JPWO2018056180A1 - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

自動分析装置１００における各種パラメータであって、自動分析装置１００が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶した記憶部２１ｂと、自動分析装置１００の設置された標高の情報を取得する入力部２１ｄと、入力部２１ｄで取得された標高に基づいて、記憶部２１ｂに記憶されたパラメータを読み出して自動分析装置１００に設定する制御部２１ａとを備える。これにより、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。

Description

本発明は、血液や尿などの生体試料の定性・定量分析を行う自動分析装置に関する。

血液や尿等の生体試料（以下、試料と称する）に予め搭載した複数の種類の試薬を添加することにより試料に含まれる特定成分の定量・定性分析を行う自動分析装置は、分析結果の再現性や処理速度の高さなどから各種診断に欠かせないものとなっており、例えば、試料中の分析対象成分と反応して反応液の色が変わるような試薬を用いる分析法(比色分析)や、分析対象成分と直接あるいは間接的に特異的に結合する物質に標識体を付加した試薬を用いて標識体をカウントする分析法(免疫分析)などを実行する機能が設けられている。

このような自動分析装置においては、各装置間に性能の個体差が存在するため、その個体差の影響を抑制するために各種パラメータを調整する技術が知られており、例えば、例えば、特許文献１（特開平１１−２５８２４４号公報）には、吸排ポンプの作動により管路および分注ノズルを介して所定液体を分注する間の分注ノズルまたは管路内の圧力を圧力センサにより検知し、該圧力センサからの圧力データに基づいて分注装置の異常を検知するに際し、異常検知用の基準液体の分注時の第１の圧力データを前記圧力センサにより検知し、前記所定液体の分注時の第２の圧力データを前記圧力センサにより検知し、前記第１および第２の圧力データの比に基づいて分注装置の異常を検知する技術が開示されている。

特開平１１−２５８２４４号公報

ところで、近年は先進各国の経済発展や自動分析装置による診断の一般化に伴い、自動分析装置は平野部に限らず山岳部や高原といった様々な環境の施設でも使用されるようになっており、使用環境に対応した適切な調整が必要である。

上記従来技術においては、基準溶液により得られる基準データを比較して各装置間の個体差を抑制しようとしているものの、自動分析装置の使用環境に合わせた各種パラメータの調整には対応しておらず、正確な分析結果を得ることが困難である。また、使用環境に対応した各種パラメータの最適化は多岐にわたるため、各種パラメータを個別に調整しようとすると多くの時間を要することになる。

本発明は上記に鑑みてなされたものであり、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる自動分析装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明は、試料の分析に用いる試薬を収容した複数の試薬容器が搭載される試薬ディスクと、前記試料と試薬とを反応させる複数の反応容器が配置された反応ディスクと、試料容器に収容された試料に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試料を分注する試料分注機構と、試薬容器に収容された試薬に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試薬を分注する試薬分注機構と、前記反応容器の前記試料と前記試薬の反応液から反応を測定する反応測定部とを備えた自動分析装置において、前記自動分析装置における各種パラメータであって、前記自動分析装置が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶したパラメータ記憶部と、前記自動分析装置の設置された標高の情報を取得する標高情報取得部と、前記標高情報取得部で取得された標高に基づいて、前記パラメータ記憶部に記憶されたパラメータを読み出して前記自動分析装置に設定するパラメータ設定部とを備えたものとする。

本発明によれば、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。

本発明に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。 制御装置の構成を概略的に示す機能ブロック図である。 試料分注機構をその周辺構成とともに抜き出して模式的に示す図である。 パラメータ設定処理を示す処理フローである。 標高−パラメータテーブルの一例を示す図である。 標高と大気圧との関係を示す図である。 真空ポンプの設定電流値と真空ポンプによって発生する差圧の関係の一例を示す図である。 圧縮ポンプの設定パルスモータ駆動速度と圧縮ポンプによって発生する吐出圧の関係の一例を示す図である。 試料分注機構における試料吸引時の圧力センサの検出結果の時間変化の一例を示すものであり、標高０ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示するものである。 試料分注機構における試料吸引時の圧力センサの検出結果の時間変化の一例を示すものであり、標高２０００ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示するものである。 放熱ファンの設定電圧値と自動分析装置内の温度上昇の関係の一例を示す図である。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。

