JPWO2018139446A1 - 半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 166
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 title claims abstract description 159
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 97
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 180
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims abstract description 45
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 229910001849 group 12 element Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 229910052696 pnictogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 229910052795 boron group element Inorganic materials 0.000 claims abstract description 37
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000007771 core particle Substances 0.000 claims description 36
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 27
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 23
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 15
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 45
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 29
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 26
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 25
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 22
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 20
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 17
- -1 oxide Chemical class 0.000 description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 14
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 13
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 13
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 12
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 11
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Cd+2] CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 10
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 10
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K indium(iii) chloride Chemical compound Cl[In](Cl)Cl PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 9
- RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphane Chemical compound CCCCCCCCP(CCCCCCCC)CCCCCCCC RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 229910021482 group 13 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- XVDBWWRIXBMVJV-UHFFFAOYSA-N n-[bis(dimethylamino)phosphanyl]-n-methylmethanamine Chemical compound CN(C)P(N(C)C)N(C)C XVDBWWRIXBMVJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 8
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 7
- 239000011258 core-shell material Substances 0.000 description 7
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 7
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 7
- 238000004729 solvothermal method Methods 0.000 description 7
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 6
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- CCCMONHAUSKTEQ-UHFFFAOYSA-N octadec-1-ene Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCC=C CCCMONHAUSKTEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 6
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 6
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N (z)-octadec-9-en-1-amine Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCCN QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 5
- WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N (E)-8-Octadecenoic acid Natural products CCCCCCCCCC=CCCCCCCC(O)=O WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 20:1omega9c fatty acid Natural products CCCCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 9-Heptadecensaeure Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000005642 Oleic acid Substances 0.000 description 4
- ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N Oleic acid Natural products CCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N isooleic acid Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCCC(O)=O QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229940057995 liquid paraffin Drugs 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N oleic acid Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N 0.000 description 4
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 4
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N dodecane-1-thiol Chemical compound CCCCCCCCCCCCS WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N dodecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCN JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 3
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- CRSBERNSMYQZNG-UHFFFAOYSA-N 1-dodecene Chemical compound CCCCCCCCCCC=C CRSBERNSMYQZNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GQEZCXVZFLOKMC-UHFFFAOYSA-N 1-hexadecene Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCC=C GQEZCXVZFLOKMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DCTOHCCUXLBQMS-UHFFFAOYSA-N 1-undecene Chemical compound CCCCCCCCCC=C DCTOHCCUXLBQMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 235000021355 Stearic acid Nutrition 0.000 description 2
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical group [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- KPWJBEFBFLRCLH-UHFFFAOYSA-L cadmium bromide Chemical compound Br[Cd]Br KPWJBEFBFLRCLH-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L cadmium dichloride Chemical compound Cl[Cd]Cl YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- OKIIEJOIXGHUKX-UHFFFAOYSA-L cadmium iodide Chemical compound [Cd+2].[I-].[I-] OKIIEJOIXGHUKX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N dimethylselenide Chemical compound C[Se]C RVIXKDRPFPUUOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- POULHZVOKOAJMA-UHFFFAOYSA-N dodecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCC(O)=O POULHZVOKOAJMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DCAYPVUWAIABOU-UHFFFAOYSA-N hexadecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC DCAYPVUWAIABOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IPCSVZSSVZVIGE-UHFFFAOYSA-N hexadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O IPCSVZSSVZVIGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 2
- BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N nonane Chemical compound CCCCCCCCC BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZJRJXONCZWCBN-UHFFFAOYSA-N octadecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC RZJRJXONCZWCBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Natural products CCCCCCCC(C)CCCCCCCCC(O)=O OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 150000003018 phosphorus compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008117 stearic acid Substances 0.000 description 2
