JPH04264209A - 金属、特に鋼のストリップの厚さの横方向プロフィルを測定する方法と装置 - Google Patents
金属、特に鋼のストリップの厚さの横方向プロフィルを測定する方法と装置Info
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- JPH04264209A JPH04264209A JP3254653A JP25465391A JPH04264209A JP H04264209 A JPH04264209 A JP H04264209A JP 3254653 A JP3254653 A JP 3254653A JP 25465391 A JP25465391 A JP 25465391A JP H04264209 A JPH04264209 A JP H04264209A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B5/02—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は鋼板の熱間または冷間圧
延装置において金属ストリップ、特に鋼板の厚さの横方
向プロフィルを測定する方法と装置に関するものである
。この装置はストリップの互いに反対側に配置された放
射線の放出管および線形検出器と、電子捕捉・測定・制
御手段とを備えている。
延装置において金属ストリップ、特に鋼板の厚さの横方
向プロフィルを測定する方法と装置に関するものである
。この装置はストリップの互いに反対側に配置された放
射線の放出管および線形検出器と、電子捕捉・測定・制
御手段とを備えている。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線放射器と多重検出器を有するイオン
化チャンバによって構成されたＸ線検出器とを用いて、
Ｘ線の吸収によって金属ストリップの厚さのプロフィル
を測定する装置は公知である。しかし、この種の装置で
は多重検出器を有するイオン化チャンバを用いるため、
横方向の分解能は約 １．９ ｍｍ と不十分である。 また、この種の装置では金属ストリップの端縁部の近傍
の部分の厚さを幅数１０ｍｍの広い範囲にわたって正確
に測定することができない。この後者の欠点は、ストリ
ップの端縁部の近傍ではＸ線が不均一に拡散し、このＸ
線の不均一な拡散が測定を妨害するためである。
化チャンバによって構成されたＸ線検出器とを用いて、
Ｘ線の吸収によって金属ストリップの厚さのプロフィル
を測定する装置は公知である。しかし、この種の装置で
は多重検出器を有するイオン化チャンバを用いるため、
横方向の分解能は約 １．９ ｍｍ と不十分である。 また、この種の装置では金属ストリップの端縁部の近傍
の部分の厚さを幅数１０ｍｍの広い範囲にわたって正確
に測定することができない。この後者の欠点は、ストリ
ップの端縁部の近傍ではＸ線が不均一に拡散し、このＸ
線の不均一な拡散が測定を妨害するためである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は横方向
の分解能を向上させ、金属ストリップの端縁部近傍まで
ストリップの厚さを正確に測定することができるように
することにある。
の分解能を向上させ、金属ストリップの端縁部近傍まで
ストリップの厚さを正確に測定することができるように
することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の装置では、放射
管が放射した放射線を部分的に遮断し且つ検出器の対応
する部分をマスクするように放射管と検出器との間にマ
スクを配置する。本発明の方法では、ストリップの上側
に放射器を位置決めし、その下側に放射ビームの線形検
出器を位置決めし、ストリップの一端縁部の所までのス
トリップの厚さの横方向変化を示す信号を記録する。本
発明方法の特徴は、ストリップが遮断していない放射ビ
ームの一部を遮断し且つストリップの端縁部の所定幅の
区域を通過した部分に対応するを放射線ビームを遮断す
るように、マスクをストリップの端縁部から所定幅だけ
離して検出器と放射器との間に配置し、測定中は上記の
所定幅が一定になるように維持する点にある。本発明の