図１は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。また、図２は、制御装置の構成を概略的に示す機能ブロック図である。

図１において、自動分析装置１００は、試料搬送機構１７、試薬ディスク９、反応ディスク１、試料分注機構１１，１２、試薬分注機構７，８、攪拌機構５，６、分光光度計４、反応容器洗浄機構３、制御装置２１等から概略構成されている。

試料搬送機構１７は、分析対象となる血液や尿等の生体試料（以下、単に試料と称する）を収容した複数の試料容器１５を搭載したラック１６を搬送するものであり、試料用の分注機構（試料分注機構）１１，１２が試料容器１５から試料を吸引するための試料吸引位置を含む自動分析装置１００の各所にラック１６を搬送する。

試薬ディスク９は、試料の分析に用いる試薬を収容した複数の試薬容器１０を周方向に並べて搭載し搬送するものであり、試薬用の分注機構（試薬分注機構）７，８が試薬を吸引する試薬分注位置などに対象の試薬容器１０を回転搬送する。

反応ディスク１は、試料と試薬とを混合して反応させる複数の反応容器（反応セル）２を周方向に複数並べて搭載し搬送するものであり、反応容器２を試料分注機構１１，１２による試料の吐出位置や試薬分注機構７，８による試薬の吐出位置に搬送する。また、反応ディスク１は、反応容器２を図示しない恒温媒体に浸漬して試料と試薬の混合物である反応液を一定温度で保持して反応させるとともに、攪拌機構５，６により反応液の攪拌を行う攪拌位置や、反応液の測定（本実施の形態では分光光度計４による透過光測定）を行う分析位置、分析を終了した反応容器２を反応容器洗浄機構３により洗浄する洗浄位置などの位置に回転搬送する。

試料分注機構１１，１２は、試料搬送機構１７により試料分注位置に搬送されてきた試料容器１５の試料に試料分注用のノズル（試料分注ノズル）１１ａ，１２ａを浸漬して吸引し、反応ディスク１の反応容器２に吐出することにより試料の分注を行う。試料分注機構１１は、回転及び上下動可能に設けられており、開詮後の試料容器のみから試料の吸引が可能である。また、試料分注機構１２も同様に回転及び上下動可能に設けられており、開栓後の試料容器及び閉詮した状態の試料容器の両方から試料の吸引が可能なである。試料分注機構１１の試料分注ノズル１１ａには、試料の吸引・吐出を行う試料用ポンプ１８ｃと、試料用ポンプ１８ｃの圧力を検出する圧力センサ１９ｃとが接続されている。また、試料分注機構１２の試料分注ノズル１２ａには、試料の吸引・吐出を行う試料用ポンプ１８ｄと、試料用ポンプ１８ｄの圧力を検出する圧力センサ１９ｄとが接続されている。なお、試料分注機構１２の動作範囲には、試料分注ノズル１２ａにより水を吸引するための水吸引位置７１と、試料分注ノズル１２ａに付着する水等を吸引する真空吸引位置７２とが設けられている。

図３は、試料分注機構をその周辺構成とともに抜き出して模式的に示す図である。

図３において、試料分注機構１１は、水平方向に延在するように配置されたアーム４２と、アーム４２の一端にその先端を下方に向けて配置された試料分注ノズル１１ａと、アーム４２の他端に配置され、アーム４２の水平方向への回転動作及び上下動作を行うアーム駆動機構４１とを備えている。試料分注ノズル１１ａには、アーム駆動機構４１内を通して設置された管路（図示せず）を介してシリンジポンプ５１（試料用ポンプ１８ｃ）が接続されており、シリンジポンプ駆動機構５１ａにより駆動される。また、シリンジポンプ５１と試料分注ノズル１１ａの間の流路には圧力センサ１９ｃが設置され、シリンジポンプ駆動機構５１ａの駆動により発生する流路内の圧力変動をＡ／Ｄ変換器１１０を介して捉え制御装置２１で波形をモニターすることが可能である。また、シリンジポンプ５１には、水タンク８１に貯留された純水などのシステム水７４をシリンジポンプ５１及び試料分注ノズル１２ａ内に供給するポンプ５３が接続されており、ポンプ５３とシリンジポンプ５１とを接続する管路には、管路の開閉（流通と遮断の切換）を行う電磁弁５２が設けられている。試料分注ノズル１１aはアーム駆動機構４１により試料容器１５内の試料に先端を挿入して試料を吸引し、試料分注ノズル１１ａを反応容器２に挿入して吐出することにより、試料容器１５から反応容器２への試料の分注を行う。試料容器１５内の試料は例えば血清等であるが、フィブリン等の固形物を含む場合があり、これらの固形物を吸引した際には正確な試料分注ができないので、吸引中の圧力波形を圧力センサ１９ｃでモニターし、発生した差圧から固形物等を含まない正常な吸引であるか否かの判定を行う。なお、試料分注機構１２においても試料分注機構１１とほぼ同様の構成を有している。

