JPWO2018110399A1 - 光酸発生剤及びフォトリソグラフィー用樹脂組成物 - Google Patents
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Abstract
[式(1)中、Xは酸の作用により脱離して水素原子に置換されうる1価の有機基であり、Rfは炭素数1〜18の炭化水素基(水素の一部又は全部がフッ素で置換されていてよい)を表す。]
Description
フォトリソグラフィー工程に用いられるレジスト材料としては、例えば、カルボン酸のtert−ブチルエステル基、又はフェノールのtert−ブチルカーボネート基を有する重合体と光酸発生剤とを含有する樹脂組成物が用いられている。光酸発生剤として、トリアリールスルホニウム塩(特許文献1)、ナフタレン骨格を有するフェナシルスルホニウム塩(特許文献2)等のイオン系光酸発生剤、及びオキシムスルホネート構造を有する酸発生剤(特許文献3)、スルホニルジアゾメタン構造を有する酸発生剤(特許文献4)等の非イオン系酸発生剤が知られている。さらに露光後加熱(PEB)を行うことで、この強酸により重合体中のtert−ブチルエステル基、又はtert−ブチルカーボネート基が解離し、カルボン酸、又はフェノール性水酸基が形成され、紫外線照射部がアルカリ現像液に易溶性となる。この現象を利用してパターン形成が行われている。
これらを解決するためにレジスト材料中の重合体に脂環式骨格、又はフッ素含有骨格等を含有させ疎水性にすることで、レジスト材料の膨潤を抑制する方法が提案させている。
すなわち、本発明は、下記一般式(1)で表されることを特徴とする非イオン系光酸発生剤(A);及び該非イオン系光酸発生剤(A)を含むフォトリソグラフィー用樹脂組成物(Q)である。
またナフタルイミド骨格上に置換基を持つため、ナフタレン環状の電子状態に作用することができi線に対するモル吸光係数が高い。これによりi線を照射することで非イオン系光酸発生剤(A)は容易に分解し、強酸であるスルホン酸を発生することができる。
またXは酸の作用により脱離して水素原子に置換されうるため、露光部のみアルカリ現像液に対する親和性に優れ、露光部におけるスカムの発生が少ない。
さらに、本発明のフォトリソグラフィー用樹脂組成物(Q)はアルカリ現像工程においてスカムの発生が少なく、良好なレジストパターンを得ることができる。
炭素数1〜18の炭化水素基としては、アルキル基、アリール基及び複素環式炭化水素基等が挙げられる。
反応溶媒としては特に限定されるものではないが、アセトニトリル、テトラヒドロフラン、ジクロロメタン、クロロホルム等が好ましい。塩基触媒としては、例えば、ピリジン、メチルモルホリン、ジメチルアミノピリジン、2,6−ルチジン、トリエチルアミン、イミダゾール、DBU、水素化ナトリウム等が好ましく、酸触媒としては、p−トルエンスルホン酸が挙げられ、通常3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物に対し、1〜100mol%を添加する。
3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物とシリルクロリド、3,4−ジヒドロ−2H−ピラン又は二炭酸ジ−tert−ブチル等のモル比は、通常、1:1〜1:2で行う。
フォトリソグラフィー用樹脂組成物(Q)としては、ネガ型化学増幅樹脂(QN)と非イオン系光酸発生剤(A)との混合物;及びポジ型化学増幅樹脂(QP)と非イオン系光酸発生剤(A)との混合物が挙げられる。
上記フェノール類としては、例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、o−ブチルフェノール、m−ブチルフェノール、p−ブチルフェノール、2,3−キシレノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノール、2,6−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−トリメチルフェノール、3,4,5−トリメチルフェノール、カテコール、レゾルシノール、ピロガロール、α−ナフトール、β−ナフトール等が挙げられる。
また、上記アルデヒド類としてはホルムアルデヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、ベンズアルデヒド等が挙げられる。
上記フェノール性低分子化合物としては、例えば、4,4’−ジヒドロキシジフェニルメタン、4,4’−ジヒドロキシジフェニルエーテル、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,3−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、4,6−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]−1,3−ジヒドロキシベンゼン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−〔1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル〕フェニル]エタン、1,1,2,2−テトラ(4−ヒドロキシフェニル)エタン、4,4’−{1−[4−〔1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル〕フェニル]エチリデン}ビスフェノール等が挙げられる。これらのフェノール性低分子化合物は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を混合して用いてもよい。
