KR100210790B1

KR100210790B1 - 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법

Info

Publication number: KR100210790B1
Application number: KR1019960057697A
Authority: KR
Inventors: 김금숙; 임은희
Original assignee: 유기범; 대우통신주식회사; 이계철; 한국전기통신공사
Priority date: 1996-11-26
Filing date: 1996-11-26
Publication date: 1999-07-15
Also published as: KR19980038769A

Abstract

본 발명은 이중화된 두 장치의 이중화 시험을 하드웨어(hardware)적으로 자동으로 이루어지도록하기에 적합한 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)의 이중화 동작 정상 유무를 확인하기 위해서는 제1, 제2 저장 장치(14,24) 양쪽의 데이터를 확인하기 전에는 제1, 제2 저장 장치(14,24) 양쪽의 데이터가 서로 같은지 알 수 없기 때문에 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)의 이중화가 정상적으로 동작하고 있는지의 확인이 매우 불편한 결점이 있었으나, 본 발명에서는 이중화된 두 장치(30,40)의 이중화 시험을 자동으로 항상 실시하여 이중화의 이상 유무를 나타냄으로써 해당 전전자 교환기의 운용자가 이중화된 두 장치(30,40)의 이중화 이상 유무를 용이하게 확인할 수 있게 되므로 상술한 결점을 개선시킬 수 있는 것이다.

Description

전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법

본 발명은 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법에 관한 것으로서, 특히, 이중화된 두 장치의 이중화 시험을 하드웨어(hardware)적으로 자동으로 이루어지도록하기에 적합한 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법에 관한 것이다.

우리가 사업상이나 개인적으로 전화 통화 중에 갑자기 전화가 끊길 경우 전화를 거는쪽이나 받는쪽 그리고 전화국 모두가 피해를 보게 된다.

즉, 전화를 거는쪽이나 받는쪽이나 통화를 완료하기 전에 통화가 끊겨져 불편할 것이고 전화국은 요금 청구 액수가 작아질뿐아니라 해당 전화국의 신뢰성이 떨어지게 되는 문제가 발생할 것이다.

전전자 교환기에서는 이와 같은 문제점을 개선하기 위해서 중요한 장치는 이중화시켜 액티브(active) 장치에 이상이 발생할 경우 자동으로 스탠바이(standby) 장치로 절체되도록하여 교환 서비스가 끊이지않고 지속될 수 있도록하고 있다.

이때, 각 장치의 이중화 동작을 운용자가 확인하는 것을 이중화 시험이라고 하기도 한다.

이와 관련하여, 제1도는 종래의 기술에 따른 전전자 교환기의 이중화 장치 시험의 일 실시예를 나타낸 블록도로서, 증앙 처리 장치(central processing unit; CPU) 및 저장 장치로 각각 이루어져 전전자 교환기의 특정 기능을 수행하기 위한 이중화된 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)로 이루어진다.

이때, 상술한 이중화된 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)의 액티브 및 스탠바이 처지가 변경될 수 있다.

이와 같이 이루어지는 종래의 기술을 상세하게 설명하면 다음과 같다.

먼저, 이중화된 두 장치(10,20)에 있어서 상술한 바와 같이 한 장치(10)가 액티브라고 가정하고 다른 장치(20)는 스탠바이라고 가정하기로 한다.

이에, 액티브 장치(10)의 제1 중앙처리 장치(12)가 제1 저장 장치(14)에 데이터(data)를 기록시킬 경우 이와 동시에 제1 중앙 처리 장치(12)는 스탠바이 장치(20)의 제2 저장 장치(24)에도 상술한 바와 같은 동일한 데이터를 저장시킨다.

이때, 운용자가 제1, 제2 저장 장치(14,24)의 데이터가 동일한지를 확인하기 위해서는 두 장치(10,20)의 이중화 시험을 함으로써 두 장치(10,20)의 이중화의 이상 유무를 알 수 있게 되는 것이다.

즉, 액티브 장치(10) 측의 제1 중앙 처리 장치(12)가 데이터를 읽어와서 제1, 제2 저장 장치(14,24) 양쪽에 동일하게 저장한 후, 이를 확인하기 위해서는 저장할 때 양쪽의 제1, 제2 저장 장치(14,24)의 메모리 번지를 다르게 지정하여 저장하고 제1 중앙 처리 장치(12)가 제1 저장 장치(14)의 데이터 및 제2 저장 장치(24)의 데이터를 각각 읽어들여 확인했다.

이때, 스탠바이 장치(20) 측의 제2 중앙 처리 장치(22)는 동작하지 않고 단지 메모리(memory) 공간 만을 제공하는 것이다.

즉, 두 장치(10,20)의 이중화 동작에 이상이 없을 경우 제1 저장 장치(14)의 첫 번째 번지에서 마지막 번지의 공간을 차지하는 데이터를 읽어들이고 제2 저장 장치(24)의 첫 번째 번지에서 마지막 번지의 공간을 차지하는 데이터를 읽어들인다면 양쪽의 데이터 내용은 동일 할 것이다.

그러나 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)의 이중화 동작 정상 유무를 확인하기 위해서는 제1, 제2 저장 장치(14,24) 양쪽의 데이터를 확인하기 전에는 제1, 제2 저장 장치(14,24) 양쪽의 데이터가 서로 같은지 알 수 없기 때문에 액티브 장치(10) 및 스탠바이 장치(20)의 이중화가 정상적으로 동작하고 있는지의 확인이 매우 불편한 결점이 있다.

본 발명은 상술한 종래의 기술의 결점을 개선하기 위하여 안출한 것으로서, 이중화에 따른 두 장치의 양측의 데이터를 항상 체크하여 이중화의 정상 유무 상태를 나타내 줄 수 있는 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.