試薬分注機構７，８は、試薬ディスク９により試薬分注位置に搬送されてきた試薬容器１０の試薬に試薬分注ノズル７ａ，８ａを浸漬して吸引し、反応ディスク１の反応容器２に吐出することにより試薬の分注を行う。試薬分注機構７の試薬分注ノズル７ａには、試薬の吸引・吐出を行う試薬用ポンプ１８ａと、試薬用ポンプ１８ａの圧力を検出する圧力センサ１９ａとが接続されている。また、試薬分注機構８の試薬分注ノズル８ａには、試薬の吸引・吐出を行う試薬用ポンプ１８ｂと、試薬用ポンプ１８ｂの圧力を検出する圧力センサ１９ｂとが接続されている。

攪拌機構５，６は、試料分注機構１１，１２により反応容器２に分注された試料と試薬分注機構７，８により反応容器２に分注された試薬との混合液（反応液）の反応を促進するために攪拌を行う。

試料分注機構１１，１２、試薬分注機構７，８、及び、攪拌機構５，６の動作範囲には、試料分注ノズル１１ａ，１２ａ、試薬分注ノズル７ａ，８ａ、及び、攪拌機構をそれぞれ洗浄するための洗浄槽１３，１４，３０，３１，３２，３３が設けられている。洗浄槽１３，１４，３０，３１，３２，３３には、洗浄液を各洗浄槽１３，１４，３０，３１，３２，３３に供給するための洗浄用ポンプ２０と、洗浄用ポンプ２０の圧力を検出する圧力センサ１９ｅと、圧縮空気を各洗浄槽１３，１４，３０，３１，３２，３３供給するための圧縮ポンプ２３と、圧縮ポンプ２３の圧力を検出する圧力センサ１９ｇとが接続されている。なお、図示の簡単のため、洗浄用ポンプ２０及び圧縮ポンプ２３と各洗浄槽１３，１４，３０，３１，３２，３３の間の洗浄液及び圧縮空気の経路については一部図示を省略する。

分光光度計４は、図示しない光源から反応容器２（言い換えると反応液）に照射された光の透過光を分光して測光することで吸光度測定を行うものであり、この吸光度測定の結果に基づいて比色分析が行われる。なお、本実施の形態では、反応測定部として透過光を測定する場合を例示して説明したが、反応液に光を照射して散乱光を測定する反応測定部を用い、散乱光の測定結果に基づいて反応液の分析を行うように構成しても良い。また、免疫測定のように蛍光物質を結合させて反応液を発光させ、発光量の測定結果に基づいて反応液の分析を行うように構成しても良い。すなわち、反応測定部は、分析原理については様々な形態が考えられ、検体と試薬の反応液から反応を測定するものであれば良く、透過光や散乱光の測定に限られるものではない。

反応容器洗浄機構３は、測定を終了した反応容器２から反応液の吸引を行い、反応容器２内に洗浄液などを吐出して反応容器２の洗浄を行うものであり、反応容器洗浄機構３には、反応容器洗浄機構３に洗浄液を供給するための洗浄用ポンプ２０と、洗浄用ポンプ２０の圧力を検出する圧力センサ１９ｅのほかに、反応容器２内の液体を真空により吸引するための真空ポンプ２２と、真空ポンプ２２の圧力を検出する圧力センサ１９ｆとが接続されている。

