KR100263189B1 - 동기식 전송 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 동기식 전송 장치에 관한 것이다. 테스트 패턴이 발생되는 선택기를 상기 동기식 전송 장치의 오버헤드 발생부와 병/직렬 변환기 사이에 구비함으로써 펄스 마스크를 정확하게 측정할 수 있게 된다. 또한 테스트 패턴을 발생시키는 방법이 용이하여 양산 시험 때나 유지 보수 기간 중에도 마이크로프로세서의 간단한 조작만으로 코드마크 반전부의 출력신호 특성을 향상시킬 수 있는 잇점이 있다.

Description

동기식 전송 장치

본 발명은 동기식 전송 장치에 관한 것으로, 특히 코드마크 반전부 신호의 펄스 마스크를 측정하기 위한 동기식 전송 장치에 관한 것이다.

종래의 동기식 전송 장치가 도 1에 도시되어 있다. 도면을 참조하면, 상기 동기식 전송 장치는 오버헤드 발생부 1, 수신된 데이터의 변환을 담당하는 병/직렬 변환부 2 및 코드마크 반전부(CMI:Code Mark Inversion)3가 서로 직렬로 연결되어 있다. 상기 오버헤드 발생부 1는 오버헤드(overhead) 및 스크램블링(SCRAMBLING)을 담당하는 영역으로서, 오버헤드 데이터 및 정보 데이터를 발생시킨다. 상기 오버헤드 발생부 1를 통해 발생된 오버헤드 데이터 및 정보 데이터는 상기 병/직렬 변환부 2로 전송된 후 코드마크 반전부 3로 전송된다. 그러면, 동축 케이블등으로 이루어진 상기 코드마크 반전부 3의 출력단인 라인 1에서는 펄스 마스크가 측정된다. 상기 동기식 전송 장치의 메인 데이터를 분석해 보면, 상기 오버헤드 발생부 1에 내장되어 있는 STM1 에이직(ASIC)의 오버헤드 발생회로에서 발생된 오버헤드 데이터와 정보 데이터로 나눌 수 있다. 대부분 상기 STM1 에이직에서 발생된 메인 데이터는 전달된 그대로 다음 영역으로 전달되어진다. 그러나 오버헤드 데이터는 미리 설정되어 있거나 구성상 임의로 변경이 불가능하여 일정한 형태를 유지시켜야 하는 것이 있다. 또한 대부분의 데이터를 데이터 전송율을 높이기 위해서 스크램블링을 해서 보내기 때문에 정보 데이터를 모두 0, 모두 1로 하여도 상기 코드마크 반전부 3의 출력단 라인 L1에서는 출력 펄스의 정확한 파악이 불가능하다. 그리고 스크램블링을 제거한 후에도 프레임(frame) 오버헤드가 남아있기 때문에 상기 코드마크 반전부 3의 출력단에서의 정확한 패턴 테스트가 어렵다. 이러한 문제로 인해 상기 코드마크 반전부 3를 인터페이싱하는 유니트(UNIT)는 상기 동기식 전송 장치의 테스트 과정에서 정확한 패턴을 나타내기 어려운 문제점이 있다. 이처럼 종래에는 동기식 전송 장치의 펄스 마스크를 측정하고자 하는 경우, 오버헤드 데이터로 인해 코드마크 반전부의 출력단에서의 정확한 펄스 마스크의 측정이 어려웠다. 따라서 본 분야에서는 펄스 마스크를 정확히 측정할 수 있는 개선된 동기식 전송 장치가 요구된다.

따라서 본 발명의 목적은, 펄스 마스크를 정확히 측정할 수 있는 개선된 동기식 전송 장치를 제공함에 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해서 본 발명은, 오버헤드 발생부의 출력을 변환하는 병/직렬 변환부와, 상기 병/직렬 변환부의 출력을 코드마크로 반전하여 전송라인을 통해 전송하는 코드마크 반전부를 구비한 동기식 전송 장치에 있어서; 펄스 마스크를 측정하기 위한 테스트 모드시에 인가되는 테스트 선택 신호에 응답하여 상기 오버헤드 발생부의 출력을 비선택하고 오버헤드가 포함되지 아니한 획일적 패턴 데이터를 선택 출력하는 선택기를 상기 오버헤드 발생부와 병/직렬 변환부 사이에 연결한 것을 특징으로 하는 동기식 전송 장치를 제공한다.