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 2
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L zinc dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Zn+2] JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- XOOUIPVCVHRTMJ-UHFFFAOYSA-L zinc stearate Chemical compound [Zn+2].CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O.CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O XOOUIPVCVHRTMJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- FJLUATLTXUNBOT-UHFFFAOYSA-N 1-Hexadecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCN FJLUATLTXUNBOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LHNRHYOMDUJLLM-UHFFFAOYSA-N 1-hexylsulfanylhexane Chemical compound CCCCCCSCCCCCC LHNRHYOMDUJLLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017115 AlSb Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005542 GaSb Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004262 HgTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005639 Lauric acid Substances 0.000 description 1
- 235000021314 Palmitic acid Nutrition 0.000 description 1
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018503 SF6 Inorganic materials 0.000 description 1
- PLZVEHJLHYMBBY-UHFFFAOYSA-N Tetradecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCN PLZVEHJLHYMBBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N azanylidyneindigane Chemical compound [In]#N NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDODWFPDZYSKIA-UHFFFAOYSA-N benzeneselenol Chemical compound [SeH]C1=CC=CC=C1 WDODWFPDZYSKIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L cadmium acetate Chemical compound [Cd+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229940065285 cadmium compound Drugs 0.000 description 1
- 150000001662 cadmium compounds Chemical class 0.000 description 1
- PLLZRTNVEXYBNA-UHFFFAOYSA-L cadmium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[Cd+2] PLLZRTNVEXYBNA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229940075417 cadmium iodide Drugs 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- VIEXQFHKRAHTQS-UHFFFAOYSA-N chloroselanyl selenohypochlorite Chemical compound Cl[Se][Se]Cl VIEXQFHKRAHTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- VBXWCGWXDOBUQZ-UHFFFAOYSA-K diacetyloxyindiganyl acetate Chemical compound [In+3].CC([O-])=O.CC([O-])=O.CC([O-])=O VBXWCGWXDOBUQZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N dodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940069096 dodecene Drugs 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N epsilon-caprolactam Chemical class O=C1CCCCCN1 JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ALCDAWARCQFJBA-UHFFFAOYSA-N ethylselanylethane Chemical compound CC[Se]CC ALCDAWARCQFJBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 1
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 1
- 150000004665 fatty acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BUHXFUSLEBPCEB-UHFFFAOYSA-N icosan-1-amine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCCCN BUHXFUSLEBPCEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002472 indium compounds Chemical class 0.000 description 1
- IGUXCTSQIGAGSV-UHFFFAOYSA-K indium(iii) hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[In+3] IGUXCTSQIGAGSV-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000007561 laser diffraction method Methods 0.000 description 1
- 231100000053 low toxicity Toxicity 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- XTAZYLNFDRKIHJ-UHFFFAOYSA-N n,n-dioctyloctan-1-amine Chemical compound CCCCCCCCN(CCCCCCCC)CCCCCCCC XTAZYLNFDRKIHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WQEPLUUGTLDZJY-UHFFFAOYSA-N n-Pentadecanoic acid Natural products CCCCCCCCCCCCCCC(O)=O WQEPLUUGTLDZJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FDIOSTIIZGWENY-UHFFFAOYSA-N n-[bis(diethylamino)phosphanyl]-n-ethylethanamine Chemical compound CCN(CC)P(N(CC)CC)N(CC)CC FDIOSTIIZGWENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940094933 n-dodecane Drugs 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 235000021313 oleic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000001181 organosilyl group Chemical group [SiH3]* 0.000 description 1
- MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N oxidophosphanium Chemical class [PH3]=O MPQXHAGKBWFSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ORQWTLCYLDRDHK-UHFFFAOYSA-N phenylselanylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1[Se]C1=CC=CC=C1 ORQWTLCYLDRDHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052699 polonium Inorganic materials 0.000 description 1
- HZEBHPIOVYHPMT-UHFFFAOYSA-N polonium atom Chemical compound [Po] HZEBHPIOVYHPMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229930195734 saturated hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910052950 sphalerite Inorganic materials 0.000 description 1
- GKCNVZWZCYIBPR-UHFFFAOYSA-N sulfanylideneindium Chemical compound [In]=S GKCNVZWZCYIBPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003464 sulfur compounds Chemical class 0.000 description 1
- SFZCNBIFKDRMGX-UHFFFAOYSA-N sulfur hexafluoride Chemical compound FS(F)(F)(F)(F)F SFZCNBIFKDRMGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960000909 sulfur hexafluoride Drugs 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GEKDEMKPCKTKEC-UHFFFAOYSA-N tetradecane-1-thiol Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCS GEKDEMKPCKTKEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TUNFSRHWOTWDNC-HKGQFRNVSA-N tetradecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCC[14C](O)=O TUNFSRHWOTWDNC-HKGQFRNVSA-N 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 150000003573 thiols Chemical class 0.000 description 1
- OVZUSPADPSOQQN-UHFFFAOYSA-N tri(propan-2-yloxy)indigane Chemical compound [In+3].CC(C)[O-].CC(C)[O-].CC(C)[O-] OVZUSPADPSOQQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JKNHZOAONLKYQL-UHFFFAOYSA-K tribromoindigane Chemical compound Br[In](Br)Br JKNHZOAONLKYQL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- RMUKCGUDVKEQPL-UHFFFAOYSA-K triiodoindigane Chemical compound I[In](I)I RMUKCGUDVKEQPL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- ZMBHCYHQLYEYDV-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphine oxide Chemical compound CCCCCCCCP(=O)(CCCCCCCC)CCCCCCCC ZMBHCYHQLYEYDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930195735 unsaturated hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000005074 zinc chloride Nutrition 0.000 description 1
