JPH11118780A - 痕跡を分析的に検出する方法及び装置 - Google Patents
痕跡を分析的に検出する方法及び装置Info
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- JPH11118780A JPH11118780A JP22461298A JP22461298A JPH11118780A JP H11118780 A JPH11118780 A JP H11118780A JP 22461298 A JP22461298 A JP 22461298A JP 22461298 A JP22461298 A JP 22461298A JP H11118780 A JPH11118780 A JP H11118780A
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- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/40—Concentrating samples
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- G01N2001/045—Laser ablation; Microwave vaporisation
Abstract
(57)【要約】
【課題】 場所的に分解した痕跡分析を行なう方法及び
装置を提供する。 【解決手段】 検出すべき痕跡を分離するために、試料
表面の一部に光を照射し、その際、光出力密度が、１と
１００ＭＷ／ｃｍ２との間にあり、毛細管によって分離
された有機化合物を受取りかつ転送し、その際、毛細管
直径が、照射された部分の直径の少なくとも３倍の大き
さであり、かつ毛細管を通って流れるガス流を検出装置
（８）の入口に供給し、かつ検出装置（８）において検
出し、かつ試料（１１）が設けられており、この試料の
表面が検査され、毛細管（１）が設けられており、その
際、試料（１１）と毛細管（１）の端部とが、互いに相
対的に調節可能である、装置を設ける。
装置を提供する。 【解決手段】 検出すべき痕跡を分離するために、試料
表面の一部に光を照射し、その際、光出力密度が、１と
１００ＭＷ／ｃｍ２との間にあり、毛細管によって分離
された有機化合物を受取りかつ転送し、その際、毛細管
直径が、照射された部分の直径の少なくとも３倍の大き
さであり、かつ毛細管を通って流れるガス流を検出装置
（８）の入口に供給し、かつ検出装置（８）において検
出し、かつ試料（１１）が設けられており、この試料の
表面が検査され、毛細管（１）が設けられており、その
際、試料（１１）と毛細管（１）の端部とが、互いに相
対的に調節可能である、装置を設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、痕跡を分析的に検
出する方法及び装置に関する。
出する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｍ．Ｊ．コーエン他：ジャーナル・オブ
・クロマトグラフィック・サイエンス、１９７０、８、
３３０−３３７によれば、イオンドリフトスペクトロメ
ータ（ＩＭＳ）は、場合によっては質量スペクトロメー
タに連結して、所定の有機物のための鋭敏な分析方法と
して公知である。同様にバイム，Ｍ．Ａ．；エアテルト
ン，Ｒ．Ｌ．；ヒル，Ｈ．Ｈ．Ｊｒ．：アナル．ヒェ
ミ．，１９８３，５５，１７６１−１７６６によれば、
ガスクロマトグラフ（ＧＣ）に対する検出器としてＩＭ
Ｓ装置を利用することが公知であり、その際、ＧＣ装置
の毛細管が、ＩＭＳ装置に結合されている。
・クロマトグラフィック・サイエンス、１９７０、８、
３３０−３３７によれば、イオンドリフトスペクトロメ
ータ（ＩＭＳ）は、場合によっては質量スペクトロメー
タに連結して、所定の有機物のための鋭敏な分析方法と
して公知である。同様にバイム，Ｍ．Ａ．；エアテルト
ン，Ｒ．Ｌ．；ヒル，Ｈ．Ｈ．Ｊｒ．：アナル．ヒェ
ミ．，１９８３，５５，１７６１−１７６６によれば、
ガスクロマトグラフ（ＧＣ）に対する検出器としてＩＭ
Ｓ装置を利用することが公知であり、その際、ＧＣ装置
の毛細管が、ＩＭＳ装置に結合されている。
【０００３】従来のＩＭＳ装置において、これまで試料
室の容積及び再混合をできるだけ小さく維持することは
注意されなかったので、従来の試料挿入の際、明らかに
それより小さい試料室又はそれどころか毛細管における
よりも著しく多くの物質を挿入しなければならず、かつ
再び次の試料によって開始できるまで、物質が装置から
洗浄されるまで、それよりも長く待たなければならな
い。
室の容積及び再混合をできるだけ小さく維持することは
注意されなかったので、従来の試料挿入の際、明らかに
それより小さい試料室又はそれどころか毛細管における
よりも著しく多くの物質を挿入しなければならず、かつ
再び次の試料によって開始できるまで、物質が装置から
洗浄されるまで、それよりも長く待たなければならな
い。
【０００４】場所的に分解した分析は、どの装置によっ
ても不可能である。
ても不可能である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、場所
的に分解した痕跡分析を行なう方法及び装置を提供する
ことにある。
的に分解した痕跡分析を行なう方法及び装置を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題は、特許請求の
範囲第１及び７項の特徴によって解決される。特許請求
の範囲従属請求項は、本発明の有利な構成を記載してい
る。
範囲第１及び７項の特徴によって解決される。特許請求