他の特徴は、マスクがストリップと検出器との間または
放射管とストリップとの間のいずれかに配置される点に
ある。マスクをストリップと検出器との間に配置した時
には、ストリップが遮断しない放射線の一部と、ストリ
ップの端縁部によって遮蔽された放射線の一部とを遮断
するようにマスクをストリップの端縁部から所定幅だけ
離して位置決めする。マスクを放射器とストリップとの
間に配置した時には、ストリップの端縁部の一部によっ
て遮蔽される放射線の一部をマスクが遮断する。複数の
プロフィル （断面形状） を測定したり、移動中のス
トリップを連続的に測定する場合には、マスクを可動支
持体上に取付けて、その変位を電気的な手段で制御する
。この場合には、電子捕捉・測定・制御手段が、ストリ
ップの端縁部の区域の幅を求める手段と、ストリップの
端縁部の区域の幅の測定値を関数として上記の幅を一定
に維持するようにマスクの位置を制御する手段とが設け
られている。放射線の放射管はＸ線管にすることができ
、線形検出器はシンチレータ基板を被覆したホトダイオ
ード列にするのが好ましい。本発明の上記以外の特徴お
よび利点は、添付図面を参照した下記の実施例の説明か
ら明らかになろう。しかし、本発明は以下の実施例に限
定されるものではない。
管が放射した放射線を部分的に遮断し且つ検出器の対応
する部分をマスクするように放射管と検出器との間にマ
スクを配置する。本発明の方法では、ストリップの上側
に放射器を位置決めし、その下側に放射ビームの線形検
出器を位置決めし、ストリップの一端縁部の所までのス
トリップの厚さの横方向変化を示す信号を記録する。本
発明方法の特徴は、ストリップが遮断していない放射ビ
ームの一部を遮断し且つストリップの端縁部の所定幅の
区域を通過した部分に対応するを放射線ビームを遮断す
るように、マスクをストリップの端縁部から所定幅だけ
離して検出器と放射器との間に配置し、測定中は上記の
所定幅が一定になるように維持する点にある。本発明の
他の特徴は、マスクがストリップと検出器との間または
放射管とストリップとの間のいずれかに配置される点に
ある。マスクをストリップと検出器との間に配置した時
には、ストリップが遮断しない放射線の一部と、ストリ
ップの端縁部によって遮蔽された放射線の一部とを遮断
するようにマスクをストリップの端縁部から所定幅だけ
離して位置決めする。マスクを放射器とストリップとの
間に配置した時には、ストリップの端縁部の一部によっ
て遮蔽される放射線の一部をマスクが遮断する。複数の
プロフィル （断面形状） を測定したり、移動中のス
トリップを連続的に測定する場合には、マスクを可動支
持体上に取付けて、その変位を電気的な手段で制御する
。この場合には、電子捕捉・測定・制御手段が、ストリ
ップの端縁部の区域の幅を求める手段と、ストリップの
端縁部の区域の幅の測定値を関数として上記の幅を一定
に維持するようにマスクの位置を制御する手段とが設け
られている。放射線の放射管はＸ線管にすることができ
、線形検出器はシンチレータ基板を被覆したホトダイオ
ード列にするのが好ましい。本発明の上記以外の特徴お
よび利点は、添付図面を参照した下記の実施例の説明か
ら明らかになろう。しかし、本発明は以下の実施例に限
定されるものではない。
【０００５】図２に示した装置はフレーム２４に固定さ
れた上側摺動路１と下側摺動路２とを有してする。上側
摺動路１に摺動自在に取付けられたキャリッジ３はＸ線
（場合によってはγ線）を放射する放射管（以下、Ｘ線
管という）４を支持している。下側摺動路１に摺動自在
に取付けられたキャリッジ５は線形検出器６とブロック
７とを支持しており、このブロック７の内部には摺動路
８が滑動自在に支持されており、この摺動路８の端部に
はプレート９が固定されている。下側のキャリッジ５は
、歯付きベルト（図示せず）のような手段を介して摺動
路８をブロック７中で並進摺動駆動させるためのステッ
ピングモータ１０も支持している。フレーム２４に取付
けられたステッピングモータ１１は、公知の方法、例え
ば摺動路１の方向に延び且つキャリッジ３に固定され上
側歯付きベルト（図示せず）を用いて、キャリッジ３を
駆動する。このステッピングモータ１１はさらに、シャ
フト１２と、摺動路２の方向に延び且つキャリッジ５に