- 239000011592 zinc chloride Substances 0.000 description 1
- 150000003752 zinc compounds Chemical class 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
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- C01B19/04—Binary compounds including binary selenium-tellurium compounds
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- C01B25/00—Phosphorus; Compounds thereof
- C01B25/08—Other phosphides
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
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- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
- C09K11/54—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing zinc or cadmium
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- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02538—Group 13/15 materials
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- H01L21/02587—Structure
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- H01L21/02601—Nanoparticles
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- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
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Abstract
12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)の一方を噴霧する噴霧部と、前記液体(1)及び前記液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記他方の液体と接触し、前記液体(1)と前記液体(2)とを混合して液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを反応させる反応器と、を備える半導体ナノ粒子製造装置。
Description
本発明は、半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法に関する。
半導体量子ドット等の半導体ナノ粒子は優れた蛍光特性を有し、ディスプレイ、照明、バイオセンシング等への応用が進められている。また、半導体量子ドットは、太陽電池の効率を向上させる素材としても研究が進められている。特に、12族元素又は13族元素と、15族元素又は16族元素とを含む半導体量子ドットは優れた蛍光材料となる可能性があり、このような半導体量子ドットとしては、例えば、セレン化カドミウム(CdSe)及びリン化インジウム(InP)が挙げられる。半導体量子ドットの蛍光波長は粒子径により変化するため、粒子径を制御することで、蛍光波長を制御することができる。そのため、任意の粒子径に制御することが可能な半導体量子ドットの製造装置及び製造方法が求められる。
ここで、半導体量子ドットの製造方法としては、例えば、ソルボサーマル法が提案されている。この方法において、金属イオンの前駆体と陰イオンの前駆体とを配位性有機溶媒中で混合し、加熱することで半導体量子ドットを合成している。
ソルボサーマル法は、例えば、塩化インジウム、トリスジメチルアミノホスフィン、ドデシルアミン及びトルエンを密閉容器に入れ、アルゴンを吹き込んだ上で封入し、ステンレス製のジャケットで保護して180℃で24時間加熱することでリン化インジウムを製造する方法である(例えば、特許文献1参照)。この方法においては、粒子径分布の広いリン化インジウムが得られ、蛍光スペクトルも幅広な形状を示す。
ソルボサーマル法により製造された半導体ナノ粒子については、特定の蛍光波長のみを持つ半導体ナノ粒子を得るためには粒子選別が必要となる。更に、ソルボサーマル法により得られるリン化インジウムの蛍光ピーク波長は、例えば620nm〜640nm程度であり、蛍光波長が短波長(例えば、570nm以下、好ましくは550nm以下)のリン化インジウムの製造効率が非常に低いという問題がある。これは、ソルボサーマル法により半導体ナノ粒子を製造する場合、蛍光波長が短波長となるように半導体ナノ粒子の粒子径を制御することが困難であるためである。そこで、一例として蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子を効率的に製造するため、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法が望まれる。
本発明の一形態は、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための手段には、以下の実施態様が含まれる。
<1> 12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)の一方を噴霧する噴霧部と、前記液体(1)及び前記液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記他方の液体と接触し、前記液体(1)と前記液体(2)とを混合して液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを反応させる反応器と、を備える半導体ナノ粒子製造装置。
<2> 12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(3)を噴霧する噴霧部と、液体(4)が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記液体(4)と接触し、前記液体(3)と前記液体(4)とを混合して液体(3)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を反応させる反応器と、を備える半導体ナノ粒子製造装置。
<3> 前記噴霧をエレクトロスプレーによって行う、<1>又は<2>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<4> 前記噴霧部の少なくとも一部を構成する、あるいは、前記噴霧部の少なくとも一部に取り付けられた第1電極と、前記反応器に液体が供給されたときに当該液体と接触する位置に配置された第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間に電位差を形成する電位差形成部と、を更に備える<3>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<5> 前記第2電極は、リング状、筒状、メッシュ状、棒状、球状、半球状又は板状の導体である<4>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<6> 前記電位差形成部は、絶対値で0.3kV〜30kVの電位差を形成する<4>又は<5>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<7> 前記噴霧部から噴霧される液滴の直径は、0.1μm〜100μmである<1>〜<6>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<8> 前記噴霧部の内径は0.01mm〜1mmである<1>〜<7>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<9> 前記噴霧部から前記噴霧される液体の送液速度が、前記噴霧部ひとつにつき0.001mL/min〜1mL/minである<1>〜<8>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<10> 前記反応器を加熱する加熱部を更に備える<1>〜<9>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<11> 前記加熱部は、熱流体、固体熱媒体又は電熱線である<10>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<12> 前記反応器内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部を更に備える<1>〜<11>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<13> 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料を前記反応器に供給する材料供給部を更に備え、前記反応器にて前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する<1>〜<12>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<14> 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料が供給され、前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する形成器を更に備える<1>〜<12>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<15> <1>〜<14>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置を用いて半導体ナノ粒子を製造する半導体ナノ粒子の製造方法。
<2> 12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(3)を噴霧する噴霧部と、液体(4)が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記液体(4)と接触し、前記液体(3)と前記液体(4)とを混合して液体(3)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を反応させる反応器と、を備える半導体ナノ粒子製造装置。
<3> 前記噴霧をエレクトロスプレーによって行う、<1>又は<2>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<4> 前記噴霧部の少なくとも一部を構成する、あるいは、前記噴霧部の少なくとも一部に取り付けられた第1電極と、前記反応器に液体が供給されたときに当該液体と接触する位置に配置された第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間に電位差を形成する電位差形成部と、を更に備える<3>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<5> 前記第2電極は、リング状、筒状、メッシュ状、棒状、球状、半球状又は板状の導体である<4>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<6> 前記電位差形成部は、絶対値で0.3kV〜30kVの電位差を形成する<4>又は<5>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<7> 前記噴霧部から噴霧される液滴の直径は、0.1μm〜100μmである<1>〜<6>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<8> 前記噴霧部の内径は0.01mm〜1mmである<1>〜<7>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<9> 前記噴霧部から前記噴霧される液体の送液速度が、前記噴霧部ひとつにつき0.001mL/min〜1mL/minである<1>〜<8>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<10> 前記反応器を加熱する加熱部を更に備える<1>〜<9>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<11> 前記加熱部は、熱流体、固体熱媒体又は電熱線である<10>に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<12> 前記反応器内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部を更に備える<1>〜<11>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<13> 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料を前記反応器に供給する材料供給部を更に備え、前記反応器にて前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する<1>〜<12>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<14> 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料が供給され、前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する形成器を更に備える<1>〜<12>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置。