の範囲従属請求項は、本発明の有利な構成を記載してい
る。
【０００７】ほぼ１０ｍｌを有するＩＭＳ装置の従来の
試料室は、ほぼ３．５ｍｌの又はほぼ０．５ｍの長さの
石英ガラス毛細管を備えたほぼ０．１ｍｌを有するそれ
より小さいものに置き換えれば、容積を減少することが
でき、このことは、試料の明らかにわずかな希釈及び再
混合に通じる。概念、“再混合”とは、工業化学におい
て流れ方向における反応混合物の個々の容積要素の混合
を表わし、このことは、物理的に拡散にきわめて近い。
分析すべき物質の量は、試料室の縮小によって著しく短
い期間内に、イオン分子反応器に供給されるので、検出
限界は低下するが、一方得られる信号は、著しく狭くか
つ高くなる。したがって、毛細管を含む従来の試料室の
容積を回避すれば、入口システムの容積は、分析すべき
物質の希釈及び再混合も減少する。それにより狭い信号
及び低い検出限界が得られる。その際、場合によっては
生じる送り装置の内側表面における送られる物質の吸着
は、同様に一種の再混合に至り、かつそれ故に最小化す
るようにすることに注意しなければならない。
試料室は、ほぼ３．５ｍｌの又はほぼ０．５ｍの長さの
石英ガラス毛細管を備えたほぼ０．１ｍｌを有するそれ
より小さいものに置き換えれば、容積を減少することが
でき、このことは、試料の明らかにわずかな希釈及び再
混合に通じる。概念、“再混合”とは、工業化学におい
て流れ方向における反応混合物の個々の容積要素の混合
を表わし、このことは、物理的に拡散にきわめて近い。
分析すべき物質の量は、試料室の縮小によって著しく短
い期間内に、イオン分子反応器に供給されるので、検出
限界は低下するが、一方得られる信号は、著しく狭くか
つ高くなる。したがって、毛細管を含む従来の試料室の
容積を回避すれば、入口システムの容積は、分析すべき
物質の希釈及び再混合も減少する。それにより狭い信号
及び低い検出限界が得られる。その際、場合によっては
生じる送り装置の内側表面における送られる物質の吸着
は、同様に一種の再混合に至り、かつそれ故に最小化す
るようにすることに注意しなければならない。
【０００８】実験による検出の際に、毛細管が収容した
物質の量は、これまで大ざっぱにしか評価できなかった
ので、感度の上昇は、正確には判定できない。毛細管を
有する装置は、少なくとも１０ないし１００倍高感度に
なっている。
物質の量は、これまで大ざっぱにしか評価できなかった
ので、感度の上昇は、正確には判定できない。毛細管を
有する装置は、少なくとも１０ないし１００倍高感度に
なっている。
【０００９】その他の利点は、ＩＭＳ装置がさらに小型
化できることにある。毛細管は、危険な物質に関して室
内空気を監視するきわめて敏感な“鼻”をもなしてい
る。多点測定の際に、毛細管の使用によって質問速度を
高めることが可能である。
化できることにある。毛細管は、危険な物質に関して室
内空気を監視するきわめて敏感な“鼻”をもなしてい
る。多点測定の際に、毛細管の使用によって質問速度を
高めることが可能である。
【００１０】
【実施例】次に本発明を図面を参照して実施例によって
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【００１１】図１は、左上に送り容積によって広げられ
た送り導管、及びそれに並べて簡単な送り導管を示して
いる。その下に相応する時間に関する検出器信号が図示
されている。
た送り導管、及びそれに並べて簡単な送り導管を示して
いる。その下に相応する時間に関する検出器信号が図示
されている。
【００１２】急速なかつほぼ完全な再混合が可能な大き
な送り容積３を利用した場合、所定の時点に持込まれる
ガス試料２は希釈される。このことは、検出器信号が、
小さな振幅で始まり、かつゆっくりと低下することを引
起こす。右上の送り導管において、検出器信号は、不動
作時間の後に、鋭く高いピークを示している。それによ
りはっきりと低い検出限界が達成される。
な送り容積３を利用した場合、所定の時点に持込まれる
ガス試料２は希釈される。このことは、検出器信号が、
小さな振幅で始まり、かつゆっくりと低下することを引
起こす。右上の送り導管において、検出器信号は、不動
作時間の後に、鋭く高いピークを示している。それによ
りはっきりと低い検出限界が達成される。
【００１３】図２の例において、光源４としてレーザが
利用される。レーザビーム９は、転向ミラー５を介して
顕微鏡６に入力結合され、かつ試料１１（ここには図示
されていない）上に集束される。試料１１は、脱着室７
内にある。脱着されたガス試料２は、毛細管１を介して
検出装置８内に到達する。
利用される。レーザビーム９は、転向ミラー５を介して
顕微鏡６に入力結合され、かつ試料１１（ここには図示
されていない）上に集束される。試料１１は、脱着室７
内にある。脱着されたガス試料２は、毛細管１を介して
検出装置８内に到達する。
【００１４】イオンドリフトスペクトロメータによる有
機物の場所的に分解した分析のために、検査すべき試料
を実験室の空気から遮断したレーザ脱着室によって作業
することは、役に立つ。なぜならさもなければ測定結果
が、実験室の空気の汚れによって著しく害されることが
あるからである。そのために図３における脱着室７が使
われる。有機物による不活性ガス雰囲気のあらゆる汚染
を避けるために、レーザ脱着室の構造は、例えばシリコ
ーン又はゴムのような有機潤滑剤又はパッキン材料を完
全に省略する。それにもかかわらず試料は、任意の不活
性ガス雰囲気においてレーザ脱着室によって、ほぼ５０
μｍ2の面積において有機化合物がレーザビームによっ
て室温で脱着することができるように、顕微鏡の対物レ
ンズの下に位置決めすることができる。加えてその際に
