JPWO2020152805A1 - レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法 - Google Patents

レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2020152805A1
JPWO2020152805A1 JP2020567299A JP2020567299A JPWO2020152805A1 JP WO2020152805 A1 JPWO2020152805 A1 JP WO2020152805A1 JP 2020567299 A JP2020567299 A JP 2020567299A JP 2020567299 A JP2020567299 A JP 2020567299A JP WO2020152805 A1 JPWO2020152805 A1 JP WO2020152805A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
laser system
phase plate
random phase
amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020567299A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7166362B2 (ja
Inventor
裕基 田丸
泰祐 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gigaphoton Inc
Original Assignee
Gigaphoton Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gigaphoton Inc filed Critical Gigaphoton Inc
Publication of JPWO2020152805A1 publication Critical patent/JPWO2020152805A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7166362B2 publication Critical patent/JP7166362B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/23Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
    • H01S3/2375Hybrid lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/03Constructional details of gas laser discharge tubes
    • H01S3/038Electrodes, e.g. special shape, configuration or composition
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/005Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/025Constructional details of solid state lasers, e.g. housings or mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S2301/00Functional characteristics
    • H01S2301/20Lasers with a special output beam profile or cross-section, e.g. non-Gaussian
    • H01S2301/206Top hat profile
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/23Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
    • H01S3/2308Amplifier arrangements, e.g. MOPA
    • H01S3/2325Multi-pass amplifiers, e.g. regenerative amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/23Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
    • H01S3/2366Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media comprising a gas as the active medium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04256Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

本開示の一観点に係るレーザシステムは、固体レーザ装置とエキシマ増幅器の間の光路上にランダム位相板が配置される。ランダム位相板は、凹凸パターンの最小単位領域である所定形状のセルが周期的に配列され、セルの単位で凹部又は凸部の領域がランダムに配置されている。エキシマ増幅器に入射するレーザ光のビーム進行方向をZ方向、放電方向をV方向、V方向及びZ方向に直交する方向をH方向、V方向に対応するランダム位相板の面内方向を第1方向、H方向に対応するランダム位相板の面内方向を第2方向として、セルの第1方向の長さをd1、セルの第2方向の長さをd2とする場合に、セルは、d2/d1で定義されるアスペクト比が1.2以上である。