固定された歯付きベルト（図示せず）を介してキャリッ
ジ５を駆動する。
れた上側摺動路１と下側摺動路２とを有してする。上側
摺動路１に摺動自在に取付けられたキャリッジ３はＸ線
（場合によってはγ線）を放射する放射管（以下、Ｘ線
管という）４を支持している。下側摺動路１に摺動自在
に取付けられたキャリッジ５は線形検出器６とブロック
７とを支持しており、このブロック７の内部には摺動路
８が滑動自在に支持されており、この摺動路８の端部に
はプレート９が固定されている。下側のキャリッジ５は
、歯付きベルト（図示せず）のような手段を介して摺動
路８をブロック７中で並進摺動駆動させるためのステッ
ピングモータ１０も支持している。フレーム２４に取付
けられたステッピングモータ１１は、公知の方法、例え
ば摺動路１の方向に延び且つキャリッジ３に固定され上
側歯付きベルト（図示せず）を用いて、キャリッジ３を
駆動する。このステッピングモータ１１はさらに、シャ
フト１２と、摺動路２の方向に延び且つキャリッジ５に
固定された歯付きベルト（図示せず）を介してキャリッ
ジ５を駆動する。
【０００６】プレート９は、厚さを測定すべきストリッ
プを構成する材料に近い材料、例えば軟鋼で作られてい
る。このプレート９の厚さは段階的に変えることができ
、各厚さ段階のプレート９は厚さの基準としての機能の
他に、後で説明するマスクとしても利用される。しかし
、後者の役目として用いる場合には、プレート９を厚さ
が一定なプレートと置換する必要がある。フレーム２４
に対する可動キャリッジ３および５の位置と、キャリッ
ジ５と一体なブロック７に対するプレート９の位置とは
公知の手段で検出する。ステッピングモータ１０、１１
を制御する手段と、可動キャリッジ３、５の位置および
プレート９の位置を検出する手段と、Ｘ線管４を制御す
る手段と、線形検出器６とは、それ自体公知である電子
捕捉・測定・制御手段２１（図１）に接続されている。 ストリップ１３、例えば鋼板の横断面の厚さのプロフィ
ルを測定する場合には、ストリップ１３が上側摺動路１
と下側摺動路２との間で且つこれらの摺動路と平行な平
面内、例えば検出器６の上方約２０ｃｍの位置に来るよ
うに、測定装置を配置する。ストリップ１３は水平に延
び、圧延機の運転とともに移動または停止する。次いで
、Ｘ線管４と検出器６とがストリップ１３の厚さを測定
しようとする区域に対して直角になって互いに対向する
ように、ステッピングモータ１１を用いてキャリッジ３
、５を移動する。上記の区域とは、ストリップ１３を通
過するＸ線ビームの一部１５の内、マスク９によって遮
断されていない部分によって構成される区域３０である
。次に、ステッピングモータ１０を用いて、図１、図２
に示すように、ストリップ１３によって遮断されていな
いＸ線ビームの部分１７と、ストリップ１３の端縁部の
すぐ近傍にあるストリップ１３の一部１４によって遮断
されたＸ線ビームの部分１６とをマスクするように、プ
レート９を配置する。ストリップ１３を通過したＸ線ビ
ームの部分１５は検出器６によって受けられ、この検出
器６が出す信号は電子捕捉・測定・制御手段２１に記録
される。この信号は検出器６の各点で受けたＸ線の強度
を位置の関数で示している。この信号を公知の計算方法
で処理すれば、ストリップの横方向の厚さのプロフィル
を測定することができる。
プを構成する材料に近い材料、例えば軟鋼で作られてい
る。このプレート９の厚さは段階的に変えることができ
、各厚さ段階のプレート９は厚さの基準としての機能の
他に、後で説明するマスクとしても利用される。しかし
、後者の役目として用いる場合には、プレート９を厚さ
が一定なプレートと置換する必要がある。フレーム２４
に対する可動キャリッジ３および５の位置と、キャリッ
ジ５と一体なブロック７に対するプレート９の位置とは
公知の手段で検出する。ステッピングモータ１０、１１
を制御する手段と、可動キャリッジ３、５の位置および
プレート９の位置を検出する手段と、Ｘ線管４を制御す
る手段と、線形検出器６とは、それ自体公知である電子
捕捉・測定・制御手段２１（図１）に接続されている。 ストリップ１３、例えば鋼板の横断面の厚さのプロフィ
ルを測定する場合には、ストリップ１３が上側摺動路１
と下側摺動路２との間で且つこれらの摺動路と平行な平