自動分析装置１００の各構成は、図示しない筺体及びカバーで覆われており、筐体及びカバーで覆われた自動分析装置１００からの排熱を行う排熱用の放熱ファン２４が備えられている。

制御装置２１は、制御部２１ａ、記憶部２１ｂ、表示部２１ｃ、および入力部２１ｄにより概略構成されている。制御部２１ａは、自動分析装置１００全体の動作を制御するものであり、記憶部２１ｂに記憶されている各種パラメータや測定プログラム等に基づいて自動分析装置１００の各構成の動作を制御することにより分析動作を実行し、分光光度計４の検出結果に基づいて試料の分析を行い、試料に含まれる所定成分の濃度を分析結果として記憶部２１ｂに記憶するとともに、表示部２１ｃや図示しないプリンタなどに出力する。

本願発明は以上のように構成された自動分析装置１００に適用されるものであり、自動分析装置１００における各種パラメータであって、自動分析装置１００が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶したパラメータ記憶部（記憶部２１ｂに相当）と、自動分析装置１００の設置された標高の情報を取得する標高情報取得部（入力部２１ｄに相当）と、標高情報取得部（入力部２１ｄに相当）で取得された標高に基づいて、パラメータ記憶部（記憶部２１ｂに相当）に記憶されたパラメータを読み出して自動分析装置１００に設定するパラメータ設定部（制御部２１ａに相当）とから構成されている。そして、本願発明はそのような構成により、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。

このように構成した本願発明について、まず、本実施の形態におけるパラメータ設定部としての制御部２１ａによるパラメータの設定処理について説明する。

図４は、パラメータ設定処理を示す処理フローである。

図４において、制御部２１ａは、オペレータから入力部２１ｄにより自動分析装置１００が設置されている施設の標高が入力されると（ステップＳ１００）、記憶部２１ｂに記憶されている標高−パラメータテーブル５００（後の図５参照）から入力された標高に対応するパラメータを参照し（ステップＳ１１０）、入力された標高に対応するパラメータが仕様内であるかどうかを判定する（ステップＳ１２０）。ステップＳ１２０での判定結果がＹＥＳの場合、すなわち、入力された標高に対応するパラメータが仕様範囲内である場合、言い換えると、自動分析装置１００が設置された施設の標高が仕様範囲内である場合には、入力された標高に対応するパラメータを自動分析装置１００に適用し（ステップＳ１３０）、処理を終了する。また、ステップＳ１２０での判定結果がＮＯの場合、すなわち、入力された標高に対応するパラメータが仕様範囲外である場合、言い換えると、自動分析装置１００が設置された施設の標高が仕様範囲外である場合には、パラメータの適用を中止するとともに、パラメータの設定が未反映であることを示すアラームを発行して表示部２１ｃ等に表示することによりオペレータに報知し（ステップＳ１４０）、処理を終了する。なお、ステップＳ１００では、制御装置２１には含まれない別の情報端末からＧＰＳ（Global Positioning System）による標高の値をサービスマン等のオペレータが入力部２１ｄに直接入力する場合を例示したが、制御装置２１にＧＰＳ装置等、位置（標高）情報を取得可能な装置を有し、得られた標高の値を自動で入力することもできる。

図５は、標高−パラメータテーブルの一例を示す図である。

図５においては、パラメータの調整対象として、真空ポンプ２２、圧縮ポンプ２３、圧力センサ１９ｃ、放熱ファン２４を例示して説明する。パラメータは、例えば、後述のように、真空ポンプ２２に対する入力電流、ダイヤフラム等の部品の交換周期、圧縮ポンプ２３に対するパルスモータ駆動速度、ベアリング等の部品への注油周期、圧力センサ１９ｃに対する異常判定に用いる判定用の閾値、放熱ファン２４に対する入力電圧、交換周期などであり、自動分析装置における制御や管理に関する各種パラメータである。入力電流、モータ駆動速度、入力電圧は部品の制御に関するパラメータであり、交換周期、閾値は部品や異常検知の管理や運用に関するパラメータである。