Description

本開示は、レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法に関する。
半導体集積回路の微細化、高集積化につれて、半導体露光装置においては解像力の向上が要請されている。半導体露光装置を以下、単に「露光装置」という。このため露光用光源から出力される光の短波長化が進められている。露光用光源には、従来の水銀ランプに代わってガスレーザ装置が用いられている。現在、露光用のガスレーザ装置としては、波長248nmの紫外線を出力するKrFエキシマレーザ装置ならびに、波長193nmの紫外線を出力するArFエキシマレーザ装置が用いられている。
現在の露光技術としては、露光装置側の投影レンズとウエハ間の間隙を液体で満たして、当該間隙の屈折率を変えることによって、露光用光源の見かけの波長を短波長化する液浸露光が実用化されている。ArFエキシマレーザ装置を露光用光源として用いて液浸露光が行われた場合は、ウエハには等価における波長134nmの紫外光が照射される。この技術をArF液浸露光という。ArF液浸露光はArF液浸リソグラフィとも呼ばれる。
KrF、ArFエキシマレーザ装置の自然発振におけるスペクトル線幅は約350〜400pmと広いため、露光装置側の投影レンズによってウエハ上に縮小投影されるレーザ光(紫外線光)の色収差が発生して解像力が低下する。そこで色収差が無視できる程度となるまでガスレーザ装置から出力されるレーザ光のスペクトル線幅を狭帯域化する必要がある。スペクトル線幅はスペクトル幅とも呼ばれる。このためガスレーザ装置のレーザ共振器内には狭帯域化素子を有する狭帯域化部(Line Narrow Module)が設けられ、この狭帯域化部によりスペクトル幅の狭帯域化が実現されている。なお、狭帯域化素子はエタロンやグレーティング等であってもよい。このようにスペクトル幅が狭帯域化されたレーザ装置を狭帯域化レーザ装置という。
特開2011−192849号公報 特開2013−141029号公報 特開昭61−243403号公報 特開2008−140980号公報
概要
本開示の1つの観点に係るレーザシステムは、レーザ光を出力する固体レーザ装置と、レーザ光を通過させる放電空間を挟んで対向して配置される一対の放電電極を含み、レーザ光を増幅するエキシマ増幅器と、固体レーザ装置とエキシマ増幅器の間の光路上に配置されたランダム位相板と、を備え、ランダム位相板は、レーザ光に位相差を与える凹凸パターンの最小単位領域である所定形状のセルが周期的に配列され、セルの単位で凹部又は凸部の領域がランダムに配置されており、エキシマ増幅器に入射するレーザ光の進行方向をZ方向、一対の放電電極の放電方向をV方向、V方向及びZ方向に直交する方向をH方向、エキシマ増幅器に入射するレーザ光のビーム断面のV方向に対応するランダム位相板の面内方向を第1方向、ビーム断面のH方向に対応するランダム位相板の面内方向を第2方向として、セルの第1方向の長さをd1、セルの第2方向の長さをd2とする場合に、セルは、d2/d1で定義されるアスペクト比が1.2以上である。
本開示の他の1つの観点に係る電子デバイスの製造方法は、レーザ光を出力する固体レーザ装置と、レーザ光を通過させる放電空間を挟んで対向して配置される一対の放電電極を含み、レーザ光を増幅するエキシマ増幅器と、固体レーザ装置とエキシマ増幅器の間の光路上に配置されたランダム位相板と、を備え、ランダム位相板は、レーザ光に位相差を与える凹凸パターンの最小単位領域である所定形状のセルが周期的に配列され、セルの単位で凹部又は凸部の領域がランダムに配置されており、エキシマ増幅器に入射するレーザ光の進行方向をZ方向、一対の放電電極の放電方向をV方向、V方向及びZ方向に直交する方向をH方向、エキシマ増幅器に入射するレーザ光のビーム断面のV方向に対応するランダム位相板の面内方向を第1方向、ビーム断面のH方向に対応するランダム位相板の面内方向を第2方向として、セルの第1方向の長さをd1、セルの第2方向の長さをd2とする場合に、セルは、d2/d1で定義されるアスペクト比が1.2以上であるレーザシステムによってエキシマレーザ光を生成し、エキシマレーザ光を露光装置に出力し、電子デバイスを製造するために、露光装置内で感光基板上にエキシマレーザ光を露光することを含む。
本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
図1は、ランダム位相板におけるセルの例を示す図である。 図2は、レーザシステムの構成例を概略的に示す図である。 図3は、実施形態1に係るレーザシステムの構成を概略的に示す図である。 図4は、ランダム位相板の一例を模式的に示す正面図である。 図5は、ランダム位相板の機能を模式的に示す説明図である。 図6は、現行のエキシマレーザ装置と各種のハイブリッドレーザ装置についてそれぞれのビームプロファイルとビームダイバージェンスの模式図をまとめた図表である。 図7は、ランダム位相板の他の例を模式的に示す正面図である。 図8は、実施形態2に係るレーザシステムの構成を概略的に示す図である。 図9は、実施形態3に係るレーザシステムの構成を概略的に示す図である。 図10は、実施形態4に係るレーザシステムの構成を概略的に示す図である。 図11は、露光装置の構成例を概略的に示す図である。
実施形態
−目次−
1.用語の説明
2.レーザシステムの概要
2.1 構成
2.2 動作
3.課題
4.実施形態1
4.1 構成
4.1.1 ランダム位相板の例1
4.2 動作
4.3 作用・効果
4.4 ランダム位相板の他の例
4.4.1 ランダム位相板の例2
4.4.2 セル形状について
5.実施形態2
5.1 構成
5.2 動作
5.3 作用・効果
6.実施形態3
6.1 構成
6.2 動作
6.3 作用・効果
7.実施形態4
7.1 構成
7.2 動作
7.3 作用・効果
8.電子デバイスの製造方法
9.その他
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
1.用語の説明
本明細書において使用される用語を以下のように定義する。
「ハイブリッドレーザ装置」とは、発振段(マスタオシレータ)と増幅段(増幅装置)とを備えた2ステージレーザ装置において、発振段に固体レーザ装置、増幅段にエキシマレーザ装置を備えた装置をいう。「エキシマ増幅器」とは、増幅段に用いられるエキシマレーザ装置をいう。
本明細書ではレーザ光の進行方向を「Z方向」と定義する。Z方向と垂直な一方向が「H方向」と定義され、H方向及びZ方向に垂直な方向が「V方向」と定義される。例えば、エキシマ増幅器に入射するレーザ光の進行方向をZ方向とし、エキシマ増幅器において一対の放電電極が対向する方向、すなわち、放電方向をV方向とすることができる。
