JPWO2017208439A1 - 赤外分光光度計 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 49
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 28
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 14
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)molybdenum Chemical compound [Si]=[Mo]=[Si] YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 iron-chromium-aluminum Chemical compound 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910021343 molybdenum disilicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021344 molybdenum silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910021339 platinum silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0264—Electrical interface; User interface
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/027—Control of working procedures of a spectrometer; Failure detection; Bandwidth calculation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0286—Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by temperature, humidity or pressure, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a spectrometer, e.g. vacuum
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J3/108—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry for measurement in the infrared range
Abstract
安価な構成を用いて、電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる赤外分光光度計を提供する。赤外分光光度計が、電熱ヒータ1と、PWM制御回路5と、状態検知部61と、報知処理部62とを備える。電熱ヒータ1は、赤外光を照射する光源である。PWM制御回路5は、電熱ヒータ1への供給電流が一定となるようにPWM制御を行う。状態検知部61は、PWM制御時におけるオンデューティーの変化に基づいて、電熱ヒータ1の状態を検知する。報知処理部62は、状態検知部61による検知結果を報知する。
Description
本発明は、赤外光を照射する光源としての電熱ヒータを備える赤外分光光度計に関するものである。
赤外分光光度計においては、セラミックヒータなどの電熱ヒータが光源として用いられている(例えば下記特許文献1参照)。この種の赤外分光光度計では、電熱ヒータから照射される赤外光を固定鏡及び移動鏡で反射させることにより、固定鏡で反射した光と移動鏡で反射した光とが干渉し、その干渉光が試料に照射される。
セラミックヒータは、抵抗体からなる発熱体の外側が、炭化ケイ素(SiC)又は窒化ケイ素(SiN)などのセラミックで覆われることにより形成されている。発熱体だけで使用した場合には、発熱体がすぐに酸化して劣化することとなるが、発熱体の外側をセラミックで覆うことにより、発熱体の酸化を抑制し、耐久性を向上することができる。
上記のようなセラミックヒータであっても、長期間にわたって使用されることによりセラミックが徐々に酸化するため、内部の発熱体も徐々に酸化して細くなり、最終的には断線してしまう。発熱体が断線した場合には、セラミックヒータ自体を交換しなければならず、交換までの間は赤外分光光度計を用いた分析を行うことができないという問題がある。
そこで、セラミックヒータの使用時間を監視したり、セラミックヒータから照射される光を光検出器で検出して監視したりすることにより、セラミックヒータの寿命の目安とすることが行われている。このようにしてセラミックヒータの寿命を予測することにより、発熱体が断線する前に、セラミックヒータを交換することが可能になる。