제1도는 종래의 기술에 따른 전전자 교환기의 이중화 장치 시험의 일 실시예를 나타낸 블록도.

제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법의 일 실시예를 적용하기 위한 블록도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

30 : 액티브 장치 32,42 : 제1, 제2 중앙 처리 장치

34,44 : 제1, 제2 저장 장치 40 : 스탠바이 장치

본 발명의 상술한 목적 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술 분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

이하, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.

제2도를 참조하면, 제2도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법의 일 실시예를 적용하기 위한 블록도로서, 제1, 제2 중앙 처리 장치(32,42) 및 제1, 제2 저장 장치(34,44)로 각각 이루어져 전전자 교환기의 특정 기능을 수행하기 위한 이중화된 액티브 장치(30) 및 스탠바이 장치(40)로 이루어진다.

이때, 상술한 이중화된 액티브 장치(30) 및 스탠바이 장치(40)의 액티브 및 스탠바이 처지가 변경될 수 있다.

이와 같이 이루어지는 본 발명을 상세하게 설명하면 다음과 같다.

먼저, 이중화된 액티브 장치(30) 및 스탠바이 장치(40)에 있어서 상술한 바와 같이 한 장치(30)가 액티브라고 가정하고 다른 장치(40)는 스탠바이라고 가정하기로 한다.

또한, 액티브 장치(30)의 제1 저장 장치(34) 및 스탠바이 장치(40)의 제2 저장 처리 장치(44)의 각 시작 어드레스(start address)를 1번지라 하고 비교 패턴을 55라고 하며, 각 끝 어드레스(end address)를 100번지라고 하고 각각의 마지막 저장 영역을 동기 비트로 할당하기로 한다.

이에, 액티브 상태의 제1 중앙 처리 장치(32)는 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 1로 하고 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 0으로 만든 후, 해당 데이터를 읽어들여 제1, 제2 저장 장치(34,44)에 각각 1번지부터 100번지까지 차례로 채워나간다.

다음, 제2 중앙 처리 장치(42)는 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 1로하고 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 0으로 만든 후, 제1, 제2 저장 장치(34,44)로부터 데이터를 읽어들여 각 데이터에 55가 들어있는지 없는지를 확인 및 제1, 제2 저장 장치(34,44)의 데이터를 비교하여 시작 어드레스와 끝 어드레스 사이의 데이터를 확인한 후, 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 1로 하고 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 0으로 만든다.

여기서, 동기 비트 1을 액티브라고 하며, 동기 비트 0을 스탠바이라고 지정하기로 하며, 저장되는 모든 데이터들은 비교 패턴에서 55를 내보내 데이터의 끝 부분에 55와 함께 저장된다(예를 들어, 01010055, 10100155).

이 후, 제2 중앙 처리 장치(42)는 소정의 CRT(cathode ray tube) 등의 표시 장치를 통하여 이중화의 정상 유무를 알리는 결과를 출력해서 운용자가 이를 알 수 있도록 한다.

예를 들어, 에러가 있으면 이에 따른 정보를 CRT를 통해 출력하고, 에러가 없다면 OK를 출력시킨다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 이중화된 두 장치(30,40)의 이중화 시험을 자동으로 항상 실시하여 이중화의 이상 유무를 나타냄으로써 해당 전전자 교환기의 운용자가 이중화된 두 장치(30,40)의 이중화 이상 유무를 용이하게 확인할 수 있게 되는 효과가 있다.

Claims

제1, 제2 중앙 처리 장치(32,42) 및 제1, 제2 저장 장치(34,44)로 각각 이루어져 전전자 교환기의 특정 기능을 수행하기 위한 이중화된 액티브 장치(30) 및 스탠바이 장치(40)에 있어서, 상기 제1, 제2 저장 장치(34,44)의 각각에 시작 어드레스부터 끝 어드레스까지, 비교 패턴 그리고 동기 비트를 각각 할당하는 제1단계; 상기 1단계 수행 후, 상기 제1 중앙 처리 장치(32)는 상기 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 액티브로 하고 상기 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 스탠바이로 만든 후, 해당 데이터를 읽어들여 각 데이터마다 끝에 상기 비교 패턴을 붙혀서 상기 제1, 제2 저장 장치(34,44)에 각각 저장시키는 제2단계; 상기 제2단계 수행 후, 상기 제2 중앙 처리 장치(42)는 상기 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 액티브로하고 상기 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 스탠바이로 만든 후, 제1, 제2 저장 장치(34,44)로부터 데이터를 읽어들여 각 데이터에 상기 비교 패턴이 들어있는지 없는지를 확인 및 상기 제1, 제2 저장 장치(34,44)의 데이터를 비교하여 시작 어드레스와 끝 어드레스 사이의 데이터를 확인한 후, 상기 제1 저장 장치(34)의 동기 비트는 액티브로 하고 상기 제2 저장 장치(44)의 동기 비트는 스탠바이로 만드는 제3단계; 제3단계 수행 후, 상기 제2 중앙 처리 장치(42)는 소정의 표시 장치를 통하여 상기 액티브 장치(30) 및 상기 스탠바이 장치(40)의 이중화의 정상 유무를 알리는 결과를 출력해서 운용자가 상기 액티브 장치(30) 및 스탠바이 장치(40)의 이중화 정상 유무를 알 수 있도록 하는 제4단계를 차례로 실시하여 이루어지는 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법.
제1항에 있어서, 상기 동기 비트의 액티브 표시로 1을 사용하고 상기 동기 비트의 스탠바이 표시로는 0을 사용함을 특징으로 하는 전전자 교환기의 이중화 장치 시험 방법.