KR100292150B1

KR100292150B1 - 다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로

Info

Publication number: KR100292150B1
Application number: KR1019980061680A
Authority: KR
Inventors: 임헌호; 황우성; 황동희
Original assignee: 구자영; 케이티전기주식회사
Priority date: 1998-12-30
Filing date: 1998-12-30
Publication date: 2001-06-01
Also published as: KR20000045133A

Abstract

본 발명은 다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로에 관한 것이다. 본 발명은 A/D변환기와, D/A변환기 및 각종 센서 채널 입력을 위한 시그날 인터페이스 카드 및 이들의 입/출력을 선택하기 위한 멀티플렉서와, 디지탈 입/출력을 진단하기 위한 고장진단용 버퍼회로를 고장 진단을 위한 피드백회로로서 구성하고, CPU에는, CPU의 자체 진단기능과, 공급전원의 상태를 검사하는 전원 진단기능과, 메모리를 진단하는 메모리 진단기능과, 상기 D/A변환기를 통해 고장 진단용 전압을 출력하고 상기 A/D변환기를 통해 입력받아 출력과 입력의 비교에 의해 아날로그 회로를 진단하는 기능과, 상기 디지탈 출력/입력 버퍼를 통해 고장진단용 디지탈 신호를 출력/입력받아 디지탈 회로를 진단하는 기능을 수행하는 진단 프로그램을 적재하여 다기능 하드웨어의 고장 진단을 하도록 하며, 고장 검출시 해당 소자 번호를 표시하도록 함에 특징이 있다. 본 발명에서 구현한 고장진단 기능은 전원이나 메모리 상태 등 CPU 보드 내부의 상태만 검사하던 기존의 방식과 달리 하위의 아날로그 센서채널 및 외부로 확장된 디지탈 입/출력 채널까지 검사하고 결과의 표시에 있어서도 채널단위 혹은 소자단위로 상세하게 나타내므로 보수, 유지 및 사용상의 편리함에 있어 기존의 방식보다 뛰어나다고 할 수 있다.

Description

다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로

본 발명은 각종 하드웨어의 고장진단 방법에 관한 것으로, 특히 CPU를 포함하여 A/D, D/A 변환기등 여러 가지 소자가 사용되는 다기능 하드웨어에 대한 고장 진단 방법이다.

고장진단이란 하드웨어의 기본적인 기능을 원활히 수행하기 위하여 때에 따라 수동 혹은 자동으로 하드웨어의 상태를 검사하여 이상유무를 표시하는 방법으로 외부의 별도 장비를 이용하여 고장유무를 수동으로 검사하는 방식과 시스템 자체 내에 검사 기능을 포함하는 경우 등 여러 가지 방법이 있을 수 있다.

종래의 고장진단 방식은 주로 CPU 보드에 국한하여 검사를 수행하는 것이 대부분으로 다른 부분에서 고장이 발생하게 되면 사용자가 손쉽게 대처하기가 힘들고 전문 엔지니어가 직접 검사 조처해야 하는 번거로움이 있다. 그리고 CPU 보드 이외에 다른 부분까지 검사하는 기능을 갖춘 시스템이라 할 지라도 검사 기능이 보드 단위로만 가능할 뿐 각 소자별로 세밀한 검사를 할 수 있는 기능은 갖추고 있지 않기 때문에 검사에 대한 출력 결과도 보드 단위로만 표시가 가능하다. 따라서 시스템의 고장시 사용자가 직접 수리하기 위해서는 보드 일체를 교체 할 수밖에 없어서 보수 유지에 대한 번거로움뿐 만 아니라 비용 면에 있어서도 많은 단점을 가지고 있는 것이 현실이다.

상기와 같은 문제를 해결하기 위해 본 발명에서는 주 회로 이외에도 피드백 회로를 별도로 구성하여 각 센서 채널 및 소자 단위까지 검사 가능하게 하였고, 출력 결과의 표시에 있어서도 채널 및 소자단위까지 세밀하게 표시하도록 하여 전문 엔지니어가 아니라도 손쉽게 문제점을 파악하여 조처할 수 있게 하므로써, 보수 유지를 용이하게 함은 물론 경비 절감에 있어서도 효율성을 증대코자 하는데 목적이 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에서는 주 회로와 피드백(Feedback) 회로를 별도로 구성하여 주 회로의 상태를 피드백 회로를 통해 검사하도록 프로그래밍 하였다. 특히 피드백 회로의 설계에 있어 아날로그(Analog), 디지탈(Digital) 등을 별도로 세분화하여 구성하고 센서 채널 및 소자단위까지 정밀하게 진단하여 그 결과를 표시하도록 하므로써 보수 유지에 있어 편의성을 도모하였다.