面内、例えば検出器６の上方約２０ｃｍの位置に来るよ
うに、測定装置を配置する。ストリップ１３は水平に延
び、圧延機の運転とともに移動または停止する。次いで
、Ｘ線管４と検出器６とがストリップ１３の厚さを測定
しようとする区域に対して直角になって互いに対向する
ように、ステッピングモータ１１を用いてキャリッジ３
、５を移動する。上記の区域とは、ストリップ１３を通
過するＸ線ビームの一部１５の内、マスク９によって遮
断されていない部分によって構成される区域３０である
。次に、ステッピングモータ１０を用いて、図１、図２
に示すように、ストリップ１３によって遮断されていな
いＸ線ビームの部分１７と、ストリップ１３の端縁部の
すぐ近傍にあるストリップ１３の一部１４によって遮断
されたＸ線ビームの部分１６とをマスクするように、プ
レート９を配置する。ストリップ１３を通過したＸ線ビ
ームの部分１５は検出器６によって受けられ、この検出
器６が出す信号は電子捕捉・測定・制御手段２１に記録
される。この信号は検出器６の各点で受けたＸ線の強度
を位置の関数で示している。この信号を公知の計算方法
で処理すれば、ストリップの横方向の厚さのプロフィル
を測定することができる。
【０００７】図３は、検出器６からの信号を示すグラフ
であり、横座標は検出器６に沿った測定点の位置ｘを表
し、縦座標は放出された信号の強度ｉを示している。得
られた曲線は下記の３つの部分を有している：（１）
第１の部分１８はストリップ１３のみを通過したＸ線ビ
ームの部分１５に対応し、この部分１８からストリップ
の厚さを計算することができる。 （２） 第２の部分１９はストリップ１３とマスク９（
端部区域１４） とを通過したＸ線ビームの部分１６に
対応する。この部分１６は横座標ｘ１とｘ２との間にあ
り、これらの横座標間の差Δｘ＝ｘ２−ｘ１はマスク９
によって遮蔽されたストリップ１３の一部１４の幅を示
す。この部分１４の厚さは測定できない。この部分１４
の幅は例えば１〜２ｍｍである。 （３） 第３の部分２０はマスク９のみで遮断されたＸ
線ビームの部分１７に対応する。この部分１７は測定に
は直接使用されないが、厚さの基準を知るために使われ
る。測定中にストリップ１３が移動する場合には、スト
リップ１３の端縁部が測定装置に対して変位することに
なる。この端縁部の変位によってストリップ１３とマス
ク９との重なる区域の幅（ｌ）も変化する。場合によっ
ては、重なる区域が無くなることがある。特に、ストリ
ップ１３が連続移動するラインの上に厚さ測定装置が配
置されている場合には重なる区域が無くなることがある
。こうした問題点を解消するために、ストリップ１３と
マスク９とが重なる幅 （ｌ）が一定に保たれるように
、公知の方法でストリップ１３の幅 （ｌ）の関数でマ
スク９の位置を調節する。そのためには、電子捕捉・測
定・制御手段２１で横座標ｘ１とｘ２を求め、次いでΔ
ｘ＝ｘ２−ｘ１を求め、このΔｘとオペレータが選択し
た基準値ΔｘＯと比較し、この差Δｘ−ΔｘＯの信号が
無くなるまで摺動路８とマスク９とを移動させるように
ステッピングモータ１０を駆動する。
であり、横座標は検出器６に沿った測定点の位置ｘを表
し、縦座標は放出された信号の強度ｉを示している。得
られた曲線は下記の３つの部分を有している：（１）
第１の部分１８はストリップ１３のみを通過したＸ線ビ
ームの部分１５に対応し、この部分１８からストリップ
の厚さを計算することができる。 （２） 第２の部分１９はストリップ１３とマスク９（
端部区域１４） とを通過したＸ線ビームの部分１６に
対応する。この部分１６は横座標ｘ１とｘ２との間にあ
り、これらの横座標間の差Δｘ＝ｘ２−ｘ１はマスク９
によって遮蔽されたストリップ１３の一部１４の幅を示
す。この部分１４の厚さは測定できない。この部分１４
の幅は例えば１〜２ｍｍである。 （３） 第３の部分２０はマスク９のみで遮断されたＸ
線ビームの部分１７に対応する。この部分１７は測定に
は直接使用されないが、厚さの基準を知るために使われ
る。測定中にストリップ１３が移動する場合には、スト
リップ１３の端縁部が測定装置に対して変位することに
なる。この端縁部の変位によってストリップ１３とマス
ク９との重なる区域の幅（ｌ）も変化する。場合によっ