ランダム位相板についての「セル」とは、光に位相差を与える凹凸パターンの凹部領域又は凸部領域となる所定形状の最小単位領域をいう。ランダム位相板の素子面には複数のセルが周期的に配列される。ここでの「周期的に」とは空間的に特定の反復パターンで規則的に並ぶことをいう。すなわち、ランダム位相板の素子面は、複数のセルに区分けされており、各セルが凹部又は凸部の領域として構成される。ランダム位相板の素子面にはセルの単位で凹部又は凸部の領域が空間的にランダムに配置される。
セルの形状について「アスペクト比」を次のように定義する。すなわち、ランダム位相板の素子面と平行な面内において第1方向と、第1方向に直交する第2方向とを定め、セルの第1方向の長さをd1、セルの第2方向の長さをd2とする場合に、d2/d1をアスペクト比と定義する。
図1に六角形のセルの例を示す。図1において縦方向が第1方向、横方向が第2方向である。セルの第1方向長さd1は、セルの外形線に対して第2方向と平行な第1外接平行線の線間隔である。セルの第2方向長さd2は、セルの外形線に対して第1方向と平行な第2外接平行線の線間隔である。
第1方向は、エキシマ増幅器の放電方向(V方向)との関係で特定される。第1方向はV方向に対応する方向であり、第2方向はH方向に対応する方向である。「対応する方向」とは、光路上の異なる位置のそれぞれのビーム断面において相対的に同じ方向であることをいう。例えば、ランダム位相板とエキシマ増幅器との間の光路上に、レーザ光の進行方向を変えるミラーなどが存在する場合には、ランダム位相板における第1方向とエキシマ増幅器の放電方向は異なる方向を指す場合がありうる。しかし、ランダム位相板から出射されるレーザ光のビーム断面における第1方向と、エキシマ増幅器に入射するレーザ光のビーム断面におけるV方向とは相対的に同じ方向であると理解される。
ランダム位相板とエキシマ増幅器との間の光路上に、レーザ光の進行方向を変えるミラーなどが存在せず、ランダム位相板から出射されるレーザ光のビーム断面における第1方向が維持されてエキシマ増幅器に入射する場合、第1方向はV方向と平行であってよい。
本明細書における「平行」という用語には、技術的意義において実質的に平行と同等の範囲と見做しうる略平行の概念が含まれてよい。また、本明細書における「垂直」又は「直交」という用語には、技術的意義において実質的に垂直又は実質的に直交と同等の範囲と見做しうる略垂直又は略直交の概念が含まれてよい。
2.レーザシステムの概要
2.1 構成
図2は、レーザシステム1の構成例を概略的に示す図である。レーザシステム1は、固体レーザ装置10と、エキシマ増幅器12と、を含むハイブリッドレーザ装置である。固体レーザ装置10は、波長約193.4nmの紫外線のパルスレーザ光をシード光SLとして出力する紫外線固体レーザ装置である。固体レーザ装置10は、例えば、半導体レーザと、半導体増幅器と、光ファイバ増幅器と、非線形結晶を用いた波長変換システムと、を含んで構成されてよい。
固体レーザ装置10は、出力される波長約193.4nmのシード光SLがエキシマ増幅器12に入射するように配置される。なお、固体レーザ装置10とエキシマ増幅器12との間の光路上に、図示しない高反射ミラーなどの光学素子が配置されてもよい。
エキシマ増幅器12は、チャンバ14と、凸面シリンドリカルミラー16と、凹面シリンドリカルミラー18と、を含む。チャンバ14の中には、例えば希ガスとしてArガスと、ハロゲンガスとしてFガスと、バッファガスとしてNeガスと、を含むArFレーザガスが入っている。
チャンバ14の中には一対の放電電極21、22が放電空間24を挟んでV方向に互いに対向するように配置される。V方向は、図2における紙面の上下方向(縦方向)に平行な方向である。V方向は放電方向に相当する。チャンバ14の外には、図示を省略した高電圧パルス電源が配置される。高電圧パルス電源は、チャンバ14内に配置された一対の放電電極21、22と電気的に接続されている。
チャンバ14は、波長193.4nm付近のレーザ光を透過するウインドウ25、26を含む。ウインドウ25は、固体レーザ装置10から出力されたシード光SLをチャンバ14内に最初に入射させる入射窓である。ウインドウ26は、シード光SLを増幅した増幅レーザ光ALをチャンバ14から最終的に出射させる出射窓である。増幅レーザ光ALは、ウインドウ26からV方向と交差するZ方向に出射される。Z方向は、図2における紙面の左右方向(横方向)に平行な方向である。
ウインドウ25、26は、一対の放電電極21、22による放電面に対して傾くように配置される。ここで放電面は、図2における紙面に平行な面(V−Z面)である。
凸面シリンドリカルミラー16の凸反射面及び凹面シリンドリカルミラー18の凹反射面の各々には、波長約193.4nmの光を高反射する高反射膜がコートされている。凸面シリンドリカルミラー16及び凹面シリンドリカルミラー18は、固体レーザ装置10から出力された193.4nmのシード光SLを、放電空間24内で3パス(放電空間24を3回通過)させるように配置される。これにより、シード光SLは放電方向にビーム拡大され、放電空間24内で増幅される。
2.2 動作
固体レーザ装置10から出力された波長約193.4nmのシード光SLは、凹面シリンドリカルミラー18の下端部よりもさらに下側を通過し、かつ放電電極21、22の長手軸に平行に進行するように放電空間24に入射する。放電電極21、22の「長手軸」とは、放電電極21、22の長手方向の軸であり、図2におけるZ方向であってよい。
放電空間24中を放電電極21、22の長手軸に平行に進行するシード光SLは増幅され、凸面シリンドリカルミラー16に入射する。凸面シリンドリカルミラー16を高反射したシード光SLは、放電方向にビームが拡大しながら放電空間24を通過することによってさらに増幅され、凹面シリンドリカルミラー18に入射する。
凹面シリンドリカルミラー18に入射したシード光SLは、凹面シリンドリカルミラー18で高反射され、放電電極21、22の長手軸に対してコリメートされて、放電空間24を再び通過して、さらに増幅される。凹面シリンドリカルミラー18によりコリメートされて増幅された増幅レーザ光ALは、凸面シリンドリカルミラー16の上端部よりもさらに上側を通過してレーザシステム1から出射される。レーザシステム1から出射された増幅レーザ光ALは図2に示されていない露光装置へ入射する。
3.課題
現行の典型的な露光装置用レーザ装置においては、発振段(マスタオシレータ)と増幅段(増幅装置)の各々に、エキシマレーザガスをレーザ媒質とするガスレーザ装置が使用される。しかし、放電励起式のエキシマレーザ装置は、その特性上、固体レーザ装置に比べてビーム品質が低く、ビームダイバージェンス(ビーム拡がり角)は縦方向と横方向の割合が大きく異なる。ここでいう縦方向とは放電方向であり、横方向とは放電方向に直交し、かつ、レーザ光の進行方向に直交する方向である。縦方向をV方向、横方向をH方向という。
これに対し、図2に示すレーザシステム1は、放電励起式に比べて高コヒーレンスの固体レーザ装置10から出力されるシード光SLをエキシマ増幅器12によって直接増幅するため、ビーム品質の高い、つまりビームダイバージェンス(ビーム拡がり角)の小さい増幅レーザ光ALが得られる。
放電励起式の現行のエキシマレーザ装置の代わりに、図2のような構成のハイブリッドレーザ装置を露光装置に接続して使用することを考えた場合、現行のエキシマレーザ装置のビームダイバージェンスとハイブリッドレーザシステムのビームダイバージェンスとが相違することから、次のような課題1−2が発生する恐れがある。
[課題1]露光装置の中で光路のケラレが起き、スループット等に悪影響が出る。
[課題2]レーザシステム1から出力される増幅レーザ光ALのビーム特性と、現行のエキシマレーザ装置から出力されるレーザ光のビーム特性とが異なるため、露光装置内で不必要な集光等がされて光学素子にダメージを与える等の問題が起こる恐れがある。
4.実施形態1
4.1 構成
図3は、実施形態1に係るレーザシステム1Aの構成を概略的に示す図である。図2に示したレーザシステム1との相違点を説明する。図3に示す実施形態1に係るレーザシステム1Aは、固体レーザ装置10とエキシマ増幅器12との間の光路上にランダム位相板30と凸レンズ40とが配置される。
ランダム位相板30は、透過型の光学素子であり、光透過性基板の片側面に位相差がπラジアン(1/2波長)となる所定形状の微小なセルがランダムに二次元配置された構成となっている。すなわち、ランダム位相板30は、セルを最小単位とする膜がコートされており、その膜による凹凸が光透過性基板の面内においてランダムに二次元配置された構成となっている。
ランダム位相板30において、固体レーザ装置10から出力されたレーザ光(シード光SL)が入射する側の面を「第1面」といい、ランダム位相板30を透過した光が出射される側の面を「第2面」という。本例のランダム位相板30の第2面には、所定形状の微小なセルを最小単位とする凹部及び凸部が空間的にランダムに二次元配置された凹凸パターンが形成されている。なお、凹凸パターンは、ランダム位相板30の第1面に形成されていてもよい。
凸レンズ40は、ランダム位相板30とエキシマ増幅器12との間の光路上に配置される。凸レンズ40は、ランダム位相板30を透過したビームが凸レンズ40に入射するように配置される。凸レンズ40はランダム位相板30を透過したビームを集光してエキシマ増幅器12に入射させる。凸レンズ40は本開示における「集光光学系」の一例である。凸レンズ40に代えて、集光ミラーを配置してもよい。
図3に示すエキシマ増幅器12は本開示における「3パス増幅器」の一例である。凸面シリンドリカルミラー16は本開示における「第1ミラー」及び「凸面ミラー」の一例である。凹面シリンドリカルミラー18は本開示における「第2ミラー」の一例である。
4.1.1 ランダム位相板の例1
図4は、ランダム位相板30の一例を模式的に示す正面図である。図4は、ランダム位相板30の第2面に設けられた凹凸パターンの一部を拡大して模式的に示す部分模式拡大図を含む。図4にはセル32の形状が六角形である場合の例が示されている。実施形態1に係るレーザシステム1Aの場合、ランダム位相板30の縦方向とエキシマ増幅器12の縦方向(V方向)とは一致している。
ランダム位相板30の素子面には、複数のセル32がH方向及びV方向の各方向にそれぞれ周期的に配列されている。ここでいうセル32の配列は、ランダム位相板30を製作する際に指定される設計上の領域分けとして設定されるものであり、周期的に配列された複数のセル32の各々は、光に位相差を与えるための凹部32A又は凸部32Bの領域として構成され、セル32の単位で凹部32Aと凸部32Bとが素子面内において空間的にランダムに配置される。
ランダム位相板30は、入射するビームをセル32の単位で微小ビームに分割し得る。ランダム位相板30は、凹部32Aを透過した微小ビームと凸部32Bを透過した微小ビームとの位相差が例えばπラジアンとなるように、凹部32Aと凸部32Bの段差が設計される。
分割された微小ビームに位相差を与える凹凸パターンの最小単位領域であるセル32は、V方向の長さdvに比べてH方向の長さdhが長い、いわゆる横長の領域形状を有し、dh/dvで定義されるアスペクト比が1.2以上である。なお、「1.2」という値は、正六角形のアスペクト比よりも大きい値である。セル32のアスペクト比の好ましい数値範囲は1.2以上5.0以下であり、さらに好ましくは、2.0以上3.0以下である。
また、セル32の大きさに関して、好ましい範囲は、例えば、セル32の長手方向(H方向)の長さdhが20μm以上500μm以下である。なお、セル32のH方向の長さdhは、セル32の周期的な配列におけるH方向についてのセル32の配列間隔と理解してもよい。また、セル32のV方向の長さdvは、V方向についてのセル32の配列間隔と理解してもよい。
図4に示すように、ランダム位相板30は、セル32の長手軸をH方向、短手軸をV方向に向けた姿勢で光路上に配置される。つまり、ランダム位相板30は、素子面における凹凸パターンが細かい方向をV方向に、凹凸パターンが粗い方向をH方向に向けた姿勢で光路上に配置される。
ランダム位相板30は、例えば、図5に示すように、光透過性基板34の表面に膜36が配置された構造を有し、膜36を配置したセル32の領域が凸部32Bとして構成され、膜36を配置しないセル32の領域が凹部32Aとして構成される。
光透過性基板34の材質は、例えば、合成石英、水晶、及びフッ化カルシウムの少なくとも1つである。膜36の材質は、例えば、SiO、MgF、AlF、NaAlF、NaAl14、GdF、GdF、LaF、LaF、NdF、DyF、及びYFの少なくとも1つである。
なお、膜36の有無によって凸部32Bと凹部32Aを構成する形態に限らず、セル32の単位で膜厚を異ならせて凸部32Bと凹部32Aを構成する形態としてもよい。
図4に示すランダム位相板30の素子面(H−V面)と平行な面内方向は本開示における「ランダム位相板の面内方向」の一例である。また、図4に示すV方向の長さdvは本開示における「第1方向の長さd1」の一例であり、H方向の長さdhは本開示における「第2方向の長さd2」の一例である。
4.2 動作
図5は、ランダム位相板30の機能を模式的に示す説明図である。図5の下側からランダム位相板30にレーザ光が入射し、ランダム位相板30を透過したレーザ光が図5の上側に向けて出射される様子が図示されている。
ランダム位相板30に入射するレーザ光の波面WS1は、位相が揃っている。なお、図5では波面WS1の位相が揃っていることを直線によって表示している。