遊離した有機物分子は、毛細管１によってレーザ脱着室
７から取出すことができ、かつ例えばＩＭＳ装置のよう
な分析装置に送ることができる。
機物の場所的に分解した分析のために、検査すべき試料
を実験室の空気から遮断したレーザ脱着室によって作業
することは、役に立つ。なぜならさもなければ測定結果
が、実験室の空気の汚れによって著しく害されることが
あるからである。そのために図３における脱着室７が使
われる。有機物による不活性ガス雰囲気のあらゆる汚染
を避けるために、レーザ脱着室の構造は、例えばシリコ
ーン又はゴムのような有機潤滑剤又はパッキン材料を完
全に省略する。それにもかかわらず試料は、任意の不活
性ガス雰囲気においてレーザ脱着室によって、ほぼ５０
μｍ2の面積において有機化合物がレーザビームによっ
て室温で脱着することができるように、顕微鏡の対物レ
ンズの下に位置決めすることができる。加えてその際に
遊離した有機物分子は、毛細管１によってレーザ脱着室
７から取出すことができ、かつ例えばＩＭＳ装置のよう
な分析装置に送ることができる。
【００１５】顕微鏡６の下からレーザビーム９が出て、
窓１２を通り、かつ試料１１に当たる。毛細管１は、左
から毛細管貫通部１０を通って脱着位置のすぐ近くに案
内される。毛細管貫通部１０は、絶縁材料からなる中心
に通口を有する球からなり、この球は、形状結合して毛
細管１上にある。脱着室７内における球のパッキンは、
運動を制限することなく、球研磨面及び金属リング又は
テフロンリングによって密閉される。毛細管１は、ガラ
ス又は石英からなる。その際、脱着された試料を吸収す
る毛細管１の能力は、脱着位置に対するその距離に決定
的に依存する。それ故に毛細管１は、レーザビーム９を
さえぎることなく、脱着位置にできるだけ近く押付ける
ようにする。その際、毛細管直径は、試料上におけるレ
ーザスポットの直径よりも大きいようにする。７対１の
大きさの比が望ましいとわかった。大きさ比があまりに
大きい場合（１５よりも大きい）、検出感度が低下す
る。極性を有する物質を検出しようとする場合、毛細管
内におけるその吸着は、加熱によりかつ例えばシランに
よる特殊不活性化によって減少することができる。毛細
管の加熱は、ガラス毛細管を金属毛細管によって囲むこ
とによって、又は金属毛細管の内部を石英によってコー
ティングすることによって可能になる。両方の場合に、
金属層は、その抵抗を介して加熱される。流れの案内
は、ここには図示されていない。
窓１２を通り、かつ試料１１に当たる。毛細管１は、左
から毛細管貫通部１０を通って脱着位置のすぐ近くに案
内される。毛細管貫通部１０は、絶縁材料からなる中心
に通口を有する球からなり、この球は、形状結合して毛
細管１上にある。脱着室７内における球のパッキンは、
運動を制限することなく、球研磨面及び金属リング又は
テフロンリングによって密閉される。毛細管１は、ガラ
ス又は石英からなる。その際、脱着された試料を吸収す
る毛細管１の能力は、脱着位置に対するその距離に決定
的に依存する。それ故に毛細管１は、レーザビーム９を
さえぎることなく、脱着位置にできるだけ近く押付ける
ようにする。その際、毛細管直径は、試料上におけるレ
ーザスポットの直径よりも大きいようにする。７対１の
大きさの比が望ましいとわかった。大きさ比があまりに
大きい場合（１５よりも大きい）、検出感度が低下す
る。極性を有する物質を検出しようとする場合、毛細管
内におけるその吸着は、加熱によりかつ例えばシランに
よる特殊不活性化によって減少することができる。毛細
管の加熱は、ガラス毛細管を金属毛細管によって囲むこ
とによって、又は金属毛細管の内部を石英によってコー
ティングすることによって可能になる。両方の場合に、
金属層は、その抵抗を介して加熱される。流れの案内
は、ここには図示されていない。
【００１６】レーザ脱着室７は、顕微鏡台内に挿入さ
れ、この顕微鏡台は、ｘ−、ｙ−及びｚ−軸線において
調節可能である。ｘ−及びｙ−方向における顕微鏡台の
運動は、黄銅製の試料摺動台１４に伝達され、この試料
摺動台の中心に、下方へ取出し可能な試料保持体（ここ
には図示されていない）がある。したがって試料保持体
上の試料は、脱着室（Ａｌからなる）の上側部分及び顕
微鏡の対物レンズに対して、μｍまでの精度で位置決め
することができる。そのためにＡｌｕ−フードは、２つ
の保持ピン、１つの保持板及び２つの脚を介して台にね
じ止めされ、この台上に顕微鏡も取付けられている。そ
れによりレーザ脱着室は、焦点を調節するために、対物
レンズに対して相対的にｚ−方向にだけ可動である。脱
着室７の内部空間を実験室の空気に対して密閉するため
に、可動の試料摺動台１４は、２つのリング状の板によ
って、Ｖ２Ａからなるリング状の摺動台ガイド１５に押
付けられる。試料摺動台１４の下側のリング状の板は、
取り外し可能であり、かつラップ仕上された板の遊びが
１０ないし２０μｍであるように取付けられている。潤
滑剤は、測定結果を強力に害することがあるので、すべ
てのすき間ばめは、潤滑剤なしで十分な摺動特性を有す
るように構成しなければならない。Ｖ２Ａ製の取出し可
能な試料保持体と黄銅摺動台との間のすき間ばめも、潤
滑剤なしで完全に十分である。種々の厚さの試料を検査
できるようにするために、試料保持体は、高さ調節可能
である。
れ、この顕微鏡台は、ｘ−、ｙ−及びｚ−軸線において
調節可能である。ｘ−及びｙ−方向における顕微鏡台の
運動は、黄銅製の試料摺動台１４に伝達され、この試料
摺動台の中心に、下方へ取出し可能な試料保持体（ここ
には図示されていない）がある。したがって試料保持体
上の試料は、脱着室（Ａｌからなる）の上側部分及び顕
微鏡の対物レンズに対して、μｍまでの精度で位置決め
