JP3142690B2 - 貴金属真贋検査方法 - Google Patents
貴金属真贋検査方法Info
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- JP3142690B2 JP3142690B2 JP05192594A JP19259493A JP3142690B2 JP 3142690 B2 JP3142690 B2 JP 3142690B2 JP 05192594 A JP05192594 A JP 05192594A JP 19259493 A JP19259493 A JP 19259493A JP 3142690 B2 JP3142690 B2 JP 3142690B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パチンコ遊戯産業が景
品として客に供給する金地金の流通過程における組織犯
罪的な偽装品の流入を阻止するための貴金属真贋検査方
法に関するものである。
品として客に供給する金地金の流通過程における組織犯
罪的な偽装品の流入を阻止するための貴金属真贋検査方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、景品の金地金の真贋を検査する方
法は、目視による形状（封印の状態）および金の色のチ
ェックのみであり、トレイ毎（４×１０＝４０個）全品
を短時間で処理していた。
法は、目視による形状（封印の状態）および金の色のチ
ェックのみであり、トレイ毎（４×１０＝４０個）全品
を短時間で処理していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の目視検査の方法
では、金色に表面処理されたものや、純度が低い物に対
して、真贋判断できない物が大半であった。また、目視
検査の場合、体調等による人為的な見落としの問題など
もあった。
では、金色に表面処理されたものや、純度が低い物に対
して、真贋判断できない物が大半であった。また、目視
検査の場合、体調等による人為的な見落としの問題など
もあった。
【０００４】本発明は、簡単な操作で迅速で正確な真贋
検査をなしえる方法を提供することを目的としている。
検査をなしえる方法を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明は以下の構成とした。トレイを載せるだけ
の所定のＸ線照射位置にセットするベルト駆動方式のト
レイ搬送系と、一度に複数個の試料をＸ線照射するＸ線
管球のような複数個のＸ線励起源と、試料から発生する
Ｘ線をエネルギー弁別してＸ線強度を検出するＳｉ（Ｌ
ｉ）半導体検出器のような複数個のＸ線検出器と、検出
されたＸ線強度から純金からのＸ線強度と比較処理する
ことのできる演算処理部によって構成される真贋検査装
置において、金の特性Ｘ線のＬα線まはたＬβ線のみに
注目して比較する方式と、特性Ｘ線とそれ以外の散乱線
強度比によって比較する方式とした。
に、この発明は以下の構成とした。トレイを載せるだけ
の所定のＸ線照射位置にセットするベルト駆動方式のト
レイ搬送系と、一度に複数個の試料をＸ線照射するＸ線
管球のような複数個のＸ線励起源と、試料から発生する
Ｘ線をエネルギー弁別してＸ線強度を検出するＳｉ（Ｌ
ｉ）半導体検出器のような複数個のＸ線検出器と、検出
されたＸ線強度から純金からのＸ線強度と比較処理する
ことのできる演算処理部によって構成される真贋検査装
置において、金の特性Ｘ線のＬα線まはたＬβ線のみに
注目して比較する方式と、特性Ｘ線とそれ以外の散乱線
強度比によって比較する方式とした。
【０００６】
【作用】上記構成にすることによって、金メッキや低純
度金合金からのＸ線強度は純金塊からのＸ線強度より小
さくなる。もしくは、散乱強度との比率をとることによ
り純金かどうかの判断が可能となり、後者は散乱強度が
軽元素の組成、厚みによって変化する性質を利用して景
品のプラスチックカバーの厚み異常、さらにＸ線の距離
特性を利用した形で金の埋め込み位置の違いも判断する
ことができる。
度金合金からのＸ線強度は純金塊からのＸ線強度より小
さくなる。もしくは、散乱強度との比率をとることによ
り純金かどうかの判断が可能となり、後者は散乱強度が
軽元素の組成、厚みによって変化する性質を利用して景