ランダム位相板30は、第1面に入射するレーザ光を凹部32A及び凸部32Bのそれぞれの領域の形状に応じて複数のビームに分割する。そして、ランダム位相板30は、凹部32Aを透過した微小ビームと凸部32Bを透過した微小ビームとの間に位相差πを与える。凹部32Aを透過した微小ビームの位相を「0位相」、凸部32Bを透過した微小ビームの位相を「π位相」とすると、ランダム位相板30を透過したビームは、これら2種類の位相の光が重なり合って進行する。
したがって、ランダム位相板30から出射されるレーザ光の波面WS2は、凹部32A及び凸部32Bの凹凸パターンに起因して空間的にランダムに位相差が生じる。図5においてランダム位相板30の凹凸パターンの形状を反映した位相差パターンの様子を波面WS2として表示している。
凹部32Aを透過する微小ビーム及び凸部32Bを透過する微小ビームの各々は、凹部32A又は凸部32Bの領域の大きさに応じた回折角を持つ回折光として進行していく。
凹部32A又は凸部32Bの大きさが小さいほど回折角が大きい。ランダム位相板30のセル32のアスペクト比が1.2以上であるため、縦方向(V方向)と横方向(H方向)とで回折角が変わる。すなわち、縦方向の回折角が横方向の回折角よりも大きい。
このようなランダム位相板30を用いることで、エキシマ増幅器12に入射するレーザ光(シード光SL)のビームダイバージェンスの縦横比を変更することができる。
また、ランダム位相板30を透過したレーザビームにおける「0位相」の微小ビームと「π位相」の微小ビームとは干渉しないため、凸レンズ40による集光点でのビーム断面における光強度の分布はガウス分布ではなく、トップハット分布に近くなる。
その結果、エキシマ増幅器12に入射するレーザ光のビーム品質を、現行のエキシマレーザ装置のビーム品質に近づけることができる。
図6は、現行のエキシマレーザ装置と各種のハイブリッドレーザ装置についてそれぞれのビームプロファイルとビームダイバージェンスの模式図をまとめた図表である。
ここでは比較のために、現行のエキシマレーザ装置と、ランダム位相板を有していないハイブリッドレーザ装置と、セルの縦横比が等しいランダム位相板を備えたハイブリッドレーザ装置と、セルの縦横比が異なるランダム位相板を備えたハイブリッドレーザ装置との4種類の装置について示す。
「ランダム位相板を有していないハイブリッドレーザ装置」とは、図1で説明したレーザシステム1のような構成をいう。「セルの縦横比が等しいランダム位相板」とは、セルのアスペクト比が1.0であるランダム位相板をいう。「セルの縦横比が異なるランダム位相板」とは、図4及び図5で例示したように、セルのアスペクト比が1.2以上であるランダム位相板をいう。実施形態1に係るレーザシステム1Aのビームプロファイルとビームダイバージェンスは、図6の最下段に示す「ハイブリッドレーザ装置(セルの縦横比が異なるランダム位相板有り)」のビームプロファイルとビームダイバージェンスに分類される。
なお、図6に示す各装置のビームプロファイル及びビームダイバージェンスは、エキシマ増幅器によって増幅されたレーザ光のビームプロファイル及びビームダイバージェンスと理解してもよいし、エキシマ増幅器に入射するレーザ光(増幅前のシード光)のビームプロファイル及びビームダイバージェンスと理解してもよい。
現行のエキシマレーザ装置のビームプロファイルはトップハット分布であり、ビームダイバージェンスはH方向に比べてV方向が大きい。ランダム位相板を有していないハイブリッドレーザ装置のビームプロファイルはガウス分布であり、ビームダイバージェンスはH方向及びV方向ともに小さく等方的である。
セルの縦横比が等しいランダム位相板を備えたハイブリッドレーザ装置のビームプロファイルはトップハット分布となり、ビームダイバージェンスは、ランダム位相板無しの場合と比較してH方向及びV方向ともに大きくなるものの、縦横比は変わらずに等方的である。
実施形態1に係るレーザシステム1Aのようにセルの縦横比が異なるランダム位相板を備えるハイブリッドレーザ装置のビームプロファイルはトップハット分布となり、ビームダイバージェンスは、ランダム位相板無しの場合と比較してH方向及びV方向ともに大きくかつ、H方向に比べてV方向が大きい。すなわち、セルの縦横比が異なるランダム位相板を用いることで、現行のエキシマレーザ装置に近いビームプロファイル及びビームダイバージェンスを実現することができる。
目標とするビームプロファイル及びビームダイバージェンスに合わせてランダム位相板30のセル32の形状を設計することができる。すなわち、ランダム位相板30のセル32の形状を変更することにより、所望のビームプロファイル及びビームダイバージェンスを実現できる。
また、ランダム位相板30とエキシマ増幅器12との間に凸レンズ40を配置したことにより、適切に3パス増幅器内にレーザ光が伝播する。
4.3 作用・効果
実施形態1に係るレーザシステム1Aによれば、ランダム位相板30はV方向とH方向とで回折角が異なるため、ビームダイバージェンスの縦横比を変更することができる。これにより、現行のエキシマレーザ装置によって生成されるエキシマレーザ光のビーム特性に近いビーム特性のエキシマレーザ光を生成することが可能になる。
4.4 ランダム位相板の他の例
4.4.1 ランダム位相板の例2
図7は、ランダム位相板30の他の例を模式的に示す正面図である。図7にはセル32の形状が四角形である場合の例が示されている。図4で説明したランダム位相板30に代えて、図7に示すランダム位相板30を適用してもよい。図7において図4の構成と同一又は類似の要素には同一の参照符号を付し、その説明は省略する。
図7に示すように、セル32の形状は、H方向の長さがdh、V方向の長さがdvである長方形であってもよい。図7の例におけるセル32のアスペクト比(dh/dv)の好ましい範囲及びセル32の大きさの好ましい範囲は図4の例と同様である。
4.4.2 セル形状について
ランダム位相板30のセル形状は、図4に例示した六角形、及び図7に例示した四角形に限らず、様々な形状があり得る。セル形状は、アスペクト比が1.2以上となる多角形であってよい。セル形状は、単一種類の図形で平面を隙間無く充填することができる平面充填可能な各種の形状があり得る。
5.実施形態2
5.1 構成
図8は、実施形態2に係るレーザシステム1Bの構成を概略的に示す図である。実施形態2では、実施形態1のエキシマ増幅器12の部分を、拡大3パス増幅器からファブリペロー型(共振器型)の増幅器に構成を変更したものである。
図8に示すレーザシステム1Bは、ファブリペロー型の増幅器であるエキシマ増幅器12Bを備える。エキシマ増幅器12Bは、リアミラー52と、出力結合ミラー54と、チャンバ14とを備え、リアミラー52と出力結合ミラー54との間に、チャンバ14が配置される。
