JP7127046B2 - モデルベースのピーク選択を使用した3dプロファイル決定のためのシステム及び方法 - Google Patents
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Description
Claims (21)
- オブジェクトの表面上のプロファイルを決定するためのシステムであって、
前記表面に照明線を投影して反射光をセンサアセンブリで設定された露出レベルで受け取る変位センサと、
露出レベル設定を複数の離散的増分で変化させて、各増分に対する前記反射光の画像を保存するプロセッサと、
保存された前記画像を結合して、結合された前記画像をモデルオブジェクト表面に基づくモデル画像に関してアライメントし、モデル画像との近接度に基づいて結合された前記画像からのポイントが選択されて、前記表面の候補プロファイルを提供する決定プロセスとを含む、
上記システム。 - 前記露出レベルはレーザ強度レベルを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記露出レベルは、利得、露出時間及びセンサアセンブリの口径のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記表面は鏡面性と半透明性のうちの少なくとも1つを、少なくとも部分的に定義する、請求項1に記載のシステム。
- 結合された前記画像内のポイントは、x次元に沿った列に編成され、z次元に沿った強度によって重み付けされる、請求項1に記載のシステム。
- 前記ポイントは、所定の統計的手法に従って作成された2Dカーネルに基づいて重み付けされる、請求項5に記載のシステム。
- 前記2Dカーネルは、ガウスカーネル、ステップカーネル若しくは均一カーネル、三角カーネル、バイウェイトカーネル及びエパネックニコフカーネルのうちの少なくとも1つを含む、請求項6に記載のシステム。
- 前記候補プロファイルに対して前記モデル画像内の対応するポイントとの近接度に基づいて各列のポイントが選択される、請求項7に記載のシステム。
- 前記ポイントのピークは、ピーク検出パラメータを使用して選択され、前記パラメータはセンサアセンブリによって表面上に観察される前記照明線のコントラスト閾値、強度閾値及び幅のうちの少なくとも1つを含む、請求項6に記載のシステム。
- 各列のポイントは、前記候補プロファイルに対して前記モデル画像内の対応するポイントとの近接度に基づいて選択される、請求項5に記載のシステム。
- 前記モデル画像は、オブジェクト表面の実際の画像、又は合成的に生成されたプロファイルに基づいている、請求項1に記載のシステム。
- オブジェクトの表面上のプロファイルを決定するための方法であって、
照明線を前記表面上に投影して、反射光をセンサアセンブリで設定された露出レベルで受け取るステップと、
露出レベル設定を複数の離散的増分で変化させて、各増分に対する反射光の画像をそれぞれ保存するステップと、
保存された前記画像を結合し、結合された前記画像をモデルオブジェクト表面に基づくモデル画像に関してアライメントするステップと、
結合された前記画像からのポイントを前記モデル画像への近接度に基づいて選択して、前記表面の候補プロファイルを提供するステップとを含む、
上記方法。 - 前記露出レベルを変化させるステップは、レーザ強度レベル、センサ利得、露出時間、及びセンサアセンブリの口径のうちの少なくとも1つを変化させることを含む、請求項12に記載の方法。
- 結合された前記画像内のポイントは、x次元に沿った列に編成され、z次元に沿った強度によって重み付けされる、請求項12に記載の方法。
- 前記ポイントは、所定の統計的手法に従って配置された2Dカーネルに基づいて重み付けされる、請求項14に記載の方法。
- 前記カーネルは、ガウスカーネル、ステップカーネル若しくは均一カーネル、三角カーネル、バイウェイトカーネル及びエパネックニコフカーネルのうちの少なくとも1つを含む、請求項15に記載の方法。
- 前記候補プロファイルに対する前記モデル画像内の対応するポイントを、前記モデル画像内の対応するポイントとの近接度に基づいて選択する、請求項16に記載の方法。
- ポイントのピークを、センサアセンブリによって前記表面上に観察される照明線のコントラスト閾値、強度閾値及び幅のうちの少なくとも1つを含むピーク検出パラメータを使用して選択することを含む、請求項14に記載の方法。
- 前記モデル画像は、オブジェクト表面の実際の画像又は合成的に生成されたプロファイルに基づく、請求項12に記載の方法。
- オブジェクトの表面上のプロファイルを決定するためのシステムであって、
前記表面に照明線を投影して反射光をセンサアセンブリで設定された露出レベルで受け取る変位センサと、
露出レベル設定を複数の離散的増分で変化させて、各増分に対する前記反射光の画像を保存するプロセッサと、
保存された前記画像を結合してそこから2D画像を生成し、前記2D画像をモデルオブジェクト表面に基づくモデル画像に関してアライメントする決定プロセスとを含む、
上記システム。 - 前記モデルオブジェクト表面に基づくモデル画像は、モデルオブジェクト表面の訓練された画像に基づくか、あるいは、CADシステムを使用して合成的に定義されたものである、請求項1記載のシステム。
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112113511B (zh) * | 2020-08-17 | 2021-11-23 | 上海交通大学 | 一种半透明物体表面轮廓线提取方法、系统及终端 |
KR102486714B1 (ko) * | 2020-12-31 | 2023-01-10 | 서울시립대학교 산학협력단 | 3d 콘크리트 프린터의 인공지능 기반 토출제어 시스템 |
CN115690374B (zh) * | 2023-01-03 | 2023-04-07 | 江西格如灵科技有限公司 | 一种基于模型边缘射线检测的交互方法、装置及设备 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000002520A (ja) | 1998-06-18 | 2000-01-07 | Minolta Co Ltd | 3次元入力装置 |
US20060070417A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-04-06 | John Nieminen | Flatness monitor |
JP2008506957A (ja) | 2004-07-22 | 2008-03-06 | ソルヴィジョン インコーポレイテッド | 透明物体の高さ測定 |
