JPS6033757A - 符号誤り率測定装置 - Google Patents
符号誤り率測定装置Info
- Publication number
- JPS6033757A JPS6033757A JP58142571A JP14257183A JPS6033757A JP S6033757 A JPS6033757 A JP S6033757A JP 58142571 A JP58142571 A JP 58142571A JP 14257183 A JP14257183 A JP 14257183A JP S6033757 A JPS6033757 A JP S6033757A
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- Japan
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- code
- parallel
- channel
- clock
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光フアイバリボン等を利用して数チャンネル乃
至数十チャンネルのディジタル符号信号を伝送する装置
を効率的に試験するための測定装置に関する。
至数十チャンネルのディジタル符号信号を伝送する装置
を効率的に試験するための測定装置に関する。
多数のコンピュータを用いたデータの分散処理システム
や大規模プラント等における高速・大容量の計測データ
伝送等の用途に、多チャンネルの並列符号信号伝送が必
要とされている。
や大規模プラント等における高速・大容量の計測データ
伝送等の用途に、多チャンネルの並列符号信号伝送が必
要とされている。
このような信号伝送技術として最近の光フアイバ技術の
開発は、ファイバリボン等の形で高密度化したケーブル
を利用した数簡にわたる多チヤンネル長距離伝送を相互
干渉す＜容易に実現可能にした。これに伴ないこうした
多チヤンネル符号伝送装置の伝送品５ＩＩを評価するた
めのｉｌｌｌ装定が必要となっている。
開発は、ファイバリボン等の形で高密度化したケーブル
を利用した数簡にわたる多チヤンネル長距離伝送を相互
干渉す＜容易に実現可能にした。これに伴ないこうした
多チヤンネル符号伝送装置の伝送品５ＩＩを評価するた
めのｉｌｌｌ装定が必要となっている。
符号伝送装置の伝送品質の評価法として通常、送信側か
ら擬似ランダム符号（ＰＮ符号）信号を送出し、受信側
で受信信号の符号誤りぬ計計数して評価を行なう方法が
行なわれている。
ら擬似ランダム符号（ＰＮ符号）信号を送出し、受信側
で受信信号の符号誤りぬ計計数して評価を行なう方法が
行なわれている。
こうした方式は、たとえば第１図に示すようにｎチャン
ネル並列符号光送信器１からロチャンネ系にも適用でき
る。しかしこうした光送受信器はチャンネルに同じＰＮ
符号をｌｌｊｉｌ次伝送し評価することだけでは不十分
で、全てのチャンネルに互に独立なＰＮ符号を同時に伝
送しチャンネル間干渉・漏話等の影響を含めた評価を行
なう必要がある。
ネル並列符号光送信器１からロチャンネ系にも適用でき
る。しかしこうした光送受信器はチャンネルに同じＰＮ
符号をｌｌｊｉｌ次伝送し評価することだけでは不十分
で、全てのチャンネルに互に独立なＰＮ符号を同時に伝
送しチャンネル間干渉・漏話等の影響を含めた評価を行
なう必要がある。
このため第１図では、ｎ個の独立のＰＮ符号を発生する
ｎ個の回路４１〜４ｎと、これらを部側するための周波
数ｆ。のクロック発生回路７および各チャンネル間に相
関がないことを保証するために、起動時の各チャンネル
間のビットをランダムになる様に制御する回路６とを送
信側に設け、受信側においては送信側から伝送されるＰ
Ｎ符号のＭＵを検出するための誤り検出回路５を設けて
いる。
ｎ個の回路４１〜４ｎと、これらを部側するための周波
数ｆ。のクロック発生回路７および各チャンネル間に相
関がないことを保証するために、起動時の各チャンネル
間のビットをランダムになる様に制御する回路６とを送
信側に設け、受信側においては送信側から伝送されるＰ
Ｎ符号のＭＵを検出するための誤り検出回路５を設けて
いる。
しかし、ｎ個のＰＮ符号を発生する回路は独立に構成す
る必要があるため、回路が複雑化する問題がある。
る必要があるため、回路が複雑化する問題がある。
本発明の目的は、簡単な回路で多チヤンネル並列符号伝
送装置の符号誤り率を効率よく測定評価できる符号誤り
率測定装置を提供することにある。
送装置の符号誤り率を効率よく測定評価できる符号誤り
率測定装置を提供することにある。
本発明によれば、チャンネル数ｎの多チヤンネル並列符
号伝送装置用の試験装置において、各チャンネルの信号
伝送速度のｎ倍のクロック周波数のクロックを発生する
クロック発生回路と、この前記クロックに同期して擬似
ランダム符号を発生する擬似ランダム符号発生回路と、
発生した擬似ランダム符号を並列符号として取出す直並
列変換回路と、多チヤンネル並列符号伝送装置を介して