することができる。そのためにＡｌｕ−フードは、２つ
の保持ピン、１つの保持板及び２つの脚を介して台にね
じ止めされ、この台上に顕微鏡も取付けられている。そ
れによりレーザ脱着室は、焦点を調節するために、対物
レンズに対して相対的にｚ−方向にだけ可動である。脱
着室７の内部空間を実験室の空気に対して密閉するため
に、可動の試料摺動台１４は、２つのリング状の板によ
って、Ｖ２Ａからなるリング状の摺動台ガイド１５に押
付けられる。試料摺動台１４の下側のリング状の板は、
取り外し可能であり、かつラップ仕上された板の遊びが
１０ないし２０μｍであるように取付けられている。潤
滑剤は、測定結果を強力に害することがあるので、すべ
てのすき間ばめは、潤滑剤なしで十分な摺動特性を有す
るように構成しなければならない。Ｖ２Ａ製の取出し可
能な試料保持体と黄銅摺動台との間のすき間ばめも、潤
滑剤なしで完全に十分である。種々の厚さの試料を検査
できるようにするために、試料保持体は、高さ調節可能
である。
【００１７】顕微鏡内に入力結合されるレーザビーム
は、ガラス板を通ってレーザ脱着室内に入り、ここにお
いてこのレーザビームは、試料保持体上にある試料に当
たる。１−３ＭＷ／ｃｍ2のレーザ出力密度の際、場合
によっては存在する有機物は、レーザビームのエネルギ
ーによってほとんど破壊されずに。試料表面から脱着す
る。窓１２は、ゴム、シリコン等からなるパッキンを用
いずに、おねじを有する黄銅保持部だけを介して上側部
分にねじ込まれている。それによりガス密の室は得られ
ないが、ガス入口及び４００ｍｌ／ｍｉｎのガス流を介
してほぼ４ｍｂａｒの過圧をレーザ脱着室内に発生する
ことができ、この過圧は、実験室空気の侵入をかなりの
程度まで阻止する。したがって室の内部を任意のガスに
よって掃気することによって、実験室空気に関係なくレ
ーザ脱着を行なうことができる。その上さらにレーザ脱
着される物質をほぼ４ｍｌ／ｍｉｎの容積流を有する内
部空間におけるガスと混合して、加熱される導管を介し
てＩＭＳ装置に送るために、内部圧力は十分である。そ
の際、毛細管を通るできるだけ多くの容積流が有利であ
る。それによりガス試料２が毛細管と相互作用する時間
は短縮される。加えて毛細管を通って運搬するために物
質が必要とする不動作時間は減少し、かつ次の位置の照
射を、したがって脱着を一層早く開始することができ
る。
は、ガラス板を通ってレーザ脱着室内に入り、ここにお
いてこのレーザビームは、試料保持体上にある試料に当
たる。１−３ＭＷ／ｃｍ2のレーザ出力密度の際、場合
によっては存在する有機物は、レーザビームのエネルギ
ーによってほとんど破壊されずに。試料表面から脱着す
る。窓１２は、ゴム、シリコン等からなるパッキンを用
いずに、おねじを有する黄銅保持部だけを介して上側部
分にねじ込まれている。それによりガス密の室は得られ
ないが、ガス入口及び４００ｍｌ／ｍｉｎのガス流を介
してほぼ４ｍｂａｒの過圧をレーザ脱着室内に発生する
ことができ、この過圧は、実験室空気の侵入をかなりの
程度まで阻止する。したがって室の内部を任意のガスに
よって掃気することによって、実験室空気に関係なくレ
ーザ脱着を行なうことができる。その上さらにレーザ脱
着される物質をほぼ４ｍｌ／ｍｉｎの容積流を有する内
部空間におけるガスと混合して、加熱される導管を介し
てＩＭＳ装置に送るために、内部圧力は十分である。そ
の際、毛細管を通るできるだけ多くの容積流が有利であ
る。それによりガス試料２が毛細管と相互作用する時間
は短縮される。加えて毛細管を通って運搬するために物
質が必要とする不動作時間は減少し、かつ次の位置の照
射を、したがって脱着を一層早く開始することができ
る。
【００１８】次の利点が提供される：ほぼ５０μｍ2の
場所分解能を有するＩＭＳスペクトルは、レーザ脱着室
のない場合よりも強い表現力を有する。
場所分解能を有するＩＭＳスペクトルは、レーザ脱着室
のない場合よりも強い表現力を有する。
【００１９】レーザ脱着室の潤滑剤による測定の妨害は
ない。
ない。
【００２０】例えばゴム又はシリコンのようなパッキン
材料からのガス流出による測定の妨害はない。
材料からのガス流出による測定の妨害はない。
【００２１】脱着位置の近くにおける実験室空気による
測定の妨害はない。
測定の妨害はない。
【００２２】レーザ脱着室とＩＭＳ装置との間の圧力勾
配によって、脱着した物質がＩＭＳ装置内に圧入するこ
とができ、このことは、ＩＭＳ装置の密閉しないドリフ
トセルのために、ＩＭＳ装置のガス出口における表現よ
りもＩＭＳスペクトルにおけるわずかな不純物に通じ
る。
配によって、脱着した物質がＩＭＳ装置内に圧入するこ
とができ、このことは、ＩＭＳ装置の密閉しないドリフ
トセルのために、ＩＭＳ装置のガス出口における表現よ
りもＩＭＳスペクトルにおけるわずかな不純物に通じ
る。
【００２３】レーザ脱着室とＩＭＳ装置との間の圧力勾
配によって、このことが利点を有する場合、脱着した物
質がそれぞれの測定装置に圧入することができる。任意
のガス、例えば窒素又はヘリウムのような不活性ガス内
におけるレーザ脱着が可能である。
配によって、このことが利点を有する場合、脱着した物
質がそれぞれの測定装置に圧入することができる。任意
のガス、例えば窒素又はヘリウムのような不活性ガス内
におけるレーザ脱着が可能である。
【００２４】内部圧力、及び加熱された導管によってＩ
ＭＳ装置に送られる容積は、流通量を介して調節するこ
とができる。
ＭＳ装置に送られる容積は、流通量を介して調節するこ
とができる。
【００２５】対物レンズと試料保持体との間の最小間隔
は、６．８ｍｍであり、このことは、きわめて大きな作
業距離及び１０００倍の倍率を有する対物レンズに対し