品のプラスチックカバーの厚み異常、さらにＸ線の距離
特性を利用した形で金の埋め込み位置の違いも判断する
ことができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。純
金を埋め込んだ景品には、その構造として複数の種類が
ある。図２に景品の外観図を示す。景品によってはプラ
スチック厚みが２ｍｍあるいは２．５ｍｍのように、表
面からの金の埋め込み位置が異なる。ただし、外形は同
じである。また、金の重量が０．３ｇおよび１ｇの２種
類あり、その表面の面積も異なり、外形も異なる。
金を埋め込んだ景品には、その構造として複数の種類が
ある。図２に景品の外観図を示す。景品によってはプラ
スチック厚みが２ｍｍあるいは２．５ｍｍのように、表
面からの金の埋め込み位置が異なる。ただし、外形は同
じである。また、金の重量が０．３ｇおよび１ｇの２種
類あり、その表面の面積も異なり、外形も異なる。
【０００８】このため、４×１０＝４０個をまとめて並
べるトレイがあり、これも２種類存在している。トレイ
は図３にその構造を示す。景品真贋検査装置はこれら様
々な形状に対応しなければならない。図１は、本発明を
説明する構成図である。ベルト駆動方式のトレイ搬送系
であるベルトコンベア１７には最初の試料測定位置を決
定するための棒状突起があり、それぞれのトレイ１６は
これに合わせて置かれる。トレイ１６をおいた後、トレ
イ１６の大小を入力し、次に測定開始を入力する。
べるトレイがあり、これも２種類存在している。トレイ
は図３にその構造を示す。景品真贋検査装置はこれら様
々な形状に対応しなければならない。図１は、本発明を
説明する構成図である。ベルト駆動方式のトレイ搬送系
であるベルトコンベア１７には最初の試料測定位置を決
定するための棒状突起があり、それぞれのトレイ１６は
これに合わせて置かれる。トレイ１６をおいた後、トレ
イ１６の大小を入力し、次に測定開始を入力する。
【０００９】以上によって、１列目の試料はＸ線照射位
置にセットされ、同時に４個の金景品に一次Ｘ線が照射
され、そこから発生する蛍光Ｘ線１８はＸ線検出器１４
で検出され、データ処理部１３内の計測回路で処理さ
れ、データ処理部１３内のＣＰＵで純金かまがい物かを
判断し、その結果を出力する。
置にセットされ、同時に４個の金景品に一次Ｘ線が照射
され、そこから発生する蛍光Ｘ線１８はＸ線検出器１４
で検出され、データ処理部１３内の計測回路で処理さ
れ、データ処理部１３内のＣＰＵで純金かまがい物かを
判断し、その結果を出力する。
【００１０】この真贋判定としては、（ａ）あらかじめ
目的成分（金）の特定Ｘ線エネルギー、金の場合はＡｕ
−Ｌβ（Ｅ＝１１．４ｋｅＶ）を設定しておき、標準試
料（本物の景品）のＸ線強度ＩS を測定しておき、検査
資料のＸ線強度Ｉとの比率（Ｉ／ＩS ）を計算し、１．
００になることを真贋基準とする。
目的成分（金）の特定Ｘ線エネルギー、金の場合はＡｕ
−Ｌβ（Ｅ＝１１．４ｋｅＶ）を設定しておき、標準試
料（本物の景品）のＸ線強度ＩS を測定しておき、検査
資料のＸ線強度Ｉとの比率（Ｉ／ＩS ）を計算し、１．
００になることを真贋基準とする。
【００１１】（ｂ）目的成分（金）の特定Ｘ線エネルギ
ーのＸ線強度Ｉと、それ以外のエネルギーのＸ線強度Ｉ
R を同時に計測し、これらの比率（Ｉ／ＩR ）をＲとす
るとして、あらかじめ標準試料（本物の景品）の比率Ｒ
S を同様に測定しておくことにより、Ｒ／ＲS が１．０
０になることを真贋基準とする。この際、比較Ｘ線強度
ＩR のＸ線エネルギー領域を複数設定し、たとえば目的
Ｘ線強度ＩをＡｕ−Ｉβとして、１番目の比較Ｘ線強度
ＩR1をＡｕ−Ｉβより低エネルギー側の１〜１０ｋｅＶ
として、２番目の比較Ｘ線強度ＩR2をＡｕ−Ｉβより高
エネルギー側の１３〜３０ｋｅＶとして、それぞれＲ／
ＲS1およびＲ／ＲS2の値をチェックすることによって、
各種素材へのメッキ品や金地金を覆っているプラスチッ
クケースの厚み、組成のチェックが可能となる。
ーのＸ線強度Ｉと、それ以外のエネルギーのＸ線強度Ｉ
R を同時に計測し、これらの比率（Ｉ／ＩR ）をＲとす
るとして、あらかじめ標準試料（本物の景品）の比率Ｒ
S を同様に測定しておくことにより、Ｒ／ＲS が１．０
０になることを真贋基準とする。この際、比較Ｘ線強度
ＩR のＸ線エネルギー領域を複数設定し、たとえば目的
