JPWO2018008215A1 - 赤外線検出器及び放射温度計 - Google Patents
赤外線検出器及び放射温度計 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2018008215A1 JPWO2018008215A1 JP2018525938A JP2018525938A JPWO2018008215A1 JP WO2018008215 A1 JPWO2018008215 A1 JP WO2018008215A1 JP 2018525938 A JP2018525938 A JP 2018525938A JP 2018525938 A JP2018525938 A JP 2018525938A JP WO2018008215 A1 JPWO2018008215 A1 JP WO2018008215A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared
- lens barrel
- stop
- infrared sensor
- end side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 51
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 10
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000001745 non-dispersive infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0214—Constructional arrangements for removing stray light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0266—Field-of-view determination; Aiming or pointing of a photometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of the measurement area; Position tracking; Photodetection involving different fields of view for a single detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0403—Mechanical elements; Supports for optical elements; Scanning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/06—Restricting the angle of incident light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/0205—Mechanical elements; Supports for optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/07—Arrangements for adjusting the solid angle of collected radiation, e.g. adjusting or orienting field of view, tracking position or encoding angular position
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0806—Focusing or collimating elements, e.g. lenses or concave mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/12—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J2005/065—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/12—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
- G01J2005/123—Thermoelectric array
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
鏡筒や鏡筒内部に配置された部品から出る赤外線が赤外線センサに入射するのを防ぎ、自家赤外線に起因する温度測定誤差を軽減し、周囲環境の温度変化が大きくても高い精度での温度測定が可能な放射温度計を提供するために、先端側に赤外線導入口11が形成された鏡筒1と、前記鏡筒1内において前記赤外線導入口11と対向するように基端側に配置された赤外線センサ3と、前記鏡筒1内において前記赤外線導入口11と前記赤外線センサ3との間を仕切るように設けられた第1絞り21と、前記鏡筒1における基端側の内部端面の少なくとも一部、又は、前記赤外線センサ3の外表面の少なくとも一部に設けられた赤外線吸収構造4と、前記鏡筒1内において前記第1絞り21よりも基端側の内側周面の少なくとも一部、又は、前記第1絞り21における前記赤外線センサ3側の少なくとも一部に設けられた反射構造5と、を備えた。
Description
本発明は、測定対象物から放射(輻射)される赤外線を受光し、電気信号に変換して出力する赤外線検出器、及び、赤外線検出器を用いた各種機器に関するものである。
