KR0136503B1 - 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 장치 및 방법 - Google Patents

전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 장치 및 방법

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KR0136503B1
KR0136503B1 KR1019940032478A KR19940032478A KR0136503B1 KR 0136503 B1 KR0136503 B1 KR 0136503B1 KR 1019940032478 A KR1019940032478 A KR 1019940032478A KR 19940032478 A KR19940032478 A KR 19940032478A KR 0136503 B1 KR0136503 B1 KR 0136503B1
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남흥순
김진태
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양승택
한국전자통신연구원
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Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 애널로그 가입자 정합회로 모듈을 시험하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로, 가입자 정합회로 모듈에 요구되는 모든 기능을 효과적으로 검사고 필요시 고장 상태를 추적하기 위하여, 데이타를 디코딩하는 디코딩 수단(21); 외부와 병렬 데이타를 입출력하는 병렬 데이타 수단(22); 카운팅 신호와 칩선택 신호를 출력하는 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 데아타를 직렬/병렬 또는 병렬/직렬로 변환하는 변환 수단(24); 클럭을 공급하는 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 장치와, 상기 장치에 적용되는 방법에 있어서, 초기화를 수행하는 제1단계(31); 직렬 데이타를 출력한후에 데이타 요구신호(DREQ)를 수신하여 다음 데이타를 래치하는 과정을 시험이 끝날때까지 반복하는 제2단계(32 내지 35)를 포함하여 구성이 간단하고 시험이 용이하며 다양하게 응용하기 위한 높은 호환성을 가지는 효과가 있다.