て十分である。
は、６．８ｍｍであり、このことは、きわめて大きな作
業距離及び１０００倍の倍率を有する対物レンズに対し
て十分である。
【００２６】高い検出感度のために必然的に必要な室温
におけるレーザ脱着と高められた温度における脱着され
た分子の送りとによる場所分解能の組合せは、レーザ脱
着室によって可能になる。
におけるレーザ脱着と高められた温度における脱着され
た分子の送りとによる場所分解能の組合せは、レーザ脱
着室によって可能になる。
【００２７】レーザによって試料表面の物質を場所的に
分解して脱着しかつ分析装置に移す１つのユニットに検
出器としてイオンドリフトスペクトロメータ（ＩＭ
Ｓ）、又は接続された質量スペクトログラフを有するイ
オンドリフトスペクトロメータ（ＩＭＳ／ＭＳ）を連結
することは、有利である。
分解して脱着しかつ分析装置に移す１つのユニットに検
出器としてイオンドリフトスペクトロメータ（ＩＭ
Ｓ）、又は接続された質量スペクトログラフを有するイ
オンドリフトスペクトロメータ（ＩＭＳ／ＭＳ）を連結
することは、有利である。
【００２８】場所的に分解されたレーザ脱着を用いない
場合、次のような欠点が生じる：所定の片の選択によっ
て達成される場所分解能は、平方ミリメートルないし平
方センチメートルの範囲にあり、かつそれによりかなり
粗悪なものである。さらにこの方法では、合成物質、樹
脂、接着剤等からのガス流出が、その多くの量に基付い
てもはや不純物の信号を検出することができないところ
まで、不純物の信号を重畳するので、例えば合成物質の
ような有機物マトリクスにおける不純物を検出すること
は不可能である。
場合、次のような欠点が生じる：所定の片の選択によっ
て達成される場所分解能は、平方ミリメートルないし平
方センチメートルの範囲にあり、かつそれによりかなり
粗悪なものである。さらにこの方法では、合成物質、樹
脂、接着剤等からのガス流出が、その多くの量に基付い
てもはや不純物の信号を検出することができないところ
まで、不純物の信号を重畳するので、例えば合成物質の
ような有機物マトリクスにおける不純物を検出すること
は不可能である。
【００２９】本発明の対象において、レーザビームは、
分析すべき表面に作用し、このレーザビームは、ほぼ５
０μｍ2の面積におけるすべての有機化合物を脱着す
る。このようにして遊離した分子は、送り媒体によって
吸収され、所定の有機物のための高感度検出器としての
ＩＭＳ装置に送られ、かつここにおいて検出される。表
面の種々の部分における組成を検出し、かつこのように
して相違の発生に関する表現を行なうことが可能であ
る。それにより例えば電子構成部分（ウエハ上におけ
る）の故障を説明することができる。それにより方法プ
ロセスは、最適化することができる。
分析すべき表面に作用し、このレーザビームは、ほぼ５
０μｍ2の面積におけるすべての有機化合物を脱着す
る。このようにして遊離した分子は、送り媒体によって
吸収され、所定の有機物のための高感度検出器としての
ＩＭＳ装置に送られ、かつここにおいて検出される。表
面の種々の部分における組成を検出し、かつこのように
して相違の発生に関する表現を行なうことが可能であ
る。それにより例えば電子構成部分（ウエハ上におけ
る）の故障を説明することができる。それにより方法プ
ロセスは、最適化することができる。
【００３０】装置全体の動作能力を検出するために、λ
＝４８８ｎｍにおけるアルゴンイオンレーザ及び２−３
ＭＷ／ｃｍ2のレーザ出力密度によって、ｐ−メトキシ
ベンゾエ酸が脱着された。その際に蒸発した中性の分子
は、送りユニットによって、この場合加熱された毛細管
によって吸収され、かつＩＭＳ装置に移され、ここにお
いて到来した分子の検出が行なわれた。レーザ脱着の間
及びなおその後数分間の間に、ＩＭＳ装置に到来する分
子の信号強度の時間経過を検出するために、すべて７秒
間継続的にＩＭＳスペクトルが記録された。ＩＭＳ／Ｍ
Ｓ装置によるｐ−メトキシベンゾエ酸の測定によって、
Ｋ0 １．７６ｃｍ2／（Ｖ*ｓ）を有するレーザ脱着の
際に観察された信号は、ｐ−メトキシ安息香酸のプロト
ン化された分子イオン（ＭＨ+）のＩＭＳ信号にはっき
りと帰することができ、このことは、この物質がレーザ
脱着の際に破壊されないことを検出している。
＝４８８ｎｍにおけるアルゴンイオンレーザ及び２−３
ＭＷ／ｃｍ2のレーザ出力密度によって、ｐ−メトキシ
ベンゾエ酸が脱着された。その際に蒸発した中性の分子
は、送りユニットによって、この場合加熱された毛細管
によって吸収され、かつＩＭＳ装置に移され、ここにお
いて到来した分子の検出が行なわれた。レーザ脱着の間
及びなおその後数分間の間に、ＩＭＳ装置に到来する分
子の信号強度の時間経過を検出するために、すべて７秒
間継続的にＩＭＳスペクトルが記録された。ＩＭＳ／Ｍ
Ｓ装置によるｐ−メトキシベンゾエ酸の測定によって、
Ｋ0 １．７６ｃｍ2／（Ｖ*ｓ）を有するレーザ脱着の
際に観察された信号は、ｐ−メトキシ安息香酸のプロト
ン化された分子イオン（ＭＨ+）のＩＭＳ信号にはっき
りと帰することができ、このことは、この物質がレーザ
脱着の際に破壊されないことを検出している。
【００３１】μｍ2範囲におけるまでの場所分解能が達
成される。
成される。
【００３２】物質は、抽出剤として溶媒を使用すること
なく、直接試料表面から脱着することができ、かつ分析
装置に移すことができる。
なく、直接試料表面から脱着することができ、かつ分析
装置に移すことができる。
【００３３】固体の試料は、手間のかかる準備を行なう
ことなく直接測定することができ、このことは、単位時
間あたり著しく多くの試料歩留りに、したがってコスト
の節約に通じる。