주 회로의 구성을 보면 CPU, 메모리(Memory), 디스플레이(Display) 및 키(Key) 입력회로, 아날로그 회로, 디지탈 입력/출력 회로, 전원부 등으로 나눌 수 있는데, 각 부분에 대한 상태를 검사하기 위해 다음과 같은 고장진단기능을 가지고 있다.

CPU에 대해서는 기본적으로 워치도그(Watch dog) 기능을 가지고 있어서 상태를 항상 감시하고 있으며, 메모리는 처음 전원을 투입할 때와 동작 중 사용자가 검사 명령을 내릴 때 검사를 수행하는데, 메모리의 일정 영역에 임의의 데이터를 입력하고 다시 그 영역에서 데이터를 읽어서 처음 입력한 데이터와 읽어들인 데이터를 비교하여 정상적일 경우에는 'Good' 메시지를 표시하고 에러가 있을 경우에는 문제가 있는 영역의 메모리 소자 번호를 표시한다.

전원부의 검사에 있어서는 하드웨어 내부에서 사용하는 각종 DC 전원에 대한 검사를 행한다. 하드웨어 내부에서 사용되는 각 DC 전원은 회로 내부의 A/D 변환기로 입력되는 멀티플랙서의 각 채널에 연결되어 있고 검사가 시작되면 A/D 변환기를 통해 각 전원의 전압치를 읽어서 정상적인 경우에는 'Good' 메시지를 표시하고 기준에서 벗어날 경우에는 해당 전원을 표시하여 문제점을 나타낸다.

아날로그 회로는, A/D 변환기와 D/A 변환기를 포함하고 있는데, 주로 외부의 센서로부터 여러 개의 채널을 통해 데이터를 입력받는 기능을 수행한다. 본 발명에서는 기본적인 A/D, D/A 변환기 회로뿐만 아니라 센서 채널 각각에 대해서도 진단기능을 수행한다. 먼저 A/D 변환기에 대한 검사는 D/A 변환기를 통해 임의의 전압을 출력하고 이때 출력된 전압은 미리 구성되어 있는 회로를 통해 A/D 변환기의 한 채널로 입력되는데 여기에서 출력된 전압치와 A/D 변환기를 통해 입력되는 전압치를 비교하여 차이가 있는 경우에는 해당 소자의 번호를 표시하여 조처하도록 한다. D/A 변환기의 테스트에 관한 경우에는 앞의 방법과 유사하게 D/A 변환기에서 +5V의 전압을 출력하고 A/D 변환기에서는 D/A를 통해 입력되는 전압치와 기존의 +5V 전압치를 동시에 비교하여 D/A 변환기의 이상여부를 판단한다. 그리고 각 센서 값은 여러 개의 채널을 통해 입력되기 때문에 멀티플렉서(Multiplexer)를 사용하고 각 센서의 종류에 따라 입력 단에 시그날 인터페이스 카드(Signal Interface Card)를 이용하여 데이터를 변환하는데 이때 각 채널에 대한 검사를 위해서 본 발명에서는 D/A 변환기를 통해 임의의 전압치를 출력하고, 출력된 전압은 피드백 회로를 통해 전 채널의 시그날 인터페이스 카드까지 전송된다. 이 상태에서 시그날 인터페이스 카드에 있는 절환 스위치를 테스트 모드로 두면 카드에서는 외부의 센서값 대신 D/A 변환기에서 출력된 전압치를 되돌려 보내게 되고 내부에서는 이렇게 각 채널로부터 피드백 된 전압치를 비교하여 출력된 값과 차이가 있는 경우에는 해당 채널번호를 표시하여 문제점을 나타내게 된다. 이러한 기능은 사용자가 임의로 채널을 선택하여 수동으로 테스트할 수도 있다. 즉 임의로 하나의 채널에 대해 테스트를 수행하기 위해 원하는 채널에 해당하는 시그날 인터페이스 카드의 절환 스위치를 테스트 모드로 두고 디스플레이 및 키 입력부에서 원하는 전압치를 입력하게 되면 해당 값이 D/A 변환기를 통해 출력되고 이 전압치는 시그날 인터페이스 카드를 통해 다시 내부의 A/D 변환기로 피드백 된다. 이렇게 피드백된 전압치는 사용자가 입력한 전압치와 함께 디스플레이 되어 사용자는 이 두 가지의 전압치를 비교하므로써 해당 채널의 이상유무를 확인할 수 있다.