リアミラー52と出力結合ミラー54の各々は、レーザ光の一部を反射し、一部を透過する部分反射ミラーである。リアミラー52の反射率は出力結合ミラー54の反射率よりも高いことが好ましい。リアミラー52の反射率は、例えば80%から90%の範囲である。リアミラー52と出力結合ミラー54により、光共振器が構成される。エキシマ増幅器12Bは本開示における「ファブリペロー型共振器」の一例である。
5.2 動作
固体レーザ装置10から出力された波長約193.4nmのシード光SLは、ランダム位相板30及び凸レンズ40を介してエキシマ増幅器12Bに入射する。ランダム位相板30によってビームプロファイルとビームダイバージェンスが変更される点は実施形態1と同様である。
リアミラー52を通過したシード光SLは、ウインドウ25を介して放電空間24に入射する。出力結合ミラー54とリアミラー52とで構成される光共振器によってシード光SLは増幅され、増幅された増幅レーザ光ALは出力結合ミラー54から出射される。出力結合ミラー54から出射された増幅レーザ光ALは図8に示されていない露光装置へ入射する。
5.3 作用・効果
実施形態2に係るレーザシステム1Bにおいても実施形態1と同様の作用効果が得られる。すなわち、ランダム位相板30はV方向とH方向とで回折角が異なるため、ビームダイバージェンスの縦横比を変更することができる。これにより、現行のエキシマレーザ光のビーム特性に近づけることができる。
6.実施形態3
6.1 構成
図9は、実施形態3に係るレーザシステム1Cの構成を概略的に示す図である。実施形態3では、実施形態1のエキシマ増幅器12の部分を、拡大3パス増幅器からリング共振器型の増幅器に構成を変更したものである。
図9に示すレーザシステム1Cは、リング共振器型の増幅器であるエキシマ増幅器12Cを備える。エキシマ増幅器12Cは、チャンバ14と、一対の放電電極21、22と、高反射ミラー61、62、63と、出力結合ミラー64と、とを含む。出力結合ミラー64は、レーザ光の一部を透過し、一部を反射する部分反射ミラーである。
一対の放電電極21、22は、図9の紙面に対して垂直方向に間隔を開けて互いに対向して配置される。
出力結合ミラー64と高反射ミラー61、62、63とにより、リング型共振器が構成される。実施形態3に係るレーザシステム1Cでは、固体レーザ装置10の図示しない出力カプラのビーム結像位置が出力結合ミラー64の位置付近にあり、図3で説明した凸レンズ40が不要な構成となっている。
6.2 動作
固体レーザ装置10から出力されたシード光SLはランダム位相板30を介してエキシマ増幅器12Bの出力結合ミラー64に入射する。ランダム位相板30によってビームプロファイルとビームダイバージェンスが変更される点は実施形態1と同様である。
出力結合ミラー64に入射したシード光SLの一部は、出力結合ミラー64を透過して、高反射ミラー61により反射される。高反射ミラー61で反射されたシード光SLは、ウインドウ25を透過して、一対の放電電極21、22の間の放電空間24へ進行する。
シード光SLが放電空間24内に存在するときに放電空間24に放電を生じさせる制御が行われることによって、シード光SLが増幅される。増幅されたレーザ光は、ウインドウ26を介してチャンバ14から出射する。ウインドウ26から出射したレーザ光は、高反射ミラー62及び63により高反射されて、再びウインドウ26を介して、チャンバ14内の放電空間24へ進行して増幅される。こうして増幅されたレーザ光は、ウインドウ25を介してチャンバ14から出射される。ウインドウ25から出射した増幅レーザ光は、出力結合ミラー64に入射する。出力結合ミラー64に入射した増幅レーザ光の一部は出力結合ミラー64を透過して、増幅レーザ光ALとしてエキシマ増幅器12Cから出射される。また、出力結合ミラー64に入射した増幅レーザ光の他の一部は出力結合ミラー64で反射され、フィードバック光として、再びリング光共振器中に戻される。
6.3 作用・効果
実施形態3に係るレーザシステム1Cにおいても、実施形態1と同様の作用効果が得られる。
7.実施形態4
7.1 構成
図10は、実施形態4に係るレーザシステム1Dの構成を概略的に示す。実施形態4に係るレーザシステム1Dは、図3に示したエキシマ増幅器12部分の凸面シリンドリカルミラー16を、凹面シリンドリカルミラー17に変更したものである。他の構成は図3で説明したレーザシステム1Aと同様である。
凹面シリンドリカルミラー17は本開示における「第1ミラー」及び「凹面ミラー」の一例である。
7.2 動作
ランダム位相板30のセル32の大きさによってビームの拡がりが非常に大きくなる場合があり、その拡がりを調整するために、凹面シリンドリカルミラー17が用いられている。
7.3 作用・効果
実施形態4に係るレーザシステム1Dによれば、凹面シリンドリカルミラー17によってビームの拡がりが調整され、適切にエキシマ増幅器12部分の光学系をビームが通過するようにすることができる。
8.電子デバイスの製造方法
図11は、露光装置120の構成例を概略的に示す図である。図11において、露光装置120は、照明光学系124と投影光学系125とを含む。照明光学系124は、レーザシステム1から入射したレーザ光によって、レチクルステージRTのレチクルパターンを照明する。投影光学系125は、レチクルを透過したレーザ光を、縮小投影してワークピーステーブルWT上に配置された図示しないワークピースに結像させる。ワークピースはフォトレジストが塗布された半導体ウエハ等の感光基板である。露光装置120は、レチクルステージRTとワークピーステーブルWTとを同期して平行移動させることにより、レチクルパターンを反映したレーザ光をワークピースに露光する。以上のような露光工程によって半導体ウエハにデバイスパターンを転写することで半導体デバイスを製造することができる。半導体デバイスは本開示における「電子デバイス」の一例である。レーザシステム1は、各実施形態で説明したレーザシステム1A、1B、1C、1D等であってもよい。
9.その他
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図している。したがって、特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかである。また、本開示の実施形態を組み合わせて使用することも当業者には明らかである。
本明細書及び特許請求の範囲全体で使用される用語は、明記が無い限り「限定的でない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、不定冠詞「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。また、「A、B及びCの少なくとも1つ」という用語は、「A」「B」「C」「A+B」「A+C」「B+C」又は「A+B+C」と解釈されるべきである。さらに、それらと「A」「B」「C」以外のものとの組み合わせも含むと解釈されるべきである。