<15> <1>〜<14>のいずれか1つに記載の半導体ナノ粒子製造装置を用いて半導体ナノ粒子を製造する半導体ナノ粒子の製造方法。
本発明の一形態によれば、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法を提供することができる。
以下、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。但し、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。以下の実施形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合を除き、必須ではない。数値及びその範囲についても同様であり、本発明を制限するものではない。
本開示において「〜」を用いて示された数値範囲には、「〜」の前後に記載される数値がそれぞれ最小値及び最大値として含まれる。
本開示中に段階的に記載されている数値範囲において、一つの数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本開示中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
本開示において実施形態を図面を参照して説明する場合、当該実施形態の構成は図面に示された構成に限定されない。また、各図における部材の大きさは概念的なものであり、部材間の大きさの相対的な関係はこれに限定されない。
本開示中に段階的に記載されている数値範囲において、一つの数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本開示中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
本開示において実施形態を図面を参照して説明する場合、当該実施形態の構成は図面に示された構成に限定されない。また、各図における部材の大きさは概念的なものであり、部材間の大きさの相対的な関係はこれに限定されない。
<第1実施形態>
[半導体ナノ粒子製造装置]
以下、図1を用いて本発明の第1実施形態の半導体ナノ粒子製造装置100について説明する。半導体ナノ粒子製造装置100は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)(以下、「液体(1)」とも称する。)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)(以下、「液体(2)」とも称する。)の一方を噴霧するノズル1(噴霧部)と、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体が供給され、ノズル1により噴霧された液滴が他方の液体と接触し、液体(1)と液体(2)とを混合して液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを反応させる反応器6と、を備える。
[半導体ナノ粒子製造装置]
以下、図1を用いて本発明の第1実施形態の半導体ナノ粒子製造装置100について説明する。半導体ナノ粒子製造装置100は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)(以下、「液体(1)」とも称する。)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)(以下、「液体(2)」とも称する。)の一方を噴霧するノズル1(噴霧部)と、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体が供給され、ノズル1により噴霧された液滴が他方の液体と接触し、液体(1)と液体(2)とを混合して液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを反応させる反応器6と、を備える。
また、半導体ナノ粒子製造装置100は、反応器6内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給管21(不活性ガス供給部)を備える。
また、半導体ナノ粒子製造装置100は、外周部が金属メッキされ、第1電極として機能するノズル1とともに、第2電極として機能する対向電極4を反応器6内に備え、ノズル1と対向電極4との間に電位差を形成する電源5(電位差形成部)を備える。なお、ノズル1は、金属メッキしたガラス細管であってもよく、ステンレス製の中空針、ステンレス管等であってもよい。また、ノズル1は、不導体材料からなる流路内に第1電極として機能する内部電極を備えたノズル等であってもよい。
更に、半導体ナノ粒子製造装置100は、反応器6を加熱する熱流体8(加熱部)を備える。
更に、半導体ナノ粒子製造装置100は、反応器6内の揮発した成分を冷却して反応場に戻す冷却管7を備える。
また、半導体ナノ粒子製造装置100は、外周部が金属メッキされ、第1電極として機能するノズル1とともに、第2電極として機能する対向電極4を反応器6内に備え、ノズル1と対向電極4との間に電位差を形成する電源5(電位差形成部)を備える。なお、ノズル1は、金属メッキしたガラス細管であってもよく、ステンレス製の中空針、ステンレス管等であってもよい。また、ノズル1は、不導体材料からなる流路内に第1電極として機能する内部電極を備えたノズル等であってもよい。
更に、半導体ナノ粒子製造装置100は、反応器6を加熱する熱流体8(加熱部)を備える。
更に、半導体ナノ粒子製造装置100は、反応器6内の揮発した成分を冷却して反応場に戻す冷却管7を備える。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置100では、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)の一方を反応器6内で噴霧し、噴霧された液滴を、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体に接触させている。両液体が接触して混合された際、液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とが反応して半導体ナノ粒子が製造される。液体(1)又は液体(2)の一方である噴霧された液滴を、他方の液体に接触させて半導体ナノ粒子を製造しているため、ソルボサーマル法と比較して、製造される半導体ナノ粒子の粒子径の制御が容易であり、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる。
製造される半導体ナノ粒子の粒子径の制御が容易であるため、製造される半導体ナノ粒子の蛍光波長の制御(特に、短波長側での蛍光波長の制御)も容易となる傾向にある。したがって、例えば、蛍光ピーク波長が長波長〜短波長の半導体ナノ粒子を効率的に製造でき、所望の蛍光ピーク波長の半導体ナノ粒子を効率よく製造できる傾向にある。
また、例えば、蛍光波長が短波長(例えば、570nm以下、好ましくは550nm以下)である半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる傾向にある。
また、例えば、蛍光波長が短波長(例えば、570nm以下、好ましくは550nm以下)である半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる傾向にある。
本開示において、「半導体ナノ粒子」は平均粒子径が1nm〜100nmである粒子を意味する。なお、半導体ナノ粒子の平均粒子径は、レーザー回折法により測定される体積基準の粒度分布において小径側からの累積が50%となるときの粒子径(D50)である。
本開示において、「半導体ナノ粒子」の形状は、特に限定されず、球状、楕円球状、フレーク状、直方体状、柱状、不規則形状等であってもよく、球状、楕円球状、フレーク状、直方体状、柱状等の一部が不規則形状となっていてもよい。
本開示において、「半導体ナノ粒子」は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方と、15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを含むものであればよい。また、例えば、半導体ナノ粒子の製造工程にて分散剤、その他の有機溶媒、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む化合物、15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む化合物等に含まれる原子、分子などが混入しているものであってもよい。
半導体ナノ粒子製造装置100にて用いる12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分を含む液体であればよい。12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分としては、12族金属、13族金属、12族金属化合物、13族金属化合物、12族金属及び13族金属を含む化合物等が挙げられる。
12族元素としては、亜鉛(Zn)、カドミウム(Cd)、水銀(Hg)等の12族金属が挙げられ、中でも、亜鉛(Zn)及びカドミウム(Cd)が好ましい。
13族元素としては、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、タリウム(Tl)等の13族金属が挙げられ、中でも、インジウム(In)が好ましい。
12族金属化合物としては、12族金属を含むものであれば特に限定されず、12族金属を含む、塩化物、臭化物、ヨウ化物等のハロゲン化物、酸化物、窒化物、硫化物、水酸化物、酢酸塩等の有機塩、有機錯体などが挙げられる。中でも、リン化合物(例えば、トリスジメチルアミノホスフィン)との反応性に富む点から、12族金属を含むハロゲン化物が好ましく、塩化インジウムがより好ましい。
より具体的には、12族金属化合物であるカドミウム化合物としては、塩化カドミウム、臭化カドミウム、ヨウ化カドミウム等のハロゲン化カドミウム、酸化カドミウム、水酸化カドミウム、酢酸カドミウム、カドミウムアセチルアセトナートなどが挙げられ、中でも、比較的安定で、かつハロゲン化カドミウムと比較して吸湿性が低く、扱いやすい点から、酸化カドミウムが好ましい。
13族金属化合物としては、13族金属を含むものであれば特に限定されず、13族金属を含む、塩化物、臭化物、ヨウ化物等のハロゲン化物、酸化物、窒化物、硫化物、水酸化物、アルコキシドなどが挙げられる。
より具体的には、13族金属化合物であるインジウム化合物としては、塩化インジウム、臭化インジウム、ヨウ化インジウム等のハロゲン化インジウム、酸化インジウム、窒化インジウム、硫化インジウム、水酸化インジウム、酢酸インジウム、インジウムイソプロポキシドなどが挙げられ、中でも、リン化合物(例えば、トリスジメチルアミノホスフィン)との反応性に富み、市場価格が比較的安価である点から、塩化インジウムが好ましい。
液体(1)は、液中にて12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分等の凝集を抑制する点から、分散剤を含むことが好ましい。分散剤としては、配位性有機溶媒であることが好ましく、具体的には、ドデシルアミン、テトラデシルアミン、ヘキサデシルアミン、オレイルアミン、トリオクチルアミン、エイコシルアミン等の有機アミン、ラウリン酸、カプロン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、オレイン酸等の脂肪酸、トリオクチルホスフィンオキシド等の有機ホスフィンオキシドなどが挙げられ、中でも、リン化合物との反応性に優れ、リン化インジウムの生成を促進する性質を持ち、かつ沸点が高く高温合成時にも揮発しづらい点からオレイルアミンが好ましい。また、酸化カドミウムの溶解度が高い点から、オレイン酸が好ましい。
液体(1)が分散剤を含む場合、分散剤1mLに対する12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分の合計の含有量は、0.01g〜0.2gであることが好ましく、0.03g〜0.15gであることがより好ましく、0.04g〜0.10gであることが更に好ましい。
液体(1)は、その他の有機溶媒を含んでいてもよい。その他の有機溶媒としては、n−ヘキサン、n−ヘプタン、n−オクタン、n−ノナン、n−デカン、n−ドデカン、n−ヘキサデカン、n−オクタデカン等の脂肪族飽和炭化水素、1−ウンデセン、1−ドデセン、1−ヘキサデセン、1−オクタデセン等の脂肪族不飽和炭化水素、トリオクチルホスフィンなどが挙げられる。
半導体ナノ粒子製造装置100にて用いる15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)は、15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む成分を含む液体であればよい。15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む成分としては、15族元素単体、15族元素化合物、16族元素単体、16族元素化合物、15族元素及び16族元素を含む化合物等が挙げられる。
15族元素としては、窒素(N)、リン(P)、ヒ素(As)、アンチモン(Sb)、ビスマス(Bi)等が挙げられ、中でも、リン(P)が好ましい。
16族元素としては、酸素(O)、硫黄(S)、セレン(Se)、テルル(Te)、ポロニウム(Po)等が挙げられ、中でも、硫黄(S)及びセレン(Se)が好ましい。