放射温度計に用いられる赤外線検出器は、先端が開口する鏡筒と、該鏡筒の底部に配置された赤外線センサと具備しており、測定対象物から放射され、鏡筒の先端開口から内部に入った赤外線を赤外線センサで受光するように構成してある。
このときにノイズの原因となるのが、迷光である。迷光とは、外部から前記鏡筒の先端の開口から鏡筒内に侵入し、鏡筒内で反射するなどして赤外線センサに取り込まれる赤外線のことである。
このような迷光が前記赤外線センサに入射しないようにするために特許文献1等に示されるように鏡筒の内側周面や絞りを黒化処理し、入射した迷光が鏡筒の内側面や絞り等で吸収されるように構成されているものがある。
ところで、従来の放射温度計は自身の温度がほぼ一定で保たれているという前提条件を満たした上で用いられることが多かったが、近年では周囲温度環境が大きく変化するような現場でも放射温度計を用いたいという要望がある。
しかしながら、このような使用環境では放射温度計を構成する赤外線検出器自体の温度が変動するため鏡筒の内側面等において迷光を吸収するために黒化処理されている部分等から放射される赤外線(以下、自家赤外線ともいう。)の強度が一定に保たれなくなってしまう。このような強度が変化する自家赤外線が前記赤外線センサに入射してしまうと、測定温度がドリフトするといった問題が発生し得る。
本発明は、上述したような問題を鑑みなされたものであり、鏡筒や鏡筒内部に配置された部品から出る赤外線が赤外線センサに入射するのを防ぐことができる赤外線検出器を提供することを目的とするものである。
すなわち、本発明に係る赤外線検出器は、先端側に赤外線導入口が形成された鏡筒と、前記鏡筒内を先端側と基端側に仕切るように設けられた第1絞りと、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側に配置された赤外線センサと、前記鏡筒における基端側の内部端面の少なくとも一部、又は、前記赤外線センサの外表面の少なくとも一部に設けられた赤外線吸収構造と、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面の少なくとも一部、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側の少なくとも一部に設けられた反射構造と、を備えたことを特徴とする。
ここで、赤外線吸収構造は、反射される赤外線の量よりも吸収される赤外線の量の方が多くなるように構成された構造のことを言う。また、反射構造は吸収される赤外線の量よりも反射される赤外線の量のほうが多くなるように構成された構造のことを言う。なお、前記赤外線吸収構造は、前記鏡筒における基端側の内部端面、又は、前記赤外線センサの外表面のいずれか一方、あるいは両方に設けられてもよい。加えて、前記反射構造は、例えば前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側のいずれか一方あるいは両方に設けられてもよい。
このようなものであれば、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側の内側周面やその他の部材から放射される自家赤外線は前記第1絞りがあるので、当該第1絞りを通過したとしても前記赤外線センサに直接は入射せず、前記赤外線吸収構造に入射して吸収される。
さらに前記赤外線センサの近傍にある前記鏡筒内において基端側の内側周面又は前記第1絞りの前記赤外線側には反射構造が設けられているので、ほとんど自家赤外線が発生しないようにすることができる。
したがって、前記鏡筒内で発生する自家赤外線が前記赤外線センサ内にほとんど入射しないようにできる。このため本発明の赤外線検出器を用いて例えば放射温度計を構成した場合、周囲環境に温度変化により赤外線検出器自体の温度が変化したり、測定対象からの赤外線により赤外線検出器自体の温度が上昇したりしたとしても温度ドリフトを生じにくくできる。すなわち、赤外線検出器自体の温度を一定に保つことが難しい使用環境であっても本発明に係る赤外線検出器であれば従来よりも高精度での温度測定が可能となる。
前記鏡筒内の前記第1絞りよりも先端側において発生する自家赤外線が十分に前記赤外線吸収構造で吸収されるようにするには、前記赤外線吸収構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側から放射される赤外線が前記第1絞りを通過して前記鏡筒における基端側の内部端面又は前記赤外線センサの外表面に到達可能な位置に設けられていればよい。例えば、前記鏡筒において先端側の内側周面の各点と、前記第1絞りの開口の各部を結ぶ直線が前記鏡筒の基端側の内部端面に到達する位置には前記赤外線吸収構造を設ければよい。
前記赤外線導入口から入射する前記赤外線センサの視野外からの赤外線である迷光が前記赤外線センサに対してより入射しにくくなり、当該赤外線センサの視野がぼやけてしまうのを防ぐには、前記鏡筒内において前記赤外線導入口と前記第1絞りとの間を仕切るように設けられた第2絞りをさらに備えたものであればよい。
前記赤外線センサに対して迷光が入射するのを防ぐための部材から発生する自家赤外線が前記赤外線センサに対して入射しにくくするには、前記第2絞りの前記赤外線センサ側の各点から放射される赤外線が前記第1絞りの開口を通過して前記鏡筒における基端側の内部端面又は前記赤外線センサの外表面に到達可能な位置に前記赤外線吸収構造が設けられていればよい。
前記鏡筒内に入射した迷光の除去効果をさらに高めるには前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側の内側周面には赤外線を吸収するよう表面処理されていればよい。