디지탈 입/출력 회로는 디코더 및 버퍼(Buffer)와 래치(Latch)로 구성되는데 기본적인 입출력 기능을 위한 버퍼와 래치 이외에도 고장진단을 위한 피드백(Feed back) 회로가 있다. 먼저 디지탈 입력회로에 있어서 고장진단은 기본적인 입력 버퍼의 입력단에 피드백 회로의 출력버퍼에서 나오는 출력 신호를 연결하여 임의의 테스트용 데이터를 내보낸 후 입력 버퍼를 통해 들어오는 데이터와 테스트용 데이터를 비교하여 차이가 있을 경우 해당 소자의 번호를 표시하게 된다. 디지탈 출력 회로에 있어서도 마찬가지로 기본적인 출력 버퍼의 출력단에 고장진단을 위한 입력 버퍼를 연결하여 출력된 데이터와 피드백되어 들어오는 데이터를 비교하여 차이가 있는 부분의 소자 번호를 표시한다.

이상에서 설명한 고장진단 기능은 초기 전원 투입 시 자기진단(Power on self-test)을 통해 자동으로 실행되어 시스템이 구동되기 전에 항상 이상유무를 확인한 후 동작하도록 설계되어 있다.

도 1은 본 발명에 따른 시스템의 전체 구성도.

도 2는 본 발명에 따른 아날로그 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.

도 3은 본 발명에 따른 디지탈 입력 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.

도 4는 본 발명에 따른 디지탈 출력 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.

도 5는 본 발명의 초기 전원 투입시 자기진단(Power on self-test) 기능에 대한 흐름도.

도 6은 본 발명의 전원 진단 기능에 대한 흐름도.

도 7은 본 발명의 A/D 변환기 진단 기능에 대한 흐름도.

도 8은 본 발명의 D/A 변환기 진단 기능에 대한 흐름도.

도 9는 본 발명의 센서 채널 진단 기능에 대한 흐름도.

도 10은 본 발명의 메모리 진단 기능에 대한 흐름도.

도 11은 본 발명의 디지탈 입력 진단 기능에 대한 흐름도.

도 12는 본 발명의 디지탈 출력 진단 기능에 대한 흐름도.

＜도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명＞

10 : 전원부 20 : 마더 보드

30 : CPU 40 : 메모리

50 : 디스플레이 ＆ 키회로 60 : 아날로그 회로

61 : A/D 변환기 62 : 멀티 플렉서

63 : 시그날 인터페이스 카드 64 : 센서 인터페이스 터미날

70 : 디지탈 입/출력회로 71 : 입력버퍼

72 : 외부 입력 터미날 73 : 출력 버퍼

74 : 외부 출력 터미날 80 : 피드백회로

81 : D/A 변환기 82 : 멀티 플렉서

83 : 고장진단용 출력버퍼 84 : 고장 진단용 입력버퍼

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 따른 시스템의 전체 구성도로서 이에 도시된 바와 같이, 전원부(10)와, 마더 보드(Mother Board)(20)와, CPU(30)와, 메모리(40)와, 디스플레이 및 키 입력 회로(50)와, 아날로그 회로(60)와, 디지탈 입/출력 회로(70)와, 피드백 회로(80) 등으로 구성된다.

전원은 마더 보드(20)를 통해 각 회로에 공급되고, CPU(30), 메모리(40), 디스플레이 및 키 입력회로(50)에서 기본적인 시스템의 기능을 수행하며 아날로그 회로(60)는 외부 센서를 통해 입력되는 데이터를 수집하여 CPU(30)로 전송한다. 디지탈 입/출력 회로(70)에서는 외부 접점이나 릴레이(Relay)를 통해 온/오프 신호(on/off Signal)를 입출력한다. 피드백회로(80)는 이상의 주 회로가 정상적으로 구동할 수 있는지를 진단하기 위한 보조회로라 할 수 있다.

도 2는 아날로그 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, A/D 변환기(61)는 시그날 인터페이스 카드(63)에서 들어오는 센서 인터페이스 터미날(64)의 센서신호를 멀티플렉서(62)를 통해 입력받고 있으며 이 신호는 CPU(30)로 전송되고 D/A 변환기(81)에서는 A/D 변환기와 D/A 변환기를 검사하기 위한 출력신호와 각 센서 채널을 검사하기 위한 출력신호를 멀티플렉서(82)를 통해 내보내고 있다.