15族元素化合物としては、例えば、リンを含む化合物が挙げられ、具体的には、トリスジメチルアミノホスフィン、トリスジエチルアミノホスフィン、トリストリメチルシリルホスフィン、ホスフィン(PH3)等が挙げられ、中でも、インジウムイオンとの反応性に富む点、高沸点の液体であるため高温合成に適する点、またシリル系等のリン化合物と比較して毒性が低い点等から、トリスジメチルアミノホスフィンが好ましい。
16族元素化合物としては、例えば、硫黄又はセレンを含む化合物が挙げられ、具体的には、ドデカンチオール、セレノウレア、ジエチルセレニド、ジフェニルセレニド、セレン化ジメチル、塩化セレン、ベンゼンセレノール等が挙げられる。
半導体ナノ粒子製造装置100にて用いる液体(2)は、15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む成分が固体である場合、分散剤、その他の有機溶媒等に固体成分を溶解させたものであってもよい。また、液体(2)は、15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む成分が液体である場合、液体成分単体又は液体成分を分散剤、その他の有機溶媒等と混合したものであってもよい。
分散剤としては、例えば、前述の液体(1)にて使用されるものが挙げられる。また、液体(2)は、前述の液体(1)と同様、前述のその他の有機溶媒を含んでいてもよい。
半導体ナノ粒子製造装置100では、液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とが反応して半導体ナノ粒子が製造される。そのため、半導体ナノ粒子製造装置100を用いて製造される半導体ナノ粒子としては、12族元素及び13族元素の少なくとも一方と、15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを含む粒子であれば特に限定されない。
半導体ナノ粒子製造装置100を用いて製造される半導体ナノ粒子としては、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、InN、InP、InSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、GaN、GaP、GaAs、GaSb等が挙げられ、中でも、CdSe及びInPが好ましい。
以下、半導体ナノ粒子製造装置100の各構成及び半導体ナノ粒子製造装置100を用いて半導体ナノ粒子を製造する工程について説明する。
ノズル1は、反応器6の内部に配置され、液体(1)又は液体(2)の一方を噴霧する噴霧部である。ノズル1は、噴霧される液体の供給源2と供給管3を介して接続している。そのため、噴霧される液体が供給管3を通じて供給源2からノズル1に供給され、ノズル1の噴霧口1aから液体が噴霧される。
また、ノズル1は、外周部が金属メッキされ、第1電極として機能する。なお、第1電極は、噴霧部であるノズル1の少なくとも一部を構成していてもよく、あるいは、ノズル1の少なくとも一部に取り付けられていてもよい。
ノズル1は、金属メッキしたガラス細管であってもよく、ステンレス製の中空針、ステンレス管等であってもよい。また、ノズル1は、不導体材料からなる流路内に第1電極として機能する内部電極を備えたノズル等であってもよい。
ノズル1は、金属メッキしたガラス細管であってもよく、ステンレス製の中空針、ステンレス管等であってもよい。また、ノズル1は、不導体材料からなる流路内に第1電極として機能する内部電極を備えたノズル等であってもよい。
反応器6の内部には、ノズル1と間隔を空けて第2電極である対向電極4が配置されている。ノズル1の噴霧口1aは、対向電極4の一部と対向するように配置されていることが好ましく、ノズル1の噴霧口1aは、対向電極4の平面に対して交差する方向に液体を噴霧するように配置されていることがより好ましい。
また、対向電極4は、反応器6内の底部に接触して配置されていてもよく、反応器6内の底部から離れて配置されていてもよい。
また、対向電極4は、反応器6内の底部に接触して配置されていてもよく、反応器6内の底部から離れて配置されていてもよい。
対向電極4の形状としては、リング状、筒状、メッシュ状、棒状、球状、半球状、板状等が挙げられる。対向電極4の形状がリング状又は筒状である場合、対向電極4は反応器6の周方向に沿って配置されていてもよい。
また、半導体ナノ粒子製造装置100は、ノズル1と対向電極4との間に電位差を形成する電源5を備えている。電源5は高電圧電源であることが好ましい。電源5は、ノズル1を正電位とし、かつ対向電極4をノズル1よりも低い電位とするように構成されていてもよく、ノズル1を負電位とし、かつ対向電極4をノズル1よりも高い電位とするように構成されていてもよい。
これにより、半導体ナノ粒子製造装置100は、液体(1)及び液体(2)の少なくとも一方の噴霧をエレクトロスプレーにより行うことができ、半導体ナノ粒子の粒子径を好適に制御することが可能となり、所望の蛍光ピーク波長の半導体ナノ粒子をより効率的に製造することができる傾向にある。
本開示において、「エレクトロスプレー」とは、電極間に電圧を印加して電場を形成し、クーロン力によって液体を噴霧する装置、又は前記装置によって液体が噴霧されている状態を指す。
図1に示すように、半導体ナノ粒子製造装置100では、ノズル1の噴霧口1aからW1+W2離れた位置に対向電極4が配置されている。W1は、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体を反応器6に貯留したときの貯留された液体の液面と、ノズル1の噴霧口1aとの距離を表す。また、W2は、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体を反応器6に貯留したときの貯留された液体の液面と、対向電極4との距離を表す。
ノズル1の噴霧口1aと対向電極4との距離W1+W2は、電場強度、エレクトロスプレーによって生成される液滴の直径、形状等に影響を及ぼすため、適宜調整することが好ましい。
ノズル1の噴霧口1aと対向電極4との距離W1+W2は、例えば3mm〜300mmであることが好ましく、10mm〜250mmであることがより好ましく、15mm〜200mmであることが更に好ましい。
距離W1は、噴霧された液滴の形状が変動することを抑制する点から、2mm〜100mmであることが好ましく、5mm〜70mmであることがより好ましく、10mm〜50mmであることが更に好ましい。
また、ノズル1の内径は、蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、0.01mm〜1mmであることが好ましく、0.1mm〜0.8mmであることがより好ましく、0.3mm〜0.7mmであることが更に好ましい。
ノズル1から噴霧される液滴の直径は、蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、0.1μm〜100μmであることが好ましく、1μm〜50μmであることがより好ましく、1μm〜10μmであることが更に好ましい。噴霧される液滴の直径を、前述の数値範囲内とすることにより、噴霧される液滴を噴霧されていない他方の液体と接触させて液体(1)と液体(2)とを混合する際の液体の温度変化を抑制し、短時間で噴霧された液滴の温度を噴霧されていない他方の液体と同一の温度とすることができる。そのため、反応場の温度変化が小さく、半導体ナノ粒子の粒子径をより好適に制御することが可能となり、例えば、蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子を更に効率的に製造することができる傾向にある。
さらに、噴霧される液滴の直径を、前述の数値範囲内とすることにより、噴霧される液滴が、噴霧されていない他方の液体と接触した際、急速に混合される。そのため、液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方との反応時間が短縮され、短時間で粒子径の制御された半導体ナノ粒子を製造することができる。
噴霧される液滴の直径は、例えば、ノズルの直径を調整したり、噴霧される液体の送液速度、表面張力、粘度、イオン強度及び比誘電率を調整したり、エレクトロスプレーにより噴霧を行う場合に電圧を調整したり、不活性ガスの種類を調整したりすることで適宜調整することができる。
さらに、噴霧される液滴の直径を、前述の数値範囲内とすることにより、噴霧される液滴が、噴霧されていない他方の液体と接触した際、急速に混合される。そのため、液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方との反応時間が短縮され、短時間で粒子径の制御された半導体ナノ粒子を製造することができる。
噴霧される液滴の直径は、例えば、ノズルの直径を調整したり、噴霧される液体の送液速度、表面張力、粘度、イオン強度及び比誘電率を調整したり、エレクトロスプレーにより噴霧を行う場合に電圧を調整したり、不活性ガスの種類を調整したりすることで適宜調整することができる。
ノズル1から噴霧される液体の送液速度は、0.001mL/min〜1mL/minであることが好ましく、0.01mL/min〜0.1mL/minであることがより好ましく、0.02mL/min〜0.05mL/minであることが更に好ましい。
また、例えば、1本のノズルから液滴を噴霧する場合、ノズルにおける液体の送液速度は、前述の数値範囲を満たすことが好ましい。また、複数のノズルから液滴を噴霧する場合、複数のノズルにおける液体の送液速度は、いずれも前述の数値範囲を満たすことが好ましい。
また、例えば、1本のノズルから液滴を噴霧する場合、ノズルにおける液体の送液速度は、前述の数値範囲を満たすことが好ましい。また、複数のノズルから液滴を噴霧する場合、複数のノズルにおける液体の送液速度は、いずれも前述の数値範囲を満たすことが好ましい。
ノズル1からの液滴の噴霧が終了した後において、反応器6内の12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体における、12族元素及び13族元素の少なくとも一方であるAと、15族元素及び16族元素の少なくとも一方であるBと、のモル比(A:B)が所定の数値になるように、供給源2からノズル1への液体の供給及びノズル1からの液滴の噴霧を調整することが好ましい。前述のA:Bは、蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、1:1〜1:16であることが好ましく、更に粒子径分布の狭い半導体ナノ粒子を効率的に製造する点から、1:2超1:8未満であることがより好ましく、1:3〜1:7であることが更に好ましく、1:4〜1:6であることが特に好ましい。
不活性ガス供給管21は、反応器6内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部である。半導体ナノ粒子製造装置100では、不活性ガス中にて液体(1)及び液体(2)の少なくとも一方を噴霧し、噴霧された液滴を、液体(1)及び液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体に接触させる。これにより、製造される半導体ナノ粒子への酸素、水蒸気等の混入が抑制され、半導体ナノ粒子の欠陥が抑制される傾向にあり、半導体ナノ粒子の蛍光効率の低下が抑制される傾向にある。
不活性ガスとしては、窒素、アルゴン、二酸化炭素、六フッ化硫黄(SF6)、これらの混合ガス等が挙げられる。
また、不活性ガス供給管ひとつにつき0L/min超10L/min以下の任意の値のガス流量で不活性ガスを反応器6内に流通させてもよい。
また、反応器6内に噴霧されていない他方の液体を供給した際、不活性ガス供給管21の先端が前記他方の液体中に配置されてもよい。これにより、不活性ガスを反応器6内に供給する際、前記他方の液体中に含まれ得る揮発性の不純物の除去が促進される傾向にある。さらに、前記他方の液体に噴霧された液滴を接触させる際、半導体ナノ粒子の製造効率の低下を抑制する点から、反応器6内への不活性ガスの供給を停止することが好ましい。
また、不活性ガス供給管21及びノズル1を別々に配置する構成ではなく、例えば、不活性ガス供給管内部にノズルを設置する構成(二重管構成)であってもよい。
不活性ガスとしては、窒素、アルゴン、二酸化炭素、六フッ化硫黄(SF6)、これらの混合ガス等が挙げられる。
また、不活性ガス供給管ひとつにつき0L/min超10L/min以下の任意の値のガス流量で不活性ガスを反応器6内に流通させてもよい。
また、反応器6内に噴霧されていない他方の液体を供給した際、不活性ガス供給管21の先端が前記他方の液体中に配置されてもよい。これにより、不活性ガスを反応器6内に供給する際、前記他方の液体中に含まれ得る揮発性の不純物の除去が促進される傾向にある。さらに、前記他方の液体に噴霧された液滴を接触させる際、半導体ナノ粒子の製造効率の低下を抑制する点から、反応器6内への不活性ガスの供給を停止することが好ましい。
また、不活性ガス供給管21及びノズル1を別々に配置する構成ではなく、例えば、不活性ガス供給管内部にノズルを設置する構成(二重管構成)であってもよい。
電源5は、絶対値で0.3kV〜30kVの電位差をノズル1と対向電極4との間に形成することが好ましく、1.0kV〜10kVの電位差を形成することがより好ましい。
蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する、特に蛍光波長が500nm〜550nmである半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、電源5は、絶対値で2.0kV〜8.0kVの電位差を形成することが好ましい。
粒子径分布の狭い半導体ナノ粒子を効率的に製造する点から、電源5は、絶対値で4.0kV超8.0kV未満の電位差を形成することが好ましく、絶対値で5.0kV〜7.0kVの電位差を形成することがより好ましい。
蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する、特に蛍光波長が500nm〜550nmである半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、電源5は、絶対値で2.0kV〜8.0kVの電位差を形成することが好ましい。
粒子径分布の狭い半導体ナノ粒子を効率的に製造する点から、電源5は、絶対値で4.0kV超8.0kV未満の電位差を形成することが好ましく、絶対値で5.0kV〜7.0kVの電位差を形成することがより好ましい。
