JPWO2019244427A1 - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

装着不良や、廃棄経路への分注チップ先端の残留物の付着や汚れにより分注チップが廃棄経路へ付着し廃棄できない、また、落下した分注チップがタケノコ状に積み重なり、廃棄箱からはみ出す。検体分注チップの設置台の分注チップ装着位置１３２裏面にザグリ２０１を追加し、設置台からの引き上げ時のチップ側面の接触量を減らし、チップ装着の安定化を図る。また、チップの廃棄位置に落下時の姿勢制御部材を追加し、チップを垂直に落下させることで、廃棄経路への検体の付着を抑制する。更に、分注チップ離脱時の分注プローブ上昇時、チップの上端がベースに接触する位置まで上昇させて一旦停止させた後、再度、上昇動作を実施することで、離脱時のチップの姿勢を安定させる。また更に、チップを離脱させる位置を複数設けて、廃棄するタイミングごとに位置を変更する。

Description

本発明は、自動分析装置に関する。

検体に含まれる測定対象物を検出する自動分析装置では、反応容器内で検体と試薬を反応させる。この際、所定の位置に保持された検体容器もしくは試薬容器から、分注プローブにより検体や試薬を吸引し、別の所定の位置に保持された反応容器へ吸引した検体や試薬を吐出する分注工程がある。この分注工程の際には、検体や試薬のキャリーオーバを防止する観点から、分注プローブの先端に、ディスポーザブルの分注チップを装着して検体または試薬を吸引・吐出し、使用後の分注チップを所定の廃棄位置へ廃棄する構成とする自動分析装置がある。

この分注チップを分注プローブに装着する際には、設置台へ設置された分注チップに対し、分注プローブを挿入、押し付けることで装着する方法が知られている。また、分注チップを廃棄する際には、所定の位置の穴から、廃棄箱内へ落下させる方法がある。その際には、分注チップ上端をベースに引っ掛けた状態で分注プローブを上昇させることで、分注チップを分注プローブから離脱させ、廃棄箱内に自由落下させる。また、落下する際、分注チップが飛散しないようにするため、落下経路を廃棄筒で囲う構成とすることもある。このような分注装置に関連する先行技術文献として、例えば特許文献１がある。

特開平１１−１１８８１１号公報

検体や試薬の分注工程で分注チップを使用する自動分析装置においては、分析ごとに、分注チップの装着・廃棄を繰り返す。しかしながら、分注チップの装着不良や、廃棄時に分注チップ先端に付着している検体や試薬など残留液体が廃棄経路へ付着することにより、分注チップが廃棄経路へ付着して廃棄経路が狭くなり、詰まって廃棄できない、また、同一地点に分注チップが連続して落下することでタケノコ状に積み重なり、廃棄箱内に廃棄する余裕があるにもかかわらず、あふれるといった問題があった。

本発明の目的は上記の課題を解決し、分注チップの装着不良や廃棄不可を防止することが可能な自動分析装置を提供することにある。

上記の目的を達成するため、本発明においては、自動分析装置であって、第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、第１部材を貫通する穴を有する設置台と、穴を貫通する第１部材に第２部材を押し付けることにより、第１部材を第２部材に装着するよう制御する制御部と、を備え、穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備える自動分析装置を提供する。

また、上記の目的を達成するため、本発明においては、自動分析装置であって、第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、第１部材を廃棄する廃棄箱と、廃棄箱の重力方向上側に配置され、第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を有する廃棄台と、第２部材を凹部に水平方向から挿入し、重力方向上側に移動するよう制御する制御部とを備え、制御部は、第２部材を凹部上の第１部位に静止させてから重力方向上側に移動させる第１の処理を終了した後、第２部材を凹部に水平方向から挿入した際、第２部材を第１部位とは異なる凹部上の第２部位に静止させてから、重力方向上側に移動するよう制御する構成の自動分析装置を提供する。