しかしながら、セラミックヒータの使用時間を監視するような構成では、セラミックヒータごとの寿命を考慮できないという問題がある。すなわち、セラミックヒータごとに寿命にはばらつきがあるため、想定される最短の寿命よりも短い一定の交換時期で、セラミックヒータを一律に交換する必要がある。そのため、まだ寿命が十分に残っているセラミックヒータを交換してしまう可能性がある。
一方、セラミックヒータから照射される光を監視するような構成では、光量が一定の閾値を下回ったときにセラミックヒータを交換することになる。この場合、セラミックヒータごとの寿命を考慮することはできるが、セラミックヒータから照射される光を検出するために光検出器を設ける必要があるため、製造コストが高くなるという問題がある。
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、安価な構成を用いて、電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる赤外分光光度計を提供することを目的とする。
(1)本発明に係る赤外分光光度計は、電熱ヒータと、通電制御部と、状態検知部と、報知処理部とを備える。前記電熱ヒータは、赤外光を照射する光源である。前記通電制御部は、前記電熱ヒータへの供給電流が一定となるようにPWM制御を行う。前記状態検知部は、前記PWM制御時におけるオンデューティーの変化に基づいて、前記電熱ヒータの状態を検知する。前記報知処理部は、前記状態検知部による検知結果を報知する。
このような構成によれば、PWM制御により、電熱ヒータへの供給電流が一定となるように制御が行われる。この場合、電熱ヒータが酸化などにより劣化し、抵抗値が高くなったときには、PWM制御時におけるオンデューティーが大きくなる。したがって、オンデューティーの変化に基づいて、電熱ヒータの状態(劣化状態)を検知し、その検知結果を報知することが可能である。そのため、光検出器を設けるような構成と比較して安価な構成を用いて、電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる。
(2)前記状態検知部は、前記PWM制御時におけるオンデューティーを閾値と比較することにより、前記電熱ヒータの状態を検知してもよい。
このような構成によれば、PWM制御時におけるオンデューティーを閾値と比較することにより、電熱ヒータの状態を検知し、その検知結果を報知することができる。すなわち、オンデューティーが閾値以上となった場合には、電熱ヒータが酸化などにより劣化し、抵抗値が高くなっていると判断できるため、その検知結果に基づいて電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる。
(3)前記状態検知部は、前記PWM制御時におけるオンデューティーの変化量を閾値と比較することにより、前記電熱ヒータの状態を検知してもよい。
このような構成によれば、PWM制御時におけるオンデューティーの変化量を閾値と比較することにより、電熱ヒータの状態を検知し、その検知結果を報知することができる。すなわち、オンデューティーの初期値からの変化量が閾値以上となった場合には、電熱ヒータが酸化などにより劣化し、抵抗値が高くなっていると判断できるため、その検知結果に基づいて電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる。
(4)前記状態検知部は、前記PWM制御が開始されてから所定時間が経過した後、前記電熱ヒータの状態を検知してもよい。
このような構成によれば、PWM制御が開始された後、所定時間が経過することによりオンデューティーが安定してから、そのオンデューティーの変化に基づいて電熱ヒータの状態を検知することができる。これにより、電熱ヒータの状態を精度よく検知することができるため、電熱ヒータの交換時期をより適切に報知することができる。
本発明によれば、オンデューティーの変化に基づいて、電熱ヒータの状態(劣化状態)を検知し、その検知結果を報知することが可能であるため、光検出器を設けるような構成と比較して安価な構成を用いて、電熱ヒータの適切な交換時期を報知することができる。
1.赤外分光光度計の構成
図1は、本発明の一実施形態に係る赤外分光光度計の構成例を示した概略図である。この赤外分光光度計は、例えばフーリエ変換赤外分光光度計(FT−IR)であって、電熱ヒータ1、干渉計2、試料室3、検出器4、PWM制御回路5、制御部6及び表示部7などを備えている。
図1は、本発明の一実施形態に係る赤外分光光度計の構成例を示した概略図である。この赤外分光光度計は、例えばフーリエ変換赤外分光光度計(FT−IR)であって、電熱ヒータ1、干渉計2、試料室3、検出器4、PWM制御回路5、制御部6及び表示部7などを備えている。
