KR960702106A - 단위 면적당 중량을 측정하는 장치 - Google Patents
단위 면적당 중량을 측정하는 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960702106A KR960702106A KR1019950704650A KR19950704650A KR960702106A KR 960702106 A KR960702106 A KR 960702106A KR 1019950704650 A KR1019950704650 A KR 1019950704650A KR 19950704650 A KR19950704650 A KR 19950704650A KR 960702106 A KR960702106 A KR 960702106A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- photodiode
- array
- radiation source
- per unit
- unit area
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
종이 웨브(10)의 기본중량을 측정하기 위해, 광다이오드 어레이에 의해 형성된 방사선 소스(16) 및 반도체검출기(20)가 종이 웨브의 양쪽에 측정헤드 내부에 배치된다. 광다이오드 어레이는 금속성 막(30)으로 가시광에 대해 차폐된다. 광다이오드는 종이 웨브를 가로질러 이동되고, 어레이의 각각의 광다이오드의 전류이외에, 동일하게 위치된 광다이오드으 광전류의 평균화가 수행되어 측정에서 신호/잡음 관계를 개선시킨다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 장치의 측면도.
제2도는 사용된 검출기의 평면도.
제3도는 사용된 검출기의 횡단면도.
제4도는 테스트 중인 물질과 측정 헤드를 함께 보여주는 측정 시스템의 전체 도면.
Claims (5)
- 박판물질의 한쪽에 방사선 소스를 그리고 상기 물질의 다른 한쪽에 반도체 검출기를 포함하는, 테스트중인 상기 물질, 예를 들면 종이의 기본중량을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 반도체 검출기(20)가 광다이오드 라인 어레이(221-22n)에 라 분할되고 테스트 중인 상기 물질에 대해 가로 질러 이동하는 것과, 어레이의 각각의 광다이오드(221-22n)의 각각의 전류의 검출이외에 동일하게 위치된 광다이오드의 광전류의 평균화가 수행되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
- 제1항에 있어서, 방사선 소스(16) 및 광검출기 라인 어레이(20;221-22n) 사이의 조리개(18)의 구멍이 광검출기 라인 어레이의 외형과 매칭되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
- 제2항에 있어서, 증폭기(241-24n)가 어레이(20)의 각각의 광다이오드(221-22n)에 접속되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 광다이오드 어레이(20)가, 온도에 대해 안정화된 냉각 엘리먼트(28) 위에 위치되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.
- 제4항에 있어서, 상기 광다이오드 어레이(20) 이의에 상기 증폭기(34:241-24n) 및 상기 증폭기와 관련된 고저항의 저항(35)이, 온도에 대해 안정화된 상기 냉각 엘리먼트(28) 위에 배치되는 것을 특징으로 하는 기본중량 측정 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP93109108A EP0628808B1 (de) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | Vorrichtung zur Flächengewichtsmessung |
EP93109108.6 | 1993-06-07 | ||
PCT/EP1994/001797 WO1994029700A1 (de) | 1993-06-07 | 1994-06-03 | Vorrichtung zur flächengewichtsmessung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960702106A true KR960702106A (ko) | 1996-03-28 |
KR100307030B1 KR100307030B1 (ko) | 2001-12-17 |
Family
ID=8212969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950704650A KR100307030B1 (ko) | 1993-06-07 | 1994-06-03 | 단위면적당중량을측정하는장치 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0628808B1 (ko) |
JP (1) | JPH09502014A (ko) |
KR (1) | KR100307030B1 (ko) |
CN (1) | CN1089901C (ko) |
DE (1) | DE59308548D1 (ko) |
FI (1) | FI112115B (ko) |
WO (1) | WO1994029700A1 (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0732569B1 (de) * | 1995-03-17 | 2000-04-26 | Honeywell Ag | Vorrichtung zur Flächengewichtsmessung |
DE19913929A1 (de) | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen von Eigenschaften einer Materialbahn |
WO2002090939A1 (en) * | 2001-05-09 | 2002-11-14 | Vinod Unnikrishna Kurup | Equipment for determining weight per unit area |
US6995372B2 (en) * | 2003-02-12 | 2006-02-07 | Voith Paper Patent Gmbh | Nuclear gauge for measuring a characteristic of a sheet material with sheet position and alignment compensation |
SE525320C2 (sv) * | 2003-06-06 | 2005-02-01 | More Res Oernskoeldsvik Ab | Förfarande och apparatur för bedömning/mätning av ytviktsvariation hos arkmaterial |
US7005639B2 (en) | 2003-07-28 | 2006-02-28 | Abb Inc. | System and method of composition correction for beta gauges |
DE102004057743B4 (de) * | 2004-09-08 | 2007-08-09 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Flächengewichtes einer geförderten Materialprobe |
JP4919115B2 (ja) * | 2009-09-24 | 2012-04-18 | 横河電機株式会社 | 放射線検査装置 |