分注チップの装着不良、廃棄筒での分注チップの詰まり、及びタケノコ状に積み重なり廃棄箱からあふれる問題を解決できる。

各実施例に係る自動分析装置の全体構成の一例を示す図。 実施例１に係る、検体分注チップ設置台の装着位置の構造の一例を示す図。 実施例２に係る、検体分注チップの廃棄動作の問題点を説明するための図。 実施例２に係る、検体分注チップ廃棄時の姿勢制御部材の一例を示す図。 実施例３に係る、検体分注チップ離脱時の上昇動作を説明するための図。 実施例４に係る、分注チップ廃棄台の構成の一例を示す図。 実施例５に係る、分注チップを一か所で離脱する問題点を説明するための図。 実施例５に係る、分注チップを複数位置で離脱することの説明図。

以下、本発明を実施するための形態を図面に従い説明するが、初めに本発明が適用される自動分析装置の全体構成、及び上述した従来の自動分析装置の分注装置の課題を、図面を使って説明する。

図１は、各実施例に係る自動分析装置の全体構成の一例を示す図である。同図は、水平面であるＸＹ平面に設置された自動分析装置１００を上（Ｚ方向）から見た平面の構成を示している。Ｘ方向及びＹ方向は水平面を構成する互いに直交する方向であり、ここでは、Ｘ方向は装置１００の横幅の方向に対応し、Ｙ方向は装置１００の縦幅の方向に対応している。Ｚ方向は、Ｘ方向及びＹ方向に垂直な鉛直方向であり、装置１００の高さ方向に対応している。

自動分析装置１００は、制御部である制御コンピュータ１０１、ラック搬送部１０２、ラック搬送ライン１０３、検体分注機構１０４、インキュベータ１０５、搬送機構１０６、保持部材１０７、攪拌機構（図示せず）、試薬ディスク１０８、試薬分注機構１０９、反応容器搬送機構１１０、検出ユニット１１１を有する。

制御部である制御コンピュータ１０１は、自動分析装置１００の分析依頼情報に基づいて各機構を制御して、分析のための各工程を実現する。この工程には分注工程等を含む。また、制御コンピュータ１０１は、ユーザに対するインタフェースを提供する。

自動分析装置１００が分析対象とする検体は検体容器１２１に収容され、検体容器１２１はラック１２０に架設された状態で自動分析装置１００に搬入される。ラック搬送部１０２は、外部と自動分析装置１００との間でラック１２０を搬入または搬出を行う機構である。

ラック搬送部１０２により搬入されたラック１２０は、ラック搬送ライン１０３によって、検体分注機構１０４近傍の検体分注位置まで移動される。インキュベータ１０５には、その円周部に複数の反応容器１２２が設置可能であり、円周方向に設置された反応容器１２２をそれぞれ所定位置に移動させる回転運動が可能である。

搬送機構１０６は、Ｘ、Ｙ、Ｚの３軸の各方向に移動可能である。搬送機構１０６は、検体分注チップ１２３と反応容器１２２とを搬送する機構であり、検体分注チップ１２３及び反応容器１２２を保持する保持部材１０７、反応容器１２２を攪拌する攪拌機構（図示せず）、検体分注チップ１２３を廃棄する分注チップ廃棄口１３０、検体分注チップ装着位置１３２、及びインキュベータ１０５の所定箇所の範囲を移動する。

保持部材１０７には、未使用の反応容器１２２及び未使用の検体分注チップ１２３が複数個保持されている。まず、搬送機構１０６は、保持部材１０７の上方に移動し、下降して未使用の反応容器１２２を把持した後に上昇し、更にインキュベータ１０５の所定位置の上方に移動した後に下降して、反応容器１２２をインキュベータ１０５の所定位置に設置する。

次いで、搬送機構１０６は、再び保持部材１０７の上方に移動し、下降して未使用の検体分注チップ１２３を把持した後に上昇し、検体分注チップ装着位置１３２の上方に移動した後に下降して、検体分注チップ１２３を検体分注チップ装着位置１３２に設置する。検体分注チップ１２３は、キャリーオーバを防止するため、検体分注機構１０４が検体を分注する際にプローブの先端に装着され、当該検体の分注が終了すると破棄される。