ことなく直接測定することができ、このことは、単位時
間あたり著しく多くの試料歩留りに、したがってコスト
の節約に通じる。
【００３４】本方法は、例えばウエハ又は金属のような
ほとんどの支持体材料に対して破壊を起こさない。
ほとんどの支持体材料に対して破壊を起こさない。
【００３５】分析すべき物質が存在するマトリクスは、
目立った位置だけにレーザを照射するが、一方その回り
にあるマトリクスが冷たいままであることによって、か
なりの程度までマスクすることができる。
目立った位置だけにレーザを照射するが、一方その回り
にあるマトリクスが冷たいままであることによって、か
なりの程度までマスクすることができる。
【００３６】固体、液体又はガス状の試料をガスクロマ
トグラフの分離カラム内に移す種々の可能性が、すでに
知られている。その際、選ばれた位置だけをかき落と
し、これを溶媒によって抽出し、かつカラム内に注入
し、又は試料表面における所定の位置を直接溶媒によっ
て抽出し、かつ続いて抽出溶液をガスクロマトグラフ内
に噴射することによって、すでに表面の検査において、
一種の場所分解能が達成できる。かき落とし又は抽出に
よって達成される場所分解能は、平方ミリメートルない
し平方センチメートルの範囲にあり、かつそれによりか
なり粗悪なものである。さらにこの方法は、どのくらい
良好に個々の物質が利用された溶媒によって抽出するこ
とができるかに依存している。
トグラフの分離カラム内に移す種々の可能性が、すでに
知られている。その際、選ばれた位置だけをかき落と
し、これを溶媒によって抽出し、かつカラム内に注入
し、又は試料表面における所定の位置を直接溶媒によっ
て抽出し、かつ続いて抽出溶液をガスクロマトグラフ内
に噴射することによって、すでに表面の検査において、
一種の場所分解能が達成できる。かき落とし又は抽出に
よって達成される場所分解能は、平方ミリメートルない
し平方センチメートルの範囲にあり、かつそれによりか
なり粗悪なものである。さらにこの方法は、どのくらい
良好に個々の物質が利用された溶媒によって抽出するこ
とができるかに依存している。
【００３７】場所的に分解されるレーザ脱着とＧＣとの
本発明による連結の際に、分析すべき表面にレーザビー
ムが作用し、このレーザビームは、ほぼ１０−１００μ
ｍ2の面積におけるすべての有機化合物を脱着する。こ
のようにして遊離した分子は、すぐ近くに配置されかつ
加熱される毛細管によって吸収され、かつ分析装置に送
られる。
本発明による連結の際に、分析すべき表面にレーザビー
ムが作用し、このレーザビームは、ほぼ１０−１００μ
ｍ2の面積におけるすべての有機化合物を脱着する。こ
のようにして遊離した分子は、すぐ近くに配置されかつ
加熱される毛細管によって吸収され、かつ分析装置に送
られる。
【００３８】次のような利点が得られる：μｍ2範囲に
おけるまでの場所分解能が達成される。
おけるまでの場所分解能が達成される。
【００３９】物質は、抽出剤として溶媒を使用すること
なく、直接試料表面から脱着することができ、かつ分析
装置に移すことができる。
なく、直接試料表面から脱着することができ、かつ分析
装置に移すことができる。
【００４０】レーザ脱着は、抽出よりも迅速であり、こ
のことは、単位時間あたり一層多くの試料歩留りに、し
たがってコストの節約に通じる。
のことは、単位時間あたり一層多くの試料歩留りに、し
たがってコストの節約に通じる。
【００４１】分析すべき物質が存在するマトリクスは、
目立った位置だけにレーザを照射するが、一方その回り
にあるマトリクスが冷たいままであることによって、か
なりの程度までマスクすることができる。
目立った位置だけにレーザを照射するが、一方その回り
にあるマトリクスが冷たいままであることによって、か
なりの程度までマスクすることができる。
【００４２】レーザ脱着は、有機物分子の分裂をほとん
ど引起こさないので、物質の識別のために既存のライブ
ラリーが引続き利用できる。
ど引起こさないので、物質の識別のために既存のライブ
ラリーが引続き利用できる。
【００４３】ガスクロマトグラフ（ＧＣ）の技術は、イ
オンドリフトスペクトロメータよりも著しく高い展開レ
ベル及び広い広がりを有するので、商用の使用のために
ガスクロマトグラフは、一層良好に適している。
オンドリフトスペクトロメータよりも著しく高い展開レ
ベル及び広い広がりを有するので、商用の使用のために
ガスクロマトグラフは、一層良好に適している。
【００４４】もっとも新しい開発は、クロマトグラフ
（ＧＣ）がイオンドリフトスペクトロメータ（ＩＭＳ）
よりも低い検出限界を有し、したがってできるだけ高感
度の検出器として使用するために一層良好に適している
ことを示している。
（ＧＣ）がイオンドリフトスペクトロメータ（ＩＭＳ）
よりも低い検出限界を有し、したがってできるだけ高感
度の検出器として使用するために一層良好に適している
ことを示している。
【図１】検出器信号の時間経過における送り容積の影響
を示す図である。
を示す図である。
【図２】痕跡分析を行なう装置全体の概略構成を示す図
である。
である。
【図３】レーザ脱着モジュールを示す図である。
１ 毛細管、 ２ ガス試料、 ４ 光源、 ５ ミラ
ー、 ６ 顕微鏡、７ 脱着室、 ８ 検出装置、 ９
光ビーム、 １０ 毛細管貫通部、 １１試料、 １
２ ガラス窓、 １３ ガス入口、 １４ 試料摺動
台、 １５摺動台ガイド
ー、 ６ 顕微鏡、７ 脱着室、 ８ 検出装置、 ９
光ビーム、 １０ 毛細管貫通部、 １１試料、 １
２ ガラス窓、 １３ ガス入口、 １４ 試料摺動
台、 １５摺動台ガイド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アントニウス ケットループ ドイツ連邦共和国 アーンスベルク ルム ベーカー ヘーエ 10