JP2009085775A (ja) | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Sunx Ltd | 測定装置 |
JP2017090450A (ja) | 2015-11-02 | 2017-05-25 | コグネックス・コーポレイション | ビジョンシステムでラインを検出するためのシステム及び方法 |
Family Cites Families (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5566925A (en) | 1978-11-13 | 1980-05-20 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | Preparation of aromatic polyester polycarbonate |
US4373804A (en) | 1979-04-30 | 1983-02-15 | Diffracto Ltd. | Method and apparatus for electro-optically determining the dimension, location and attitude of objects |
JPS6221011A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-29 | Nissan Motor Co Ltd | 光切断法による計測装置 |
DE4341227C2 (de) | 1993-12-03 | 1996-02-22 | Gernot Baur | Optisch-analytisches Detektionssystem zur Einfallswinkelbestimmung eines Lichtstrahls |
MXPA99004289A (es) | 1996-11-08 | 2003-10-15 | Nat Comp Systems Inc | Exploracion optica con salida calibrada por pixel. |
US6441908B1 (en) | 1999-08-06 | 2002-08-27 | Metron Systems, Inc. | Profiling of a component having reduced sensitivity to anomalous off-axis reflections |
US6531707B1 (en) * | 2000-12-29 | 2003-03-11 | Cognex Corporation | Machine vision method for the inspection of a material for defects |
JP2003087652A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子スチルカメラ |
AU2003256696B2 (en) | 2002-07-24 | 2008-12-11 | Deka Products Limited Partnership | Optical displacement sensor for infusion devices |
US7460250B2 (en) | 2003-10-24 | 2008-12-02 | 3Dm Devices Inc. | Laser triangulation system |
US7515280B2 (en) | 2004-05-12 | 2009-04-07 | Mitutoyo Corporation | Displacement transducer with selectable detector area |
US7400415B2 (en) | 2005-03-15 | 2008-07-15 | Mitutoyo Corporation | Operator interface apparatus and method for displacement transducer with selectable detector area |
US9607408B2 (en) * | 2007-06-08 | 2017-03-28 | Apple Inc. | Rendering semi-transparent user interface elements |
US8004688B2 (en) | 2008-11-26 | 2011-08-23 | Zygo Corporation | Scan error correction in low coherence scanning interferometry |
JP5247397B2 (ja) | 2008-12-05 | 2013-07-24 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
US8442304B2 (en) * | 2008-12-29 | 2013-05-14 | Cognex Corporation | System and method for three-dimensional alignment of objects using machine vision |
DE102009017465B4 (de) | 2009-04-03 | 2011-02-17 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer zumindest teilweise reflektierenden Oberfläche an einem Gegenstand |
US8873712B2 (en) * | 2010-04-13 | 2014-10-28 | Carestream Health, Inc. | Exposure control using digital radiography detector |
WO2011163359A2 (en) | 2010-06-23 | 2011-12-29 | The Trustees Of Dartmouth College | 3d scanning laser systems and methods for determining surface geometry of an immersed object in a transparent cylindrical glass tank |
JP5218494B2 (ja) | 2010-07-30 | 2013-06-26 | オムロン株式会社 | 変位センサ |
JP5791336B2 (ja) * | 2011-04-01 | 2015-10-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及びその制御方法 |