検体分注機構１０４は、水平面での回転動作及び鉛直方向（Ｚ方向）の上下移動が可能である。検体分注機構１０４は、検体分注チップ装着位置１３２の上方まで回転動作により移動した後、下降して、プローブの先端に検体分注チップ１２３を圧入して装着する。プローブの先端に検体分注チップ１２３を装着した検体分注機構１０４は、搬送ラック１２０に載置されている検体容器１２１の上方に移動した後、下降して、その検体容器１２１に保持されている検体を所定量吸引する。検体を吸引した検体分注機構１０４は、インキュベータ１０５の上方に移動した後、下降して、インキュベータ１０５に保持されている未使用の反応容器１２２に検体を吐出する。検体吐出が終了すると、検体分注機構１０４は分注チップ廃棄口１３０の上方に移動し、使用済みの検体分注チップ１２３を分注チップ廃棄口１３０から廃棄する。

試薬ディスク１０８はディスク形状を有し、回転動作が行われる。試薬ディスク１０８には複数の試薬ボトル１２４が設置されている。試薬ディスク１０８は、水平面において鉛直方向の中心軸の周りに回転する。これにより、試薬ディスク１０８上に配置されている試薬ボトル１２４が円周方向に移動し、工程に応じた所定の位置に搬送される。

試薬ディスク１０８は、試薬ボトル１２４が複数設置可能となっている。各容器部は、試薬を収容する本体部と、試薬に対してアクセス可能な吸引口１２５と、吸引口１２５を密閉可能な蓋（図示せず）とを有している。試薬ボトル１２４全体の外形は、略直方体の形状であり、試薬容器蓋開閉機構（図示せず）による開閉動作を行うが、試薬分注機構１０９などが試薬容器１２４へアクセスするタイミングに応じて蓋を開閉することにより、試薬が蒸発したり、濃度変化を生じたりすることを抑制している。

なお、試薬ディスク１０８の上部には図示しないカバーが設けられており、ほこり等の侵入が防止されているとともに、試薬ディスク１０８を含む空間部分が所定の温度に保温または保冷されている。すなわち、試薬ディスク１０８を含む空間部分は、保温庫や保冷庫としても機能する。領域１３３において試薬分注機構１０９が試薬ボトル１２４にアクセスするため、領域１３３にカバーに開口部を設けるとともに、試薬容器蓋開閉機構を設けることが望ましい。これにより試薬容器の蓋の開閉動作と試薬吸引動作との間に試薬ディスク１０８の回転動作を行うことを不要とし、分注工程に要する時間を短くすることができる。

試薬分注機構１０９は、水平面での回転動作、及び鉛直方向の上下移動が可能である。試薬分注機構１０９は、カバーの開口部である領域１３３の上方に回転動作で移動した後に、下降し、プローブの先端を、試薬容器蓋開閉機構によって開蓋された試薬ボトル１２４内の試薬に浸漬して、所定量の試薬を吸引する。次いで、試薬分注機構１０９は、上昇した後、インキュベータ１０５の所定位置の上方に回転動作で移動して、反応容器１２２に試薬を吐出する。

検体及び試薬が吐出された反応容器１２２は、インキュベータ１０５の回転によって所定位置に移動し、搬送機構１０６によって、反応容器攪拌機構（図示せず）へと搬送される。反応容器攪拌機構（図示せず）は、反応容器１２２に回転運動を加えることで、反応容器１２２内の検体と試薬とを攪拌して混和する。これにより、反応容器１２２内に反応液が生成される。

攪拌の終了した反応容器１２２は、搬送機構１０６によって、インキュベータ１０５の所定位置に戻される。反応容器搬送機構１１０は、インキュベータ１０５と検出ユニット１１１との間で反応容器１２２を移載する。反応容器搬送機構１１０は、反応容器１２２を把持して上昇し、検出ユニット１１１に反応容器１２２を搬送する。その反応容器１２２は、検出ユニット１１１内で分析される。分析の終了した反応容器１２２は反応容器搬送機構１１０によって反応容器廃棄口１３１から廃棄される。