먼저 D/A 변환기(81)에서 멀티플렉서(82)를 통해서 A/D 변환기(61)로 직접 연결되어 있는 신호는, A/D, D/A 변환기 각 소자의 정상동작 유무를 판단하기 위한 것으로 D/A 변환기(81)를 통해 출력된 전압치와 A/D 변환기(61)를 통해 검출된 전압치를 비교하여 이상 여부를 판단한다. 그리고 D/A 변환기(81)에서 모든 시그날 인터페이스 카드(63)로 공급되는 신호는 각 시그날 인터페이스 카드(63)에서 피드백되어 센서입력 라인을 통해 A/D 변환기(61)에서 검출되고, 이때 D/A변환기를 통해 출력된 신호와 A/D변환기를 통해 입력되는 신호를 비교하여 각 채널의 이상 여부를 판단하게 된다. 특히 시그날 인터페이스 카드(63)로 공급되는 신호는 카드 내의 절환 스위치의 선택에 따라 피드백 여부가 결정되므로 수동으로 일부의 채널만을 선택하여 진단하는 것이 가능하다.

도 3은 디지탈 입력 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, 기본적인 입력 버퍼(71) 이외에 고장진단 용 신호를 내보내기 위한 출력 버퍼(83)가 있다. 입력 버퍼(71)에서는 외부 입력 터미날(72)로부터 신호를 입력받는 것을 주 기능으로 하고 있다. 고장진단 기능은 출력 버퍼(83)에서 임의의 테스트 용 신호를 내보내고 그 신호가 입력 터미날(72)을 거쳐 피드백 되어 오는 것을 입력 버퍼(71)를 통해 다시 검출 한 후 CPU(30)로 전송하고 CPU(30)에서는 입출력 신호를 비교하므로써 디지탈 입력 라인의 이상여부를 판단하게 된다.

도 4는 디지탈 출력 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, 기본적인 출력 버퍼(73) 이외에 출력되는 신호를 피드백하여 검출하기 위한 별도의 입력 버퍼(84)가 있다. 출력 버퍼(73)에서는 외부 출력 터미날(74)을 통해 데이터를 내보내는 것을 주 기능으로 하고 있다. 고장진단 기능은 출력 버퍼를 통해 외부 출력 터미날로 나가는 신호를 입력 버퍼에서도 피드백하여 검출한 후 그 신호를 CPU(30)로 전송하고 CPU(30)에서는 출력된 신호가 정상인지를 확인하므로써 디지탈 출력 라인의 이상여부를 판단하게 된다.

도 5는 본 발명의 전원 입력 초기의 자기진단(Power on self-test) 기능에 대한 흐름도로서, 초기에 시스템에 전원을 투입하거나 자동 진단(Auto test) 명령을 내리면, 전원진단(S10), A/D 변환기 진단(S20), D/A 변환기 진단(S30), 센서 채널 진단(S40), 메모리 진단(S50) 및 디지탈 입/출력 진단(S60, S70)에 대한 진단을 모두 시행하고, 고장 여부를 판단(S80)하여 고장이 있을 경우는 해당 에러 메시지를 표시(S90)하고 정상일 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S100).

도 6은 본 발명의 전원 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단(Test)이 시작되면(33) +5V, +15V, -15V의 각 전압치를 A/D 변환기(61)를 통해 입력받는다(S11, S12, S13). 먼저 +5V가 10% 이상 차이가 있는지를 비교하여(S14) 차이가 있을 경우에는 +5V 에러 메시지를 표시하고(S15) 없을 경우에는 다음으로 넘어간다. 다음으로 +15V에 대한 검사를 수행하여 10% 이상 차이가 있는지를 비교하여(S16) 있을 경우에는 +15V 에러 메시지를 표시하고(S17) -15V도 10% 이상 차이가 있는지를 판단하여(S18) 있을 경우에는 -15V 에러 메시지를 출력한다(S19).

도 7은 본 발명의 A/D 변환기 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, D/A 변환기(81)에서 내부 라인을 통해 임의의 전압치를 출력한다(S21). 이때 A/D 변환기(61)에서는 입력되는 전압치를 읽어(S22) CPU(30)로 전송하고, CPU(30)에서는 이 두 값을 비교하여(S23) ±0.1V 이상 차이가 있는지를 검사한 후(S24) 이상이 있을 경우에는 해당 소자 번호를 표시(S25)하고, 이상이 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S26).