組み立て作業だけで前記赤外線センサの周囲に前記赤外線吸収構造を設けられるようにするには、記赤外線吸収構造が、前記鏡筒における基端側の内部端面、又は、前記赤外線センサの外表面を覆う黒い赤外線吸収板であればよい。
前記赤外線センサと前記赤外線吸収構造との温度勾配を小さくすることができ、温度測定への影響を小さくできるようにするには、前記赤外線吸収構造が、前記鏡筒における基端側の内部端面、又は、前記赤外線センサの外表面を覆う黒い赤外線吸収板であればよい。
前記赤外線センサの近傍にある第1絞りや前記鏡筒の内側周面から赤外線が放射されにくくするための具体的な構造としては、前記反射構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側に形成された反射膜であるものが挙げられる。
前記赤外線センサの近傍にあり、自家赤外線が当該赤外線センサに入射し得る部位に対して表面加工のみで赤外線の放射を抑えられるようにするには、反射構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側を鏡面処理したものであればよい。特に前記鏡筒内又は前記第1絞りの前記赤外線センサ側を鏡面処理した場合には、例えば金属フィラーを含んだ樹脂により反射構造を形成した場合と比較して、さらに反射率を高めることができる。このため、前記鏡筒の基端側における自家赤外線の発生量を大幅に低減し、例えば放射温度計として用いた場合における測定精度をさらに向上させることができる。
前記赤外線センサの視野外に測定対象以外でエネルギーの大きい赤外線を発生させるものがあったとしても、そこから射出された前記光フィルタの側面を通って前記サーモパイル素子で検出されるのを防ぎ、測定誤差等が発生しないようにするには、前記赤外線センサが、サーモパイル素子と、前記サーモパイル素子を内部に収容する筐体と、筐体に形成された開口部を覆うように設けられ、所定の波長域の赤外線を通過させる板状の光フィルタと、を備え、前記光フィルタの側面が金属膜で覆われていればよい。
周囲環境の温度変化が大きい場合等、赤外線を用いて非接触で正確な温度測定できるようにするには、本発明に係る赤外線検出器と、前記赤外線センサから出力される電気信号に基づいて温度を算出する温度算出部と、を備えたことを特徴とする放射温度計を用いればよい。
このように本発明に係る赤外線検出器によれば、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側の部位で発生する自家赤外線については前記赤外線センサの近傍にある前記赤外線吸収構造で吸収させて前記赤外線センサには入射しないようにできる。また、前記赤外線センサの近傍においては前記反射構造により基端側の内部端面以外の部位に前記反射構造が設けられており、そもそも自家赤外線がほとんど発生しないようにできる。したがって、前記赤外線センサに対して自家赤外線が入射する量を従来と比較して低減することができるので、例えば本発明に係る赤外線検出器を用いた放射温度計であれば周囲環境に温度変化や測定対象からの赤外線の作用により、赤外線検出器自体の温度が変化したとしても温度ドリフトを抑えることができる。このため、赤外線検出器自体の温度を一定に保つことが難しい環境において精度の良い温度測定を実現できる。
200・・・放射温度計
100・・・赤外線検出器
1 ・・・鏡筒
11 ・・・赤外線導入口
12 ・・・レンズ
2 ・・・絞り構造
21 ・・・第1絞り
22 ・・・第2絞り
23 ・・・第3絞り
3 ・・・赤外線センサ
31 ・・・筐体
32 ・・・フィルタ
4 ・・・赤外線吸収構造
5 ・・・反射構造
S1 ・・・導入口側空間
S2 ・・・センサ側空間
TC ・・・温度算出部
V ・・・視野
100・・・赤外線検出器
1 ・・・鏡筒
11 ・・・赤外線導入口
12 ・・・レンズ
2 ・・・絞り構造
21 ・・・第1絞り
22 ・・・第2絞り
23 ・・・第3絞り
3 ・・・赤外線センサ
31 ・・・筐体
32 ・・・フィルタ
4 ・・・赤外線吸収構造
5 ・・・反射構造
S1 ・・・導入口側空間
S2 ・・・センサ側空間
TC ・・・温度算出部
V ・・・視野
本発明の第1実施形態に係る放射温度計200について各図を参照しながら説明する。第1実施形態の放射温度計200は、周囲環境の温度が一定に保たれておらず、従来の使用例よりも大きな温度変化が生じる現場において用いられるものである。この放射温度計200は、測定対象物から放射される赤外線の強度に基づいて非接触で測定対象物の温度を測定できるように構成してある。
図1に示すように第1実施形態の放射温度計200は、赤外線検出器100と赤外線検出器100から出力される電気信号に基づいて測定対象の温度を算出する温度算出部TCと、を備えている。前記赤外線検出器100は、先端側に赤外線導入口11が形成された金属製で筒状の鏡筒1と、前記鏡筒1内に設けられた絞り機構2と、前記鏡筒1の基端側に設けられた赤外線センサ3と、を備えたものである。前記温度算出部TCは例えばCPU、メモリ、A/D・D/Aコンバータ等を備えたいわゆるコンピュータ等であってメモリに格納されたプログラムが実行されることにより前記赤外線検出器100と協業してその機能を発揮するものである。この温度算出部TCには、前記赤外線センサ3が入射する赤外線の量に応じて出力する電気信号が入力され、その電気信号の示す赤外線の量を所定の変換式により温度へ算出し、その値を出力するように構成してある。
各部について詳述する。
前記鏡筒1は、先端面が開口して前記赤外線導入口11をなすとともに、基端面が前記赤外線センサ3の取り付けられる部分以外が閉塞した円筒状をなすものである。この赤外線導入口11を閉塞するように凸型のレンズ12を取り付けてある。
前記絞り機構2は、前記鏡筒1の基端側に設けられた第1絞り21と、前記鏡筒1の先端側に設けられた第2絞り22とを備えたものである。各絞りは前記鏡筒1の軸方向に対して垂直に仕切るように設けてあり、前記第1絞り21の方が前記第2絞り22よりも開口径を小さく構成してある。すなわち、前記第1絞り21は前記赤外線センサ3の視野Vを制限し、測定対象物から放射された赤外線が前記レンズ12を介して入射できる範囲である視野Vの大きさを決めている。第1実施形態では前記第1絞り21と前記第2絞り22とを前記鏡筒1の軸方向に並べて設けることにより、鏡筒1内の迷光が前記赤外線センサ3へ入射しにくようにしてある。
なお、以下の説明では鏡筒1内の内部空間について前記第1絞り21よりも先端側の空間を導入口側空間S1、前記第1絞り21よりも基端側の空間のことをセンサ側空間S2と言う。
前記赤外線センサ3は、円筒状の筐体31内に収容された図示しないセンサ素子と、前記筐体31の天面に設けられた光フィルタ32とを備えたものであり、センサ素子の受光面が軸線上に位置して前記赤外線導入口11を向くように、鏡筒1の基端側に配設してある。
前記センサ素子は、赤外線を吸収したときの温度変化を起電力の変化として検知する熱型のものであり、ここでは、熱電対を多数直列に並べて薄膜化したサーモパイルが用いている。このセンサ素子としては、ポロメータや焦電型のような他の熱型のセンサ素子でもよいし、あるいは、熱型ではなく量子型のものを用いても構わない。
前記光フィルタ32は、所定の波長帯域の光(電磁波)のみを通過させるバンドパスフィルタである。ここでは例えば波長が8μm〜14μmの帯域の赤外線のみを通過させるものが用いられており、この光フィルタ32を通過した赤外線のみが前記センサ素子で受光されるように構成してある。この波長帯域(8μm〜14μm)は大気による吸収が少ない帯域なので、温度測定に際して、測定対象物と赤外線センサ33との間に介在する大気による吸収影響を抑制でき、より精度の高い測定が可能になる。
さらに、第1実施形態の放射温度計200に用いられる赤外線検出器100の前記鏡筒1内においてセンサ側空間S2を形成する面には赤外線吸収構造4又は反射構造5が設けてある。
より具体的には、前記赤外線吸収構造4は前記赤外線センサ3において光フィルタ32を除く天面の全てと、前記鏡筒1の基端側における内部端面の全てを覆うように敷設された赤外線吸収板である。すなわち、光フィルタ32を除き前記第1絞り21と対向する部分の全てに対して前記赤外線吸収構造4が形成してある。赤外線吸収板の具体的な構成としては黒色の塗料を塗布される、あるいは、酸化処理により黒色化された金属板を挙げることができる。この赤外線吸収構造4に入射した赤外線は反射される量よりも吸収される量が多くなるように構成してある。
前記反射構造5は、前記センサ側空間S2と接する前記鏡筒1の内側周面と、前記第1絞り21を形成する仕切板のうち前記赤外線センサ3と対向する面に設けてある。第1実施形態では前記反射構造5は、金属フィラーを含んだ樹脂等で形成された反射膜であり、入射した赤外線は吸収される量よりも反射される量が大きくなるようにしてある。言い換えると、この反射構造5は前記赤外線吸収構造4よりも赤外線を吸収しにくく、かつ、放射を発生しにくく構成してある。
なお、前記導入口側空間S1に接する前記鏡筒1の内側周面、及び、前記第2絞り22、前記第1絞り21の赤外線導入孔と対向する面については黒色化処理が施してあり、迷光として入射した赤外線が吸収されるようにしてある。
このように構成された第1実施形態において前記導入口側空間S1の部材から放射される赤外線である自家赤外線IRが、前記センサ側空間S2にある前記赤外線センサ3には入射しにくい点について従来例と比較しながら説明する。
図3は従来の放射温度計200Aと同様に鏡筒1Aの基端側の内部端面は黒色化処理等が施されておらず、金属反射面が露出している場合を示すものである。すなわち、従来においては赤外線センサ3Aを製造する際に筐体31Aを形成するキャンとステムを金属接合する際の妨げにならないように酸化処理やその他の黒色化処理は赤外線センサ3Aの筐体31Aに対しては施されていない。
この場合、例えば黒色化処理されている前記第2絞り22Aから熱放射により自家赤外線IRが射出されて、第1絞り21Aを通過してしまうと、センサ側空間S2を形成する壁で反射が繰り返されて赤外線センサ3A内に入射してしまうことがある。すなわち、赤外線センサ3Aの視野Vの外側から自家赤外線IRが入射することにより、温度ドリフトや視野Vがぼやけてしまうといった不具合が従来は発生していた。
一方、第1実施形態の放射温度計200であれば図1に示されるように前記導入口側空間S1内で発生した自家赤外線IRが前記第1絞り21を通過して前記センサ側空間S2に入射できたとしても、前記赤外線吸収構造4へと入射し吸収されるので当該センサ側空間S2内で反射が繰り返されない。したがって、導入口側空間S1で発生する自家赤外線IRは前記赤外線センサ3までほとんど到達することがない。なお、前記第1絞り21で前記赤外線センサ3の視野Vは制限されているので、この視野Vの外側にある前記筐体31の内側周面や前記第2絞り22から放射された自家赤外線IRが反射などを経ずに直接赤外線センサ3に入射することはない。
また、前記赤外線吸収構造4で自家赤外線IRが発生しても前記赤外線センサ3の受光面と同じ方向を向いているので、このような自家赤外線IRはほとんど前記赤外線センサ3に入射することはない。
さらに、センサ側空間S2を形成する壁面のうち前記赤外線吸収構造4が設けられていない部分については前記反射構造5が設けてあるので、これらの部分からそもそも自家赤外線IRがほとんど発生しない。
したがって、前記赤外線センサ3に対して自家赤外線IRがほとんど入射せず、測定対象物から放射された外部からの赤外線だけを入射させることができる。つまり、前記放射温度計200の周囲温度が変化し、自家放射線の量が増減したとしても前記赤外線センサ3には温度ドリフト等やノイズ等が発生しにくい。このため、第1実施形態の放射温度計200は、従来ほどは放射温度計200自体の温度を一定に保つことができない場合でも高い精度で温度測定を行うことが可能である。つまり、第1実施形態の放射温度計200は周囲環境の温度変化が大きいような場合でも非接触で高精度の温度測定を行うのに適している。
次に第2実施形態について図4を参照しながら説明する。なお、第1実施形態で説明した部材に対応ずる部材には同じ符号を付すこととする。
第2実施形態の放射温度計200の赤外線検出器100は、絞り機構2、赤外線吸収構造4、反射構造5が第1実施形態と異なっている。
各部について説明する。
前記絞り機構2は、第1絞り21、第2絞り22だけでなく、前記第2絞り22と赤外線導入口11との間に設けられた第3絞り23を備えている。このように絞りの枚数を増加させることで迷光がセンサ側空間S2に侵入し、赤外線センサ3に入射してしまうのをさらに防ぎやすくなる。
また、第2実施形態の赤外線吸収は、赤外線センサ3の筐体31の外表面と、鏡筒1の基端側の内部端面を黒化処理したものである。黒色化処理としては酸化膜を形成してあるが、例えば黒色の塗料を塗布する等しても構わない。
より具体的には図5の赤外線センサ3の断面図に示すように、筐体31は、サーモパイル素子33が中央に載置される土台であるステム311と、天面中央部にフィルタ32が設けられ、底部側が前記ステム311に嵌め合わされて接合されるキャン312とを備えている。前記ステム311と前記キャン312はそれぞれ金属製ものであり、それぞれの接触部分は金属接合してある。また、前記キャン31の天面外表面において前記フィルタ32以外の部分については酸化膜を形成して赤外線吸収構造4としてある。キャン31の外表面に赤外線吸収構造4として酸化膜を形成してあるので、赤外線吸収板を設けた場合よりもサーモパイル素子33と赤外線吸収構造4との温度勾配を小さくできる。このため温度ドリフト等をさらに生じにくくし、測定精度の向上を実現できる。
さらに第2実施形態の反射構造5は、センサ側空間S2内において黒色化処理した部分以外について鏡面加工を施したものである。
このような第2実施形態の赤外線吸収構造4及び反射構造5によっても第1実施形態と同様に自家赤外線IRが赤外線センサ3内に入射するのを防ぐことができ、測定温度における温度ドリフトやノイズ等を低減できる。
その他の実施形態について説明する。
鏡筒1に対する赤外線導入口11及び赤外線センサ3の配置については前記実施形態に示したものに限られない。例えば図6及び図7に示すように鏡筒1内にミラーMを設けておき、前記赤外線導入口11から入射した赤外線をミラーMに反射させて前記赤外線センサ3に入射するようにしてもよい。このような場合でも前記赤外線導入口11、ミラーM、赤外線センサ3に至る光路上に第1絞り21を設け、鏡筒内1を赤外線導入口11のある先端側と、赤外線センサ3の収容される基端側とに仕切るようにし、基端側の少なくとも内部端面に赤外線吸収構造4を形成することで前記実施形態と同様に自家赤外線IRが赤外線センサ3に入射するのを防ぐことができる。
赤外線吸収構造は導入口側空間で発生する自家赤外線がセンサ側空間内で最初に入射し得る位置を覆うように少なくとも設けてあればよい。すなわち、赤外線吸収構造が、鏡筒内において第1絞りよりも先端側から放射される赤外線が第1絞りを通過して前記鏡筒における基端側の内部端面又は前記赤外線センサの外表面に到達可能な位置に設けられていればよい。例えば、図8に示すように導入口側空間S1の壁面の各点から放射状に仮想直線を描き、第1絞り21の開口を通過して赤外線センサ3の天面又は鏡筒1の基端側内部端面に投影される領域については赤外線吸収構造4を設けるようにしてもよい。このような場合、図9の鏡筒1の基端側における内部端面を上から視た場合の図に示すように、前記赤外線センサ3の天面において内周側であり光フィルタ32の周囲には赤外線吸収構造4が設けられておらず、天面の外周部であって自家赤外線の到達可能な位置にのみに赤外線吸収構造4が設けられるようにしてもよい。また、赤外線吸収構造は、前記鏡筒の内側周面、第1絞りの一部、あるいは、赤外線センサの一部を反射率が低く、赤外線の吸収が発生する粗面としてすることで形成してもよい。
さらに、赤外線センサ3の光フィルタ32は薄板状に形成されたものであるが、積眼センサ3の断面図である図10(a)、光フィルタ33を裏面側から視た斜視図である図10(b)に示すように裏面においてキャン312に取り付けられる部分と、光フィルタ32の側面について金属膜34で覆うようにしても構わない。例えば赤外線センサ3の視野V外において測定対象よりもエネルギーの大きい赤外線を発生させる赤外線発生源があり、その赤外線発生源から射出された赤外線が鏡筒1内に入射し、赤外線吸収構造4が有ったとしても減衰を伴いながら鏡筒1内で反射されて前記光フィルタ32の側面に到達する可能性がある。このような場合には、光フィルタ32の表面から裏面へと赤外線が通過しないため十分なバンドパス効果が発揮されず、測定誤差が発生することになる。図10に示される実施形態では金属膜34を前記光フィルタ33の側面等に設けることで、赤外線が光フィルタ33の表面以外からは入射できないようにし、視野外のエネルギーの大きい赤外線がサーモパイル33へ入射するのを防ぎ、測定誤差の発生を低減できる。このようなものであれば、例えば半導体ウエハを半導体ウエハの近傍に配置したハロゲンランプで加熱しており、温度測定対象である半導体ウエハのみが視野Vに入るようにしている場合でも、ハロゲンランプから発生する高エネルギーの赤外線の影響を受けることなく、半導体ウエハの温度を正確に測定する事が可能となる。
また、第2絞りの赤外線センサ側の各点から放射される赤外線が前記第1絞りの開口を通過して鏡筒における基端側の内部端面又は赤外線センサの外表面に到達可能な位置に赤外線吸収構造を設けてもよい。
さらに、鏡筒の基端側の内部端面において赤外線吸収構造が設けられていない部分に反射構造を設けて、自家赤外線が発生しないようにしてもよい。
加えて、反射構造についても各実施形態のように形成するのではなく、センサ側空間における鏡筒の内側周面の少なくとも一部、又は、第1絞りにおける赤外線センサ側の面の少なくとも一部に設けてあればよい。
絞り構造を構成する各絞りについては鏡筒の軸方向に対して垂直に設けたものに限られず、例えば軸方向に対して斜めに設けてもよい。各絞りについては鏡筒内における測定対象からの赤外線の光路に応じてその位置や向きが設定されて、赤外線センサの視野を所定の範囲に限定するものであればよい。
なお、本発明に係る赤外線検出器は放射温度計を構成するためでなく、様々な装置を構成するために用いても構わない。例えば赤外線検出器からの出力信号の有無又は閾値を超えるかどうかによって赤外線スイッチを構成してもよい。また、プリズムと、赤外線検出器を用いて赤外線分光器を構成したり、この赤外線分光器を用いたNDIRを構成したりしてもよい。
その他の本発明の趣旨に反しない限りにおいて様々な実施形態の変形や組み合わせを行っても構わない。
本発明に係る赤外線検出器を用いることにより、放射温度計であれば周囲環境に温度変化や測定対象からの赤外線の作用により、赤外線検出器自体の温度が変化したとしても温度ドリフトを抑えることができる。このため、赤外線検出器自体の温度を一定に保つことが難しい環境において精度の良い温度測定が可能な放射温度計を提供できる。
Claims (11)
- 先端側に赤外線導入口が形成された鏡筒と、
前記鏡筒内を先端側と基端側に仕切るように設けられた第1絞りと、
前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側に配置された赤外線センサと、
前記鏡筒における基端側の内部端面の少なくとも一部、又は、前記赤外線センサの外表面の少なくとも一部に設けられた赤外線吸収構造と、
前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面の少なくとも一部、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側の少なくとも一部に設けられた反射構造と、を備えたことを特徴とする赤外線検出器。 - 前記赤外線吸収構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側から放射される赤外線が前記第1絞りを通過して前記鏡筒における基端側の内部端面又は前記赤外線センサの外表面に到達可能な位置に設けられている請求項1記載の赤外線検出器。
- 前記鏡筒内において前記赤外線導入口と前記第1絞りとの間を仕切るように設けられた第2絞りをさらに備えた請求項1又は2記載の赤外線検出器。
- 前記第2絞りの前記赤外線センサ側の各点から放射される赤外線が前記第1絞りの開口を通過して前記鏡筒における基端側の内部端面又は前記赤外線センサの外表面に到達可能な位置に前記赤外線吸収構造が設けられている請求項3記載の赤外線検出器。
- 前記鏡筒内において前記第1絞りよりも先端側の内側周面には赤外線を吸収するよう表面処理されている請求項1乃至4いずれかに記載の赤外線検出器。
- 前記赤外線吸収構造が、前記鏡筒における基端側の内部端面、又は、前記赤外線センサの外表面を覆う黒い赤外線吸収板である請求項1乃至5いずれかに記載の赤外線検出器。
- 前記赤外線吸収構造が、前記鏡筒における基端側の内部端面、又は、前記赤外線センサの外表面を黒化処理したものである請求項1乃至5いずれかに記載の赤外線検出器。
- 前記反射構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側に形成された反射膜である請求項1乃至7いずれかに記載の赤外線検出器。
- 前記反射構造が、前記鏡筒内において前記第1絞りよりも基端側の内側周面、又は、前記第1絞りにおける前記赤外線センサ側を鏡面処理したものである請求項1乃至7いずれかに記載の赤外線検出器。
- 前記赤外線センサが、
サーモパイル素子と、
前記サーモパイル素子を内部に収容する筐体と、
筐体に形成された開口部を覆うように設けられ、所定の波長域の赤外線を通過させる板状の光フィルタと、を備え、
前記光フィルタの側面が金属膜で覆われている請求項1乃至9いずれかに記載の赤外線検出器。 - 請求項1乃至10いずれかに記載の赤外線検出器と、
前記赤外線センサから出力される電気信号に基づいて温度を算出する温度算出部と、を備えたことを特徴とする放射温度計。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016132772 | 2016-07-04 | ||
JP2016132772 | 2016-07-04 | ||
PCT/JP2017/014210 WO2018008215A1 (ja) | 2016-07-04 | 2017-04-05 | 赤外線検出器及び放射温度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018008215A1 true JPWO2018008215A1 (ja) | 2019-04-18 |
Family
ID=60912037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018525938A Pending JPWO2018008215A1 (ja) | 2016-07-04 | 2017-04-05 | 赤外線検出器及び放射温度計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190310138A1 (ja) |
EP (1) | EP3477268A4 (ja) |
JP (1) | JPWO2018008215A1 (ja) |
CN (1) | CN109416277A (ja) |
WO (1) | WO2018008215A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019086502A (ja) * | 2017-11-01 | 2019-06-06 | 英弘精機株式会社 | 日射計および測光装置 |
CN109506786A (zh) * | 2018-11-22 | 2019-03-22 | 北京航天计量测试技术研究所 | 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计 |
CN111238659B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-09-07 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种具有抑制杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
CN111238658B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-09-07 | 武汉高芯科技有限公司 | 具有抑制外部件杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
WO2021212716A1 (zh) * | 2020-04-24 | 2021-10-28 | 深圳市联新移动医疗科技有限公司 | 一种基于rfid的药瓶智能控制方法、装置及抢救车 |
CN111879408A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-11-03 | 武汉高芯科技有限公司 | 具有抑制杂散光功能的挡光环、冷屏及制冷型红外探测器 |
JP7053126B1 (ja) * | 2021-03-30 | 2022-04-12 | 株式会社オリジン | 放射型温度計、半田付け装置、温度測定方法及び半田付け製品の製造方法 |
JP2024025075A (ja) * | 2022-08-10 | 2024-02-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置及びアパーチャ部 |
WO2024105713A1 (ja) * | 2022-11-14 | 2024-05-23 | 三菱電機株式会社 | 熱型赤外線検出器及びその製造方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4820923A (en) * | 1986-06-19 | 1989-04-11 | Santa Barbara Research Center | Uncooled reflective shield for cryogenically-cooled radiation detectors |
US6677588B1 (en) * | 1988-12-13 | 2004-01-13 | Raytheon Company | Detector assembly having reduced stray light ghosting sensitivity |
US5434413A (en) * | 1993-10-01 | 1995-07-18 | Texas Instruments Incorporated | Virtual cold shield and cold filter for infrared detector arrays |
JPH08261835A (ja) * | 1995-03-27 | 1996-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦電型赤外線センサ |
JPH08278192A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Ishizuka Denshi Kk | 赤外線検出器 |
US6144031A (en) * | 1997-04-21 | 2000-11-07 | Inframetrics Inc. | Infrared video camera system with uncooled focal plane array and radiation shield |
JPH11223555A (ja) * | 1997-09-29 | 1999-08-17 | Ishizuka Electronics Corp | 非接触温度センサおよび同用検出回路 |
JPH11132857A (ja) * | 1997-10-28 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検出器 |
