetaan, että signaali/kohinasuhde on sama kuin yhdellä yksittäisellä suurella fotodiodilla ja suurella mittapinnalla ja siten alhaisemmalla paikan erottelukyvyllä olevalla mittauksella.
« · t * · • » » > I ·
• I
t • I »
Claims (7)
1. Laite tasomaisen mitattavan tavaran (10), kuten esimerkiksi paperi, muovifolio tai kangas, pintapainon mittaami- 5 seksi, varustettuna radioaktiivisella lähteellä (16) mitattavan tavaran yhdellä puolella ja puolijohdedetektorilla (20) mitattavan tavaran toisella puolella, tunnettu siitä, että puolijohdedetektori (20) on segmentoitu lineaarisen fotodiodiryhmän (221-22n) mukaisesti ja liikkuu mitat-10 tavan tavaran (10) poikki ja että on järjestetty välineet, jotka kunkin fotodiodin (221—22n) yksittäisvirran mittauksen ohella, suorittavat mitattavan tavaran (10) suhteen vastaavissa asemissa olevien fotodiodien virtojen keskiarvoistami-sen. 15
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu himmentimestä (18) radioaktiivisen lähteen (16) ja lineaarisen fotodiodiryhmän (20) välissä, jolloin himmentimen aukko on sovitettu lineaarisen fotodiodiryhmän geometriaan. 20
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tunnettu ;· siitä, että lineaarisen ryhmän (20) kuhunkin fotodiodiin ·· (221-22n) on liitetty vahvistin (241-24n) . » * # • »
4. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen laite, tunnettu siitä, että lineaarinen fotodiodiryhmä (20) on järjestetty lämpötilastabiilin jäähdytyselementin (28) päälle. ,···_ 30
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että lineaarisen fotodiodiryhmän (20) ohella vahvis-’** ‘ tin (34) ja kulloinkin siihen liittyvä korkea ohminen vastus (35) on järjestetty lämpötilastabiilille jäähdytyselementil-:‘:1: le (28). 35 6 112115
6. Jonkin edellä olevan patenttivaatimuksen mukainen laite, tunnettu rainanohjauselementeistä (32,32'), mitattavan tavaran (10) ohjaamiseksi määrätyllä etäisyydellä foto-5 diodiryhmän (20) ohi.
7 112115
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP93109108 | 1993-06-07 | ||
EP93109108A EP0628808B1 (de) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | Vorrichtung zur Flächengewichtsmessung |
PCT/EP1994/001797 WO1994029700A1 (de) | 1993-06-07 | 1994-06-03 | Vorrichtung zur flächengewichtsmessung |
EP9401797 | 1994-06-03 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI955844A0 FI955844A0 (fi) | 1995-12-05 |
FI955844A FI955844A (fi) | 1995-12-05 |
FI112115B true FI112115B (fi) | 2003-10-31 |
Family
ID=8212969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI955844A FI112115B (fi) | 1993-06-07 | 1995-12-05 | Pintapainon mittauslaite |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0628808B1 (fi) |
JP (1) | JPH09502014A (fi) |
KR (1) | KR100307030B1 (fi) |
CN (1) | CN1089901C (fi) |
DE (1) | DE59308548D1 (fi) |
FI (1) | FI112115B (fi) |
WO (1) | WO1994029700A1 (fi) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5576541A (en) * | 1995-03-17 | 1996-11-19 | Bickert; Martin | Apparatus for measuring the basis weight |
DE19913929A1 (de) * | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften einer Materialbahn |
WO2002090939A1 (en) * | 2001-05-09 | 2002-11-14 | Vinod Unnikrishna Kurup | Equipment for determining weight per unit area |
US6995372B2 (en) * | 2003-02-12 | 2006-02-07 | Voith Paper Patent Gmbh | Nuclear gauge for measuring a characteristic of a sheet material with sheet position and alignment compensation |
SE525320C2 (sv) * | 2003-06-06 | 2005-02-01 | More Res Oernskoeldsvik Ab | Förfarande och apparatur för bedömning/mätning av ytviktsvariation hos arkmaterial |
US7005639B2 (en) | 2003-07-28 | 2006-02-28 | Abb Inc. | System and method of composition correction for beta gauges |