電熱ヒータ1は、例えばセラミックヒータにより構成されている。具体的には、抵抗体からなる発熱体の外側が、炭化ケイ素(SiC)又は窒化ケイ素(SiN)などのセラミックで覆われることにより、電熱ヒータ1が形成されている。発熱体としては、例えばニッケル−クロム系、鉄−クロム−アルミ系、モリブデン、タングステン、白金、二珪化モリブデンなどの金属発熱体を例示することができるが、これに限らず、非金属発熱体であってもよい。電熱ヒータ1は、セラミックにクロムなどの金属粉を混ぜて、当該セラミックで発熱体の外側を覆った状態で焼結することにより形成されている。
分析時には、電熱ヒータ1に対して通電が行われることにより、電熱ヒータ1から赤外光が照射される。すなわち、電熱ヒータ1は、赤外光を照射する光源として機能する。この電熱ヒータ1から照射される赤外光が、干渉計2において干渉光となり、試料室3内の試料に測定光として照射される。
干渉計2は、ハーフミラー21、固定鏡22及び移動鏡23などを備えている。電熱ヒータ1から照射される赤外光のうち、一部の赤外光はハーフミラー21を透過して固定鏡22に入射し、残りの赤外光はハーフミラー21で反射して移動鏡23に入射する。固定鏡22は、ハーフミラー21に対して一定の距離で固定されている。一方、移動鏡23は、駆動部24の駆動により、ハーフミラー21に対する距離を変化させることができるようになっている。
固定鏡22及び移動鏡23に入射した赤外光は、それぞれの反射面において反射し、再びハーフミラー21に入射する。このとき、固定鏡22からの反射光はハーフミラー21で反射し、移動鏡23からの反射光はハーフミラー21を透過することにより、それぞれ同一の光路を通って試料室3に導かれる。その結果、固定鏡22及び移動鏡23からの赤外光が互いに干渉し、干渉光として試料室3内の試料に照射されることとなる。
干渉計2からの干渉光は、試料室3内の試料において反射又は透過した後、検出器4に入射する。検出器4は、例えば、MCT(HgCdTe)検出器などにより構成されている。検出器4は、入射する光に応じたインターフェログラムを検出信号として制御部6に出力する。制御部6は、検出器4から入力されるインターフェログラムをフーリエ変換することにより、スペクトルデータを取得する。
PWM制御回路5は、電熱ヒータ1に対する通電をPWM制御(Pulse Width Modulation)する。制御部6は、CPU(Central Processing Unit)を含む構成であり、CPUがプログラムを実行することにより、状態検知部61及び報知処理部62などとして機能する。状態検知部61は、PWM制御回路5からの入力信号に基づいて、電熱ヒータ1の状態を検知する。報知処理部62は、状態検知部61による検知結果を表示部7に表示させることによりユーザに報知する。表示部7は、例えば液晶表示器などにより構成されている。
2.PWM制御回路の構成
図2は、PWM制御回路5の構成例を示した回路図である。PWM制御回路5には、PWMドライバ51、光源電流検出部52、ローパスフィルタ53,54及びA/D変換器55などが備えられている。
図2は、PWM制御回路5の構成例を示した回路図である。PWM制御回路5には、PWMドライバ51、光源電流検出部52、ローパスフィルタ53,54及びA/D変換器55などが備えられている。
PWMドライバ51は、光源としての電熱ヒータ1の駆動電圧をパルス信号として一定周期で出力する。PWMドライバ51は、周期的に出力するパルス信号の時間幅(パルス幅)を変化させることにより、電熱ヒータ1への通電量を制御することができる。
光源電流検出部52は、電熱ヒータ1を流れる電流を検出する。ローパスフィルタ53は、抵抗器531及びコンデンサ532を備えており、光源電流検出部52からの信号をコンデンサ532により平滑化して、DC成分(直流成分)をPWMドライバ51にフィードバックする。PWMドライバ51は、光源電流検出部52からフィードバックされる信号に基づいて、電熱ヒータ1への供給電流が一定となるようにPWM制御を行う通電制御部として機能する。
ローパスフィルタ54は、抵抗器56を介して、PWMドライバ51と電熱ヒータ1との間に接続されている。ローパスフィルタ54には、抵抗器541及びコンデンサ542が備えられており、ローパスフィルタ54への入力信号は、抵抗器56及び抵抗器541によって分圧される。このローパスフィルタ54を介して、PWMドライバ51によるPWM制御時におけるオンデューティーが、A/D変換器55から制御部6に入力される。
3.PWM制御とオンデューティー