伝送された並列符号を、上記擬似ランダム符号をｎビッ
トおきに抽出して得られる符号と比較する誤り検出回路
とを含む符号誤シ率測定装置が得られる。
号伝送装置用の試験装置において、各チャンネルの信号
伝送速度のｎ倍のクロック周波数のクロックを発生する
クロック発生回路と、この前記クロックに同期して擬似
ランダム符号を発生する擬似ランダム符号発生回路と、
発生した擬似ランダム符号を並列符号として取出す直並
列変換回路と、多チヤンネル並列符号伝送装置を介して
伝送された並列符号を、上記擬似ランダム符号をｎビッ
トおきに抽出して得られる符号と比較する誤り検出回路
とを含む符号誤シ率測定装置が得られる。
さらに本発明によれば、上記誤り検出回路の代わりに、
多チヤンネル並列符号伝送装置を介して伝送された上記
並列符号を直列符号に変換する並直列変換回路と、その
直列符号と擬似ランダム符号発生回路で発生した擬似ラ
ンダム符号と同じ擬似ランダム符号とで比較することで
誤りを検出する誤り検出回路とで符号の誤りを検出して
もよい。
多チヤンネル並列符号伝送装置を介して伝送された上記
並列符号を直列符号に変換する並直列変換回路と、その
直列符号と擬似ランダム符号発生回路で発生した擬似ラ
ンダム符号と同じ擬似ランダム符号とで比較することで
誤りを検出する誤り検出回路とで符号の誤りを検出して
もよい。
次に本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。
第２図は本発明の第一の実施例を示すブロック図である
。図において１〜３は第１図で示す同参照番号と同じも
ので、光送信器１から出力されるｎチャンネル並列符号
光信号をそれぞれｎ本の光フアイバケーブル３を介して
光受信器２へ伝送する。チャンネル伝送速度ｉ１０［：
ｂｉｔ／ｓ）とするを発生する分周回路１３が接続され
る。ＰＮ符号発生回路１２から発生するＰＮ符号は直並
列変換回路１０により互に独立なｎチャンネルのＰＮ符
号信号になる。この直並列変換回路１０はＰＮ符号発生
回路１０からのＰＮ符号を周波数／ｎのクロックに同期
して順次転送するｎ段の７リツプ７０ツブ１４１〜１４
ｎからなるシフトレジスタおよび周波数１０のクロック
１３′の立上シ時点でシフトレジスタの内容を並列に読
み出すレジスタ回路１５１〜１５ｎとからｚｂ、速度へ
（ｂｉｔ／ｓ）でｎチャンネル並列ＰＮ符号を出力する
。この回路は一見複雑であるが、たとえばチャンネル数
ｎ＝８の場合、４ピットシフトレジスタ２個とレジスタ
１個の計３個のＴ’ｌ’ＬＩＣで実現可能となり、極め
て簡単な構成とすることができる。直並列変換回路１０
から出力されるｎチャンネル並列ＰＮ符号は、光送信器
１で光信号に変換されてｎ本の光ファイバ３へ伝送され
、光受信器２で電気信号に変換される。誤シ検出回路５
は、光受信器２でこのとき発生するＰＮ符号は、ＰＮ符
号発生回路１２が発生したＰＮ符号を（ｎ−１）ビット
おきに抽出した符号に等しい。誤り検出回路は次に光受
信器２から供給される一つのチャンネルのＰＮ符号とそ
のチャンネルに対応して発生するＰＮ符号とを１ ／
ｎ分周回路１３から送出される周波数ｆ０のクロックに
同期して比較し、符号の誤りを検出する。
。図において１〜３は第１図で示す同参照番号と同じも
ので、光送信器１から出力されるｎチャンネル並列符号
光信号をそれぞれｎ本の光フアイバケーブル３を介して
光受信器２へ伝送する。チャンネル伝送速度ｉ１０［：
ｂｉｔ／ｓ）とするを発生する分周回路１３が接続され
る。ＰＮ符号発生回路１２から発生するＰＮ符号は直並
列変換回路１０により互に独立なｎチャンネルのＰＮ符
号信号になる。この直並列変換回路１０はＰＮ符号発生
回路１０からのＰＮ符号を周波数／ｎのクロックに同期
して順次転送するｎ段の７リツプ７０ツブ１４１〜１４
ｎからなるシフトレジスタおよび周波数１０のクロック
１３′の立上シ時点でシフトレジスタの内容を並列に読
み出すレジスタ回路１５１〜１５ｎとからｚｂ、速度へ
（ｂｉｔ／ｓ）でｎチャンネル並列ＰＮ符号を出力する
。この回路は一見複雑であるが、たとえばチャンネル数
ｎ＝８の場合、４ピットシフトレジスタ２個とレジスタ
１個の計３個のＴ’ｌ’ＬＩＣで実現可能となり、極め
て簡単な構成とすることができる。直並列変換回路１０
から出力されるｎチャンネル並列ＰＮ符号は、光送信器
１で光信号に変換されてｎ本の光ファイバ３へ伝送され
、光受信器２で電気信号に変換される。誤シ検出回路５
は、光受信器２でこのとき発生するＰＮ符号は、ＰＮ符
号発生回路１２が発生したＰＮ符号を（ｎ−１）ビット
おきに抽出した符号に等しい。誤り検出回路は次に光受
信器２から供給される一つのチャンネルのＰＮ符号とそ
のチャンネルに対応して発生するＰＮ符号とを１ ／
ｎ分周回路１３から送出される周波数ｆ０のクロックに
同期して比較し、符号の誤りを検出する。
符号誤り率特性は、誤り検出回路５の出力に基づいて１
チヤンネルごとに測定される。たとえば伝送周波数ｆ０
＝ Ｉ ＭＨｚでビット誤り率１６−９で評価しようと