Claims (19)

  1. レーザ光を出力する固体レーザ装置と、
    前記レーザ光を通過させる放電空間を挟んで対向して配置される一対の放電電極を含み、前記レーザ光を増幅するエキシマ増幅器と、
    前記固体レーザ装置と前記エキシマ増幅器の間の光路上に配置されたランダム位相板と、
    を備え、
    前記ランダム位相板は、前記レーザ光に位相差を与える凹凸パターンの最小単位領域である所定形状のセルが周期的に配列され、前記セルの単位で凹部又は凸部の領域がランダムに配置されており、
    前記エキシマ増幅器に入射する前記レーザ光の進行方向をZ方向、前記一対の放電電極の放電方向をV方向、前記V方向及び前記Z方向に直交する方向をH方向、前記エキシマ増幅器に入射する前記レーザ光のビーム断面の前記V方向に対応する前記ランダム位相板の面内方向を第1方向、前記ビーム断面の前記H方向に対応する前記ランダム位相板の面内方向を第2方向として、前記セルの前記第1方向の長さをd1、前記セルの前記第2方向の長さをd2とする場合に、
    前記セルは、d2/d1で定義されるアスペクト比が1.2以上である
    レーザシステム。
  2. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記所定形状は多角形であるレーザシステム。
  3. 請求項2に記載のレーザシステムであって、
    前記所定形状は六角形であるレーザシステム。
  4. 請求項2に記載のレーザシステムであって、
    前記所定形状は四角形であるレーザシステム。
  5. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記アスペクト比が1.2以上5.0以下であるレーザシステム。
  6. 請求項5に記載のレーザシステムであって、
    前記アスペクト比が2.0以上3.0以下であるレーザシステム。
  7. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記d2が20μm以上500μm以下であるレーザシステム。
  8. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記エキシマ増幅器は、前記放電空間に前記レーザ光を3回通過させて増幅を行う3パス増幅器であるレーザシステム。
  9. 請求項8に記載のレーザシステムであって、
    前記エキシマ増幅器は、前記放電空間を挟むようにして互いに対向する第1ミラーと第2ミラーとを含み、
    前記放電空間を通過した前記レーザ光が最初に入射する前記第1ミラーが凸面ミラーであるレーザシステム。
  10. 請求項8に記載のレーザシステムであって、
    前記エキシマ増幅器は、前記放電空間を挟むようにして互いに対向する第1ミラーと第2ミラーとを含み、
    前記放電空間を通過した前記レーザ光が最初に入射する前記第1ミラーが凹面ミラーであるレーザシステム。
  11. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記エキシマ増幅器は、ファブリペロー型共振器であるレーザシステム。
  12. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記エキシマ増幅器は、リング型共振器であるレーザシステム。
  13. 請求項1に記載のレーザシステムであって、さらに、
    前記ランダム位相板と前記エキシマ増幅器との間の光路上に集光光学系を備えるレーザシステム。
  14. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記所定形状は、平面充填可能な形状であり、
    前記ランダム位相板は、前記第1方向及び前記第2方向の各方向に対して複数の前記セルが周期的に並んで平面を充填するように前記セルの単位で隙間無く領域分けされているレーザシステム。
  15. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記位相差は、前記凹部を透過する光と前記凸部を透過する光の位相差として与えられ、πラジアンであるレーザシステム。
  16. 請求項1に記載のレーザシステムであって、
    前記ランダム位相板は、光透過性基板の表面に膜を配置した構造を有し、
    前記膜の厚みによって前記位相差が与えられるレーザシステム。
  17. 請求項16に記載のレーザシステムであって、
    前記光透過性基板の材質は、合成石英、水晶、及びフッ化カルシウムの少なくとも1つであるレーザシステム。
  18. 請求項16に記載のレーザシステムであって、
    前記膜の材質は、SiO、MgF、AlF、NaAlF、NaAl14、GdF、GdF、LaF、LaF、NdF、DyF、及びYFの少なくとも1つであるレーザシステム。
  19. 電子デバイスの製造方法であって、
    レーザ光を出力する固体レーザ装置と、
    前記レーザ光を通過させる放電空間を挟んで対向して配置される一対の放電電極を含み、前記レーザ光を増幅するエキシマ増幅器と、
    前記固体レーザ装置と前記エキシマ増幅器の間の光路上に配置されたランダム位相板と、
    を備え、
    前記ランダム位相板は、前記レーザ光に位相差を与える凹凸パターンの最小単位領域である所定形状のセルが周期的に配列され、前記セルの単位で凹部又は凸部の領域がランダムに配置されており、
    前記エキシマ増幅器に入射する前記レーザ光の進行方向をZ方向、前記一対の放電電極の放電方向をV方向、前記V方向及び前記Z方向に直交する方向をH方向、前記エキシマ増幅器に入射する前記レーザ光のビーム断面の前記V方向に対応する前記ランダム位相板の面内方向を第1方向、前記ビーム断面の前記H方向に対応する前記ランダム位相板の面内方向を第2方向として、前記セルの前記第1方向の長さをd1、前記セルの前記第2方向の長さをd2とする場合に、
    前記セルは、d2/d1で定義されるアスペクト比が1.2以上であるレーザシステムによってエキシマレーザ光を生成し、
    前記エキシマレーザ光を露光装置に出力し、
    電子デバイスを製造するために、前記露光装置内で感光基板上に前記エキシマレーザ光を露光すること
    を含む電子デバイスの製造方法。
JP2020567299A 2019-01-23 2019-01-23 レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法 Active JP7166362B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/002058 WO2020152805A1 (ja) 2019-01-23 2019-01-23 レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020152805A1 true JPWO2020152805A1 (ja) 2021-12-02
JP7166362B2 JP7166362B2 (ja) 2022-11-07