以上説明した全体構成の自動分析装置に使用される各種の実施例として、分注チップの装着不良を抑制する分注チップ設置台の実施例、分注チップ廃棄時の分注チップの姿勢制御する部材の実施例、分注チップ廃棄時の分注チップの姿勢制御する分注プローブの動作方法の実施例、分注チップ廃棄台の形状と分注プローブ動作による分注チップの姿勢制御方法の実施例、複数個所での分注チップ離脱方法の実施例の順に説明する。

実施例１は、第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、第１部材を貫通する穴を有する設置台と、穴を貫通する第１部材に第２部材を押し付けることにより、第１部材を第２部材に装着するよう制御する制御部とを備え、設置台の穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備える自動分析装置の実施例である。

すなわち、第１部材である分注チップが先端に取り付けられる第２部材である分注プローブと、分注チップを貫通する穴を有する設置台と、穴を貫通する分注チップに分注プローブを押し付けることにより、分注チップを分注プローブに装着するよう制御する制御部とを備え、設置台の穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備え、分注チップの装着不良を抑制するよう分注チップを設置する設置台の構成の実施例である。制御部である制御コンピュータ１０１は、設置台の穴を貫通する分注チップに分注プローブを押し付けることにより、分注チップを分注プローブに装着するよう制御する。

図１に示した検体分注機構１０４は、制御コンピュータ１０１の制御により、分注チップの設置台の検体分注チップ装着位置１３２の上方まで移動した後、下降して、第２部材のノズル１０４ａの先端に第１部材の検体分注チップ１２３を圧入して装着する。その後、検体分注機構１０４は上昇するが、その際に、設置台の検体分注チップ装着位置１３２の穴の側面と、検体分注チップ１２３の側面とが接触して装着した検体分注チップ１２３が曲がるなどの恐れがある。この穴の側面の長さが長いほど接触による摩擦の影響が大きくなるが、検体分注チップ１２３は圧入して挿入する方式のため、検体分注チップ装着位置１３２は強度を保つためには、ある程度の厚さは必要である。

そこで本実施例では、図２の上部の断面図、下部の平面図に示すように、設置台の検体分注チップ装着位置１３２の下面に円形状のザグリ２０１を設ける。言い換えるなら、設置台の検体分注チップ装着位置１３２の穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備える。このような本実施例の設置台のザグリ２０１により、検体分注チップ１２３装着後の検体分注機構１０４上昇時に、検体分注チップ１２３と設置台の検体分注チップ装着位置１３２の穴の側面との接触する恐れのある距離を短くすることにより、検体分注チップ１２３の先端が曲がるなどの装着不良を起こすのを低減することが可能となる。

実施例２は、自動分析装置に、検体分注チップ廃棄時の分注チップの姿勢を制御する部材を設置する構成の実施例である。すなわち、分注チップを廃棄する廃棄箱と、廃棄箱の重力方向上側に配置された廃棄台との間に配置された廃棄経路の内部に姿勢制御部材を設置した構成の自動分析装置の実施例である。

図３は自動分析装置の分注チップの廃棄台を使った廃棄動作とその課題を説明するための上部平面図と断面図を示す。同図の（Ａ）に示すように、使用済みの分注チップ１２３を廃棄する廃棄箱１１５の上部に置かれた廃棄台１１２から廃棄箱１１５への重力方向下側に伸びる廃棄経路１１３に挿入する。その後、制御コンピュータ１０１の制御により、検体分注機構１０４を同図の（Ｂ）まで回転し、検体分注プローブ１０４ａであるノズルを引き上げる。この動作により、使用済みの検体分注チップ１２３を廃棄箱１１５に落下させる。しかしながら、図３の（Ｃ）に示すように、廃棄する検体分注チップ１２３の先端側面にはどうしても検体が残存する。そのため、検体分注チップ１２３が廃棄箱１１５に落下する際の姿勢は安定せず、落下中の検体分注チップ１２３が、廃棄経路１１３に接触する恐れがある。このように検体分注チップ１２３側面に残存する検体が、廃棄経路１１３に付着するリスクがあり、検体分注チップ１２３廃棄時に、廃棄経路１１３に貼りつく恐れがある。