DE102004057743B4 (de) * | 2004-09-08 | 2007-08-09 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Flächengewichtes einer geförderten Materialprobe |
JP4919115B2 (ja) | 2009-09-24 | 2012-04-18 | 横河電機株式会社 | 放射線検査装置 |
US8660682B2 (en) * | 2010-11-22 | 2014-02-25 | Honeywell Asca Inc. | Air wipe and sheet guide temperature control on paper and continuous web scanners |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1812893A1 (de) * | 1968-12-05 | 1970-06-18 | Knapsack Ag, 5033 Knapsack | Anordnung zur Dickenmessung von Walzgut, insbesondere von Folien |
US4047029A (en) * | 1976-07-02 | 1977-09-06 | Allport John J | Self-compensating X-ray or γ-ray thickness gauge |
EP0233389A1 (en) * | 1986-02-12 | 1987-08-26 | Josef W. Repsch | A method of measuring the weight per unit area, density and thickness of a moving sheet |
CA1307056C (en) * | 1987-03-31 | 1992-09-01 | Adaptive Technologies, Inc. | Thickness/density measuring apparatus |
-
1993
- 1993-06-07 EP EP93109108A patent/EP0628808B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-07 DE DE59308548T patent/DE59308548D1/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-06-03 WO PCT/EP1994/001797 patent/WO1994029700A1/de active IP Right Grant
- 1994-06-03 CN CN94192358A patent/CN1089901C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-03 JP JP7501277A patent/JPH09502014A/ja active Pending
- 1994-06-03 KR KR1019950704650A patent/KR100307030B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-12-05 FI FI955844A patent/FI112115B/fi active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100307030B1 (ko) | 2001-12-17 |
KR960702106A (ko) | 1996-03-28 |
DE59308548D1 (de) | 1998-06-18 |
CN1125002A (zh) | 1996-06-19 |
WO1994029700A1 (de) | 1994-12-22 |
FI955844A0 (fi) | 1995-12-05 |
EP0628808A1 (de) | 1994-12-14 |
CN1089901C (zh) | 2002-08-28 |
EP0628808B1 (de) | 1998-05-13 |
FI955844A (fi) | 1995-12-05 |
JPH09502014A (ja) | 1997-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI112115B (fi) | Pintapainon mittauslaite | |
CA1256179A (en) | Device for detecting differences in color | |
KR900016735A (ko) | 두께/밀도 측정장치 | |
EP0747719B1 (en) | Analog high resolution laser irradiation detector | |
US5442166A (en) | Linear absolute position sensor | |
CA1232154A (en) | Fluid flowmeter | |
US4566337A (en) | Opto-electronic position sensing | |
US7034937B2 (en) | Flow meter | |
US20060087640A1 (en) | Optical distance measuring sensor, self-propelled cleaner, and air conditioner | |
EP0888532A4 (fi) | ||
ES2144737T3 (es) | Conjunto de sensores para detectar analitos en fluidos. | |
EP1206714A1 (en) | Real time monitoring of electron beam radiation dose | |
GB2235981A (en) | Metal detecting apparatus and apparatus for testing metal detecting apparatus | |
CA1320842C (en) | Sheet inspection apparatus and methods providing simultaneous resolution of measurement zones and wavelength bands | |
US5331163A (en) | Radioactive areal density detector with scintillating receiver | |
US5753916A (en) | Detector for infrafred gas analyzer | |
US5621220A (en) | Apparatus for evaluating measuring values | |
FI83706C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av pappersformation. | |
JP2001174287A5 (fi) | ||
US6995372B2 (en) | Nuclear gauge for measuring a characteristic of a sheet material with sheet position and alignment compensation | |
JP2004333363A (ja) | 物体検出装置 | |
JPH0219753A (ja) | 放射線応用測定装置 | |
FI68727B (fi) | Anordning foer beroeringsloes maetning av tjocklek eller ytdensitet hos ett skivmaterial eller liknande | |
SU1747890A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины | |
FI20195735A1 (fi) | Laite ilman laadun mittaamiseksi |