도 8은 본 발명의 D/A 변환기 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, D/A 변환기에서 내부라인을 통해 +5V의 값을 출력한다(S31). 이때 A/D 변환기에서는 D/A 변환기를 통해 입력되는 전압과 기존 +5V의 전압을 읽어(S32) CPU로 전송하고 CPU에서는 출력값과 두 개의 입력값을 비교하여(S33) 각각 ±0.1V 이상 차이가 있는지를 검사(S34) 후 이상이 있을 경우 해당소자 번호를 표시하고(S35) 이상이 없을 경우 'Good' 메시지를 표시한다(S36).

도 9는 본 발명의 센서 채널 진단(Sensor channel test) 기능에 대한 흐름도로서, 이 기능은 앞서 설명한 다른 기능과는 달리 수동으로 조작된다. 진단을 하고자 할 때, 사용자는 테스트하고자 하는 채널에 해당하는 시그날 인터페이스 카드(63)의 스위치를 테스트 모드로 두고(S41) 디스플레이 및 키 입력부에서 원하는 채널의 번호를 선택(S42)한 뒤 임의의 출력 전압치을 지정하여 입력한다(S43). 이때 지정된 값은 즉시 D/A 변환기를 통해 시그날 인터페이스 카드로 전송되고(S44) 해당 카드(63)에서는 이 신호가 피드백되어 다시 A/D 변환기로 입력된다(S46). 여기에서 출력된 전압치는 상부에 표시(S45)되고, 피드백되어 입력된 전압치는 하부에 표시된다(S47). 사용자는 이 두 값을 비교하므로써 각 채널의 정상동작 여부를 수동으로 확인 할 수 있다.

도 10은 본 발명의 메모리 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, 우선 메모리 내에 저장되어 있던 기존의 데이터가 테스트 도중에 손실되는 것을 막기 위해 다른 영역으로 옮겨둔다(S51). 다음으로 임의의 데이터를 메모리의 특정영역에 입력하고(S52) 다시 메모리로부터 데이터를 읽어 들여(S53) 이전에 입력한 데이터와 비교한다(S54). 두 데이터를 비교하여(S55) 차이가 있을 경우에는 해당 영역의 메모리 소자 번호를 표시하고(S56) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S57). 테스트가 끝나면 다른 영역에 옮겨 두었던 기존의 데이터를 원래의 위치로 복구한다(S58).

도 11은 본 발명의 디지탈 입력 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, 출력 버퍼를 통해 임의의 데이터를 내보내고(S61) 이때 입력 버퍼에서는 출력되는 데이터를 읽어 들여(S62) CPU로 전송한다. CPU에서는 출력한 데이터와 입력 버퍼를 통해 들어오는 데이터를 비교하고(S63) 차이가 있는지 판단(S64)하여 차이가 있으면 해당 소자의 번호를 표시하고(S65) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S66).

도 12는 본 발명의 디지탈 출력 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면 입력 버퍼를 통해 피드백 되는 데이터를 읽어들여(S71) CPU로 전송하고 CPU에서는 기존에 출력 데이터와 피드백 되어 들어온 데이터를 비교하여(S72) 차이가 있을 경우(S73) 해당소자의 번호를 표시하고(S74) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S75).

상기에서 설명한 바와 같이 본 발명 ″다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로″는 여러 분야에서 사용되고 있는 마이크로프로세서를 내장한 각종 하드웨어의 고장에 대한 검사 방법으로 시스템 자체적으로 고장진단 기능을 내장하여 전문 엔지니어가 없더라도 사용자가 손쉽게 고장부위를 판단 조처할 수 있게 하는 장점을 가지고 있다. 또한 소자나 채널단위까지 세밀하게 진단하여 그 결과를 소자번호나 혹은 채널번호로 표시하므로써 사용상의 편의성을 도모함은 물론 기존에 보드단위로 검사 교체하는 형태의 시스템에 비해 보수 유지에 대한 경비절감에 있어서도 많은 효과가 있다고 할 수 있다.

따라서 본 발명에서 구현한 고장진단 기능은 마이크로 프로세서를 사용하는 모든 하드웨어 시스템에 적용 가능하며 신뢰성의 확보 및 사용상의 편의성 등 부수적인 효과도 크게 기대할 수 있다.