また、ネガ型化学増幅樹脂(QN)中におけるフェノール性水酸基含有樹脂(QN1)の含有割合は、溶剤を除いた組成物の全体を100重量%とした場合に、30〜90重量%であることが好ましく、より好ましくは40〜80重量%である。このフェノール性水酸基含有樹脂(QN1)の含有割合が30〜90重量%である場合には、感光性絶縁樹脂組成物を用いて形成された膜がアルカリ水溶液による十分な現像性を有しているため好ましい。
なお、酸解離性基は非イオン系光酸発生剤(A)から発生した強酸の存在下で解離することができる基である。
保護基導入樹脂(QP2)は、それ自体としてはアルカリ不溶性又はアルカリ難溶性である。
フェノール性水酸基含有樹脂(QP11)としては、上記水酸基含有樹脂(QN1)と同じものが使用できる。
これらのうち好ましいのは重合性、及び入手のしやすさの観点から不飽和モノカルボン酸、さらに好ましいのは(メタ)アクリル酸である。
疎水基含有ビニルモノマー(Bb)としては、上記と同じものが使用できる。
HLB値が4以上であれば現像を行う際に、現像性がさらに良好であり、19以下であれば硬化物の耐水性がさらに良好である。
HLB≒10×無機性/有機性
また、無機性の値及び有機性の値は、文献「界面活性剤の合成とその応用」(槇書店発行、小田、寺村著)の501頁;または、「新・界面活性剤入門」(藤本武彦著、三洋化成工業株式会社発行)の198頁に詳しく記載されている。
0.001重量%以上であれば紫外線に対する感度がさらい良好に発揮でき、20重量%以下であればアルカリ現像液に対し不溶部分の物性がさらに良好に発揮できる。
これらの溶剤のうち、乾燥温度等の観点から、沸点が200℃以下のもの(トルエン、エタノール、シクロヘキサノン、メタノール、メチルエチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、アセトン及びキシレン)が好ましく、単独又は2種類以上組み合わせで使用することもできる。
有機溶剤を使用する場合、溶剤の配合量は、特に限定されないが、フォトグラフィー用樹脂組成物(Q)の固形分の重量に基づいて、通常30〜1,000重量%が好ましく、さらに好ましくは40〜900重量%、特に好ましくは50〜800重量%である。
フォトグラフィー用樹脂組成物(Q)中の非イオン系光酸発生剤(A)を分解させることができれば特に制限はない。
活性光線としては、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノンランプ、メタルハロゲンランプ、電子線照射装置、X線照射装置、レーザー(アルゴンレーザー、色素レーザー、窒素レーザー、LED、ヘリウムカドミウムレーザー等)等がある。これらのうち、好ましくは高圧水銀灯及び超高圧水銀灯である。
加熱時間としては、通常0.5〜120分未満では時間と温度の制御が困難で、120分より大きいと生産性が低下する問題がある。
アルカリ現像液としては水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、炭酸水素ナトリウム及びテトラメチルアンモニウム塩水溶液等がある。
これらアルカリ現像液は水溶性の有機溶剤を加えてもよい。水溶性の有機溶剤としては、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフラン、N−メチルピロリドン等がある。
現像液の温度は、好ましくは25〜40℃で使用される。現像時間は、レジストの厚さに応じて適宜決定される。
<N−ヒドロキシ−3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(1)]の製造法>
3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物(東京化成工業株式会社製)5.5部、二炭酸ジ−tert−ブチル(東京化成工業株式会社製)5.9部をアセトニトリル32部に分散させ、ピリジン2.2部を加えて50℃で2時間攪拌した。室温に冷却後、水に投入し析出物をろ別して白色固体を得た。この白色固体を水洗し乾燥することで3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物8.1部を得た。
得られた3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物8.1部をアセトニトリル137部に溶解させ、ヒドロキシルアミン水溶液(東京化成工業株式会社製、50%水溶液)2.0部を加えて室温で2時間攪拌した。反応液を水に投入し析出物をろ別して白色固体を得た。この白色固体を水洗し乾燥することで表題の化合物[中間体(1)]8.0部を得た。