図４では、パラメータの各調整対象に対して標高１０００ｍ毎に適用するパラメータを設定している。例えば、真空ポンプ２２については、電流制御での出力調整を想定しており、真空ポンプ２２に対する入力電流と、真空ポンプ２２の稼働時間に応じたダイヤフラムの交換周期が設定される。例えば、標高（０ｍ−１０００ｍ）では、入力電流のパラメータを１．０Ａに設定し、ダイヤフラム交換周期のパラメータを２年に設定する。また、標高（４００１ｍ以上）では、仕様外としてパラメータの設定はしない。他の構成についても同様である。圧縮ポンプ２３については、パルスモータによる駆動速度での圧縮空気圧の調整を想定しており、パルスモータに与える駆動速度と、ベアリング等の注油が必要な部分の注油周期がパラメータとして設定される。また、圧力センサ１９ｃについては、試料吸引時の吸引圧力に基づいて異物吸引に伴う詰り判定を行う際に使用する閾値がパラメータとして設定される。また、放熱ファン２４については、電圧制御で出力調整することを想定しており、放熱ファン２４に対する入力電圧御と、放熱ファン２４の稼働時間に応じた交換周期が設定される。

続いて、標高−パラメータテーブル５００の設定原理について説明する。

図６は、標高と大気圧との関係を示す図である。

標高ｈ［ｍ］における大気圧Ｐ［ｈＰａ］は、海抜０ｍにおける気圧Ｐ０［ｈＰａ］と温度ｔ０［℃］とを用いて以下の（式１）により求められる。
Ｐ＝Ｐ０×（１−０．００６５ｈ／（ｔ０＋２７３．２））＾５．２５８ ・・・（式１）

例えば、Ｐ０＝１０１３．２５［ｈＰａ］、ｔ０＝１５℃とすると、図６に示した標高と大気圧の関係を得ることができる。このように、標高が高くなるのに従って序所に気圧は低くなり、例えば、標高３０００ｍでの気圧は、海抜０ｍでの気圧に対して３割程度下がることがわかる。このような標高と気圧との関係に基づいて、標高−パラメータテーブル５００を設定する。

図７は、真空ポンプの設定電流値と真空ポンプによって発生する差圧の関係の一例を示すものであり、縦軸に真空ポンプの設定電流値［Ａ］を、横軸に真空ポンプによって発生する差圧［ｋＰａ］をそれぞれ示している。なお、図７では、標高０ｍの場合と標高２０００ｍの場合とを例示している。

図７において、例えば、反応容器洗浄機構３などで用いる真空ポンプ２２において、反応容器２内の液体を吸引するために必要な差圧が−４０ｋＰａであるとすると、標高０ｍでは設定電圧１．０Ａでその差圧（−４０ｋＰａ）を発生することができる。これに対して、標高２０００ｍでは、標高０ｍの場合と比較して気圧が２割程低下する（すなわち、空気が薄い）ため、同じ真空ポンプ２２を使用しても設定電流値１．０Ａでは差圧−２０ｋＰａしか発生することができない。そして、標高２０００ｍで差圧−４０ｋＰａを発生させるためには、設定電流値１．５Ａが必要であることがわかる。つまり、標高２０００ｍでは差圧−４０ｋＰａを発生させるための設定電流値１．５Ａをパラメータとして適用することで、例えば、ダイヤフラムポンプのようなものであれば、単位時間当たりの駆動回数が上昇し、所望の差圧を発生させることができる。ただし、標高２０００ｍの高地において所望の差圧を発生させるためには、単位時間当たりのダイヤフラムの駆動回数が増えるので、ダイヤフラムの交換周期は短く設定する必要がある。そこで、ダイヤフラムの駆動時間、駆動回数、装置に実装されてからの期間に対しする有効駆動時間、有効駆動回数、有効期限等を標高値のインプットに対して最適な値を標高−パラメータテーブル５００に設定して用いることにより、ユーザあるいはサービスマンに適切なタイミングでの交換を指示することが可能となる。例えば、ダイヤフラム交換周期については、交換された時期をユーザあるいはサービスマンがデータ入力することで記憶部に記憶し、設定された交換周期に対応する時期である１年〜２年後の所定時期の直前又は直後に交換を促す情報を表示部に表示することができる。なお、交換された時期を自動で検知してもよい。

