CN109506786A - 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计 - Google Patents

一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计 Download PDF

Info

Publication number
CN109506786A
CN109506786A CN201811397624.6A CN201811397624A CN109506786A CN 109506786 A CN109506786 A CN 109506786A CN 201811397624 A CN201811397624 A CN 201811397624A CN 109506786 A CN109506786 A CN 109506786A
Authority
CN
China
Prior art keywords
temperature control
control layer
radiation thermometer
temperature
infrared transmitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811397624.6A
Other languages
English (en)
Inventor
张俊祺
王文革
王阔传
张奇
黄赜
罗兆明
刘浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Academy of Launch Vehicle Technology CALT
Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology
Original Assignee
China Academy of Launch Vehicle Technology CALT
Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Academy of Launch Vehicle Technology CALT, Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology filed Critical China Academy of Launch Vehicle Technology CALT
Priority to CN201811397624.6A priority Critical patent/CN109506786A/zh
Publication of CN109506786A publication Critical patent/CN109506786A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,包括密封结构外壳,密封结构外壳内侧为外壁,密封结构外壳与外壁形成真空绝热层,外壁内侧为内壁,外壁与内壁构成控温层A、控温层B,控温层A、控温层B中充入控温流体;在控温层A、控温层B内侧安装有光路挡板,在整个装置内部中心位置从左至右依次安装视场光阑、红外探测器、成像反射镜;而密封结构外壳左侧为ZnSe光学窗口,ZnSe光学窗口内侧安装锗透镜,光线从ZnSe光学窗口射入,依次经锗透镜、光路挡板后射入视场光阑;在光路挡板上安装有高纯氮气充气管,高纯氮气充气管的右部穿出整个装置,高纯氮气充气管的右端为高纯氮气入口。

Description

一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计
技术领域
本发明属于温度计领域,具体涉及一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计。
背景技术
红外传递辐射温度计作为传递标准器,广泛应用于各种红外辐射源辐射强度的校准,用于各种黑体辐射源的校准,以及作为标准红外辐射温度计用于物体表面精确测温。
随着我国科技的发展,红外传递辐射温度计的应用环境发生很大变化,对红外传递辐射温度计性能提出了更高的要求,常规的红外传递辐射温度计只能在常压以及室温附近开展工作,已经不能满足需求,例如:在真空条件、高低温条件下无法正常使用。尤其在航天遥感等领域,大量的辐射测温仪器得到应用,为了保证天地一致性,在地面试验过程中要模拟太空中真空低温环境。因此,迫切需要开展真空温条件下红外传递辐射温度计研究。
发明内容
本发明的目的在于:克服现有红外传递辐射温度计无法在真空低温环境下使用的缺陷,建立一种结构改造的红外传递辐射温度计,提供一种满足对精度和长期稳定性的测量要求的红外传递辐射温度计,实现红外辐射亮温校准装置中的红外亮温传递标准器。
本发明的技术方案如下:一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,包括密封结构外壳,密封结构外壳内侧为外壁,密封结构外壳与外壁形成真空绝热层,外壁内侧为内壁,外壁与内壁构成控温层A、控温层B,控温层A、控温层B中充入控温流体;在控温层A、控温层B内侧安装有光路挡板,在整个装置内部中心位置从左至右依次安装视场光阑、红外探测器、成像反射镜;而密封结构外壳左侧为ZnSe光学窗口,ZnSe光学窗口内侧安装锗透镜,光线从ZnSe光学窗口射入,依次经锗透镜、光路挡板后射入视场光阑;
在光路挡板上安装有高纯氮气充气管,高纯氮气充气管的右部穿出整个装置,高纯氮气充气管的右端为高纯氮气入口。
控温流体从位于整个装置下部的控温层A进入,再从位于整个装置上部的控温层B排出。
视场光阑、红外探测器、成像反射镜共轴。
在密封结构外壳的右侧为电气连接。
真空绝热层,并通过聚四氟乙烯支撑环进行支撑。
所述锗透镜两面涂有宽波段的防反射涂层。
整个装置内工作温度范围需保持在-20℃~25℃。
整个装置内工作温度为0℃。
场光阑孔径直径为1mm。
密封结构外壳为不锈钢结构。
本发明的显著效果在于:真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计可对各种红外辐射源辐射强度进行校准,对航天遥感、精密测控温等过程中的量值传递具有非常广泛的实际应用意义。本发明装置的结构简单,抗干扰能力好,适用条件广,满足了真空低温环境下红外辐射源辐射强度等方面校准的需求,成功应用于真空低背景红外辐射亮温校准装置,为航天遥感红外遥感仪器标定提供服务。
附图说明
图1为本发明所述的真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计示意图;
图中:1ZnSe光学窗口、2锗透镜、3密封结构外壳、4真空绝热层、5聚四氟乙烯支撑环、6高纯氮气充气管、7高纯氮气入口、8电气连接、9光路挡板,10控温流体、11视场光阑、12红外探测器、13成像反射镜、14外壁、15内壁、16控温层A、17控温层B
具体实施方式
一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,包括密封结构外壳3,密封结构外壳3内侧为外壁14,密封结构外壳3与外壁14形成真空绝热层4,并通过聚四氟乙烯支撑环5进行支撑,外壁14内侧为内壁15,外壁14与内壁15构成控温层A16、控温层B17,控温层A16、控温层B17中冲进控温流体10,控温流体10从位于整个装置下部的控温层A16进入,再从位于整个装置上部的控温层B17排出;在控温层A16、控温层B17内侧安装有光路挡板9,光路挡板9用于屏蔽杂散光,在整个装置内部中心位置从左至右依次安装视场光阑11、红外探测器12、成像反射镜13,且视场光阑11、红外探测器12、成像反射镜13共轴;而密封结构外壳3左侧为ZnSe光学窗口1,ZnSe光学窗口1内侧安装锗透镜2,光线从ZnSe光学窗口1射入,依次经锗透镜2、光路挡板9后射入视场光阑11。
在光路挡板上安装有高纯氮气充气管6,高纯氮气充气管6的右部穿出整个装置,高纯氮气充气管6的右端为高纯氮气入口7;在密封结构外壳3的右侧为电气连接8。
通过直径100mm的锗透镜2和成像反射镜将目标辐射成像于视场光阑平面。视场光阑11孔径直径为1mm,视场光阑前布置了三个不同孔径的视场挡板,消除杂散辐射影响。成像反射镜将穿过视场光阑的辐射收集并成像于红外探测器敏感面上。探测器前布置截止滤光片,使得红外辐射温度计的使用光谱范围为8um~14um。
锗透镜2两面涂有宽波段的防反射涂层。锗透镜的折射率与工作环境温度密切相关。锗透镜工作环境温度变化5℃会引起FOV视场变化0.5mm。因此,为了保证得到理想的FOV视场,套筒内工作温度范围需保持在-20℃~25℃,最佳工作温度为0℃。
不锈钢真空罩上设计有真空电气接口,将测量信号引出。测量信号分为模拟信号和数字信号两种。
红外传递辐射温度计作为传递标准器,广泛应用于各种红外辐射源辐射强度的校准,用于各种黑体辐射源的校准,以及作为标准红外辐射温度计用于物体表面精确测温。
随着我国科技的发展,红外传递辐射温度计的应用环境发生很大变化,对红外传递辐射温度计性能提出了更高的要求,常规的红外传递辐射温度计只能在常压以及室温附近开展工作,已经不能满足需求,例如:在真空条件、高低温条件下无法正常使用。尤其在航天遥感等领域,大量的辐射测温仪器得到应用,为了保证天地一致性,在地面试验过程中要模拟太空中真空低温环境。因此,迫切需要开展真空温条件下红外传递辐射温度计研究。
真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计可对各种红外辐射源辐射强度进行校准,对航天遥感、精密测控温等过程中的量值传递具有非常广泛的实际应用意义。本发明装置的结构简单,抗干扰能力好,适用条件广,满足了真空低温环境下红外辐射源辐射强度等方面校准的需求,成功应用于真空低背景红外辐射亮温校准装置,为航天遥感红外遥感仪器标定提供服务。