<N−ヒドロキシ−3−(2−イソプロピル−5−メチル−シクロヘキソキシ)カルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(2)]の製造法>
3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物(東京化成工業株式会社製)5.5部、クロロギ酸メンチル(東京化成工業株式会社製)5.9部をアセトニトリル47部に分散させ、トリエチルアミン2.8部を加えて50℃で2時間攪拌した。室温に冷却後、水に投入し析出物をろ別して白色固体を得た。この白色固体を水洗し乾燥することで3−(2−イソプロピル−5−メチル−シクロヘキソキシ)カルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物8.0部を得た。
得られた3−(2−イソプロピル−5−メチル−シクロヘキソキシ)カルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物8.0部をアセトニトリル124部に溶解させ、ヒドロキシルアミン水溶液(東京化成工業株式会社製、50%水溶液)1.5部を加えて室温で2時間攪拌した。反応液を水に投入し析出物をろ別して白色固体を得た。この白色固体を水洗し乾燥することで表題の化合物[中間体(2)]4.0部を得た。
<N−ヒドロキシ−3−(2−テトラヒドロピラニル)オキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(3)]の合成法>
3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物(東京化成工業株式会社製)5.5部、3,4−ジヒドロ−2H−ピラン(東京化成工業株式会社製)2.3部をアセトニトリル32部に分散させ、p−トルエンスルホン酸4.9部を加えて50℃で2時間攪拌した。室温に冷却後、水に投入し析出物をろ別して赤褐色固体を得た。この赤褐色固体を水洗し乾燥することで3−(2−テトラヒドロピラニル)オキシ−1,8−ナフタル酸無水物7.6部を得た。
得られた3−(2−テトラヒドロピラニル)オキシ−1,8−ナフタル酸無水物7.6部をアセトニトリル137部に溶解させ、ヒドロキシルアミン水溶液(東京化成工業株式会社製、50%水溶液)2.0部を加えて室温で2時間攪拌した。反応液を水に投入し析出物をろ別して赤褐色固体を得た。この赤褐色固体を水洗し乾燥することで表題の化合物[中間体(3)]7.6部を得た。
<N−ヒドロキシ−3−トリメチルシリルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(4)]の合成法>
3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸無水物(東京化成工業株式会社製)5.5部、トリメチルシリルクロリド(東京化成工業株式会社製)2.9部をアセトニトリル32部に分散させ、トリエチルアミン2.8部を加えて50℃で2時間攪拌した。室温に冷却後、水に投入し析出物をろ別して赤褐色固体を得た。この赤褐色固体を水洗し乾燥することで3−トリメチルシリルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物7.3部を得た。
得られた3−トリメチルシリルオキシ−1,8−ナフタル酸無水物7.3部をアセトニトリル137部に溶解させ、ヒドロキシルアミン水溶液(東京化成工業株式会社製、50%水溶液)2.0部を加えて室温で2時間攪拌した。反応液を水に投入し析出物をろ別して赤褐色固体を得た。この赤褐色固体を水洗し乾燥することで表題の化合物[中間体(4)]7.3部を得た。
<3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−1)]の合成法>
製造例1で得られたN−ヒドロキシ−3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(1)]8.0部をジクロロメタン52部に分散させてピリジン3.8部を加えた後、0℃以下に冷却しながらトリフルオロメタンスルホン酸無水物(東京化成工業株式会社製)10.2部を滴下し、2時間攪拌した。0℃を保ったまま反応液を水に投入し4回水洗した後、ジクロロメタンを減圧留去することで、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−1)]10.0部を得た。
<3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドペンタフルオロエタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−2)]の合成法>
実施例1において、トリフルオロメタンスルホン酸無水物10.2部をペンタフルオロエタンスルホン酸クロリド(東京化成工業株式会社製)7.9部としたこと以外は、実施例1と同様な操作を行い、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−2)]11.1部を得た。