図８は、圧縮ポンプの設定パルスモータ駆動速度と圧縮ポンプによって発生する吐出圧の関係の一例を示すものであり、縦軸に圧縮ポンプの設定パルスモータ駆動速度［ｐｐｓ］を、横軸に圧縮ポンプによって発生する吐出圧［ｋＰａ］をそれぞれ示している。なお、図８では、標高０ｍの場合と標高２０００ｍの場合とを例示している。

図８において、例えば、洗浄槽３３などで用いる圧縮ポンプ２３において、試薬分注ノズル８ａに付着した水滴の除去に必要な圧縮空気吐出圧が２０ｋＰａであるとすると、標高０ｍでは設定パルスモータ駆動速度３０００ｐｐｓでその吐出圧（２０ｋＰａ）を発生することができる。これに対して標高２０００ｍでは、標高０ｍの場合と比較して気圧が２割程低下する（すなわち、空気が薄い）ため、同じ圧縮ポンプ２３を使用しても設定パルスモータ駆動速度３０００ｐｐｓでは吐出圧１５ｋＰａしか発生することができない。そして、標高２０００ｍで吐出圧２０ｋＰａを発生させるためには、設定パルスモータ駆動速度４０００ｐｐｓが必要であることがわかる。つまり、標高２０００ｍでは吐出圧２０ｋＰａ発生させるための設定パルスモータ駆動速度４０００ｐｐｓをパラメータとして適用することで、例えば、ベローズを直動駆動機構で動かすようなものであれば、単位時間当たりのベローズ駆動量が増え、所望の吐出圧を発生させることができる。ただし、標高２０００ｍの高地においては所望の吐出を発生させるために直動機構の駆動スピードが速くなり、例えばグリス等の劣化も進むため、注油周期は短く設定する必要がある。そこで、装置として直動駆動機構の駆動時間、駆動回数、装置に実装されてからの期間に対する有効駆動時間、有効駆動回数、有効期限等を標高値のインプットに対して最適な値を標高−パラメータテーブル５００に設定して用いることにより、ユーザあるいはサービスマンに適切なタイミングでの注油を指示することが可能となる。例えば、注油周期については、注油時期をユーザあるいはサービスマンがデータ入力することで記憶部に記憶し、設定された注油周期に対応する時期である１年〜２年後の所定時期の直前又は直後に注油を促す情報を表示部に表示することができる。なお、注油された時期を自動で検知してもよい。

図９及び図１０は、試料分注機構における試料吸引時の圧力センサの検出結果の時間変化の一例を示すものであり、縦軸に差圧［ｋＰａ］を、横軸に時間［ｓ］をそれぞれ示している。なお、図９では標高０ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示し、図１０では標高２０００ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示している。

図９及び図１０に示すように、標高が２０００ｍの環境では気圧が低くなるために、正常波形（正常な試料吸引時の波形）においても異常波形（固形物を含むような試料を吸引した異常時の波形）においても差圧の値が標高０ｍの場合と比較して相対的に小さくなっており、予め設定した閾値での吸引判定が正常に行えなくなることが考えられる。そこで、標高の上昇に伴う差圧の変化をあらかじめ標高−パラメータテーブル５００として設定し、例えば、標高２０００ｍの入力に対して、制御装置２１で閾値２５ｋＰａをパラメータとして適用することで、適切な吸引異常判定を実現することができる。

図１１は、放熱ファンの設定電圧値と自動分析装置内の温度上昇の関係の一例を示すものであり、縦軸に温度上昇［℃］を、横軸に放熱ファンの設定電圧値［Ｖ］をそれぞれ示している。なお、図７では、標高０ｍの場合と標高２０００ｍの場合とを例示している。