Ｘ線強度ＩをＡｕ−Ｉβとして、１番目の比較Ｘ線強度
ＩR1をＡｕ−Ｉβより低エネルギー側の１〜１０ｋｅＶ
として、２番目の比較Ｘ線強度ＩR2をＡｕ−Ｉβより高
エネルギー側の１３〜３０ｋｅＶとして、それぞれＲ／
ＲS1およびＲ／ＲS2の値をチェックすることによって、
各種素材へのメッキ品や金地金を覆っているプラスチッ
クケースの厚み、組成のチェックが可能となる。
【００１２】図４に金地金を測定した場合のＸ線スペク
トルを示す。純金の場合は金のＸ線強度のみで、金のＸ
線エネルギーより低エネルギー側にはピークが現れない
のでＩ（金のＸ線強度の積算値）／Ｉ1 （低エネルギー
領域のＸ線強度の積算値）＝ＲS になる。このＲS の値
を基準として真贋判断を実行する。もし、鉄に金めっき
された物の場合は低エネルギー側Ｉ1 に鉄のピークが現
れ、Ｉ／Ｉ1 ＝Ｒは＜ＲS になり、分母Ｉ1 が大きくな
ったため、偽物であると判断できる。また、別のケース
として錫板に金薄板を張りつけている場合も高エネルギ
ー側のＸ線積算値Ｉ2 に錫のピークが現れ、Ｉ／Ｉ2 ＝
Ｒ、ＲS ＞Ｒの関係となり、偽物であると判定すること
ができる。また、プラスチックケースの厚みが厚くなれ
ば、それによる金Ｘ線強度の吸収でＩが小さくなり、同
時に一次Ｘ線のコンプトン散乱が増えるため、Ｉ2 が大
きくなり、結果としてＩ／Ｉ2 ＝Ｒは、ＲS ＞Ｒとなる
ため、偽物であると判定することができる。また、プラ
スチックケースの組成が変わってもその成分によって、
Ｉ／Ｉ1 またはＩ／Ｉ2 はＲ2 はＲS より小さくなるた
め、偽物と判定することができる。
トルを示す。純金の場合は金のＸ線強度のみで、金のＸ
線エネルギーより低エネルギー側にはピークが現れない
のでＩ（金のＸ線強度の積算値）／Ｉ1 （低エネルギー
領域のＸ線強度の積算値）＝ＲS になる。このＲS の値
を基準として真贋判断を実行する。もし、鉄に金めっき
された物の場合は低エネルギー側Ｉ1 に鉄のピークが現
れ、Ｉ／Ｉ1 ＝Ｒは＜ＲS になり、分母Ｉ1 が大きくな
ったため、偽物であると判断できる。また、別のケース
として錫板に金薄板を張りつけている場合も高エネルギ
ー側のＸ線積算値Ｉ2 に錫のピークが現れ、Ｉ／Ｉ2 ＝
Ｒ、ＲS ＞Ｒの関係となり、偽物であると判定すること
ができる。また、プラスチックケースの厚みが厚くなれ
ば、それによる金Ｘ線強度の吸収でＩが小さくなり、同
時に一次Ｘ線のコンプトン散乱が増えるため、Ｉ2 が大
きくなり、結果としてＩ／Ｉ2 ＝Ｒは、ＲS ＞Ｒとなる
ため、偽物であると判定することができる。また、プラ
スチックケースの組成が変わってもその成分によって、
Ｉ／Ｉ1 またはＩ／Ｉ2 はＲ2 はＲS より小さくなるた
め、偽物と判定することができる。
【００１３】（ｃ）景品の種類が多く、プラスチックケ
ースの仕様が異なる。または金地金の埋め込み位置が異
なる等の問題に対処するため、目的成分（金）の特定Ｘ
線エネルギーのＸ線強度Ｉと、それ以外のエネルギーの
Ｘ線強度ＩR を同時に計測し、これらの比率（Ｉ／
ＩR ）をＲとするとして、あらかじめ各種の標準試料の
比率ＲSnを測定し、これらＲSnを記憶しておき、検査試
料のＸ線強度比ＲとこれらＲSnを比較してＲ／ＲSnが
１．００になるＲSnがある／なしを真贋基準とする方法
が実施例として挙げられる。
ースの仕様が異なる。または金地金の埋め込み位置が異
なる等の問題に対処するため、目的成分（金）の特定Ｘ
線エネルギーのＸ線強度Ｉと、それ以外のエネルギーの
Ｘ線強度ＩR を同時に計測し、これらの比率（Ｉ／
ＩR ）をＲとするとして、あらかじめ各種の標準試料の
比率ＲSnを測定し、これらＲSnを記憶しておき、検査試
料のＸ線強度比ＲとこれらＲSnを比較してＲ／ＲSnが
１．００になるＲSnがある／なしを真贋基準とする方法
が実施例として挙げられる。
【００１４】
【発明の効果】本発明によって、パチンコ遊戯産業のよ
うに大量の貴金属（金景品）の真贋チェックを実行しな
ければならない場合、簡単な操作で迅速に正確な真贋検
査を可能とする。
うに大量の貴金属（金景品）の真贋チェックを実行しな
ければならない場合、簡単な操作で迅速に正確な真贋検
査を可能とする。
【図１】本発明のシステム構成図である。
【図２】金景品の概略図である。
【図３】トレイの外観図である。
