JPWO2020174678A1 - 分析方法および試料作製装置 - Google Patents
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Abstract
Description
<分析方法>
図1は、実施の形態1に係る分析方法を示すフローチャートである。図2〜図6は、図1に示した分析方法を説明するための模式図である。図1〜図6を参照しながら、本実施の形態に係る分析方法を説明する。
本開示に係る分析方法は、分析対象物と溶媒とを含む溶液3aを第1基板7の表面上に滴下する工程S14と、溶液3aを乾燥試料15にする工程S15と、スペーサ12を配置する工程S16と、転写する工程S17と、分光分析する工程S18とを備える。溶液3aを乾燥試料15にする工程S15では、第1基板7の表面上に滴下された溶液3aから溶媒を揮発させることにより、溶液3aを乾燥試料15にする。スペーサ12を配置する工程S16では、第1基板7の表面上にスペーサ12を配置する。転写する工程S17では、乾燥試料15とスペーサ12とに接触するように、第1基板7の表面上から、第1基板7の表面より低い撥水性を示す表面を有する第2基板11を押圧することにより、第2基板11に乾燥試料15の少なくとも一部を転写する。分光分析する工程S18では、第2基板11に転写された測定用試料17を分光分析する。
上述した本実施の形態に係る分析方法であれば、微小かつ微量な試料を高感度で分析できるばかりでなく、分析対象となる成分の量が多くても、乾燥試料15の厚さをスペーサ12を用いることでほぼ同じにできる。そのため、分析時においてスペクトルの飽和の影響を受けにくく、分析対象となる成分の量の分量に関わらず、微量な試料の場合と同じ手順で高感度に分析することが可能である。本実施の形態に係る分析方法は、例えば、液体クロマトグラフのようなカラムを用いた手法で得られた微量の有機物の分析に好適である。
<分析方法>
図8は、実施の形態2に係る分析方法を示すフローチャートである。図8に示した分析方法は、基本的には図1に示した分析方法と同様の構成を備えるが、分析に用いる液体として予め分析対象の物質が溶解した溶液を用いる点が図1に示した分析方法と異なっている。以下、具体的に説明する。
図8に示した分析方法によっても、図1に示した分析方法と同様の効果を得ることができる。すなわち、上記分析方法では、予め準備された添加剤などを含む溶液について、当該溶液を高撥水性基板である第1基板7の表面に滴下して液滴を乾燥させることで溶液中の添加剤などの試料を濃縮する。さらに、スペーサ12を用いることで、第2基板11上に一定の厚さ以下で転写された測定用試料17を形成し、顕微法で分光分析する。スペーサ12を転写時に用いることで、測定用試料17の厚さを試料の種類や含有濃度によらず、分光分析に適切な厚さとすることができる。このため、測定用試料17の厚さが厚すぎて当該測定用試料17を再作製するといった手間の発生を抑制できる。この結果、分析に要する時間および薬液などの必要量を低減できる。
<試料作製装置の全体構成>
図9は、実施の形態3に係る試料作製装置の構成を示す機能ブロック図である。図10は、図9に示した試料作製装置の具体的な構成例を示す模式図である。
図11は、試料作製装置の一部の構成例を説明するための模式図である。図11に示すように、搬送機能部104は、高撥水性基板である第1基板7を滴下機能部101(図10参照)から揮発機能部102(図10参照)を経て転写機能部103(図10参照)に搬送する機能を有する。第1基板7の表面上に配置された乾燥試料15が重力で落下しないように、第1基板7の乾燥試料15を形成する面は水平面上にあり、上面のままで当該第1基板7が搬送されることが望ましい。
図16〜図18は、試料作製装置の動作を説明するための模式図である。図16〜図18を参照しながら、試料作製装置100の動作を説明する。
本開示に係る試料作製装置100は、滴下機能部101と、揮発機能部102と、転写機能部103と、搬送機能部104とを備える。滴下機能部101は、分析対象物と溶媒とを含む液体である溶液3aを第1基板7の表面上に滴下する。揮発機能部102は、第1基板7の表面上に滴下された溶液3aから溶媒を揮発させることにより、溶液3aを乾燥試料15にする。転写機能部103は、第1基板7の表面より低い撥水性を示す表面を有する第2基板11に乾燥試料15の少なくとも一部を転写する。搬送機能部104は、滴下機能部101と揮発機能部102と転写機能部103との第1基板7に対する相対的な位置を変更する。
Claims (6)
- 分析対象物と溶媒とを含む液体を第1基板の表面上に滴下する工程と、
前記第1基板の前記表面上に滴下された前記液体から前記溶媒を揮発させることにより、前記液体を乾燥試料にする工程と、
前記第1基板の前記表面上にスペーサを配置する工程と、
前記乾燥試料と前記スペーサとに接触するように、前記第1基板の前記表面上から、前記第1基板の前記表面より低い撥水性を示す表面を有する第2基板を押圧することにより、前記第2基板に前記乾燥試料の少なくとも一部を転写する工程と、
前記第2基板に転写された前記乾燥試料を分光分析する工程とを備える、分析方法。 - 前記分析対象物は樹脂に含まれる添加剤であり、
前記液体を準備する工程をさらに備え、
前記液体を準備する工程は、前記樹脂を前記溶媒に浸漬することで、前記樹脂から前記溶媒中に前記添加剤を抽出する工程と、
前記添加剤を含む前記溶媒中から前記樹脂を除去する工程とを含む、請求項1に記載の分析方法。 - 前記スペーサを配置する工程は、前記第1基板の前記表面上に、前記スペーサとなるべき固体粒子を含むスペーサ媒体を配置する工程を含む、請求項1または請求項2に記載の分析方法。
- 前記スペーサを配置する工程では、前記第1基板の表面上において前記乾燥試料を挟む2カ所にそれぞれ前記スペーサを配置する、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の分析方法。
- 分析対象物と溶媒とを含む液体を第1基板の表面上に滴下する滴下機能部と、
前記第1基板の前記表面上に滴下された前記液体から前記溶媒を揮発させることにより、前記液体を乾燥試料にする揮発機能部と、
前記第1基板の前記表面より低い撥水性を示す表面を有する第2基板に前記乾燥試料の少なくとも一部を転写する転写機能部と、
前記滴下機能部と前記揮発機能部と前記転写機能部との前記第1基板に対する相対的な位置を変更する搬送機能部と、を備える、試料作製装置。 - 前記転写機能部は、
前記第1基板の前記表面上にスペーサを配置する第1機能部と、
前記乾燥試料と前記スペーサとに接触するように、前記第1基板の前記表面上から、前記第2基板を押圧することにより、前記第2基板に前記乾燥試料の少なくとも一部を転写する第2機能部とを含む、請求項5に記載の試料作製装置。
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