<3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドヘプタフルオロプロパンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−3)]の合成法>
実施例1において、トリフルオロメタンスルホン酸無水物10.2部をヘプタフルオロプロパンスルホン酸クロリド(東京化成工業株式会社製)9.7部としたこと以外は、実施例1と同様な操作を行い、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−3)]12.2部を得た。
<3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドノナフルオロブタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−4)]の合成法>
実施例1において、トリフルオロメタンスルホン酸無水物10.2部をノナフルオロブタンスルホン酸クロリド(東京化成工業株式会社製)11.6部としたこと以外は、実施例1と同様な操作を行い、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−4)]13.3部を得た。
<3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドペンタフルオロベンゼンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−5)]の合成法>
実施例1において、トリフルオロメタンスルホン酸無水物10.2部をペンタフルオロベンゼンスルホン酸クロリド(東京化成工業株式会社製)9.7部としたこと以外は、実施例1と同様な操作を行い、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−5)]12.2部を得た。
<3−(2−イソプロピル−5−メチル−シクロヘキソキシ)カルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−6)]の合成法>
製造例2で得られたN−ヒドロキシ−3−(2−イソプロピル−5−メチル−シクロヘキソキシ)カルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(2)]4.0部をジクロロメタン21部に分散させてピリジン1.5部を加えた後、0℃以下に冷却しながらトリフルオロメタンスルホン酸無水物(東京化成工業株式会社製)4.1部を滴下し、2時間攪拌した。0℃を保ったまま反応液を水に投入し4回水洗した後、ジクロロメタンを減圧留去することで、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−6)]4.1部を得た。
<3−(2−テトラヒドロピラニル)オキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−7)]の合成法>
製造例3で得られたN−ヒドロキシ−3−(2−テトラヒドロピラニル)オキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(3)]7.6部をジクロロメタン52部に分散させてピリジン3.8部を加えた後、0℃以下に冷却しながらトリフルオロメタンスルホン酸無水物(東京化成工業株式会社製)10.2部を滴下し、2時間攪拌した。0℃を保ったまま反応液を水に投入し4回水洗した後、ジクロロメタンを減圧留去することで、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−7)]9.7部を得た。
<3−トリメチルシリルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−8)]の合成法>
製造例4で得られたN−ヒドロキシ−3−トリメチルシリルオキシ−1,8−ナフタル酸イミド[中間体(4)]7.3部をジクロロメタン52部に分散させてピリジン3.8部を加えた後、0℃以下に冷却しながらトリフルオロメタンスルホン酸無水物(東京化成工業株式会社製)10.2部を滴下し、2時間攪拌した。0℃を保ったまま反応液を水に投入し4回水洗した後、ジクロロメタンを減圧留去することで、表題の化合物[非イオン系光酸発生剤(A−8)]9.7部を得た。
<1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A’−1)]の合成法>
下記式(4)で表される1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート(Aldlich社製)をそのまま使用した。
<3−ヒドロキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A’−2)]の合成法>
実施例1で得られた3−tert−ブトキシカルボニルオキシ−1,8−ナフタル酸イミドトリフルオロメタンスルホネート[非イオン系光酸発生剤(A−1)]10.0部をジクロロメタン52部に溶解させ、トリフルオロメタンスルホン酸4.0部を滴下して室温で1時間撹拌した。反応液から析出物をろ別した後、水洗し乾燥することで、下記式(5)で表される非イオン系光酸発生剤(A’−2)7.9部を得た。