Family

ID=71736875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020567299A Active JP7166362B2 (ja) 2019-01-23 2019-01-23 レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20210288459A1 (ja)
JP (1) JP7166362B2 (ja)
CN (1) CN113169507B (ja)
WO (1) WO2020152805A1 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6442186B1 (en) * 1998-09-21 2002-08-27 Peter Vitruk Stable multi-fold telescopic laser resonator
JP2002343737A (ja) * 2001-05-11 2002-11-29 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd レーザアニール方法とレーザアニール装置
JP2005109359A (ja) * 2003-10-01 2005-04-21 Toshiba Corp レーザ装置及び液晶表示装置の製造方法
JP2012204819A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Gigaphoton Inc レーザシステムおよびレーザ生成方法
JP2015195216A (ja) * 2010-03-29 2015-11-05 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置および方法
WO2017006418A1 (ja) * 2015-07-06 2017-01-12 ギガフォトン株式会社 増幅器、及びレーザシステム
WO2018138819A1 (ja) * 2017-01-26 2018-08-02 ギガフォトン株式会社 レーザシステム

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3283608B2 (ja) * 1993-01-28 2002-05-20 財団法人電力中央研究所 レーザービーム整形装置
JP2007078979A (ja) * 2005-09-13 2007-03-29 Ricoh Co Ltd 光学素子および光学素子製造方法
JP5096752B2 (ja) * 2007-01-29 2012-12-12 株式会社小松製作所 露光装置用狭帯域レーザ装置
JPWO2019012642A1 (ja) * 2017-07-13 2020-05-07 ギガフォトン株式会社 レーザシステム

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6442186B1 (en) * 1998-09-21 2002-08-27 Peter Vitruk Stable multi-fold telescopic laser resonator
JP2002343737A (ja) * 2001-05-11 2002-11-29 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd レーザアニール方法とレーザアニール装置
JP2005109359A (ja) * 2003-10-01 2005-04-21 Toshiba Corp レーザ装置及び液晶表示装置の製造方法
JP2015195216A (ja) * 2010-03-29 2015-11-05 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置および方法
JP2012204819A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Gigaphoton Inc レーザシステムおよびレーザ生成方法
WO2017006418A1 (ja) * 2015-07-06 2017-01-12 ギガフォトン株式会社 増幅器、及びレーザシステム
WO2018138819A1 (ja) * 2017-01-26 2018-08-02 ギガフォトン株式会社 レーザシステム

Also Published As

Publication number Publication date
US20210288459A1 (en) 2021-09-16
WO2020152805A1 (ja) 2020-07-30
JP7166362B2 (ja) 2022-11-07
CN113169507A (zh) 2021-07-23
CN113169507B (zh) 2023-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20140369373A1 (en) Two-stage laser system for aligners
JP3514073B2 (ja) 紫外レーザ装置及び半導体露光装置
US11025026B2 (en) Laser system
JP2001060550A (ja) レーザビームのスペックル低減方法及びその装置、及びリソグラフィ装置
US20190103724A1 (en) Laser system
US11837839B2 (en) Optical pulse stretcher, laser device, and electronic device manufacturing method
JP7166362B2 (ja) レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法
JP7390377B2 (ja) レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法
US20170149199A1 (en) Laser device
US10965087B2 (en) Laser device
JP7311586B2 (ja) パルスストレッチャーおよび方法
WO2021192132A1 (ja) レーザ装置及び電子デバイスの製造方法
JPH11261140A (ja) 光共振器
US20240235149A1 (en) Laser apparatus and electronic device manufacturing method
WO2023089673A1 (ja) レーザ装置、及び電子デバイスの製造方法
TW202245951A (zh) 雷射系統
JP2688991B2 (ja) 狭帯域発振エキシマレーザ
JPH03294831A (ja) 高調波発生装置及び半導体露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220930

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221025

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7166362

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150