ノズル1側の電位は−30kV〜30kVであることが好ましく、対向電極4側の電位は−30kV〜30kVであることが好ましい。
電源5により、ノズル1及び対向電極4に電圧が印加され、ノズル1及び対向電極4の間に静電場が形成されている状態で、微小液滴L1をノズル1の噴霧口1aから噴霧する。これにより、微小液滴L1は帯電した状態で電場勾配に沿って液体L2に向かって移動し、液体L2の液面に接触する。両液体が接触して混合された際、液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とが反応して半導体ナノ粒子が製造される。製造された半導体ナノ粒子は、液体L2にて分散され、半導体ナノ粒子の分散液が得られる。
例えば、反応器6から取り出した分散液にトルエンを添加した後、続いてメタノールを徐々に添加し、析出する懸濁物質を遠心操作することによって製造された半導体ナノ粒子を分別して、分別された半導体ナノ粒子を回収してもよい。
例えば、反応器6から取り出した分散液にトルエンを添加した後、続いてメタノールを徐々に添加し、析出する懸濁物質を遠心操作することによって製造された半導体ナノ粒子を分別して、分別された半導体ナノ粒子を回収してもよい。
熱流体8は、反応器6を加熱する加熱部である。半導体ナノ粒子を製造する際に反応器6を加熱することにより、より効率的に半導体ナノ粒子を製造できる傾向にある。
反応器6の加熱温度は、特に限定されず、80℃〜350℃であることが好ましく、蛍光波長が短波長である半導体ナノ粒子をより効率的に製造する点から、100℃〜220℃であることがより好ましく、120℃〜190℃であることが更に好ましい。
加熱部としては、熱流体、固体熱媒体、電熱線等が挙げられ、より具体的には、オイルバス、アルミバス、マントルヒーター、電気炉、赤外炉等が挙げられる。
<変形例1>
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、反応器6内に貯留される液体を撹拌する撹拌部を更に備えていてもよい。また、本開示の半導体ナノ粒子製造装置における不活性ガス供給部は、反応器内を減圧する減圧手段を更に備えていてもよい。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、反応器6内に貯留される液体を撹拌する撹拌部を更に備えていてもよい。また、本開示の半導体ナノ粒子製造装置における不活性ガス供給部は、反応器内を減圧する減圧手段を更に備えていてもよい。
第1実施形態の半導体ナノ粒子製造装置100の変形例1である半導体ナノ粒子製造装置200を図2に示す。図2に示すように、半導体ナノ粒子製造装置200は、反応器6内に貯留される液体を撹拌する撹拌部として撹拌子11及びマグネティックスターラー12を備える。更に、半導体ナノ粒子製造装置200は、減圧手段として真空ポンプ13を備え、バルブ10により、反応器6内の減圧と反応器6内への不活性ガスの供給とが切り替え可能となっている。
また、図2に示すように、噴霧をエレクトロスプレーにより行う場合、ノズル1と対向電極4との間に電位差を与えて噴霧する構成に限定されず、リング形状等の中間電極9をノズル1と対向電極4との間に設置し、中間電極9及び容器底部の対向電極4に電位差を与える構成であってもよい。
<変形例2>
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(3)(以下、「液体(3)」とも称する。)を噴霧する噴霧部と、液体(4)が供給され、噴霧部により噴霧された液滴が液体(4)と接触し、液体(3)と液体(4)とを混合して液体(3)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を反応させる反応器と、を備える構成であってもよい。変形例2の半導体ナノ粒子製造装置は、噴霧部から噴霧される液体に12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方の両方が含まれている点で、第1実施形態の半導体ナノ粒子製造装置100と相違する。本変形例においても、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる。
以下では、前述の第1実施形態と相違する事項を中心に説明し、第1実施形態と同様の事項についてはその説明を省略する。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(3)(以下、「液体(3)」とも称する。)を噴霧する噴霧部と、液体(4)が供給され、噴霧部により噴霧された液滴が液体(4)と接触し、液体(3)と液体(4)とを混合して液体(3)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を反応させる反応器と、を備える構成であってもよい。変形例2の半導体ナノ粒子製造装置は、噴霧部から噴霧される液体に12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方の両方が含まれている点で、第1実施形態の半導体ナノ粒子製造装置100と相違する。本変形例においても、粒子径の制御された半導体ナノ粒子を効率的に製造することができる。
以下では、前述の第1実施形態と相違する事項を中心に説明し、第1実施形態と同様の事項についてはその説明を省略する。
液体(3)は、液中にて12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分等の凝集を抑制する点から、前述の分散剤を含むことが好ましい。
液体(3)が分散剤を含む場合、分散剤1mLに対する12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む成分ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む成分の合計の含有量は、0.01g〜0.2gであることが好ましく、0.03g〜0.15gであることがより好ましく、0.04g〜0.10gであることが更に好ましい。
液体(4)は、特に限定されず、前述の分散剤、その他の有機溶媒等を含んで構成されていてもよい
<変形例3>
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方と15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを含むコア粒子と、コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層(シェル層)とを有する半導体ナノ粒子を製造する装置であってもよい。コアシェル構造を有する半導体ナノ粒子は、より高い量子効率を有し、粒子径分布がより狭い傾向にある。なお、コア粒子は、前述の第1実施形態にて製造される半導体ナノ粒子に対応する。
コア粒子表面の少なくとも一部に形成されるシェル層は、一層構造であってもよく、多層構造(コアマルチシェル構造)であってもよい。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、12族元素及び13族元素の少なくとも一方と15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを含むコア粒子と、コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層(シェル層)とを有する半導体ナノ粒子を製造する装置であってもよい。コアシェル構造を有する半導体ナノ粒子は、より高い量子効率を有し、粒子径分布がより狭い傾向にある。なお、コア粒子は、前述の第1実施形態にて製造される半導体ナノ粒子に対応する。
コア粒子表面の少なくとも一部に形成されるシェル層は、一層構造であってもよく、多層構造(コアマルチシェル構造)であってもよい。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置は、コアシェル構造を有する半導体ナノ粒子を製造する点から、コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料を反応器に供給する材料供給部を更に備え、反応器にてコア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成してもよい。
コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料としては、12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む材料(1)(以下、「材料(1)」とも称する。)と、15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む材料(2)(以下、「材料(2)」とも称する。)との組み合わせが挙げられる。材料(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに材料(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方の具体例としては、前述したものと同様である。
材料供給部は、例えば、反応器に材料(1)及び材料(2)をそれぞれ供給する構成であればよい。
また、より高い量子効率を有する点から、コア粒子を構成する化合物のバンドギャップよりもシェル層を構成する化合物のバンドギャップが広くなるように材料(1)及び材料(2)を選択することが好ましい。コア粒子及びシェル層の組み合わせ(コア粒子/シェル層)としては、InP/CdS、InP/CdTe、InP/ZnS、InP/ZnSe、InP/ZnTe、CdSe/ZnS、CdSe/CdS、CdTe/CdS、CdTe/ZnS等が挙げられる。
コア粒子表面の少なくとも一部に、シェル層を形成する方法としては、特に限定されない。例えば、コア粒子を反応器内にて前述のようにして形成した後、反応器内の前記粒子を含む液体に材料(1)及び材料(2)をそれぞれ供給し、必要に応じて溶媒を更に供給し、次いで、前記液体を撹拌しながら加熱すればよい。これにより、コア粒子表面の少なくとも一部に、シェル層を有する半導体ナノ粒子を製造できる。
シェル層を形成する12族元素が亜鉛である場合、亜鉛の供給源となる物質としては、亜鉛化合物が挙げられ、より具体的にはステアリン酸亜鉛、塩化亜鉛等のハロゲン化亜鉛などが挙げられる。
シェル層を形成する16族元素が硫黄である場合、硫黄の供給源となる物質としては、硫黄化合物が挙げられ、より具体的にはドデカンチオール、テトラデカンチオール等のチオール類、またジヘキシルスルフィド等のスルフィド類などが挙げられる。なお、トリオクチルホスフィンに硫黄を溶解させたものを、硫黄の供給源としてもよい。
必要に応じて用いられる溶媒としては、前述のその他の有機溶媒が挙げられ、中でも、1−オクタデセンが好ましい。
シェル層を形成する16族元素が硫黄である場合、硫黄の供給源となる物質としては、硫黄化合物が挙げられ、より具体的にはドデカンチオール、テトラデカンチオール等のチオール類、またジヘキシルスルフィド等のスルフィド類などが挙げられる。なお、トリオクチルホスフィンに硫黄を溶解させたものを、硫黄の供給源としてもよい。
必要に応じて用いられる溶媒としては、前述のその他の有機溶媒が挙げられ、中でも、1−オクタデセンが好ましい。
コア粒子表面の少なくとも一部にシェル層を形成する際、反応温度は150℃〜350℃であることが好ましく、150℃〜300℃であることがより好ましく、反応時間は1時間〜200時間であることが好ましく、2時間〜100時間であることがより好ましく、3時間〜25時間であることが更に好ましい。
<第2実施形態>
[半導体ナノ粒子製造装置]
以下、図3を用いて本発明の第2実施形態の半導体ナノ粒子製造装置300について説明する。半導体ナノ粒子製造装置300は、コアシェル構造を有する半導体ナノ粒子を連続的に製造するための装置である。
[半導体ナノ粒子製造装置]
以下、図3を用いて本発明の第2実施形態の半導体ナノ粒子製造装置300について説明する。半導体ナノ粒子製造装置300は、コアシェル構造を有する半導体ナノ粒子を連続的に製造するための装置である。
半導体ナノ粒子製造装置300は、反応器36内に一方の液体を噴霧する複数のノズル1と、反応器36内に他方の液体を供給する供給管31及び供給源32と、反応器36にて製造されるコア粒子の表面の少なくとも一部にシェル層を形成するシェル形成反応器34(形成器)を備える。
半導体ナノ粒子製造装置300は、反応器36内に液体を噴霧するノズル1を複数備えている。そのため、反応器36にて製造されるコア粒子の製造効率に優れる傾向にある。
半導体ナノ粒子製造装置300は、反応器36内に噴霧されていない他方の液体を供給する供給管31及び供給源32を備える。供給管31から供給された他方の液体は、反応器36内を流通した後、流通管33を通じてシェル形成反応器34に供給される。
反応器36は、供給管31及び流通管33と接続している。供給管31から供給された他方の液体は、反応器36内を流通した後、流通管33から排出される。
反応器36内において、他方の液体を供給源32から流通させつつ複数のノズル1から液滴を噴霧し、噴霧させた液体を他方の液体と接触させることが好ましい。両液体が接触して混合された際、12族元素及び13族元素の少なくとも一方と15族元素及び16族元素の少なくとも一方とが反応してコア粒子が形成される。そして、反応器36内にて製造されたコア粒子は、他方の液体とともに反応器36内を流通した後、流通管33を通じてシェル形成反応器34に供給されるため、コア粒子を反応器36内にて連続的に製造することができる。
半導体ナノ粒子製造装置300は、反応器36にて製造されるコア粒子の表面の少なくとも一部にシェル層を形成するシェル形成反応器34を備える。シェル形成反応器34は、コア粒子及び前述のコア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料が供給され、コア粒子表面の少なくとも一部にシェル層を形成する装置である。
図3に示すように、半導体ナノ粒子製造装置300は、シェル形成反応器34を並列して2つ備えていてもよく、例えば、一方のシェル形成反応器34にてコアシェル構造を形成しているときに、流通管33を通じて反応器36から供給されるコア粒子を他方のシェル形成反応器34にて回収し、2つのシェル形成反応器34が交互にコアシェル構造を有する半導体ナノ粒子を製造する構成となっていてもよい。