Claims (11)
- 【請求項１】 ａ）検出すべき痕跡を分離するために、
試料表面の一部に光を照射し、その際、光出力密度が１
〜１００ＭＷ／ｃｍ2であり、 ｂ）毛細管によって分離された有機化合物を受取りかつ
転送し、その際、毛細管直径が、照射された部分の直径
の少なくとも３倍の大きさであり、かつ ｃ）毛細管を通って流れるガス流を検出装置（８）の入
口に供給し、かつ検出装置（８）において検出する手順
ステップを特徴とする、痕跡を分析的に検出する方法。 - 【請求項２】 毛細管として、加熱可能な毛細管を使用
する、請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 毛細管の内部が不活性化されている、請
求項１又は２記載の方法。 - 【請求項４】 検出装置（８）として、イオンドリフト
スペクトロメータを使用する、請求項１から３までのい
ずれか１項記載の方法。 - 【請求項５】 検出装置（８）として、ガスクロマトグ
ラフを使用する、請求項１から３までのいずれか１項記
載の方法。 - 【請求項６】 検出装置（８）として、質量スペクトロ
メータを使用する、請求項１から３までのいずれか１項
記載の方法。 - 【請求項７】 ａ）試料（１１）が設けられており、こ
の試料の表面が検査され、 ｂ）毛細管（１）が設けられており、その際、試料（１
１）と毛細管（１）の端部とが、互いに相対的に調節可
能であり、 ｃ）試料（１１）に照射する光源（４）が設けられてお
り、その際、光源（４）の光ビーム（９）が、試料（１
１）に対しかつ毛細管（１）に対して相対的に調節可能
であり、かつその際、毛細管（１）の直径が、試料（１
１）に照射される光スポットの直径の少なくとも３倍の
大きさであり、かつ ｄ）検出装置（８）が設けられていることを特徴とす
る、痕跡を分析的に検出する装置。 - 【請求項８】 加熱可能な毛細管（８）が設けられてい
る、請求項７記載の装置。 - 【請求項９】 毛細管（１）の内側表面が、不活性化さ
れたガラス又は石英である、請求項７又は８記載の装
置。 - 【請求項１０】 脱着室（７）が設けられており、この
脱着室が、 ａ）毛細管貫通部（１０）、窓（１２）及びガス入口
（１３）を備えた上側部分、及び ｂ）上側部分に対して可動の下側部分からなる、請求項
７から９までのいずれか１項記載の装置。 - 【請求項１１】 下側部分が、試料摺動台（１４）であ
り、この試料摺動台が、上側部分における摺動台ガイド
（１５）に対して二次元に可動である、請求項１０記載
の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19734460A DE19734460A1 (de) | 1997-08-11 | 1997-08-11 | Verfahren und Vorrichtung zum analytischen Nachweis von Spuren |
| DE19734460.7 | 1997-08-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11118780A true JPH11118780A (ja) | 1999-04-30 |
Family
ID=7838449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22461298A Pending JPH11118780A (ja) | 1997-08-11 | 1998-08-07 | 痕跡を分析的に検出する方法及び装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6084237A (ja) |
| EP (1) | EP0897108B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11118780A (ja) |
| AT (1) | ATE302406T1 (ja) |
| DE (2) | DE19734460A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7473401B1 (en) * | 1997-12-04 | 2009-01-06 | Mds Analytical Technologies (Us) Inc. | Fluidic extraction of microdissected samples |
| DE19913451C2 (de) * | 1999-03-25 | 2001-11-22 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Gaseinlaß zur Erzeugung eines gerichteten und gekühlten Gasstrahls |
| US6495825B1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-12-17 | International Business Machines Corporation | Apparatus for photo exposure of materials with subsequent capturing of volatiles for analysis |
| EP1279020B1 (en) * | 2000-04-26 | 2016-03-16 | Life Technologies Corporation | Laser capture microdissection (lcm) extraction device and device carrier and method for post-lcm fluid processing |