Description

전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 장치 및 방법.
제1도는 가입자회로 모듈 시험 장치의 연결도,
제2도는 본 발명에 따른 가입자회로 모듈 시험 장치의 구성도,
제3도는 본 발명에 따른 가입자회로 모듈 제어 절차 흐름도,
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
21:주소 디코딩부22:병렬 데이타부
23:카운터 및 칩 선택부24:직/병렬 및 병/직렬 변환부
25:클럭 발생부
본 발명은 전전자 교환기의 애널로그 가입자 정합회로 모듈을 시험하기 위한 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.
애널로그 가입자 정합회로 모듈은 교환기에서 1 애널로그 가입자를 정합하기 위한 단위 회로를 하나의 모듈로 구성한 것으로서 가입자 정합에 필요한 전원 공급, 과전압 보호, 호출 신호 공급, 혹크 상태 감시, PCM 코딩, 하이브리드 기능, 시험 기능(BORSCHT)을 수행한다. 가입자 정합회로 모듈의 설계 제작시 각 기능을 시험하여 모듈의 상태를 검사할 테스트 지그가 필요하다.
상기 필요에 의하여 안출된 본 발명은 가입자 정합회로 모듈에 요구되는 모든 기능을 효과적으로 검사고 필요시 고장 상태를 추적할 수 있는 시험 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 장치는, 외부로 부터 어드레스 데이타를 입력받아 디코딩하는 디코딩 수단; 외부와 병렬 데이타를 입출력하고 상기 디코딩 수단에 연결되어 있는 병령 데이타 수단; 외부의 제어에 따라 카운팅 신호를 출력하고 시험 대상 모듈로 칩선택 신호를 출력하는 카운팅 수단 및 칩선택 수단; 상기 카운팅 신호를 입력받고 상기 디코딩 수단에 연결되어 있으며, 병령 데이타 수단와 시험 대상 모듈에 연결되어 데이타를 직렬/병령 또는 병렬/직렬로 변환하는 변환 수단; 상기 변환 수단에 클럭을 공급하고 상기 시험 대상 모듈에 클럭과 프레임 동기 신호를 공급하는 클럭 발생 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, 초기화를 수행하는 제1단계; 상기 제1단계 수행 후, 직렬 데이타를 출력한 후에 데이타 요구신호(DREQ)를 수신하여 다음 데이타를 래치하는 과정을 시험이 끝날때까지 반복하는 제2단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 일실시예를 상세히 설명한다.
제1도는 가입자회로 모듈 시험장치의 연결도로서, 도면에서 보는 바와 같이 전원 공급기(12)는 검사할 애널로그 가입자회로 모듈에 필요한 -48V, +5V를 공급하며, 호출신호 공급장치(15)는 20Hz 70~90Vrms의 호출신호와 이 신호가 OV로 되는 시점을 나타내는 제로 크로싱 신호를 가입자 회로 모듈(16)에 공급한다. 본 발명의 대상인 시험 장치(11)는 컴퓨터(17)에 연결되어 컴퓨터와 검사할 가입자회로 모듈(16) 사이의 인터페이스를 제공하며, 가입자 회로 모듈(16)에 필요한 PCM(Pulse Code Modulation) 관련 4.096MHz 클럭과 8kHz 프레임 신호를 제공한다.
컴퓨터(17)에는 시험 프로그램을 탑재하여 시험 장치(11)를 통하여 가입자 정합회로 모듈(16)을 제어하며, 가입자 정합회로 모듈(16)의 동작상태를 오실로스코프(14)로 측정하고 그 결과를 GPIB(General Purpuse Interface Board) 인터페이스 보드(15)를 통하여 컴퓨터(17)에 출력하여 그 상태를 판정한다. 컴퓨터(17)에서는 검사할 가입자회로 모듈(16)을 초기화시키고, 타임 슬롯의 할당, 필터 계수 설정, 훅 상태 검출 및 각종 릴레이 구동등의 기능을 프로그램에 따라 시험 장치(11)를 통하여 제어한다.
제2도는 본 발명에 따른 가입자회로 모듈 시험 장치의 구성도이다.
시험 장치(11)는 컴퓨터(17)로 부터 어드레스 데이타를 받아 시험할 가입자회로 모듈(16)에 제공하며, 또한 역으로 가입자회로 모듈(16)의 혹 온/오프등의 상태를 컴퓨터(17)로 제공한다. 이를 위하여 컴퓨터(17)의 어드레스를 주소 디코딩부(21)에서 변환하여 검사할 가입자회로 모듈(16)에 필요한 정보는 직결/병렬, 병렬/직렬 변환부(24)로 송신하고, 내부에서 필요한 정보는 병렬 데이타부(22)로 송신한다/ 직렬/병렬, 병렬/직렬 변환부(24)는 컴퓨터(17)로 부터 병렬로 수신한 어드레스 정보와 데이타를 직렬로 변환하여 검사할 가입자회로 모듈(16)로 전송한다.
한편 가입자회로 모듈(16)에서 컴퓨터(17)로 전송할 데이타는 카운터 및 칩선택부(23)의 신호를 받아 직렬/병렬, 병렬/직렬 변환부(24)를 경유하여 직렬/병렬 변환된 후에 병렬 데이타부(22)를 경유하여 컴퓨터(17)로 송신된다. 컴퓨터(17)에서 가입자 정합회로 모듈(16)로 송신되는 데이타는 병렬 데이타부(22)를 통하여 직렬/병렬, 병렬/직렬 변환부(24)에서 병렬/직렬 변환된 후에 카운터(23)의 계수 신호와 함께 검사할 가입자 회로 모듈(16)로 전송한다. 카운터 및 칩선택부(23)는 직렬 통신시 데이타 송신 혹은 수신에 필요한 8 혹은 16클럭의 칩 선택 신호를 발생하여 검사할 가입자 정합회로 모듈(23)로 제공한다. 클럭 발생부(25)는 가입자 정합회로(16) 동작에 필요한 2.048MHz 클럭과 8KHz의 프레임 동기 신호를 발생시켜 PCM 서브하이웨이를 제공함으로서 검사할 가입자 회로(16)의 송수신 타임스롯 할당기능을 확인할 수 있도록 한다. 또한 직렬/병렬, 병렬/직렬 변환부(24)에 동작 클럭을 제공한다.
제3도는 컴퓨터와 시험 장치 사이의 데이타 송수신 흐름도이다.
프로그램 수행시 시험 장치(11)에 필요한 초기화 기능을 수행하고(31), 가입자회로 모듈(16)로 전송할 직렬 데이타를 송신하여(32) 시험 장치(11)로 부터 데이타 요구신호(DREQ)를 수신한 후에(33) 다음 데이타를 읽거나 쓴다(34). 시험 장치(11)는 전송할 데이타를 전송 완료하여 컴퓨터(17)로 부더 다음 데이타를 받고자할 경우 혹은 컴퓨터(17)로 다음 데이타를 전송하고자 할 경우 데이타 요구 신호를 컴퓨터(17)로 송신하여 가입자 회로 모듈(16)과 컴퓨터(17)사이의 통신을 제공한다.
상기와 같은 본 발명은 애널로그 가입자 정합 모듈을 용이하게 시험할 수 있고, 시험 환경 구성이 간단하고, 다양한 애널로그 가입자 모듈에 대하여 시헙 프로그램을 적용할 수 있어 호환성이 많고, 실장되는 프로그램에 따라 다양한 프로그램을 응용하여 시험결과 데이타를 용이하게 처리할 수 있다. 즉, 구성이 간단하고 시험이 용이하며 다양하게 응용하기 위한 높은 호환성을 가지는 효과가 있다.

Claims (2)

  1. 외부로 부터 어드레스 데이타를 입력받아 디코딩하는 디코딩 수단(21); 외부와 병렬 데이타를 입출력하고 상기 디코딩 수단에 연결되어 있는 병령 데이타 수단(22); 외부의 제어에 따라 카운팅 신호를 출력하고 시험 대상 모듈로 칩선택 신호를 출력하는 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 상기 카운팅 신호를 입력받고 상기 디코딩 수단(21)에 연결되어 있으며, 병령 데이타 수단(22)와 시험 대상 모듈에 연결되어 데이타를 직렬/병령 또는 병렬/직렬로 변환하는 변환 수단(24); 상기 변환 수단(24)에 클럭을 공급하고 상기 시험 대상 모듈에 클럭과 프레임 동기 신호를 공급하는 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 장치 및 방법.
  2. 디코딩하는 디코딩 수단(21); 병렬 데이타 수단(22); 카운팅 수단 및 칩선택 수단(23); 변환 수단(24); 클럭 발생 수단(25)을 구비하는 시험 장치에 적용되는 방법에 있어서, 초기화를 수행하는 제1단계(31); 상기 제1단계(31) 수행 후, 직렬 데이타를 출력한 후에 데이타 요구신호(DREQ)를 수신하여 다음 데이타를 래치하는 과정을 시험이 끝날때까지 반복하는 제2단계(32 내지 35)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험 방법.
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