ては、重なる区域が無くなることがある。特に、ストリ
ップ１３が連続移動するラインの上に厚さ測定装置が配
置されている場合には重なる区域が無くなることがある
。こうした問題点を解消するために、ストリップ１３と
マスク９とが重なる幅 （ｌ）が一定に保たれるように
、公知の方法でストリップ１３の幅 （ｌ）の関数でマ
スク９の位置を調節する。そのためには、電子捕捉・測
定・制御手段２１で横座標ｘ１とｘ２を求め、次いでΔ
ｘ＝ｘ２−ｘ１を求め、このΔｘとオペレータが選択し
た基準値ΔｘＯと比較し、この差Δｘ−ΔｘＯの信号が
無くなるまで摺動路８とマスク９とを移動させるように
ステッピングモータ１０を駆動する。
【０００８】図４は、ストリップ１３の幅ｄを横座標と
し、厚さＥ（μｍ）を縦座標として示したグラフであり
、この例ではストリップの端縁部を横座標０として測定
した値が示してある。軟鋼のストリップの厚さは ３．
５ ｍｍ であり、Ｘ線管の供給電圧は７５ｋＶである
。曲線２１はストリップの実際の厚さのプロフィルを示
している。曲線２２はマスク９を取付けた本発明の装置
によって測定したプロフィルを示している。最初の３ｍ
ｍを別にすると、曲線２２は曲線２１とほぼ一致してい
るので、優れた測定であることが分かる。曲線２２の最
初の３ｍｍで観察されるピークは、ストリップ１３の端
縁部分１４がマスク９と重なってできたものである。曲
線２３は、マスク９を外した状態で本発明装置を用いて
測定した場合の厚さのプロフィルである。この曲線２３
は端部から少なくとも２５ｍｍまでの部分の測定が正確
でないことを示している。このことはＸ線の拡散作用と
検出器６の誤動作が極めて大きいことを示している。
し、厚さＥ（μｍ）を縦座標として示したグラフであり
、この例ではストリップの端縁部を横座標０として測定
した値が示してある。軟鋼のストリップの厚さは ３．
５ ｍｍ であり、Ｘ線管の供給電圧は７５ｋＶである
。曲線２１はストリップの実際の厚さのプロフィルを示
している。曲線２２はマスク９を取付けた本発明の装置
によって測定したプロフィルを示している。最初の３ｍ
ｍを別にすると、曲線２２は曲線２１とほぼ一致してい
るので、優れた測定であることが分かる。曲線２２の最
初の３ｍｍで観察されるピークは、ストリップ１３の端
縁部分１４がマスク９と重なってできたものである。曲
線２３は、マスク９を外した状態で本発明装置を用いて
測定した場合の厚さのプロフィルである。この曲線２３
は端部から少なくとも２５ｍｍまでの部分の測定が正確
でないことを示している。このことはＸ線の拡散作用と
検出器６の誤動作が極めて大きいことを示している。
【０００９】本発明装置では横方向の分解能は約１ｍｍ
にすることができるので、ストリップの端縁部付近での
測定精度を極めて良くすることができる。厚さが１ｍｍ
未満のストリップの場合には、横方向全体の厚さの測定
を ０．１〜１秒の範囲の時間で行うことができる。ま
た、ホトダイオード検出器は、複数のイオン化チャンバ
検出器よりも大幅に簡単であり且つ安価である。上記の
線形検出器としてはトムソン（ＴＨＯＭＳＯＮ） 社製
の ＴＨＸ ９５７７ 型検出器が使用できる。この検
出器はシンチレーション基板を被った １．６ｍｍ×３
．２ｍｍ の長方形ホトダイオード １４４個で構成さ
れている。上記以外の多くの別の実施態様が可能であり
、例えばマスク９はＸ線管４と厚さを測定しようとする
ストリップ１３との間に配置することもできる。
にすることができるので、ストリップの端縁部付近での
測定精度を極めて良くすることができる。厚さが１ｍｍ
未満のストリップの場合には、横方向全体の厚さの測定
を ０．１〜１秒の範囲の時間で行うことができる。ま
た、ホトダイオード検出器は、複数のイオン化チャンバ
検出器よりも大幅に簡単であり且つ安価である。上記の
線形検出器としてはトムソン（ＴＨＯＭＳＯＮ） 社製
の ＴＨＸ ９５７７ 型検出器が使用できる。この検
出器はシンチレーション基板を被った １．６ｍｍ×３
．２ｍｍ の長方形ホトダイオード １４４個で構成さ
れている。上記以外の多くの別の実施態様が可能であり
、例えばマスク９はＸ線管４と厚さを測定しようとする
ストリップ１３との間に配置することもできる。
【図１】 本発明の原理を図示した概念的側面図。