シェル形成反応器34にてコア粒子表面の少なくとも一部にシェル層を形成する際、反応温度は150℃〜350℃であることが好ましく、150℃〜300℃であることがより好ましく、反応時間は1時間〜200時間であることが好ましく、2時間〜100時間であることがより好ましく、3時間〜25時間であることが更に好ましい。
また、半導体ナノ粒子製造装置300において、シェル形成反応器34を設ける代わりに、反応器36内にてコアシェル構造を製造する構成であってもよい。
本開示の半導体ナノ粒子製造装置によれば、各種液晶ディスプレイの蛍光材料製造に適用可能であり、さらには液晶ディスプレイを搭載した各種電子機器の製造に適用可能である。また、本開示の半導体ナノ粒子製造装置を用いて製造される半導体ナノ粒子は、バイオイメージング、太陽電池等への応用が期待できる。
また、本開示の半導体ナノ粒子製造装置を用いて半導体ナノ粒子を製造する製造方法についても本発明の範囲に包含される。
以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例に限定されるものではない。
[実施例1〜5]
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、表1に示す電圧によるエレクトロスプレーでリン化インジウムを合成し、合成したリン化インジウムの表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成した後、蛍光スペクトルを測定した。原料には塩化インジウム及びトリスジメチルアミノホスフィンを用い、分散剤にはオレイルアミンを用いた。
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、表1に示す電圧によるエレクトロスプレーでリン化インジウムを合成し、合成したリン化インジウムの表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成した後、蛍光スペクトルを測定した。原料には塩化インジウム及びトリスジメチルアミノホスフィンを用い、分散剤にはオレイルアミンを用いた。
本実施例は以下のように行った。まず塩化インジウム0.3gをガラス製反応容器中に秤量し、オレイルアミン5mLを加え混合した。この操作は塩化インジウムの吸湿を防ぐために乾燥した窒素雰囲気下で行った。続いて前記反応容器中に窒素を流通しながらオイルバスで120℃に加熱し、塩化インジウムをオレイルアミンに溶解させた。続いて前記反応容器をオイルバスで180℃に加熱し、液面より3.5cmの距離に先端を合わせた内径0.5mmのステンレスチューブから、トリスジメチルアミノホスフィン1.05mL(0.050mL/minの速度で21分間)をエレクトロスプレーにより噴霧した。スプレー電圧は表1に示す値とした。その後、室温まで放冷してリン化インジウムを含む溶液試料を得た。
蛍光特性の比較を容易にするため、前述のようにして得られた各溶液試料1mLに対してステアリン酸亜鉛0.7g、ドデカンチオール2.6mL、及び溶媒として1−オクタデセン2.4mLを加え、オートクレーブ中にて180℃で20時間加熱し、リン化インジウム表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成した。その後、室温まで放冷して表面に硫化亜鉛の外殻が形成されたリン化インジウムを含む溶液試料を得た。
(蛍光ピーク波長及び半値幅の測定)
前述の硫化亜鉛の外殻が形成されたリン化インジウムを含む溶液試料にヘキサン3mLを加えて、リン化インジウムの半導体ナノ粒子の分散液を得た。
前述の硫化亜鉛の外殻が形成されたリン化インジウムを含む溶液試料にヘキサン3mLを加えて、リン化インジウムの半導体ナノ粒子の分散液を得た。
蛍光分光光度計(株式会社島津製作所製RF−5300)を用い、450nmの光を照射して、得られたリン化インジウムの半導体ナノ粒子の分散液の蛍光スペクトルを測定し、蛍光ピーク波長及び半値幅を求めた。
結果を表1に示す。
結果を表1に示す。
[比較例1]
ソルボサーマル法によりリン化インジウムを合成し、合成したリン化インジウムの表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成した後、蛍光スペクトルを測定した。
まず、塩化インジウム、トリスジメチルアミノホスフィン、ドデシルアミン及びトルエンをポリテトラフルオロエチレン製の密閉容器に入れ、窒素を吹き込んだ上で封入し、ステンレス製のジャケットで保護して180℃で24時間加熱してリン化インジウムを製造した。その後、前述の実施例1〜5と同様にして、リン化インジウム表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成し、蛍光ピーク波長及び半値幅の測定を行った。
結果を表1に示す。
ソルボサーマル法によりリン化インジウムを合成し、合成したリン化インジウムの表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成した後、蛍光スペクトルを測定した。
まず、塩化インジウム、トリスジメチルアミノホスフィン、ドデシルアミン及びトルエンをポリテトラフルオロエチレン製の密閉容器に入れ、窒素を吹き込んだ上で封入し、ステンレス製のジャケットで保護して180℃で24時間加熱してリン化インジウムを製造した。その後、前述の実施例1〜5と同様にして、リン化インジウム表面に硫化亜鉛の外殻(シェル層)を形成し、蛍光ピーク波長及び半値幅の測定を行った。
結果を表1に示す。
表1に示すように、実施例1〜実施例5にて製造された半導体ナノ粒子は、比較例1にて製造された半導体ナノ粒子と比較して蛍光ピーク波長が短かった。
また、表1に示すように、実施例1〜実施例5にて製造された半導体ナノ粒子から得られる蛍光の蛍光ピーク波長及び半値幅は、スプレー電圧によって変動する。
例えば、スプレー電圧を2.0kV〜6.0kVとして製造された半導体ナノ粒子について蛍光スペクトルを測定した際、525±20nmの蛍光が得られた。
一方、半値幅についてはスプレー電圧をより小さくすることで拡大した。
以上により、525±20nmの蛍光を得る点から、スプレー電圧は2.0kV〜8.0kV未満とすることが好ましく、一方半値幅を縮小させる点から、スプレー電圧は4.0kV超とすることが好ましいと推測される。
また、表1に示すように、実施例1〜実施例5にて製造された半導体ナノ粒子から得られる蛍光の蛍光ピーク波長及び半値幅は、スプレー電圧によって変動する。
例えば、スプレー電圧を2.0kV〜6.0kVとして製造された半導体ナノ粒子について蛍光スペクトルを測定した際、525±20nmの蛍光が得られた。
一方、半値幅についてはスプレー電圧をより小さくすることで拡大した。
以上により、525±20nmの蛍光を得る点から、スプレー電圧は2.0kV〜8.0kV未満とすることが好ましく、一方半値幅を縮小させる点から、スプレー電圧は4.0kV超とすることが好ましいと推測される。
[実施例6]
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、セレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、セレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
本実施例は以下のように行った。まず酸化カドミウム120mgをガラス製のナス型フラスコに秤量し、オレイン酸2.5mLを加え、アルゴンガスを流通しながら180℃で加熱し、酸化カドミウムをオレイン酸に溶解させた。酸化カドミウムが溶解した溶液を冷却した後、当該溶液にトリオクチルホスフィン1mLを加えて1時間撹拌した後、更にヘキサン1mLを加えて撹拌した。得られたカドミウム溶液をポリプロピレン製のシリンジに充填し、外周を金メッキしたガラス製キャピラリー(内径0.1mm)の噴霧管にシリンジを接続した。一方、ガラス製の三口フラスコにセレン粉末120mg及びトリオクチルホスフィン15mLを入れ、三口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通しながらオイルバスで180℃に加熱してセレンをトリオクチルホスフィンに溶解させた。
次に、高電圧発生装置を用い、噴霧管を+8kVに、あらかじめ三口フラスコの底部に設置した直径3cmのステンレス製メッシュで作成した対向電極を0kVにそれぞれ調整し、8kVの電位差を発生させた。シリンジポンプを用いてシリンジ内のカドミウム溶液を噴霧管から0.02mL/minの速度で押し出し、エレクトロスプレーとしてセレン溶液に向けて噴霧した。この間、三口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通し、セレン溶液をマグネティックスターラーで撹拌した。30分間で0.6mLのカドミウム溶液を微小液滴として噴霧した後、三口フラスコを室温まで放冷してセレン化カドミウムを含むコロイド溶液を得た。
上述のコロイド溶液5mLにトルエンを5mL加えた後、メタノールを5mL加えて良く撹拌した。不純物が沈殿となるので、これを遠心分離器(3000rpm)で取り除き、さらに残った上澄みにメタノール3mLを加えてセレン化カドミウムを沈殿させ、遠心分離器で沈殿を回収した。この沈殿にヘキサン3mLを加えて、セレン化カドミウムの半導体ナノ粒子の分散液を得た。
蛍光分光光度計(株式会社島津製作所製RF−5300)を用い、350nmの光を照射して、得られたセレン化カドミウムの半導体ナノ粒子の分散液の蛍光スペクトルを測定した。その結果、図4に示すように蛍光ピーク波長425nm、半値幅80nmの発光が確認された。
実施例6において、噴霧管と対向電極との電位差を4kV〜10kVの間に調整したときにカドミウム溶液を微小液滴が噴霧されることを確認した。
また、噴霧管と対向電極との電位差が8kVの場合、噴霧管から液体を押し出す速度を0.005mL/min〜0.1mL/mLの範囲で変化させたときに、いずれの速度においても微小液滴が噴霧されることを確認した。
さらに、微小液滴の直径は、噴霧口と対向電極との電位差及び距離、噴霧口の内径及び外径、噴霧される液体の誘電率、粘性及びイオン強度等によって変化し、また三口フラスコ内の温度、不活性ガス等によっても調整できると推測される。
また、噴霧管と対向電極との電位差が8kVの場合、噴霧管から液体を押し出す速度を0.005mL/min〜0.1mL/mLの範囲で変化させたときに、いずれの速度においても微小液滴が噴霧されることを確認した。
さらに、微小液滴の直径は、噴霧口と対向電極との電位差及び距離、噴霧口の内径及び外径、噴霧される液体の誘電率、粘性及びイオン強度等によって変化し、また三口フラスコ内の温度、不活性ガス等によっても調整できると推測される。
[実施例7〜9]
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、セレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
前述の第1実施形態の製造装置を用いて、セレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
本実施例は以下のように行った。まず、二口フラスコにセレン粉末100mg及びトリオクチルホスフィン4mLを入れ、二口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通しながらオイルバスで120℃に加熱してセレンをトリオクチルホスフィンに溶解させた。得られたセレン溶液をポリプロピレン製のシリンジに充填し、ステンレス製ノズル(内径0.6mm)の噴霧管にシリンジを接続した。次に、酸化カドミウム100mgをガラス製の三口フラスコに秤量し、流動パラフィン11mL及びステアリン酸4gを加え、窒素ガスを流通しながら180℃で加熱し、酸化カドミウムを流動パラフィンに溶解させてカドミウム溶液を得た。カドミウム溶液を160℃まで冷却した。
次に、高電圧発生装置を用い、噴霧管を+7kVに、あらかじめ三口フラスコの底部に設置した直径3cmのステンレス製メッシュで作成した対向電極を0kVにそれぞれ調整し、7kVの電位差を発生させた。シリンジポンプを用いてシリンジ内のセレン溶液を噴霧管から0.05mL/minの速度で押し出し、エレクトロスプレーとしてカドミウム溶液に向けて噴霧した。この間、三口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通し、カドミウム溶液をマグネティックスターラーで撹拌した。40分間で2.0mLのセレン溶液を微小液滴として噴霧した。噴霧終了後もカドミウム溶液(カドミウムとセレンの混合液)の温度を160℃のまま保持し、実施例7及び8では、噴霧終了からそれぞれ10分後及び60分に、溶液の一部をポリプロピレン製のシリンジを用いて採取し、室温まで放冷してセレン化カドミウムを含むコロイド溶液を得た。実施例9では、噴霧終了から60分後にカドミウムとセレンの混合液を160℃から180℃に昇温し、180℃で60分間保持してから同様にコロイド溶液を得た。
上述の実施例7〜9のコロイド溶液0.1mLにヘキサンを3mL加えて撹拌した後、上澄みを採取してセレン化カドミウムの半導体ナノ粒子の分散液をそれぞれ得た。
蛍光分光光度計(株式会社島津製作所製RF−5300)を用い、450nmの光を照射して、得られたセレン化カドミウムの半導体ナノ粒子の分散液の蛍光スペクトルを測定した。その結果を表2及び図5に示す。図5において、(1)は実施例7を表し、(2)は実施例8を表し、かつ(3)は実施例9を表す。
実施例7〜9において、セレン溶液の微小液滴の噴霧の後に保持する温度を高くしたり、保持する時間を長くしたりすることにより、蛍光ピーク波長が長波長側に変化することを確認した。
[比較例2及び3]
実施例7〜9と同じ溶液の組み合わせで、ホットインジェクション法によりセレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
まず、二口フラスコにセレン粉末100mg及びトリオクチルホスフィン4mLを入れ、二口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通しながらオイルバスで120℃に加熱してセレンをトリオクチルホスフィンに溶解させた。得られたセレン溶液をポリプロピレン製のシリンジに充填し、ステンレス製ノズル(内径0.6mm)にシリンジを接続した。次に、酸化カドミウム100mgをガラス製の三口フラスコに秤量し、流動パラフィン11mL及びステアリン酸4gを加え、窒素ガスを流通しながら180℃で加熱し、酸化カドミウムを流動パラフィンに溶解させてカドミウム溶液を得た。カドミウム溶液を160℃まで冷却した。