<(4−フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート[イオン系光酸発生剤(A’−3)の合成法]>
特開2007−091628公報の実施例1にしたがって、下記式(6)で表される(4−フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート[イオン系光酸発生剤(A’−3)を得た。
光酸発生剤の性能評価として、実施例1〜8で得られた非イオン系光酸発生剤(A−1)〜(A−8)、比較のための非イオン系光酸発生剤(A’−1)、(A’−2)及び比較のためのイオン系光酸発生剤(A’−3)のモル吸光係数、レジスト硬化性、熱分解温度、溶剤溶解性、及びアルカリ現像性について以下の方法で評価し、その結果を表1に記載した。
合成した光酸発生剤をアセトニトリルにより0.25mmol/Lに希釈し、紫外可視分光光度計(島津製作所社製、UV−2550)を用いて、200nmから500nmの範囲で1cmのセル長の吸光度を測定した。下記式からi線(365nm)のモル吸光係数(ε365)を算出した。
ε365(L・mol−1・cm−1)=A365/(0.00025mol/L×1cm)
[式中、A365は365nmの吸光度を表す。]
フェノール樹脂(DIC社製、「フェノライトTD431」)75部、メラミン硬化剤(三井サイアナミッド(株)社製、「サイメル300」)25部、合成した光酸発生剤1部、及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(以下、PGMEAと略記する。)200部の樹脂溶液を、10cm角のガラス基板上にスピンコーターを用いて1000rpmで10秒の条件で塗布した。次いで25℃で5分間真空乾燥した後、80℃のホットプレート上で3分間乾燥させることで、膜厚約3μmのレジストを形成した。このレジストに紫外線照射装置(株式会社オーク製作所社製、HMW−661F−01)を用いて、L−34(株式会社ケンコー光学製、340nm未満の光をカットするフィルター)フィルターによって波長を限定した紫外光を所定量全面に露光した。なお積算露光量は365nmの波長を測定した。次いで、120℃の順風乾燥機で10分間露光後加熱(PEB)を行った後、0.5%水酸化カリウム溶液を用いて30秒間浸漬することで現像し、直ちに水洗、乾燥を行った。このレジストの膜厚を形状測定顕微鏡(超深度形状測定顕微鏡UK−8550、株式会社キーエンス製)を用いて測定した。ここで現像前後のレジストの膜厚変化が10%以内となる最低露光量から、レジスト硬化性を以下の基準により評価した。
○: 最低露光量が250mJ/cm2以下
△: 最低露光量が250mJ/cm2より大きく、500mJ/cm2以下
×: 最低露光量が500mJ/cm2より大きい
合成した光酸発生剤を示差熱・熱重量同時測定装置(SII社製、TG/DTA6200)を用いて、窒素雰囲気下、30℃から500℃まで10℃/分の昇温条件で重量変化を測定し、5%重量が減少した点を熱分解温度とした。
合成した光酸発生剤を0.1g試験管にとり、25℃温調下でプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)を加えていき、光酸発生剤が完全に溶解するまで加えた。なお20g加えても完全に溶解しない場合には、溶解しないものと評価した。
合成した光酸発生剤を0.5部試験管にとり、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を加えて100部にした後、超音波洗浄器でテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液中に1分間分散させた。この分散液を各光酸発生剤2本ずつ調製し、そのうち1本のみに紫外線照射装置(アイグラフィックス社製、ECS−151U)を用いて、340nm未満の光をカットするフィルターによって波長を限定した紫外光を100mJ/cm2照射した。遮光下で24時間静置後の分散液の様子から、アルカリ現像性を以下の基準により評価した。
○: 完全に溶解している
△: 完全に溶解しておらず、濁りがある
×: 完全に溶解しておらず、溶け残りが試験管底部に沈殿している
一方、置換基を有さないナフチルイミド骨格からなる比較例1では、ナフチル骨格同士が分子配向しやすく結晶性が高くなるため、溶剤に対する溶解性が低くすぎることが分かる。また、酸解離性基で水酸基が保護されていない比較例2では、レジスト硬化性及び溶剤溶解性が不足していることが分かる。
また、イオン系光酸発生剤の比較例3では、酸発生剤のレジストへの分散性が低いため、レジスト硬化性が低下していることが分かる。
Claims (5)
- 一般式(1)において、RfがCF3,C2F5、C3F7、C4F9、またはC6F5である請求項1〜3のいずれかに記載の非イオン系光酸発生剤(A)。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の非イオン系光酸発生剤(A)を含むフォトリソグラフィー用樹脂組成物(Q)。
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