US9349182B2 (en) | 2011-11-10 | 2016-05-24 | Carestream Health, Inc. | 3D intraoral measurements using optical multiline method |
US8849620B2 (en) * | 2011-11-18 | 2014-09-30 | Nike, Inc. | Automated 3-D modeling of shoe parts |
KR101401395B1 (ko) * | 2012-02-07 | 2014-06-02 | 엄두간 | 표면각도 측정 광센서 및 이를 이용한 표면각도 및 형상정보 감지방법 |
WO2014016001A1 (de) | 2012-07-25 | 2014-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Farbkodierung für 3d-messung insbesondere bei transparenten streuenden oberflächen |
US9413981B2 (en) * | 2012-10-19 | 2016-08-09 | Cognex Corporation | System and method for determination and adjustment of camera parameters using multi-gain images |
JP6091866B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2017-03-08 | 株式会社キーエンス | 計測顕微鏡装置、画像生成方法及び計測顕微鏡装置操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
US9131219B2 (en) | 2012-12-18 | 2015-09-08 | Institut National D'optique | Method and apparatus for triangulation-based 3D optical profilometry |
US9866900B2 (en) * | 2013-03-12 | 2018-01-09 | The Nielsen Company (Us), Llc | Methods, apparatus and articles of manufacture to detect shapes |
US9488469B1 (en) | 2013-04-22 | 2016-11-08 | Cognex Corporation | System and method for high-accuracy measurement of object surface displacement using a laser displacement sensor |
TW201447277A (zh) * | 2013-06-04 | 2014-12-16 | Biotronik Se & Co Kg | 感應單元,電子模組以及計算各電子模組之腐蝕物暴露水準之方法 |
US10509977B2 (en) * | 2014-03-05 | 2019-12-17 | Sick Ivp Ab | Image sensing device and measuring system for providing image data and information on 3D-characteristics of an object |
CN104019767B (zh) * | 2014-05-29 | 2017-04-19 | 南京理工大学 | 一种基于灰度直方图的自适应高动态范围三维测量方法 |
DE112017001725T5 (de) | 2016-03-29 | 2018-12-20 | Bando Chemical Industries, Ltd. | Zahnriemen |
CN106204732B (zh) * | 2016-07-21 | 2019-01-08 | 深圳市易尚展示股份有限公司 | 动态曝光的三维重建方法及系统 |
US10482621B2 (en) * | 2016-08-01 | 2019-11-19 | Cognex Corporation | System and method for improved scoring of 3D poses and spurious point removal in 3D image data |
US10620447B2 (en) * | 2017-01-19 | 2020-04-14 | Cognex Corporation | System and method for reduced-speckle laser line generation |
-
2018
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000002520A (ja) | 1998-06-18 | 2000-01-07 | Minolta Co Ltd | 3次元入力装置 |
US20060070417A1 (en) | 2004-07-16 | 2006-04-06 | John Nieminen | Flatness monitor |
JP2008506957A (ja) | 2004-07-22 | 2008-03-06 | ソルヴィジョン インコーポレイテッド | 透明物体の高さ測定 |
JP2009085775A (ja) | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Sunx Ltd | 測定装置 |
JP2017090450A (ja) | 2015-11-02 | 2017-05-25 | コグネックス・コーポレイション | ビジョンシステムでラインを検出するためのシステム及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10753726B2 (en) | 2020-08-25 |
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US20190101376A1 (en) | 2019-04-04 |
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JP2022055298A5 (ja) | ||
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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