도 1은 종래 방법에 따른 동기식 전송 장치를 나타내는 블럭도

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 동기식 전송 장치를 나타내는 블록도

도 3은 도 2의 부분 상세도

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하고자 한다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 동기식 전송 장치를 나타내는 블록도이다. 도면을 참조하면, 상기 동기식 전송 장치는 오버헤드 발생부 10 시스템 클럭이 인가되는 병/직렬 변환부 20 및 코드마크 반전부 30, 그리고 상기 오버헤드 발생부 10와 병/직렬 변환부 20 사이에 선택기 100이 구비되어 있다. 상기 선택기 100에는 상기 오버헤드 발생부 10으로부터 전송되는 오버헤드 데이터와 정보 데이터가 입력되는 단자 "a", 테스트 패턴 또는 메인 데이터를 선택하기 위한 셀렉터 신호가 인가되는 셀렉터 단자 "b" 및 테스트 패턴을 입력하기 위한 테스트 패턴 입력단자 "c"가 연결되어 있다. 그리고 상기 병/직렬 변환부 20에는 상기 선택기 100의 출력단자 "d" 및 시스템 클럭이 인가되는 클럭 단자 "e"가 연결되어 있다. 본 발명에서는 상기와 같은 선택기 100으로 인해 종래의 문제점을 해소할 수 있게 된다. 즉, 상기 선택기 100으로 셀렉터 단자 "b"를 통해 테스트 패턴 데이터를 선택하기 위한 신호를 인가하고, 테스트 패턴 입력단자 "c"를 통해 테스트할 패턴, 예컨대 "1" 또는 "0"의 데이터를 인가한다. 그러면, 상기 선택기 100의 출력단자 "d"로는 상기 테스트 패턴 입력단자 "c"를 통해 입력된 테스트 패턴("1" 또는 "0")이 그대로 출력되어진다.

도 3은 상기 도 2의 선택기 100의 내부 상세도이다. 상기 선택기 100를 구성하고 있는 TTL 74 시리즈 157은 2:1 셀렉터가 4개 내장되어 있는 칩으로서, 이를 두 개 사용하면 데이터 버스 8 라인과 같이 사용할 수 있다. 또한 상기 157 칩의 콘트롤 단자, 즉 테스트 패턴 또는 메인 데이터를 선택하기 위한 셀렉터 신호가 인가되는 셀렉터 단자 "b"와 테스트 패턴("1" 또는 "0")을 입력하기 위한 테스트 패턴 입력단자 "c"는 모두 마이크로프로세서 포트와 연결되어 소프트 웨어에서 콘트롤이 가능하도록 되어 있다. 그리고 평행(parallel) 버스 0 내지 7으로는 메인 데이터가 인가된다. 그리고 출력 0 내지 출력 7 단자로는 상기 선택기 100을 통해 발생된 테스트 패턴 또는 메인 데이터들이 출력되는데, 그 과정을 살펴보면 다음과 같다. 통상적으로 시스템의 초기화는 마이크로프로세서 포트에 "0"이 입력되는 경우가 많으므로 상기 셀렉터 단자 "b에 "0"을 입력할 경우에 출력 단자 0 내지 7에는 메인 데이터가 출력된다. 그러나 펄스 마스크의 테스트가 필요할 때에는 상기 셀렉터 단자 "b"에 데이터 "1"을 인가한다. 그리고 나서 테스트 패턴 입력단자 "c"를 통해 테스트 하고자 하는 패턴을 인가한다. 이때 테스트 패턴 입력단자 "c"에 연결되어 있는 모든 단자에는 동일한 패턴, 즉 전부 "1" 또는 전부 "0"패턴을 입력한다. 즉, 테스트 패턴 입력단자 "c"에 모두 "0"을 입력하면 출력단자 0 내지 7에는 모두 "0"이 출력되고, 모두 "1"을 입력하면 출력단자 0 내지 7에는 모두 "1"이 출력된다. 상기 펄스 마스크 테스트가 끝난 후에 다시 상기 셀렉터 단자 "b"에 "0"을 입력하면 메인 데이터가 출력되어 정상적인 상태로 되돌아간다.

상기한 바와 같이 본 발명에서는, 테스트 패턴이 발생되는 선택기를 오버헤드 발생부와 병/직렬 변환기 사이에 구비함으로써 펄스 마스크의 정확한 측정이 가능해지는 장점이 있다. 또한 테스트 패턴을 발생시키는 방법이 용이하여 양산 시험 때나 유지 보수 기간 중에도 마이크로프로세서의 간단한 조작만으로 출력 펄스의 측정이 가능해지므로 코드마크 반전부의 출력신호 특성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (2)

1. 오버헤드 발생부의 출력을 변환하는 병/직렬 변환부와, 상기 병/직렬 변환부의 출력을 코드마크로 반전하여 전송라인을 통해 전송하는 코드마크 반전부를 구비한 동기식 전송 장치에 있어서;

   펄스 마스크를 측정하기 위한 테스트 모드시에 인가되는 테스트 선택 신호에 응답하여 상기 오버헤드 발생부의 출력을 비선택하고 오버헤드가 포함되지 아니한 획일적 패턴 데이터를 선택 출력하는 선택기를 상기 오버헤드 발생부와 병/직렬 변환부 사이에 연결한 것을 특징으로 하는 동기식 전송 장치.
2. 제 1항에 있어서, 상기 패턴 데이터는 전부 0, 또는 전부 1임을 특징으로 하는 동기식 전송 장치.