そこで実施例２では、廃棄台と廃棄箱との間に配置された廃棄経路内に、検体分注チップ廃棄時の検体分注チップの姿勢を安定させるため、姿勢制御部材を設ける。図４に、本実施例に係る検体分注チップ廃棄時の分注チップを姿勢制御する姿勢制御部材１１４を設置した構成を示す。廃棄台１１２の下方の廃棄経路１１３の内部に、検体分注チップ１２３の最大径よりやや大きい幅である程度の長さを持つ、例えば円筒状の姿勢制御部材１１４を配置する。この姿勢制御部材１１４により、検体分注チップ１２３が落下する際に、検体分注チップ１２３の姿勢が安定していない場合には、姿勢制御部材１１４に接触するが、円筒状の姿勢制御部材１１４の幅が狭いため、検体分注チップ１２３が落下している間に、垂直に近い安定した姿勢に制御可能となる。

実施例３は、自動分析装置の制御部が、検体分注チップ廃棄時の分注チップの姿勢を制御するよう、検体分注プローブを動作させる実施例である。実施例２では、新たな姿勢制御部材１１４を設けることで、検体分注チップ落下時の姿勢制御を実現しているが、本実施例では、制御部である制御コンピュータの制御により、検体分注プローブの動作を工夫することにより、検体分注チップの落下時の姿勢を制御する。

すなわち、本実施例は、廃棄台は、第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を備え、制御部は、第２部材を、凹部に横方向から挿入した後、第１部材が第３部材に接するまで重力方向上側に移動させ、第１部材が第３部材に接した状態で第２部材を停止させた後、第１部材を重力方向上側に再移動させるよう制御する構成の自動分析装置であり、更には、制御部は、第２部材を重力方向上側に第１速度で移動させ、停止後、第２部材を重力方向上側に第１速度より遅い第２速度で再移動させるよう制御する構成の自動分析装置の実施例である。

図５に示すように、本実施例では検体分注チップ１２３離脱時の検体分注プローブ１０４ａの上昇動作を２段階の上昇とする。図５の（Ａ）に示すように検体分注プローブ１０４ａの一回目の上昇を開始し、図５の（Ｂ）に示すように、廃棄台１１２の狭い凹部へ上昇移動し、廃棄台１１２下面に検体分注チップ１２３が接触する位置で一旦一回目の上昇を停止させる。これにより検体分注チップ１２３上面が廃棄台１１２下面に十分に接触し、機構の振動などの影響も排除できる。その後、図５の（Ｃ）に示すように、検体分注プローブ１０４ａを第二回目の上昇、すなわち再上昇させることで、検体分注チップ１２３は安定した姿勢で検体分注プローブ１０４ａから離脱し、垂直に近い安定した姿勢で落下させることが可能となる。なお、制御部は、第一回目の上昇の第１速度より第二回目の上昇の第２速度を遅くするなど、異なる速度となるよう制御することができる。

実施例４は、検体分注チップの廃棄台の形状と分注プローブ動作による分注チップの姿勢制御の実施例である。すなわち、実施例４は、廃棄台は、第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を備え、第３部材の凹部は、互いに隣接する穴が広く厚さの薄い第１部分と、第１部分より穴が狭く厚さが厚い第２部分を有する構成の自動分析装置の実施例であり、更には、制御部は、第２部材を凹部の第１部分に挿入後、第２部分に移動させた後、重力方向上側に移動させるよう制御する構成の自動分析装置の実施例である。

