KR920006721A - 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents
금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 이 발명의 개략도,
제2도는 이 발명의 한 실시예의 사시도,
제3도는 이 발명의 장치의 디텍터에 전달된 신호를 도식화한 그래프도.
Claims (11)
- 방사선 방출관과 피측정 스트립 평면의 반대편에 위치한 선형 방사선 디텍터와 측정 및 조절 수단인 전자부로 구성되는 방사선을 흡수하여 금속 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하는 장치에 있어서, 방출판에서 방출된 방사선을 부분적으로 가리고, 디텍터의 대응 부위를 차단하기 위해 방출관과 디텍터 사이에 위치한 마스크를 가진 것에 특징이 잇는 금속 특히 강철 스트립의 측면 두께 측정장치.
- 상기한 마스크가, 금속 스트립과 디텍터 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
- 상기한 마스크가 방출관과 금속 스트립 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
- 상기한 마스크가, 금속 스트립 가장자리를 지나서 일정한 나비까지 확장되고, 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방사선과 금속 스트립의 단부에 위치한 부분에 의해 차단된 방사선을 가릴 수 있도록 배치되는 것을 특징으로 하는 제2항의 장치.
- 상기 마스크가, 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방사선의 일부와, 상기한 마스크가 없음으로 인해서, 금속 스트립의 가장자리에 위치한 부분에 의해 차단되는 방사선을 가리는 것을 특징으로 하는 제3항의 장치.
- 전자부와 측정수단이, 금속 스트립 가장자리에 위치한 부분의 나비를 측정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제4항 또는 제5항의 장치.
- 마스크가, 금속 스트립 가장자리에 수직 방향으로 움직일 수 있는 서포트 상에 놓이며, 그 서포트의 움직임은, 상기한 전자 수단에 의해 조정 가능하고, 전자부와 측정수단이, 금속 스트립 가장자리에 위치한 부분의 나비를 측정하는 수단과, 상기한 나비상수를 유지하기 위해서 상기한 금속막대 가장자리를 위치한 부분의 나비를 측정함으로써 상기한 마스크의 위치를 조절하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제6항의 장치.
- 방출관에서 나오는 방사선이 엑스-레이인 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
- 선형 디텍터가 섬광물질로 덮인 포토다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 제8항의 장치.
- 방사선 방출관을 지지하고 고정된 프레임의 상부에 위치한 안내봉(guiding slideways)상에 미끄러질 수 있도록 장착된 캐리지와, 선형 디텍터를 지지하고, 마스크를 지지하기 위해 유닛안에 미끄러질 수 있도록 장착된 것으로서, 프레임의 하부에 있는 안내봉 상에 미끄러질 수 있도록 장착된 캐리지와, 상기한 것과 다른것으로서, 금속 스트립의 세로 길이와 수직 방향으로, 측정한 두께를 확장하는 안내봉과, 캐리지와 마스크의 이동을 조절하는 모터를 포함하는 것을 특징으로 하는 제10항의 장치.
- 피측정 스트립의 상하에 각각 방사선 방출기와 방사 비임의 선형 디텍터를 위치시키고, 상기 스트립의 끝단부까지의 두께의 횡측 배리에이션을 나타내는 전기 신호를 기록하는, 제1항부터 10항의 장치를 수단으로 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하는 방법으로서, 하기 단계로 행해지는데에 특징이 있는 측정방법.가. 마스크가 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방출된 방사선 일부를 가리고, 상기 끝단부를 통과해 지나가는 방사선빔에 대응하는 부분을 가리기 위해서 주어진 나비로 금속 스트립 가장자리를 넘어가는, 방식으로 마스크를, 디텍터와 방출기 사이에 배치하고, 나. 측정하는 동안, 상기한 마스크가, 상기한 가장자리 상수(edge constant)를 넘어서 확장되는 상기한 나비를 유지시킨다.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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