Claims (10)

1.一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:包括密封结构外壳(3),密封结构外壳(3)内侧为外壁(14),密封结构外壳(3)与外壁(14形成真空绝热层(4),外壁(14内侧为内壁(15),外壁(14)与内壁(15)构成控温层A(16)、控温层B(17),控温层A(16)、控温层B(17)中充入控温流体(10);在控温层A(16)、控温层B(17)内侧安装有光路挡板(9),在整个装置内部中心位置从左至右依次安装视场光阑(11)、红外探测器(12)、成像反射镜(13);而密封结构外壳(3)左侧为ZnSe光学窗口(1),ZnSe光学窗口(1)内侧安装锗透镜(2),光线从ZnSe光学窗口(1)射入,依次经锗透镜(2)、光路挡板(9)后射入视场光阑(11);
在光路挡板上安装有高纯氮气充气管(6),高纯氮气充气管(6)的右部穿出整个装置,高纯氮气充气管(6)的右端为高纯氮气入口(7)。
2.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:控温流体(10)从位于整个装置下部的控温层A(16)进入,再从位于整个装置上部的控温层B(17)排出。
3.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:视场光阑(11)、红外探测器(12)、成像反射镜(13)共轴。
4.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:在密封结构外壳(3)的右侧为电气连接(8)。
5.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:真空绝热层(4),并通过聚四氟乙烯支撑环(5)进行支撑。
6.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:所述锗透镜(2)两面涂有宽波段的防反射涂层。
7.根据权利要求1所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:整个装置内工作温度范围需保持在-20℃~25℃。
8.根据权利要求7所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:整个装置内工作温度为0℃。
9.根据权利要求7所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:场光阑(11)孔径直径为1mm。
10.根据权利要求7所述的一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计,其特征在于:密封结构外壳(3)为不锈钢结构。
CN201811397624.6A 2018-11-22 2018-11-22 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计 Pending CN109506786A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811397624.6A CN109506786A (zh) 2018-11-22 2018-11-22 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811397624.6A CN109506786A (zh) 2018-11-22 2018-11-22 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109506786A true CN109506786A (zh) 2019-03-22