実施例7〜9と同じ溶液の組み合わせで、ホットインジェクション法によりセレン化カドミウムを合成し、蛍光スペクトルを測定した。
まず、二口フラスコにセレン粉末100mg及びトリオクチルホスフィン4mLを入れ、二口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通しながらオイルバスで120℃に加熱してセレンをトリオクチルホスフィンに溶解させた。得られたセレン溶液をポリプロピレン製のシリンジに充填し、ステンレス製ノズル(内径0.6mm)にシリンジを接続した。次に、酸化カドミウム100mgをガラス製の三口フラスコに秤量し、流動パラフィン11mL及びステアリン酸4gを加え、窒素ガスを流通しながら180℃で加熱し、酸化カドミウムを流動パラフィンに溶解させてカドミウム溶液を得た。カドミウム溶液を160℃まで冷却した。
次に、シリンジ内のセレン溶液2mLをステンレス製ノズルからカドミウム溶液に1秒間で注入した。この間、三口フラスコ内に窒素ガスを20mL/minで流通し、カドミウム溶液をマグネティックスターラーで撹拌した。注入後にカドミウム溶液(カドミウムとセレンの混合液)の温度を160℃のまま保持し、注入から10分後(比較例2)、60分後(比較例3)に、溶液の一部をポリプロピレン製のシリンジを用いて採取し、室温まで放冷してセレン化カドミウムを含むコロイド溶液を得た。
[比較例4及び5]
比較例2及び3と同様にセレン溶液とカドミウム溶液を調製し、180℃で保持したカドミウム溶液にセレン溶液1mLを注入し、注入から10分後(比較例4)、60分後(比較例5)に、溶液の一部をポリプロピレン製のシリンジを用いて採取し、室温まで放冷してセレン化カドミウムを含むコロイド溶液を得た。
比較例2及び3と同様にセレン溶液とカドミウム溶液を調製し、180℃で保持したカドミウム溶液にセレン溶液1mLを注入し、注入から10分後(比較例4)、60分後(比較例5)に、溶液の一部をポリプロピレン製のシリンジを用いて採取し、室温まで放冷してセレン化カドミウムを含むコロイド溶液を得た。
得られた比較例2〜5のセレン化カドミウムを、前述の実施例7〜9と同様にして、蛍光ピーク波長及び半値幅の測定を行った。結果を図6、図7及び表2に示す。図6において、(1)は比較例2を表し、かつ(2)は比較例3を表す。また、図7において、(1)は比較例4を表し、かつ(2)は比較例5を表す。
なお、実施例9については、カドミウムとセレンの混合液を160℃にて60分間保持した後、180℃に昇温し、更に60分間保持した。
なお、実施例9については、カドミウムとセレンの混合液を160℃にて60分間保持した後、180℃に昇温し、更に60分間保持した。
特に実施例7〜9で得られたセレン化カドミウムの蛍光ピークの半値幅は、類似の保持温度と保持時間で得られた比較例2〜5の半値幅と比較して、小さな値を示した。本実施例により、従来のホットインジェクション法と比較して、より高精細な発光を得られるセレン化カドミウムを合成できることが確認された。また、比較例2及び3では、保持温度160℃のホットインジェクション法で得られたセレン化カドミウムは対称性の良い蛍光ピークを示さなかったが、実施例7及び8では、保持温度160℃で得られたセレン化カドミウムは対称性の良い蛍光ピークを示した。この結果は、半導体ナノ粒子合成において低温といえる160℃でも、粒子径の揃ったセレン化カドミウムのナノ粒子を得られることを示している。
2017年1月25日に出願された日本国特許出願2017−11181の開示はその全体が参照により本明細書に取り込まれる。
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、及び技術規格は、個々の文献、特許出願、及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、及び技術規格は、個々の文献、特許出願、及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
1 ノズル
1a 噴霧口
2 供給源
3 供給管
4 対向電極
5 電源
6、36 反応器
7 冷却管
8 熱流体
9 中間電極
10 バルブ
11 撹拌子
12 マグネティックスターラー
13 真空ポンプ
L1 微小液滴
L2 液体
21 不活性ガス供給管
31 供給管
32 供給源
33 流通管
34 シェル形成反応器
100、200、300 半導体ナノ粒子製造装置
1a 噴霧口
2 供給源
3 供給管
4 対向電極
5 電源
6、36 反応器
7 冷却管
8 熱流体
9 中間電極
10 バルブ
11 撹拌子
12 マグネティックスターラー
13 真空ポンプ
L1 微小液滴
L2 液体
21 不活性ガス供給管
31 供給管
32 供給源
33 流通管
34 シェル形成反応器
100、200、300 半導体ナノ粒子製造装置
Claims (15)
- 12族元素及び13族元素の少なくとも一方を含む液体(1)又は15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(2)の一方を噴霧する噴霧部と、
前記液体(1)及び前記液体(2)のうちの噴霧されていない他方の液体が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記他方の液体と接触し、前記液体(1)と前記液体(2)とを混合して液体(1)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方と液体(2)に含まれる15族元素及び16族元素の少なくとも一方とを反応させる反応器と、
を備える半導体ナノ粒子製造装置。 - 12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を含む液体(3)を噴霧する噴霧部と、
液体(4)が供給され、前記噴霧部により噴霧された液滴が前記液体(4)と接触し、前記液体(3)と前記液体(4)とを混合して液体(3)に含まれる12族元素及び13族元素の少なくとも一方ならびに15族元素及び16族元素の少なくとも一方を反応させる反応器と、
を備える半導体ナノ粒子製造装置。 - 前記噴霧をエレクトロスプレーによって行う、請求項1又は請求項2に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記噴霧部の少なくとも一部を構成する、あるいは、前記噴霧部の少なくとも一部に取り付けられた第1電極と、
前記反応器に液体が供給されたときに当該液体と接触する位置に配置された第2電極と、
前記第1電極と前記第2電極との間に電位差を形成する電位差形成部と、
を更に備える請求項3に記載の半導体ナノ粒子製造装置。 - 前記第2電極は、リング状、筒状、メッシュ状、棒状、球状、半球状又は板状の導体である請求項4に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記電位差形成部は、絶対値で0.3kV〜30kVの電位差を形成する請求項4又は請求項5に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記噴霧部から噴霧される液滴の直径は、0.1μm〜100μmである請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記噴霧部の内径は0.01mm〜1mmである請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記噴霧部から前記噴霧される液体の送液速度が、前記噴霧部ひとつにつき0.001mL/min〜1mL/minである請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記反応器を加熱する加熱部を更に備える請求項1〜請求項9のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記加熱部は、熱流体、固体熱媒体又は電熱線である請求項10に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記反応器内に不活性ガスを供給する不活性ガス供給部を更に備える請求項1〜請求項11のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料を前記反応器に供給する材料供給部を更に備え、
前記反応器にて前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。 - 前記反応器内にて製造されるコア粒子及び前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する材料が供給され、前記コア粒子表面の少なくとも一部を覆う層を形成する形成器を更に備える請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置。
- 請求項1〜請求項14のいずれか1項に記載の半導体ナノ粒子製造装置を用いて半導体ナノ粒子を製造する半導体ナノ粒子の製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017011181 | 2017-01-25 | ||
JP2017011181 | 2017-01-25 | ||
PCT/JP2018/001977 WO2018139446A1 (ja) | 2017-01-25 | 2018-01-23 | 半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018139446A1 true JPWO2018139446A1 (ja) | 2020-01-23 |
Family
ID=62979301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018564579A Pending JPWO2018139446A1 (ja) | 2017-01-25 | 2018-01-23 | 半導体ナノ粒子製造装置及び半導体ナノ粒子の製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2018139446A1 (ja) |
TW (1) | TWI670355B (ja) |
WO (1) | WO2018139446A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7352504B2 (ja) * | 2020-03-30 | 2023-09-28 | 信越化学工業株式会社 | 量子ドットの製造方法 |
JP7427541B2 (ja) * | 2020-06-15 | 2024-02-05 | 信越化学工業株式会社 | 量子ドットの製造方法 |
TWI763281B (zh) * | 2021-01-27 | 2022-05-01 | 國立虎尾科技大學 | 窄半高寬ZnInP/ZnS量子點的製備方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59154456A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Canon Inc | 光導電性硫セレン化カドミウム粉体の製造方法 |
JPWO2007086279A1 (ja) * | 2006-01-27 | 2009-06-18 | コニカミノルタエムジー株式会社 | ナノ半導体粒子およびその製造方法 |
US7811543B2 (en) * | 2007-04-11 | 2010-10-12 | Irilliant, Inc. | Controlled synthesis of nanoparticles using continuous liquid-flow aerosol method |
FR2969137B1 (fr) * | 2010-12-17 | 2015-01-02 | Centre Nat Rech Scient | Procede de preparation d'une composition de particules mixtes contenant des elements des colonnes 13 et 15 |
WO2012173262A1 (ja) * | 2011-06-16 | 2012-12-20 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | エレクトロスプレーによるマイクロ反応場形成装置及び化学反応制御方法 |
KR101638470B1 (ko) * | 2013-07-19 | 2016-07-11 | 주식회사 엘지화학 | 금속 나노 입자를 포함하는 광흡수층 제조용 잉크 조성물 및 이를 사용한 박막의 제조 방법 |
JP5845525B2 (ja) * | 2014-03-18 | 2016-01-20 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 液中エレクトロスプレー法及び液中エレクトロスプレー装置 |
CN107073432B (zh) * | 2014-08-28 | 2019-11-29 | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 | 分散体的制备方法及其制备装置 |
-
2018
- 2018-01-23 JP JP2018564579A patent/JPWO2018139446A1/ja active Pending
- 2018-01-23 WO PCT/JP2018/001977 patent/WO2018139446A1/ja active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI670355B (zh) | 2019-09-01 |
WO2018139446A1 (ja) | 2018-08-02 |
TW201831648A (zh) | 2018-09-01 |
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