KR920006721A - 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR920006721A
KR920006721A KR1019910015294A KR910015294A KR920006721A KR 920006721 A KR920006721 A KR 920006721A KR 1019910015294 A KR1019910015294 A KR 1019910015294A KR 910015294 A KR910015294 A KR 910015294A KR 920006721 A KR920006721 A KR 920006721A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mask
radiation
metal strip
strip
edge
Prior art date
Application number
KR1019910015294A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0169488B1 (ko
Inventor
피에르 고제
Original Assignee
원본미기재
앵스티튀 드 르셰르셰 드 라 시드뤼르쥐 프랑세즈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 원본미기재, 앵스티튀 드 르셰르셰 드 라 시드뤼르쥐 프랑세즈 filed Critical 원본미기재
Publication of KR920006721A publication Critical patent/KR920006721A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0169488B1 publication Critical patent/KR0169488B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 이 발명의 개략도,
제2도는 이 발명의 한 실시예의 사시도,
제3도는 이 발명의 장치의 디텍터에 전달된 신호를 도식화한 그래프도.

Claims (11)

  1. 방사선 방출관과 피측정 스트립 평면의 반대편에 위치한 선형 방사선 디텍터와 측정 및 조절 수단인 전자부로 구성되는 방사선을 흡수하여 금속 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하는 장치에 있어서, 방출판에서 방출된 방사선을 부분적으로 가리고, 디텍터의 대응 부위를 차단하기 위해 방출관과 디텍터 사이에 위치한 마스크를 가진 것에 특징이 잇는 금속 특히 강철 스트립의 측면 두께 측정장치.
  2. 상기한 마스크가, 금속 스트립과 디텍터 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
  3. 상기한 마스크가 방출관과 금속 스트립 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
  4. 상기한 마스크가, 금속 스트립 가장자리를 지나서 일정한 나비까지 확장되고, 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방사선과 금속 스트립의 단부에 위치한 부분에 의해 차단된 방사선을 가릴 수 있도록 배치되는 것을 특징으로 하는 제2항의 장치.
  5. 상기 마스크가, 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방사선의 일부와, 상기한 마스크가 없음으로 인해서, 금속 스트립의 가장자리에 위치한 부분에 의해 차단되는 방사선을 가리는 것을 특징으로 하는 제3항의 장치.
  6. 전자부와 측정수단이, 금속 스트립 가장자리에 위치한 부분의 나비를 측정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제4항 또는 제5항의 장치.
  7. 마스크가, 금속 스트립 가장자리에 수직 방향으로 움직일 수 있는 서포트 상에 놓이며, 그 서포트의 움직임은, 상기한 전자 수단에 의해 조정 가능하고, 전자부와 측정수단이, 금속 스트립 가장자리에 위치한 부분의 나비를 측정하는 수단과, 상기한 나비상수를 유지하기 위해서 상기한 금속막대 가장자리를 위치한 부분의 나비를 측정함으로써 상기한 마스크의 위치를 조절하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제6항의 장치.
  8. 방출관에서 나오는 방사선이 엑스-레이인 것을 특징으로 하는 제1항의 장치.
  9. 선형 디텍터가 섬광물질로 덮인 포토다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 제8항의 장치.
  10. 방사선 방출관을 지지하고 고정된 프레임의 상부에 위치한 안내봉(guiding slideways)상에 미끄러질 수 있도록 장착된 캐리지와, 선형 디텍터를 지지하고, 마스크를 지지하기 위해 유닛안에 미끄러질 수 있도록 장착된 것으로서, 프레임의 하부에 있는 안내봉 상에 미끄러질 수 있도록 장착된 캐리지와, 상기한 것과 다른것으로서, 금속 스트립의 세로 길이와 수직 방향으로, 측정한 두께를 확장하는 안내봉과, 캐리지와 마스크의 이동을 조절하는 모터를 포함하는 것을 특징으로 하는 제10항의 장치.
  11. 피측정 스트립의 상하에 각각 방사선 방출기와 방사 비임의 선형 디텍터를 위치시키고, 상기 스트립의 끝단부까지의 두께의 횡측 배리에이션을 나타내는 전기 신호를 기록하는, 제1항부터 10항의 장치를 수단으로 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하는 방법으로서, 하기 단계로 행해지는데에 특징이 있는 측정방법.
    가. 마스크가 금속 스트립에 의해 차단되지 않은 방출된 방사선 일부를 가리고, 상기 끝단부를 통과해 지나가는 방사선빔에 대응하는 부분을 가리기 위해서 주어진 나비로 금속 스트립 가장자리를 넘어가는, 방식으로 마스크를, 디텍터와 방출기 사이에 배치하고, 나. 측정하는 동안, 상기한 마스크가, 상기한 가장자리 상수(edge constant)를 넘어서 확장되는 상기한 나비를 유지시킨다.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
KR1019910015294A 1990-09-05 1991-09-02 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 KR0169488B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9011037A FR2666409B1 (fr) 1990-09-05 1990-09-05 Procede et dispositif de mesure de profil transversal d'epaisseur d'une bande metallique notamment en acier.
FR9011037 1990-09-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920006721A true KR920006721A (ko) 1992-04-28
KR0169488B1 KR0169488B1 (ko) 1999-05-01