Family

ID=65749661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811397624.6A Pending CN109506786A (zh) 2018-11-22 2018-11-22 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109506786A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7441621B2 (ja) 2019-09-12 2024-03-01 セイコーNpc株式会社 赤外線測定システム

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101246055A (zh) * 2008-03-13 2008-08-20 电子科技大学 钽酸锂薄膜红外探测器及制法
CN201177686Y (zh) * 2008-04-24 2009-01-07 济南神戎电子有限公司 连续变焦的红外热成像仪
CN201892573U (zh) * 2010-10-27 2011-07-06 中国计量科学研究院 一种近红外辐射温度计
CN102435319A (zh) * 2011-09-27 2012-05-02 电子科技大学 一种非致冷红外探测器
CN102564595A (zh) * 2011-12-14 2012-07-11 北京卫星环境工程研究所 用于真空低温环境的红外热波检测系统
CN102589710A (zh) * 2012-02-09 2012-07-18 北京空间机电研究所 双谱段空间低温热像仪光学成像系统
CN203465003U (zh) * 2013-07-24 2014-03-05 昆明北方红外技术股份有限公司 长波红外双视场监控热像仪
CN105318973A (zh) * 2015-11-13 2016-02-10 深圳通感微电子有限公司 自聚焦透镜热电堆传感器及其组装工艺
WO2018008215A1 (ja) * 2016-07-04 2018-01-11 株式会社堀場製作所 赤外線検出器及び放射温度計

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101246055A (zh) * 2008-03-13 2008-08-20 电子科技大学 钽酸锂薄膜红外探测器及制法
CN201177686Y (zh) * 2008-04-24 2009-01-07 济南神戎电子有限公司 连续变焦的红外热成像仪
CN201892573U (zh) * 2010-10-27 2011-07-06 中国计量科学研究院 一种近红外辐射温度计
CN102435319A (zh) * 2011-09-27 2012-05-02 电子科技大学 一种非致冷红外探测器
CN102564595A (zh) * 2011-12-14 2012-07-11 北京卫星环境工程研究所 用于真空低温环境的红外热波检测系统
CN102589710A (zh) * 2012-02-09 2012-07-18 北京空间机电研究所 双谱段空间低温热像仪光学成像系统
CN203465003U (zh) * 2013-07-24 2014-03-05 昆明北方红外技术股份有限公司 长波红外双视场监控热像仪
CN105318973A (zh) * 2015-11-13 2016-02-10 深圳通感微电子有限公司 自聚焦透镜热电堆传感器及其组装工艺
WO2018008215A1 (ja) * 2016-07-04 2018-01-11 株式会社堀場製作所 赤外線検出器及び放射温度計

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7441621B2 (ja) 2019-09-12 2024-03-01 セイコーNpc株式会社 赤外線測定システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100419398C (zh) 大口径光电系统野外现场辐射定标的方法及装置
CN109632104A (zh) 一种红外阵列辐射源校准装置及校准方法
CN104897279A (zh) 弱光光度校准装置
CN100494922C (zh) 溯源于绝对低温辐射计的锥形腔水浴黑体源及其标定方法
CN102854168B (zh) 用于参考式测量反射的光的设备和校准这样的设备的方法
CN109696447B (zh) 一种软x射线显微成像装置
CN111060289B (zh) 一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置
CN204788422U (zh) 应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备
CN109506784A (zh) 一种基于固定点温坪技术的标准黑体辐射源
CN110487842A (zh) 同时测量薄膜面内热导率与红外发射率的装置与方法
CN114279563B (zh) 便携式辐射标准源及其对成像光谱仪的辐射定标方法
CN111947785A (zh) 一种测温红外热像仪噪声等效温差校准方法
CN109506786A (zh) 一种真空低温环境下使用的红外传递辐射温度计
CN109297685A (zh) 一种用于大口径平行光管的光谱透过率测试装置及方法
CN105509900B (zh) 红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法
CN109164480B (zh) 一种多次反射红外传感器标定装置及方法
Machin et al. High-quality blackbody sources for infrared thermometry and thermography between− 40 and 1000° C
CN206114119U (zh) 一种用于光学镜面的红外测温装置
CN115683358A (zh) 基于制冷型红外成像系统的辐射定标装置及定标方法
Folkman et al. Enhancements to the radiometric calibration facility for the Clouds and the Earth's Radiant Energy System instruments
CN107894657B (zh) 一种便携式宽温范围目标模拟器的光学系统
Sun et al. Analysis and calculation of the veiling glare index in optical systems
CN214426841U (zh) 一种基于滤光片温度特性的温控光谱光度计
CN110926614A (zh) 一种自反射式红外发射率及温度测量装置
CN219694368U (zh) 一种基于单点热电堆的测温传感器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190322