US8660682B2 (en) * | 2010-11-22 | 2014-02-25 | Honeywell Asca Inc. | Air wipe and sheet guide temperature control on paper and continuous web scanners |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1812893A1 (de) * | 1968-12-05 | 1970-06-18 | Knapsack Ag, 5033 Knapsack | Anordnung zur Dickenmessung von Walzgut, insbesondere von Folien |
US4047029A (en) * | 1976-07-02 | 1977-09-06 | Allport John J | Self-compensating X-ray or γ-ray thickness gauge |
EP0233389A1 (en) * | 1986-02-12 | 1987-08-26 | Josef W. Repsch | A method of measuring the weight per unit area, density and thickness of a moving sheet |
CA1307056C (en) * | 1987-03-31 | 1992-09-01 | Adaptive Technologies, Inc. | Thickness/density measuring apparatus |
-
1993
- 1993-06-07 DE DE59308548T patent/DE59308548D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-07 EP EP93109108A patent/EP0628808B1/de not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-03 CN CN94192358A patent/CN1089901C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-03 KR KR1019950704650A patent/KR100307030B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-06-03 WO PCT/EP1994/001797 patent/WO1994029700A1/de active IP Right Grant
- 1994-06-03 JP JP7501277A patent/JPH09502014A/ja active Pending
-
1995
- 1995-12-05 FI FI955844A patent/FI112115B/fi active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI112115B (fi) | 2003-10-31 |
CN1125002A (zh) | 1996-06-19 |
EP0628808B1 (de) | 1998-05-13 |
WO1994029700A1 (de) | 1994-12-22 |
EP0628808A1 (de) | 1994-12-14 |
JPH09502014A (ja) | 1997-02-25 |
CN1089901C (zh) | 2002-08-28 |
KR100307030B1 (ko) | 2001-12-17 |
FI955844A (fi) | 1995-12-05 |
DE59308548D1 (de) | 1998-06-18 |
FI955844A0 (fi) | 1995-12-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3405268A (en) | Radiant energy absorption gage for measuring the weight of a base material and the content of a material sorbed by the base material | |
US3877817A (en) | Temperature stabilized photometer for kinetic analysis | |
CA2098986A1 (en) | Temperature insensitive web moisture sensor and method | |
ATE125037T1 (de) | Dicken- oder dichtemessgerät. | |
Qian et al. | A method for measurement of multiple light spot positions on one position-sensitive detector (PSD) | |
ATE254278T1 (de) | Kraft- und/oder momentmessanordnung | |
KR960702106A (ko) | 단위 면적당 중량을 측정하는 장치 | |
KR860001343A (ko) | 화염성분 분석기 | |
SE8702244D0 (sv) | Method and apparatus for noncontacting tension measurement in a flat foil and especially in a paper web | |
WO1998028661A3 (en) | Optical height meter, surface-inspection device provided with such a height meter, and lithographic apparatus provided with the inspection device | |
ES2111273T3 (es) | Procedimiento y dispositivo de calibracion para un conjunto de medida del perfil transversal de un espesor de un producto plano. | |
CA2097113A1 (en) | Sensitivity measuring apparatus for use with a fire detector | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
US3802781A (en) | Extensometers | |
DE69209836D1 (de) | Gerät zum messen des profils eines sich bewegenden objektes | |
EP1055905A3 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Planheit eines Materialbandes | |
US3535630A (en) | Infrared radiation temperature sensing using reflector technique for measuring thin sheet materials | |
DE50001263D1 (de) | Optische Messanordnung zur Bestimmung der Transmissions- und Streustrahlung | |
US5894352A (en) | Absorption tester for optical components | |
ATE144043T1 (de) | Elektrooptisches messgerät | |
ATE204400T1 (de) | Optischer rauchmelder nach dem extinktionsprinzip | |
KR830010379A (ko) | 광학오염 감지기준 채널 | |
US4016423A (en) | Infrared analyzer of constant radiant energy | |
SU1536525A1 (ru) | Устройство дл определени высокого напр жени на рентгеновской трубке | |
KR900018655A (ko) | 광택 측정장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20080704 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |