JP2013068443A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測光位置に配置されるとともに試料と試薬との混合液を収容する反応容器に光を照射する光源と、前記混合液からの透過光または散乱光を検出する光度計を備えた自動分析装置であって、前記反応容器が配置される反応ディスクに、前記光度計の校正および状態チェックに用いる校正部材を備えており、前記校正部材により、光度計の校正が定期的に自動で実施され、光度計の光量変動や、反応容器の汚れ、恒温槽循環水の異物による汚れなど装置分析部の状態チェックが定期的に自動で実施される。
【選択図】 図2
Description
10 反応ディスク
11 反応容器
12 恒温槽
13 恒温維持装置
20 サンプルディスク
21 検体容器
22 サンプル分注機構
23 可動アーム
24 ピペットノズル
30a、30b 試薬ディスク
31a、31b 試薬保冷庫
32a、32b 試薬ボトル
33a、33b バーコード読み取り装置
34a、34b 試薬分注機構
35a、35b 攪拌機構
36 反応容器洗浄機構
40 光源
41 光度計
50 コンピュータ
51 インターフェース
52 サンプル分注制御部
53 試薬分注制御部
54 A/D変換器
55 プリンタ
56 メモリ
57 外部出力メディア
58 キーボード
59 CRTディスプレイ(表示装置)
60 クッション機構
61 反応液吸引/洗剤吐出ノズル
62 洗剤吸引/洗浄水吐出ノズル
63 洗浄水吸引ノズル
64 ブランク水吐出ノズル
65 ブランク水吸引ノズル
66 原点校正部材
67 基準光量校正部材
68 クッション機構ストローク
69 校正部材測光部高さ
70 原点/基準光量一体型校正部材
71 校正部材ホルダ
72 第1基準光量校正部材
73 第2基準光量校正部材
Claims (6)
- 試料と試薬の混合液を収める反応容器を円周上に載置する反応ディスクと、
該反応容器に光を照射する光源と、
前記光源からの照射された光を検出する光度計と、
該反応容器の底に接触した際に衝撃を緩和するクッション機構を備えた、該反応容器を洗浄するための複数のノズルと、
該反応容器を載置する箇所に載置され、前記ノズルが挿入される凹部を備える、前記光度計を校正するための校正部材とを備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記校正部材は、前記凹部と、前記凹部の下方に形成され、前記光源と前記光度計との間の光路に配置された測光部と、を備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記測光部は、光を散乱させるための粒子が均一に分散された透明材料、もしくは、光を吸収するように着色された材料から成ることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記校正部材は、前記光源と前記光度計との間の光路に部材が存在しないことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記校正部材は、前記凹部と、前記凹部の下方に形成され、前記光源と前記光度計との間の光路に配置された測光部と、を備え、
さらに、該反応容器を載置する箇所に載置され、前記ノズルが挿入される凹部を有する前記光度計を校正するための第2の校正部材を備え、
前記第2の校正部材は、前記光源と前記光度計との間の光路に部材が存在しないことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
さらに、前記反応ディスクと前記光源と前記光度計を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記校正部材と前記第2の校正部材とを、前記光源と前記光度計とによる測光が行われるよう、前記反応ディスクを回転移動させ、
前記制御部は、当該測光結果に基づき、前記光度計を校正することを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011205498A JP5487176B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011205498A JP5487176B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013068443A true JP2013068443A (ja) | 2013-04-18 |
JP5487176B2 JP5487176B2 (ja) | 2014-05-07 |
Family
ID=48474312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011205498A Expired - Fee Related JP5487176B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5487176B2 (ja) |
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Publication number | Publication date |
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JP5487176B2 (ja) | 2014-05-07 |
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A621 | Written request for application examination |
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