図１１において、例えば、自動分析装置１００内の温度上昇を２℃にとどめたいとすると、標高０ｍでは放熱ファン２４の設定電圧値２０Ｖでその温度上昇（２℃）にとどめることができる。これに対して標高２０００ｍでは、標高０ｍの場合と比較して気圧が２割程低下する（空気が薄い）ため、同じ放熱ファン２４を使用しても熱交換率が下がり、自動分析装置１００内の温度上昇を３℃までにとどめることしかできない。そして、標高２０００ｍで温度上昇を２℃にとどめるためには、設定電圧値２２Ｖが必要であることがわかる。つまり、標高２０００ｍでは温度上昇２℃にとどめるための設定電圧値２２Ｖをパラメータとして適用することで、標高の影響に依らず、装置内温度上昇を一定にコントロールすることができる。ただし、標高２０００ｍの高地においては所望の排熱性能を発生させるために単位時間当たりのファンの回転数が増えるので、交換周期は短く設定する必要がある。そこで、装置としてファンの駆動時間、駆動回数、装置に実装されてからの期間に対する有効駆動時間、有効駆動回数、有効期限等を標高値のインプットに対して最適な値を標高−パラメータテーブル５００に設定して用いることにより、ユーザあるいはサービスマンに適切なタイミングでの交換を指示することが可能となる。例えば、ファン交換周期については、交換された時期をユーザあるいはサービスマンがデータ入力することで記憶部に記憶し、設定された交換周期に対応する時期である１年〜４年後の所定時期の直前又は直後に交換を促す情報を表示部に表示することができる。なお、交換された時期を自動で検知してもよい。

以上のように構成した本実施の形態の作用効果を説明する。

自動分析装置は平野部に限らず山岳部や高原といった様々な環境の施設でも使用される可能性があり、使用環境に対応した適切な調整が必要である。従来技術には、基準溶液により得られる基準データを比較して各装置間の個体差を抑制しようとしているものはあるものの、自動分析装置の使用環境に合わせた各種パラメータの調整には対応しておらず、正確な分析結果を得ることが困難である。また、使用環境に対応した各種パラメータの最適化は多岐にわたるため、各種パラメータを個別に調整しようとすると多くの時間を要することになる。

これに対して本実施の形態においては、自動分析装置１００における各種パラメータであって、自動分析装置１００が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶した記憶部２１ｂ（パラメータ記憶部）と、自動分析装置１００の設置された標高の情報を取得する入力部２１ｄ（標高情報取得部）と、入力部２１ｄで取得された標高に基づいて、記憶部２１ｂに記憶されたパラメータを読み出して自動分析装置１００に設定する制御部２１ａ（パラメータ設定部）とを備えて構成したので、自動分析装置１００の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。

なお、本発明は上記した各実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施の形態は本願発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、上記の各構成、機能等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等により実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。

１ 反応ディスク
２ 反応容器（反応セル）
３ 反応容器洗浄機構
４ 分光光度計
５ 攪拌機構
６ 攪拌機構
７ 試薬分注機構
７ａ 試薬分注ノズル
８ 試薬分注機構
８ａ 試薬分注ノズル
９ 試薬ディスク
１０ 試薬容器
１１ 試料分注機構
１１ａ 試料分注ノズル
１２ 試料分注機構
１２ａ 試料分注ノズル
１３，１４，３０，３１，３２，３３ 洗浄槽
１５ 試料容器
１６ ラック
１７ 試料搬送機構
１８ａ，１８ｂ 試薬用ポンプ
１８ｃ，１８ｄ 試料用ポンプ
１９ａ，・・・，１９ｇ 圧力センサ
２０ 洗浄用ポンプ
２１ 制御装置
２１ａ 制御部
２１ｂ 記憶部
２１ｃ 表示部
２１ｄ 入力部
２２ 真空ポンプ
２３ 圧縮ポンプ
２４ 放熱ファン
４１ アーム駆動機構
４２ アーム
５１ シリンジポンプ
５１ａ シリンジポンプ駆動機構
５２ 電磁弁
５３ ポンプ
７１ 水吸引位置
７２ 真空吸引位置
７４ システム水
８１ 水タンク
１００ 自動分析装置
１１０ Ａ／Ｄ変換器
５００ 標高−パラメータテーブル