すると、通常図示されていない可変光減衰器を用いて光
受信器の入力光レベルを変化させ、ビット誤シ率１０″
′９付近で数回の測定を行なう必要がある。この場合ビ
ット誤り率１０″″９ということは１回の測定で少なく
とも約１０００秒、数回として１チャンネル当り最低１
〜２時間を要する。このため、チャンネル数ｎ ＝ ８
であれば１／ステムの測定に８〜１６時間という極めて
長い時間を必要とする。
チヤンネルごとに測定される。たとえば伝送周波数ｆ０
＝ Ｉ ＭＨｚでビット誤り率１６−９で評価しようと
すると、通常図示されていない可変光減衰器を用いて光
受信器の入力光レベルを変化させ、ビット誤シ率１０″
′９付近で数回の測定を行なう必要がある。この場合ビ
ット誤り率１０″″９ということは１回の測定で少なく
とも約１０００秒、数回として１チャンネル当り最低１
〜２時間を要する。このため、チャンネル数ｎ ＝ ８
であれば１／ステムの測定に８〜１６時間という極めて
長い時間を必要とする。
第３図に示す本発明の第２の実施例では、こう数ｆｎで
動作する誤９検出回路２３とを接続して構成している０
この場合、光受信器２で受信される各チャンネルの伝送
速度ｆ０の受信信号は、並から伝送されるクロックに同
期して速度ｆｎの直列信号に変換されて出力される。こ
のとき直列信号中の一部のビットに並列データの読込み
に伴う波形変化が発生する可能性があるため、波形整形
回路２２で整形している。この回路は本発明の内容上は
必ずしも本質的なものではないので説明の詳細は省略す
る。波形整形回路からの出力されるＰＮ符号は、誤り検
出回路２３へ供給される。誤シ検出回路２３では、ＰＮ
符号発生回路１２で発生したものと同じＰＮ符号をビッ
ト速度／ｎで発生し、これと波形整形回路２２がら供給
されるＰＮ符号とを、クロック発生回路１１で発生した
周波数ｆｎのクロックに同期して比較することにょシ、
符号の誤りを検出する。この誤り検出回路２３の出力に
基づいて符号ｖ４ｂ率が測定されるが、この場合測定の
対象となるのは、全チャンネルの誤りの総和である。し
たがって個々のチャンネルに区分することはできないが
、短時間に全チャンネルの評価が可能であるという優れ
た特長を有する。
動作する誤９検出回路２３とを接続して構成している０
この場合、光受信器２で受信される各チャンネルの伝送
速度ｆ０の受信信号は、並から伝送されるクロックに同
期して速度ｆｎの直列信号に変換されて出力される。こ
のとき直列信号中の一部のビットに並列データの読込み
に伴う波形変化が発生する可能性があるため、波形整形
回路２２で整形している。この回路は本発明の内容上は
必ずしも本質的なものではないので説明の詳細は省略す
る。波形整形回路からの出力されるＰＮ符号は、誤り検
出回路２３へ供給される。誤シ検出回路２３では、ＰＮ
符号発生回路１２で発生したものと同じＰＮ符号をビッ
ト速度／ｎで発生し、これと波形整形回路２２がら供給
されるＰＮ符号とを、クロック発生回路１１で発生した
周波数ｆｎのクロックに同期して比較することにょシ、
符号の誤りを検出する。この誤り検出回路２３の出力に
基づいて符号ｖ４ｂ率が測定されるが、この場合測定の
対象となるのは、全チャンネルの誤りの総和である。し
たがって個々のチャンネルに区分することはできないが
、短時間に全チャンネルの評価が可能であるという優れ
た特長を有する。
以上、第１．第２の実施例によれば多チヤンネルＰＮ符
号発生器を極めて簡単に構成でき、チャることが可能で
ある。なお上記実施例では本発明が最も効果的に利用可
能と考えられる多チヤンネル光伝送方式に関連して説明
したが、その内容から明らかな通シ本発明は全ての種類
の並列符号伝送方式に適用することが可能である。
号発生器を極めて簡単に構成でき、チャることが可能で
ある。なお上記実施例では本発明が最も効果的に利用可
能と考えられる多チヤンネル光伝送方式に関連して説明
したが、その内容から明らかな通シ本発明は全ての種類
の並列符号伝送方式に適用することが可能である。
第１図は従来の符号誤シ率測定装置を示すブロック図、
第２図は本発明の第１の実施例を示すブロック図、そし
て第３図は本発明の別の実施例を示す図である。
第２図は本発明の第１の実施例を示すブロック図、そし
て第３図は本発明の別の実施例を示す図である。
Claims (2)
- （１）チャネル数ｎの多チヤンネル並列符号伝送装置の
符号誤シ率測定装置において、各チャンネのｎビットを
並列出力として取出す直並列変換回路と、多チヤンネル
並列符号伝送装置を介して伝送される並列信号を前記擬
似ランダム符号をｎビットおきに抽出して得られる符号
と比較して誤りを検出する誤）検出回路とを含む多チヤ
ンネル並列符号伝送装置の符号誤シ率測定装置０ - （２）チャンネル数ｎの多チヤンネル並列符号伝送装置
の符号誤り率測定装置において、各チャンネルの信号伝
送速度のｎ倍のクロック周波数でクロックを発生するク
ロック発生回路と、前記クロックに同期して擬似ランダ