KR100370001B1 (ko) * | 1998-10-31 | 2003-01-29 | 엘지전자 주식회사 | 온도감지장치 |
JP3743394B2 (ja) * | 2002-05-31 | 2006-02-08 | 株式会社村田製作所 | 赤外線センサおよびそれを用いた電子装置 |
DE10321639A1 (de) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Heimann Sensor Gmbh | Infrarotsensor mit optimierter Flächennutzung |
JP2007101513A (ja) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Seiko Npc Corp | 赤外線センサ |
JP2010133869A (ja) | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Nippon Ceramic Co Ltd | サーモパイル型赤外線検出装置 |
JP5308844B2 (ja) * | 2009-01-28 | 2013-10-09 | 株式会社ミクニ | 赤外線温度測定装置 |
JP5287906B2 (ja) * | 2011-03-02 | 2013-09-11 | オムロン株式会社 | 赤外線温度センサ、電子機器、および赤外線温度センサの製造方法 |
JP2014089108A (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-15 | Tdk Corp | 非接触温度センサ |
-
2017
- 2017-04-05 EP EP17823823.4A patent/EP3477268A4/en not_active Withdrawn
- 2017-04-05 CN CN201780041592.3A patent/CN109416277A/zh active Pending
- 2017-04-05 WO PCT/JP2017/014210 patent/WO2018008215A1/ja unknown
- 2017-04-05 JP JP2018525938A patent/JPWO2018008215A1/ja active Pending
- 2017-04-05 US US16/315,148 patent/US20190310138A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3477268A4 (en) | 2020-02-26 |
EP3477268A1 (en) | 2019-05-01 |
WO2018008215A1 (ja) | 2018-01-11 |
CN109416277A (zh) | 2019-03-01 |
US20190310138A1 (en) | 2019-10-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPWO2018008215A1 (ja) | 赤外線検出器及び放射温度計 | |
CN102265125B (zh) | 具有杂散辐射屏蔽的非接触式医用温度计 | |
US9924114B2 (en) | Integrated radiation shield and radiation stop | |
JP2008501963A (ja) | センサ | |
US10054490B2 (en) | Medical thermometer having an improved optics system | |
JP2007205920A (ja) | 多重反射型セルおよび赤外線式ガス検知器 | |
US11474031B2 (en) | Gas detection apparatus | |
JP6663806B2 (ja) | 放射温度計 | |
US20240035958A1 (en) | Gas detection apparatus | |
JPS6255529A (ja) | 放射温度計 | |
JP2023179039A (ja) | 赤外線センサ | |
JP2012177560A (ja) | 放射温度計 | |
JP2021148782A (ja) | ガス検出装置 | |
KR20160140255A (ko) | 감도와 신뢰성 향상을 위한 광학적 가스 센서 | |
JP2024016805A (ja) | ガス検出装置 | |
CN117990217A (zh) | 温度传感装置 | |
JPS6218848B2 (ja) | ||
JPS62195528A (ja) | 放射温度計 | |
JPH04223239A (ja) | 低温用放射計 | |
JPH11194052A (ja) | 赤外線検出器およびこれを用いた放射体温計 | |
JP2017053666A (ja) | 半導体透過温度センサ、温度測定システム、並びに温度測定方法 | |
JP2000139849A (ja) | 赤外線検出器およびこれを用いた放射体温計 | |
JP2011133422A (ja) | サーモパイル型赤外線検出装置 | |
JP2002333369A (ja) | 赤外線検出器およびこれを用いた放射体温計 | |
JP2013181760A (ja) | 赤外線検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200630 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20201224 |