【０００２】
発明の概要
発明が解決しようとする課題
［０００５］
ところで、近年は先進各国の経済発展や自動分析装置による診断の一般化に伴い、自動分析装置は平野部に限らず山岳部や高原といった様々な環境の施設でも使用されるようになっており、使用環境に対応した適切な調整が必要である。
［０００６］
上記従来技術においては、基準溶液により得られる基準データを比較して各装置間の個体差を抑制しようとしているものの、自動分析装置の使用環境に合わせた各種パラメータの調整には対応しておらず、正確な分析結果を得ることが困難である。また、使用環境に対応した各種パラメータの最適化は多岐にわたるため、各種パラメータを個別に調整しようとすると多くの時間を要することになる。
［０００７］
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる自動分析装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
［０００８］
上記目的を達成するために、本発明は、試料の分析に用いる試薬を収容した複数の試薬容器が搭載される試薬ディスクと、前記試料と試薬とを反応させる複数の反応容器が配置された反応ディスクと、試料容器に収容された試料に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試料を分注する試料分注機構と、試薬容器に収容された試薬に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試薬を分注する試薬分注機構と、前記反応容器の前記試料と前記試薬の反応液から反応を測定する反応測定部とを備えた自動分析装置において、前記自動分析装置における各種パラメータであって、前記自動分析装置が使用される標高毎に最適化された複数のパラメータを各標高と対応させて記憶したパラメータ記憶部と、前記自動分析装置の設置された標高の情報を取得する標高情報取得部と、前記標高情報取得部で取得された標

【０００３】
高に基づいて、前記パラメータ記憶部に記憶された前記複数のパラメータを読み出して前記自動分析装置に設定するパラメータ設定部とを備えたものとする。
発明の効果
［０００９］
本発明によれば、装置の使用環境に対応した各種パラメータの調整を容易に行うことができる。
図面の簡単な説明
［００１０］
［図１］本発明に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。
［図２］制御装置の構成を概略的に示す機能ブロック図である。
［図３］試料分注機構をその周辺構成とともに抜き出して模式的に示す図である。
［図４］パラメータ設定処理を示す処理フローである。
［図５］標高−パラメータテーブルの一例を示す図である。
［図６］標高と大気圧との関係を示す図である。
［図７］真空ポンプの設定電流値と真空ポンプによって発生する差圧の関係の一例を示す図である。
［図８］圧縮ポンプの設定パルスモータ駆動速度と圧縮ポンプによって発生する吐出圧の関係の一例を示す図である。
［図９］試料分注機構における試料吸引時の圧力センサの検出結果の時間変化の一例を示すものであり、標高０ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示するものである。
［図１０］試料分注機構における試料吸引時の圧力センサの検出結果の時間変化の一例を示すものであり、標高２０００ｍの場合の正常波形と異常波形を比較して例示するものである。
［図１１］放熱ファンの設定電圧値と自動分析装置内の温度上昇の関係の一例を示す図である。
発明を実施するための形態
［００１１］
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
［００１２］
図１は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図で

Claims (3)

1. 試料の分析に用いる試薬を収容した複数の試薬容器が搭載される試薬ディスクと、前記試料と試薬とを反応させる複数の反応容器が配置された反応ディスクと、試料容器に収容された試料に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試料を分注する試料分注機構と、試薬容器に収容された試薬に分注ノズルを浸漬して吸引し、前記反応ディスクの前記反応容器に吐出することにより前記試薬を分注する試薬分注機構と、前記反応容器の前記試料と前記試薬の反応液から反応を測定する反応測定部とを備えた自動分析装置において、
   前記自動分析装置における各種パラメータであって、前記自動分析装置が使用される標高毎に最適化されたパラメータを各標高と対応させて記憶したパラメータ記憶部と、
   前記自動分析装置の設置された標高の情報を取得する標高情報取得部と、
   前記標高情報取得部で取得された標高に基づいて、前記パラメータ記憶部に記憶されたパラメータを読み出して前記自動分析装置に設定するパラメータ設定部と
   を備えたことを特徴とする自動分析装置。
2. 請求項１記載の自動分析装置において、
   前記標高情報取得部は、オペレータによる標高の入力、または、位置の自動取得に基づく標高の算出により、前記標高の情報を取得することを特徴とする自動分析装置。
3. 請求項１又は２記載の自動分析装置において、
   前記パラメータ記憶部は、１つの標高に対して各種パラメータ毎に１つの値を対応させたパラメータテーブルを記憶することを特徴とする自動分析装置。

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