本実施例においては、図６の下部の断面図に示すように、廃棄台１１２の凹部を構成する廃棄口の広い穴の第１部分の厚さを薄く、廃棄口の狭い穴の第２部分の厚さを厚くする。図６の（Ａ）に示すように、廃棄口の広い台部分から狭い第２部分の位置へ使用済みの検体分注チップ１２３を移動するのみで、図６の（Ｂ）に示すように、検体分注チップ１２３上面が廃棄台１１２下面の廃棄口の狭い、厚さの厚い第２部分に接触する状態とすることができ、この状態で検体分注プローブ１０４ａを上昇させることにより、同図の（Ｃ）に示すように安定して検体分注チップ１２３を落下させることができ、実施例３のように検体分注プローブ１０４ａの上昇動作を、停止を挟んだ２段階動作にする必要はなくなる。

実施例５は、廃棄台１１２の複数個所で検体分注チップの離脱作業を行う実施例である。すなわち、実施例５は、自動分析装置であって、第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、第１部材を廃棄する廃棄箱と、廃棄箱の重力方向上側に配置され、第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を有する廃棄台と、第２部材を凹部に水平方向から挿入し、重力方向上側に移動するよう制御する制御部と、を備え、制御部は、第２部材を凹部上の第１部位に静止させてから重力方向上側に移動させる第１の処理を終了した後、第２部材を凹部に水平方向から挿入した際、第２部材を第１部位とは異なる凹部上の第２部位で、重力方向上側に移動するよう制御する構成の自動分析装置の実施例である。

実施例２、３、及び４による検体分注チップ落下時の姿勢安定化により、検体分注チップに付着する検体が廃棄経路１１３に付着することは抑制できる。しかしながら、同じ箇所に連続して検体分注チップ１２３が落下することで、図７の（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の順に時系列的に示すように、廃棄箱１１５内に検体分注チップ１２３がタケノコ状に積み重なり、同図の（Ｃ）に示すように、廃棄箱１１５から検体分注チップ１２３があふれてしまう問題もある。

そこで本実施例では、図８に示すように、各廃棄タイミング（Ｎ回目、Ｎ＋１回目、Ｎ＋２回目、…）で、廃棄台１１２での検体分注チップ１２３の第２部分上の離脱位置を順次変更・移動することで、検体分注チップ１２３の落下位置をばらつかせ、検体分注チップ１２３が廃棄箱内でタケノコ状に積み重なることを抑制することができる。言い換えるなら、本実施例では、廃棄台の凹部の第２部分に第１部位から第Ｎ部位を備え、制御部である制御コンピュータ１０１が、第２部材である検体分注プローブを、第１部材から第Ｎ部位に順次静止させてから、重力方向上側に移動するよう制御することで、廃棄箱内で分注チップ１２３がタケノコ状に積み重なることを抑制することができる。

以上の実施例を組み合わせることで、より信頼性の高い自動分析装置を提供することができる。本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明のより良い理解のために詳細に説明したのであり、必ずしも説明の全ての構成を備えるものに限定されるものではない。上記実施例では、検体分注チップのみで説明しているが、例えば試薬に対しても分注チップを使用するような場合にも、同様の方法が適用可能である。

更に、上述した各構成、機能、制御コンピュータ等は、それらの一部又は全部を実現するプログラムを作成する例を中心に説明したが、それらの一部又は全部を例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現しても良いことは言うまでもない。すなわち、処理部の全部または一部の機能は、プログラムに代え、例えば、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）などの集積回路などにより実現してもよい。

１００：自動分析装置
１０１：制御コンピュータ
１０２：ラック搬送部
１０３：ラック搬送ライン
１０４：検体分注機構
１０４ａ：検体分注プローブ
１０５：インキュベータ
１０６：搬送機構
１０７：保持部材
１０８：試薬ディスク
１０９：試薬分注機構
１１０：反応容器搬送機構
１１１：検出ユニット
１１２：廃棄台
１１３：廃棄経路
１１４：姿勢制御部材
１１５：廃棄箱
１２０：検体ラック
１２１：検体容器
１２２：反応容器
１２３：検体分注チップ
１２４：試薬ボトル
１２５：吸引口
１３０：検体分注チップ廃棄口
１３１：反応容器廃棄口
１３２：検体分注チップ装着位置
２０１：ザグリ
３０１：検体

