JPWO2023022117A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JPWO2023022117A5
JPWO2023022117A5 JP2023542390A JP2023542390A JPWO2023022117A5 JP WO2023022117 A5 JPWO2023022117 A5 JP WO2023022117A5 JP 2023542390 A JP2023542390 A JP 2023542390A JP 2023542390 A JP2023542390 A JP 2023542390A JP WO2023022117 A5 JPWO2023022117 A5 JP WO2023022117A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
dust
predetermined time
main surface
particle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2023542390A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2023022117A1 (zh
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/JP2022/030831 external-priority patent/WO2023022117A1/ja
Publication of JPWO2023022117A1 publication Critical patent/JPWO2023022117A1/ja
Publication of JPWO2023022117A5 publication Critical patent/JPWO2023022117A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2023542390A 2021-08-18 2022-08-12 Pending JPWO2023022117A1 (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021133344 2021-08-18
PCT/JP2022/030831 WO2023022117A1 (ja) 2021-08-18 2022-08-12 ダスト計測装置、ダスト計測方法およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2023022117A1 JPWO2023022117A1 (zh) 2023-02-23
JPWO2023022117A5 true JPWO2023022117A5 (zh) 2024-05-15

Family

ID=85240799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023542390A Pending JPWO2023022117A1 (zh) 2021-08-18 2022-08-12

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPWO2023022117A1 (zh)
TW (1) TW202314642A (zh)
WO (1) WO2023022117A1 (zh)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0637750U (ja) * 1992-10-21 1994-05-20 日新製鋼株式会社 粉塵分布計測装置
JP2003075353A (ja) * 2001-09-03 2003-03-12 Moritex Corp ダストカウンタとその部品
JP2014048100A (ja) * 2012-08-30 2014-03-17 Sharp Corp 粒子検出装置
JP6486643B2 (ja) * 2014-10-16 2019-03-20 国立大学法人電気通信大学 粉粒体の流量計測方法とそのプログラム
EP3529586B1 (en) * 2016-10-21 2024-03-20 First Frontier Pty Ltd System and method for performing automated analysis of air samples

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6855587B2 (ja) 視点から距離情報を取得するための装置及び方法
JP5567922B2 (ja) 画像処理装置及びその制御方法
US20170221228A1 (en) Image processing apparatus, imaging apparatus, and image processing method
TWI498580B (zh) 長度量測方法與長度量測裝置
KR102167301B1 (ko) 매트릭스 검사 타겟
JP2016524334A (ja) 自由形態の保護領域を使用するウエハ検査
JP7549025B2 (ja) 三次元計測装置
US20180321161A1 (en) Three-dimensional object inspecting device
TW201447280A (zh) 於暗場檢測工具上之單一晶粒檢測
US10841561B2 (en) Apparatus and method for three-dimensional inspection
CN110879131B (zh) 目视光学系统的成像质量测试方法、成像质量测试装置和电子设备
CN106657968A (zh) 三维特征信息感测系统及感测方法
JP2007298376A (ja) 境界の位置決定装置、境界の位置を決定する方法、当該装置としてコンピュータを機能させるためのプログラム、および記録媒体
JP7127046B2 (ja) モデルベースのピーク選択を使用した３ｄプロファイル決定のためのシステム及び方法
JP2017513012A (ja) 粒子混合物の粒子サイズおよび／または粒子形状を決定するための装置
US9417196B2 (en) X-ray diffraction based crystal centering method using an active pixel array sensor in rolling shutter mode
JPWO2023022117A5 (zh)
CN110392186B (zh) 减少雾霾影响的成像装置及成像方法
JP2978866B2 (ja) 画像処理による寸法計測回路
JP3244850B2 (ja) ナンバープレート読み取り装置
TW201308167A (zh) 影像感測器及具有該影像感測器之光學觸控系統
JP7340434B2 (ja) 配筋検査システム、配筋検査方法、及び配筋検査プログラム
JP5927010B2 (ja) 検査装置
JPH0914914A (ja) レーザスペックルパターンによる移動量の測定装置におけるレーザ光の照射方法ならびにその装置
WO2024062809A1 (ja) 光検出装置、および光検出システム