| DE102015107342B4 (de) * | 2015-05-11 | 2017-01-19 | Airbus Defence and Space GmbH | Oberflächenuntersuchung von Bauteilen |
| DE102015107341B3 (de) * | 2015-05-11 | 2016-09-22 | Airbus Defence and Space GmbH | Vorrichtung und Verfahren zum Untersuchen von Schichtmaterial auf Verunreinigung |
| GB2571565B (en) * | 2018-03-01 | 2021-05-26 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Inert non-adsorbing crimpable capillaries and devices for adjusting gas flow in isotope ratio analysis |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4970905A (en) * | 1989-05-25 | 1990-11-20 | University Of Utah | Apparatus and method for sampling |
| US4977320A (en) * | 1990-01-22 | 1990-12-11 | The Rockefeller University | Electrospray ionization mass spectrometer with new features |
| US5210412A (en) * | 1991-01-31 | 1993-05-11 | Wayne State University | Method for analyzing an organic sample |
| DE4108462C2 (de) * | 1991-03-13 | 1994-10-13 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von Ionen aus thermisch instabilen, nichtflüchtigen großen Molekülen |
| CA2101237C (en) * | 1992-09-11 | 1999-04-13 | Stephen Ward Downey | Apparatus comprising means for mass spectrometry |
| DE19608963C2 (de) * | 1995-03-28 | 2001-03-22 | Bruker Daltonik Gmbh | Verfahren zur Ionisierung schwerer Moleküle bei Atmosphärendruck |
| GB2300257B (en) * | 1995-04-28 | 1999-08-25 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Method and device for determination of the albedo of particles |
| US5742050A (en) * | 1996-09-30 | 1998-04-21 | Aviv Amirav | Method and apparatus for sample introduction into a mass spectrometer for improving a sample analysis |
-
1997
- 1997-08-11 DE DE19734460A patent/DE19734460A1/de not_active Ceased
-
1998
- 1998-06-26 DE DE59813004T patent/DE59813004D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-26 EP EP98111821A patent/EP0897108B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-26 AT AT98111821T patent/ATE302406T1/de not_active IP Right Cessation
- 1998-08-07 JP JP22461298A patent/JPH11118780A/ja active Pending
- 1998-08-10 US US09/131,465 patent/US6084237A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59813004D1 (de) | 2005-09-22 |
| EP0897108A1 (de) | 1999-02-17 |
| US6084237A (en) | 2000-07-04 |
| ATE302406T1 (de) | 2005-09-15 |
| DE19734460A1 (de) | 1999-02-18 |
| EP0897108B1 (de) | 2005-08-17 |
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