ム符号を発生する擬似ランダム符号発生回路と、前記擬
似ランダム符号のｎビットを並列符号として取シ出す直
並列変換回路と、前記多チヤンネル並列符号伝送装置を
介して伝送される並列符号を直列符号に変換する並直列
変換回路と、この直列符号を前記擬似ランダム符号と同
じ擬似ランダム符号とで比較し誤りを検出する誤シ検出
回路とを含む多チヤンネル並列符号伝送装置の符号誤シ
率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58142571A JPS6033757A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 符号誤り率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58142571A JPS6033757A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 符号誤り率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6033757A true JPS6033757A (ja) | 1985-02-21 |
Family
ID=15318415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58142571A Pending JPS6033757A (ja) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | 符号誤り率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6033757A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991015903A1 (en) * | 1990-03-30 | 1991-10-17 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Device for evaluating signal transmission performance of optical communication equipment |
| JPH05344067A (ja) * | 1992-06-10 | 1993-12-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光中継システムの監視方法および折り返し回路並びに送受信回路 |
| WO2002087138A1 (fr) * | 2001-04-17 | 2002-10-31 | Fujitsu Limited | Procede et dispositif pour analyser des erreurs sur bits |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50129106A (ja) * | 1974-03-30 | 1975-10-13 |
-
1983
- 1983-08-05 JP JP58142571A patent/JPS6033757A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50129106A (ja) * | 1974-03-30 | 1975-10-13 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991015903A1 (en) * | 1990-03-30 | 1991-10-17 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Device for evaluating signal transmission performance of optical communication equipment |
| JPH05344067A (ja) * | 1992-06-10 | 1993-12-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光中継システムの監視方法および折り返し回路並びに送受信回路 |
| WO2002087138A1 (fr) * | 2001-04-17 | 2002-10-31 | Fujitsu Limited | Procede et dispositif pour analyser des erreurs sur bits |
| US7249293B2 (en) | 2001-04-17 | 2007-07-24 | Fujitsu Limited | Method and device for testing for the occurrence of bit errors |
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