Claims (11)

1. 自動分析装置であって、
   第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、
   前記第１部材を貫通する穴を有する設置台と、
   前記穴を貫通する前記第１部材に前記第２部材を押し付けることにより、前記第１部材を前記第２部材に装着するよう制御する制御部と、を備え、
   前記穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、前記第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、前記第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備える、
   ことを特徴とする自動分析装置。
2. 請求項１記載の自動分析装置であって、
   前記第１部材を廃棄する廃棄箱と、
   前記廃棄箱の重力方向上側に配置された廃棄台と、
   前記廃棄台と前記廃棄箱との間に配置された廃棄経路と、
   前記廃棄経路内に設置された姿勢制御部材とを備える、
   ことを特徴とする自動分析装置。
3. 請求項２記載の自動分析装置であって、
   前記廃棄台は、前記第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を備え、
   前記制御部は、前記第２部材を、前記凹部に横方向から挿入した後、前記第１部材が前記第３部材に接するまで重力方向上側に移動させ、前記第１部材が前記第３部材に接した状態で前記第２部材を停止させた後、前記第１部材を重力方向上側に再移動させるよう制御する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
4. 請求項３記載の自動分析装置であって、
   前記制御部は、前記第２部材を重力方向上側に第１速度で移動させ、前記停止の後、前記第２部材を重力方向上側に前記第１速度より遅い第２速度で再移動させるよう制御する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
5. 請求項３記載の自動分析装置であって、
   前記廃棄台は、前記第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を備え、
   前記第３部材の前記凹部は、互いに隣接する穴が広く厚さの薄い第１部分と、第１部分より穴が狭く厚さが厚い第２部分を有する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
6. 請求項５記載の自動分析装置であって、
   前記制御部は、前記第２部材を前記凹部の前記第１部分に挿入後、前記第２部分に移動させた後、重力方向上側に移動させるよう制御する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
7. 自動分析装置であって、
   第１部材が先端に取り付けられる第２部材と、
   前記第１部材を廃棄する廃棄箱と、
   前記廃棄箱の重力方向上側に配置され、前記第２部材を貫通する凹部を有する第３部材を有する廃棄台と、
   前記第２部材を前記凹部に水平方向から挿入し、重力方向上側に移動するよう制御する制御部と、を備え、
   前記制御部は、前記第２部材を前記凹部の第１部位に静止させてから前記重力方向上側に移動させる第１の処理を終了した後、
   前記第２部材を前記凹部に水平方向から挿入した際、前記第２部材を前記第１部位とは異なる前記凹部の第２部位に静止させてから、重力方向上側に移動するよう制御する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
8. 請求項７記載の自動分析装置であって、
   前記第３部材の前記凹部は、互いに隣接する穴が広く厚さの薄い第１部分と、第１部分より穴が狭く厚さが厚い第２部分を有する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
9. 請求項８記載の自動分析装置であって、
   前記凹部の前記第１部位及び前記第２部位は、前記第２部分に位置する、
   ことを特徴とする自動分析装置。
10. 請求項９記載の自動分析装置であって、
    前記第２部分に、前記第１部位、前記第２部位を含む第Ｎ部位を備え、
    前記制御部は、前記第２部材を前記第１部材から前記第Ｎ部位に順次静止させてから、重力方向上側に移動するよう制御する、
    ことを特徴とする自動分析装置。
11. 請求項７に記載の自動分析装置であって、
    前記第１部材を貫通する穴を有する設置台を備え、
    前記穴は、重力方向上側に設けられた第１円柱状部位と、前記第１円柱状部位の重力方向下側に連なるように配置され、前記第１円柱状部位よりも径が大きい第２円柱状部位とを備え、
    前記制御部は、
    前記穴を貫通する前記第１部材に前記第２部材を押し付けることにより、前記第１部材を前記第２部材に装着するよう制御する、
    ことを特徴とする自動分析装置。

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