【図２】 本発明の測定装置の１実施態様の斜視図。
【図３】 本発明のマスクを使用した場合に検出器か
ら出力される信号を示すグラフ。
ら出力される信号を示すグラフ。
【図４】 本発明の装置を用いて行った測定の例を示
すグラフ。
すグラフ。
【符号の説明】
１、２、８ 摺動路
３、５ キャリッジ ４ Ｘ線管
６ 線形検出器 ９ マスク
１０、１１ ステッピングモータ １２ シャフト
１３ ストリップ ２１ 電子捕捉・測定・制御手段
３、５ キャリッジ ４ Ｘ線管
６ 線形検出器 ９ マスク
１０、１１ ステッピングモータ １２ シャフト
１３ ストリップ ２１ 電子捕捉・測定・制御手段
Claims (11)
- 【請求項１】 金属ストリップの互いに反対側に配置
された放射線の放射管および放射線の線形検出器と、電
子捕捉・測定・制御手段とを有する金属ストリップ、特
に鋼板の厚さの横方向プロフィルを放射線吸収によって
測定する装置において、放射管が放射した放射線の一部
を遮断し且つ検出器の対応する部分を遮蔽するマスクを
放射管と検出器との間に配置したことを特徴とする装置
。 - 【請求項２】 マスクがストリップと検出器との間に
配置されている請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 マスクが放射管とストリップとの間に
配置されている請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】 マスクがストリップの端縁部から所定
幅だけ離れていて、マスクがストリップによって遮断さ
れていない放射線とマスクは存在しないがストリップの
端縁部の一部（１４）によって遮蔽されている放射線と
を遮蔽している請求項２に記載の装置。 - 【請求項５】 マスクがストリップによって遮蔽され
ていない放射線の一部およびマスクは存在しないがスト
リップの端縁部の一部（１４）によって遮蔽されている
放射線を遮蔽している請求項３に記載の装置。 - 【請求項６】 電子捕捉・測定・制御手段がストリッ
プの端縁部の一部（１４）の幅を検出する手段を備えて
いる請求項４または５に記載の装置。 - 【請求項７】 マスクがストリップの端縁部に対して
垂直な方向に移動可能な支持部材上に配置されており、
この支持部材の移動は電子捕捉・測定・制御手段によっ
て制御されており、この電子捕捉・測定・制御手段がス
トリップの端縁部の上記一部（１４）の幅を測定する手
段と、この幅を一定に維持するようにストリップの端縁
部の上記一部（１４）の幅の測定値の関数でマスクの位
置を制御する手段とを有している請求項６に記載の装置
。 - 【請求項８】 放射管から放射される放射線がＸ線で
ある請求項１に記載の装置。 - 【請求項９】 線形検出器がシンチレータ基板を被覆
したホトダイオード列を有する請求項８に記載の装置。 - 【請求項１０】 固定フレームの上部に配置された案
内用の摺動路に摺動自在に取付けられた放射管支持用の
キャリッジと、上記固定フレームの下部の摺動路に摺動
自在に取付けられた線形検出器支持用のキャリッジと、
マスクを支持する摺動路が内部に摺動自在に取付けられ
たブロックと、各キャリッジおよびマスクの移動を制御
するモータとを有し、上記の各摺動路が厚さを測定すべ
きストリップの縦方向に対して垂直に延びている請求項
１に記載の装置。 - 【請求項１１】 請求項１〜１０のいずれか一項に記
載の装置を用い、ストリップの上側に放射線の放射器を
位置決めし、その下側に放射ビームの線形検出器を位置
決めし、ストリップの一端の近傍でのストリップの厚さ
の横方向での変化を表す電気信号を記録することによっ
て金属ストリップ、特に鋼板の厚さの横方向プロフィル
を測定する方法において、ストリップが遮断していない
放射ビームの一部（１７）を遮断するとともに、ストリ
ップの端縁部の所定幅の区域を通過した部分に対応する
放射線ビームの部分を遮断するように、マスクをストリ
ップの端縁部から所定幅だけ離して検出器と放射器との
間にマスクを配置し、測定中は上記の所定幅が一定にな
るように維持することを特徴とする方法。
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