Family

ID=9400103

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910015294A KR0169488B1 (ko) 1990-09-05 1991-09-02 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치

Country Status (11)

Country Link
US (1) US5202909A (ko)
EP (1) EP0477120B1 (ko)
JP (1) JP2596905B2 (ko)
KR (1) KR0169488B1 (ko)
AT (1) ATE112050T1 (ko)
AU (1) AU643555B2 (ko)
CA (1) CA2049763C (ko)
DE (1) DE69104164T2 (ko)
DK (1) DK0477120T3 (ko)
ES (1) ES2062733T3 (ko)
FR (1) FR2666409B1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19950254C2 (de) 1999-10-18 2003-06-26 Ims Messsysteme Gmbh Verfahren zur Bestimmung eines Dickenquerprofils und des Dickenlängsprofils eines laufenden Materialbandes
JP2002296021A (ja) * 2001-04-03 2002-10-09 Futec Inc 厚さ測定装置
DE102005020297A1 (de) * 2005-04-30 2006-11-09 Fagus-Grecon Greten Gmbh & Co Kg Vorrichtung zum Prüfen eines Plattenmaterials und Verfahren zum Prüfen eines Plattenmaterials mit Hilfe der vorgenannten Vorrichtung
CN102240681B (zh) * 2011-05-19 2013-06-19 清华大学 一种凸度仪x光机的安装与调节机构

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4874865A (ko) * 1971-12-29 1973-10-09
DE3113440A1 (de) * 1981-04-03 1982-11-11 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg "verfahren zur ueberpruefung von gleichartigen objekten auf fehler"
US4574387A (en) * 1981-09-18 1986-03-04 Data Measurement Corporation Apparatus and method for measuring thickness
US4891833A (en) * 1987-11-19 1990-01-02 Bio-Imaging Research, Inc. Blinder for cat scanner
US4954719A (en) * 1988-09-07 1990-09-04 Harrel, Inc. Sheet thickness gauging method and system with auto calibration

Also Published As

Publication number Publication date
KR0169488B1 (ko) 1999-05-01
JP2596905B2 (ja) 1997-04-02
DE69104164T2 (de) 1995-04-13
EP0477120B1 (fr) 1994-09-21
AU643555B2 (en) 1993-11-18
ES2062733T3 (es) 1994-12-16
CA2049763A1 (fr) 1992-03-06
US5202909A (en) 1993-04-13
FR2666409B1 (fr) 1992-12-11
JPH04264209A (ja) 1992-09-21
DE69104164D1 (de) 1994-10-27
FR2666409A1 (fr) 1992-03-06
ATE112050T1 (de) 1994-10-15
DK0477120T3 (da) 1995-02-06
AU8343791A (en) 1992-03-12
EP0477120A1 (fr) 1992-03-25
CA2049763C (fr) 2000-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6885726B2 (en) Fluorescent X-ray analysis apparatus
US20150234060A1 (en) X-ray Analysis Apparatus
US4970398A (en) Focused multielement detector for x-ray exposure control
KR100319430B1 (ko) 평평한제품의두께프로파일을측정하는어셈블리를위한교정장치및그교정방법
KR920006721A (ko) 금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치
US4049967A (en) X-ray examining apparatus including a tomographic exposure installation
KR920018451A (ko) 박막 두께 측정 장치
JPS57197454A (en) X-ray analysing apparatus
US2894140A (en) Vertical industrial x-ray fluoroscope
GB2098320A (en) Measuring the thickness of a film on a member
KR200418412Y1 (ko) X선을 이용한 결정체의 원자 간 거리 측정장치
JP3519208B2 (ja) 真空チャンバを備えたx線小角散乱装置
ES489203A1 (es) Un aparato para examen por rayos x
JP2000171419A (ja) X線分析装置
US3116415A (en) Mechanical motion and spectrographic device including it
CN211905156U (zh) 伽玛射线准直器焦距锁定装置
KR102301799B1 (ko) X선 발생원 및 형광 x선 분석 장치
JPS6315546B2 (ko)
US3879608A (en) Workpiece shape - insensitive radiation gauging of rod-like materials
US4323783A (en) Tomographic apparatus for producing transverse layer images
SU885804A1 (ru) Нивелирна рейка
EP0062191A3 (en) Method and apparatus for measuring the position or displacement of a body
SU994374A1 (ru) Устройство дл формировани и контрол качества потока сыпучего материала на ленте конвейера
US3786259A (en) Method and apparatus for optimizing measurement of radioactivity of samples in scintillation type counter
US2933608A (en) Radiation measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030916

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee