JPH0219753A - 放射線応用測定装置 - Google Patents

放射線応用測定装置

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JPH0219753A
JPH0219753A JP16934988A JP16934988A JPH0219753A JP H0219753 A JPH0219753 A JP H0219753A JP 16934988 A JP16934988 A JP 16934988A JP 16934988 A JP16934988 A JP 16934988A JP H0219753 A JPH0219753 A JP H0219753A
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JP
Japan
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radiation
measured
laser beam
radiation source
photodiode array
Prior art date
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Pending
Application number
JP16934988A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Suzuki
順一 鈴木
Yuriko Fujita
藤田 ユリ子
Yuzo Ozaki
雄三 尾崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は放射線を用いて紙、プラスチック、ゴムなどの
物理量(坪量、水分等)を測定する放射線応用測定装置
に関するものである。
〈従来の技術〉 放射線(例えばβ線)が物質層を通過すると。
電離作用や励起作用等によって次第にエネルギーを失っ
て減衰し、更にこの様な非弾性散乱を多数回受けて進行
方向が変化する。従って測定体の物理量(例えば厚さ)
が増すに伴い透過するβ線の数は減少する。この様な原
理を応用し、シート状の種々の物質の物理量を測定する
装置が知られている。
この様な放射線応用測定装置は第3図に示す様に放射線
源1と放射線検出器(以下、単に検出器という)2を対
向させて配置し、その間に被測定体3を挟んで測定する
ように構成されている。この放射線源は正面が最も強く
正面から遠ざかる程弱くなる。従って、放射線源1が検
出器2に対してX、Y方向または2方向に移動した場合
には。
検出器2に入射する放射線量が変化して測定誤差を生じ
るという問題がある。
従来、この種の測定誤差を除去する装置として第4図(
イ)、(ロ)、(ハ)に示すようなものが提案されてい
る。即ち、検出器の放射線を受ける部分2a(以下、単
に受光部という)に放射線の照射方向(X方向)に対し
て直角に吸収板6を配置して、放射線源1と受光部2a
との位置関係の変化に起因する測定誤差を軽減したもの
である。
第4図(イ)は放射線源1と受光部2aおよび吸収板6
の関係を平面図で示すもので、吸収板6は検出器の受光
部の中央部にX方向に対して直角に。
放射線源は受光部の中央に配置されている。吸収板6は
長さlが受光部の直径よりも長く1幅Wが放射線源より
広く受光窓の直径より小さいAI板からなり、受光部2
aの前面の中央部に取付けられて、放射線源1の放射線
ビームの最も強い部分の一部を遮って受光部2aに入射
する放射線量を減少させている。なお、検出器としては
一般に電離箱が用いられ、また、放射線源1は通常安全
対策として金属箱等で包まれており、更に線源箱の出1
:1が薄い金属板等で覆われているので、線源1から放
射された放射線は直進しにくく散乱線となる。このため
、放射線ビームの強さは線源1の正面が最も強く正面か
ら遠ざかる程弱くなる。
第4図(ロ)は検出器2がX方向く向かって左側)にX
lずれた状態を示す側面図で、Rは放射線の等値線量を
示している。この様なずれが発生した場合、向かって左
側は放射線源から遠ざかるので出力は弱くなるが、向か
って右側は吸収板6に遮られていた放射線の最も強い部
分が受光面を照射する様になるので出力は強くなる。従
って受光部が受ける放射線の総量は変化せず、ずれによ
る出力変動は発生しない。
第4図(ハ)は検出器が2方向(図では上方向)に21
ずれた状態を示す側面図で、この例では受光面が放射線
源に近付くので吸収板6で覆われていない部分は出力が
増加する様に作用し、同時に放射線の強い部分がより広
く吸収板6で覆われることになるので放射線の総量は変
化せず、ずれによる出力変動は発生しない。
上記構成によれば、放射線源と検出器の関係がX、Z方
向に移動しても放射線量の総量をほぼ同一にすることが
可能である。なお、Y方向のずれに対しては図示した吸
収板では対応できない。
しかし現実には吸収板の形状を工夫することにより対処
している。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、上記従来の放射線応用測定装置において
は、検出器の前面に吸収板を用いて放射感度を調整して
いる為検出器の感度が1/2〜115に低下してしまう
という問題があった。また。
吸収板を用いた場合、その配置場所は被測定体の性質に
合わせて試行錯誤しながら決定する必要があった。
本発明はL記従来技術の課題に鑑みて成されたもので、
線源部と検出部の間にこれらのX−Y方向の位置ずれを
検出する装置を設け、この装置からの位置ずれ情報によ
り放射線検出器の出力の補正を行うようにし、放射線源
と検出部のずれに基因する誤差防止をはかった放射線応
用測定装置を実現することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉 上記課題を解決するための本発明の構成は、線源部に設
けた放射線源から放射され、被測定体を透過してくる放
射線を検出部に設けた放射線検出器により検出し、前記
被測定体の物理量の測定を行う放射線応用測定装置にお
いて、前記線源部にレーザ光出射手段(またはフォトダ
イオードアレイ)を、検出部にフォトダイオードアレイ
(またはレーザ光出射手段)を形成したことを特徴とす
るものである。
〈実施例〉 第1図は本発明の一実施例を示す放射線応用測定装置の
構成説明図である。なお1図では省略するが検出部10
および線源部11はCまたはコ字状の固定手段の先端に
取りつけられ図示の様に対向して配置される。これらの
図において1および2は従来と同様の放射線源および検
出器である。
13は検出部側の検出器の近傍に配置されたレザダイオ
ードで、このダイオードからのレーザ光はロッドレンズ
14で10μm程度の径に絞られて出射する。このレー
ザ光の波長は被測定体3に吸収されない波長を選択する
ものとする。15は線源部側の放射線源の近傍に配置さ
れたフォトダイオードアレイである。
第2図はこのフォトダイオードアレイ15の拡大平面図
を示すもので、短辺a側が3mm、長辺b Illか7
mm程度の大きさとされ1例えば50x50μm程度の
面積の中に30X30μm程度の受光素子か一つ形成さ
れ、この受光素子がアレイ状に多数<60X140個)
形成されている。このフォトダイオードアレイはずれの
大きい方向(X方向)に沿って長辺部か配置され、かつ
、レザ光がフォトダイオードアレイの中心位置を照射す
る様に配置される。16は演算装置で、検出器2の出力
およびフォトダイオード15からの出力が入力される。
手記構成において、はじめ被測定体かない状態で光源と
フォトダイオードアレイの位置をXまたはY方向に50
μmピッチで相対的に移動させ。
その位置と対応する放射線強度を演算装置に記憶してお
く。
なお、検量線は坪量に対する出力が I/I。
1;被測定対象を透過した時の出力 Io;被測定体がない場合(空気) の出力 で規格化されているので座標には依存しない。
従って検出部と線源部の相対的な位置ずれはレーザ光と
フォトダイオードアレイの関係を監視することにより検
知することが出来る。なお、レーザ光が被測定体3を照
射すると照射光は散乱し、複数のフォトダイオードを照
射する様になるが演算装置にはフォトダイオードの最大
値がいずれのダイオードであるかを検出する回路が設け
られている。ずれの位置が決定すれば予め求めておいた
その位置における検量線! (X、Y) / I o 
(X、V)から被測定体の厚さを求めることが出来る。
なお、フォトダイオードの寸法、形状は本実施例に限る
ことなく必要に応じて変更可能である。
また1本実施例においては検出部側にフォトダイオード
アレイを線源部側にレーザダイオードを設けたが、検出
部側にレーザダイオードを線源部側にフォトダイオード
アレイを設けてもよい。
また1本実施例では放射線をβ線としたがβ線に限るこ
となく、同様の効果を有する他の放射線であってもよい
〈発明の効果〉 以上、実施例とともに具体的に説明したように本発明に
よれば1位置ずれ袖IF手段として吸収板第1図 用いて補正する場合、その位置は試行錯誤して決定する
必要かあるが1本発明では自動的に補][値を求めるこ
とか出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の放射線検出器の一大繕例を示ず構成説
明図、第2図はフォトダイオードアレイの拡大平面図、
第3図、第4図は従来例を示す構成説明図である。 1・・・放射線源、2・・・検出器、3・・・被測定体
、10・・・検出部、11・・・線源部、13・・・レ
ーザダイオド、17I・・・ロッドレンズ、15・・・
フォトダイオドアレイ。 第 2 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 線源部に設けた放射線源から放射され、被測定体を透過
    してくる放射線を検出部に設けた放射線検出器により検
    出し、前記被測定体の物理量の測定を行う放射線応用測
    定装置において、前記線源部にレーザ光出射手段(また
    はフォトダイオードアレイ)を、検出部にフォトダイオ
    ードアレイ(またはレーザ光出射手段)を形成したこと
    を特徴とする放射線応用測定装置。
JP16934988A 1988-07-07 1988-07-07 放射線応用測定装置 Pending JPH0219753A (ja)

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JPH0219753A true JPH0219753A (ja) 1990-01-23

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006184183A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Yokogawa Electric Corp 物理量測定装置及びこの装置を用いた物理量測定方法
JP2008267861A (ja) * 2007-04-17 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp シート物理量測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006184183A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Yokogawa Electric Corp 物理量測定装置及びこの装置を用いた物理量測定方法
JP4613613B2 (ja) * 2004-12-28 2011-01-19 横河電機株式会社 物理量測定方法
JP2008267861A (ja) * 2007-04-17 2008-11-06 Yokogawa Electric Corp シート物理量測定装置

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