【図４】金地金を測定した場合のＸ線スペクトルであ
る。
る。
１１ Ｘ線励起源 １２ 一次Ｘ線 １３ データ処理部 １４ Ｘ線検出器 １５ 検査試料 １８ 蛍光Ｘ線
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線励起源とＸ線検出器および試料搬送
系を有し、トレイ上に並べられた検査試料にＸ線照射
し、この検査試料から発生する蛍光Ｘ線を検出すること
が可能であり、あらかじめ検出する目的貴金属成分を設
定して、その目的成分の特定Ｘ線強度Ｉと、該目的成分
の特定Ｘ線以外の全エネルギー領域のＸ線強度ＩR を同
時に計測し、これらの比率（Ｉ／ＩR ）をＲとし、あら
かじめ標準試料の特定Ｘ線強度ＩSと、該標準試料の特
定Ｘ線以外の全エネルギー領域のＸ線強度ＩRS との比率
ＲS ＝（Ｉ S ／Ｉ RS ）を測定しておくことによってＲ／Ｒ
S が１．００になることを真贋判定基準とする貴金属真
贋検査方法。 - 【請求項２】 Ｘ線励起源とＸ線検出器および試料搬送
系を有し、トレイ上に並べられた検査試料にＸ線照射
し、この検査試料から発生する蛍光Ｘ線を検出すること
が可能であり、あらかじめ検出する目的貴金属成分を設
定して、その目的成分の特定Ｘ線強度Ｉと、該目的成分
の特定Ｘ線以外の全エネルギー領域のエネルギーのＸ線
強度ＩR を同時に計測し、これらの比率（Ｉ／ＩR ）を
Ｒとし、あらかじめｎ種（ｎは自然数）の標準試料の特
定Ｘ線強度Ｉ Sn と該標準試料の特定Ｘ線以外の全エネル
ギー領域のＸ線強度Ｉ RSn との比率Ｒ Sn ＝（Ｉ Sn ／
Ｉ RSn ）を測定し、これら複数のＲSnを記憶しておき、
検査試料のＸ線強度比Ｒとこれら複数のＲSnを比較して
Ｒ／ＲSnが１．００になるＲSnがある／なしを真贋判定
基準とする貴金属真贋検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05192594A JP3142690B2 (ja) | 1993-08-03 | 1993-08-03 | 貴金属真贋検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05192594A JP3142690B2 (ja) | 1993-08-03 | 1993-08-03 | 貴金属真贋検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0749317A JPH0749317A (ja) | 1995-02-21 |
| JP3142690B2 true JP3142690B2 (ja) | 2001-03-07 |
Family
ID=16293874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05192594A Expired - Fee Related JP3142690B2 (ja) | 1993-08-03 | 1993-08-03 | 貴金属真贋検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3142690B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4814579B2 (ja) | 2005-08-23 | 2011-11-16 | パナソニック株式会社 | 特定物質の含有判定方法 |
| JP2009519471A (ja) * | 2005-12-12 | 2009-05-14 | リビール イメージング テクノロジーズ | ずれた放射線によるｃｔ検査 |
| CN103776859A (zh) * | 2013-10-14 | 2014-05-07 | 无锡艾科瑞思产品设计与研究有限公司 | 一种液态食品重金属含量快速检测方法 |
-
1993
- 1993-08-03 JP JP05192594A patent/JP3142690B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0749317A (ja) | 1995-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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