Claims

CPU와 A/D, D/A 변환기를 포함하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법에 있어서,

워치도그(Watch dog) 기능에 의해 CPU의 상태를 항상 감시하는 CPU 진단과정과;

처음 전원을 투입할 때와 동작 중 사용자가 검사 명령을 내릴 때에 메모리의 일정 영역에 임의의 데이터를 입력하고 다시 그 영역에서 데이터를 읽어서 처음 입력한 데이터와 읽어들인 데이터를 비교하여 진단하는 메모리 진단 과정과;

하드웨어 내부에서 사용하는 각종 DC 전원에 대해서 회로 내부의 A/D 변환기의 각 채널에 +5V, +15V, -15V를 입력받도록 연결하고, 전원 진단시 A/D 변환기를 통해 각 전원의 전압치를 읽어서 진단하는 전원 진단과정과;

D/A 변환기의 출력을 A/D변환기의 입력단에 연결하여 소정의 진단용 전압을 D/A변환기를 통해 출력하고 A/D변환기를 통해 입력받아 비교하여 A/D변환기와 D/A 변환기의 고장을 진단하는 A/D, D/A변환기 진단 과정과;

각기 멀티플렉서를 이용하여 시그날 인터페이스 카드의 출력을 상기 A/D변환기의 입력으로 연결하고, 상기 D/A변환기의 출력을 멀티플렉서를 이용하여 상기 시그날 인터페이스 카드의 각 입력단에 연결하여, 진단하고자 하는 입력 채널에 대해 상기 D/A 변환기를 통해 진단을 위한 전압치를 출력하고 이를 A/D 변환기를 통해 입력받아 출력치와 비교하여 각 아날로그 센서 입력 채널을 진단하는 아날로그 회로 진단과정과;

디지탈 입/출력회로에 대해 각기 고장 진단용 츨력버퍼 및 고장진단용 입력버퍼를 피드백회로로 구성하고, 입력 진단은 고장 진단용 출력신호를 입력 터미날에 출력하여 피드백받고, 출력 진단은 출력 터미날로부터 고장 진단용 입력을 피드백받아 디지탈 입/출력을 진단하는 과정과;

상기 각 진단 과정에서 에러가 검출되면 해당 에러 메시지를 표시하고, 정상이면 정상 표시를 하고 진단을 종료하는 진단 결과 표시과정을 수행하는 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법.
제 1 항에 있어서, 상기 진단 결과 표시과정은,

고장이 검출되면, 해당 IC의 번호를 표시하는 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법.
CPU와 A/D, D/A 변환기를 포함하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로에 있어서,

상기 D/A변환기의 출력을 상기 A/D변환기의 입력단에 연결하고,

각 센서의 종류에 따라 각 채널별 입력 단에 각기 시그날 인터페이스 카드를 구비하고,

각 시그날 인터페이스 카드로부터 입력되는 채널을 선택하기 위해 각 입력신호를 멀티플렉서를 통해 상기 A/D변환기의 입력단에 연결하며,

상기 D/A변환기의 출력을 출력 채널을 선택하기 위한 멀티플렉서를 통해 상기 각각의 시그날 인터페이스 카드에 연결하며,

상기 시그날 인터페이스 카드 내부에 각기 센서의 입력과 상기 D/A변환기로부터 출력되는 고장 진단신호를 선택하여 입력받는 절환 스위치를 구비하며,

디지탈 입/출력 회로에 각각 고장 진단용 출력/입력 버퍼를 병렬 연결하여 고장 진단 피드백 회로를 구성하고,

상기 CPU에는, 워치도그 기능을 이용하는 CPU의 자체 진단기능과, 상기 A/D 변환기를 통해 각 전압 레벨을 입력받아 각 전원의 상태를 검사하는 전원 진단기능과, 메모리 영역에 진단데이타를 쓰고 읽어서 메모리를 진단하는 메모리 진단기능과, 고장 진단 모드에서 멀티플렉서를 통해 진단 채널을 선택한 후 상기 D/A변환기를 통해 고장 진단용 전압을 출력하고 상기 A/D변환기를 통해 입력받아 출력과 입력의 비교에 의해 아날로그 회로를 진단하는 기능과, 상기 디지탈 출력/입력 버퍼를 통해 고장진단용 디지탈 신호를 출력/입력받아 디지탈 회로를 진단하는 기능을 수행하는 진단 프로그램을 적재하여 구성된 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로.
제 3 항에 있어서, 상기 CPU의 고장 진단 프로그램은,

각 소자별 고장 진단을 수행하여 해당 소자의 고장 발생시 소자 번호를 표시하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로.