図3A及び図3Bは、PWMドライバ51によるPWM制御の態様について説明するための図である。図3A及び図3Bに示すように、PWM制御は、一定の周期T1におけるオン時間T2の割合(T2/T1)であるオンデューティーを変化させることにより行われる。すなわち、周期T1は一定であるため、電熱ヒータ1への供給電流が一定となるようにオン時間T2を調整する制御が行われる。
図3A及び図3Bは、PWMドライバ51によるPWM制御の態様について説明するための図である。図3A及び図3Bに示すように、PWM制御は、一定の周期T1におけるオン時間T2の割合(T2/T1)であるオンデューティーを変化させることにより行われる。すなわち、周期T1は一定であるため、電熱ヒータ1への供給電流が一定となるようにオン時間T2を調整する制御が行われる。
電熱ヒータ1が酸化などにより劣化し、SiO2が増加して抵抗値が高くなったときには、図3Bに示すように、PWM制御時におけるオンデューティー(T2/T1)が大きくなる。そこで、本実施形態では、オンデューティーの変化に基づいて、制御部6の状態検知部61により電熱ヒータ1の状態(劣化状態)を検知し、その検知結果を報知処理部62により報知するようになっている。これにより、ローパスフィルタ54を用いた安価な構成を用いて、電熱ヒータ1の適切な交換時期を報知することができる。
4.電熱ヒータの交換時期の報知
図4は、電熱ヒータ1の交換時期を報知する際の制御部6による処理の一例を示したフローチャートである。電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御は、例えば赤外分光光度計の電源がオン状態となったときに開始される(ステップS101,S102)。
図4は、電熱ヒータ1の交換時期を報知する際の制御部6による処理の一例を示したフローチャートである。電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御は、例えば赤外分光光度計の電源がオン状態となったときに開始される(ステップS101,S102)。
PWM制御が開始された直後は、電熱ヒータ1の温度が上昇中であるため、オンデューティーが安定しない。そこで、PWM制御が開始されてから所定時間が経過するまでは、状態検知部61による検知は行わず、上記所定時間が経過した後(ステップS103でYes)、状態検知部61により電熱ヒータ1の状態が検知されるようになっている。
具体的には、PWM制御回路5から入力されるオンデューティーの値が参照され(ステップS104)、その値が閾値と比較される(ステップS105)。そして、オンデューティーの値が閾値以上であれば(ステップS105でYes)、その検知結果が表示部7に表示されることにより、電熱ヒータ1が交換時期である旨がユーザに報知される(ステップS106)。このような状態検知部61による検知は、電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御中に繰り返し行われてもよい。
上記のように、本実施形態では、PWM制御時におけるオンデューティーを閾値と比較することにより、電熱ヒータ1の状態を検知し、その検知結果を報知することができる。すなわち、オンデューティーが閾値以上となった場合には(ステップS105でYes)、電熱ヒータ1が酸化などにより劣化し、抵抗値が高くなっていると判断できるため、その検知結果に基づいて電熱ヒータ1の適切な交換時期を報知することができる。
また、PWM制御が開始された後、所定時間が経過することによりオンデューティーが安定してから(ステップS103でYes)、そのオンデューティーの変化に基づいて電熱ヒータ1の状態を検知することができる。これにより、電熱ヒータ1の状態を精度よく検知することができるため、電熱ヒータ1の交換時期をより適切に報知することができる。
5.電熱ヒータの状態検知の変形例
図5は、電熱ヒータ1の交換時期を報知する際の制御部6による処理の変形例を示したフローチャートである。上記実施形態と同様に、電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御は、例えば赤外分光光度計の電源がオン状態となったときに開始される(ステップS201,S202)。そして、PWM制御が開始されてから所定時間が経過した後(ステップS203でYes)、状態検知部61により電熱ヒータ1の状態が検知される。
図5は、電熱ヒータ1の交換時期を報知する際の制御部6による処理の変形例を示したフローチャートである。上記実施形態と同様に、電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御は、例えば赤外分光光度計の電源がオン状態となったときに開始される(ステップS201,S202)。そして、PWM制御が開始されてから所定時間が経過した後(ステップS203でYes)、状態検知部61により電熱ヒータ1の状態が検知される。
具体的には、PWM制御回路5から入力されるオンデューティーの値が参照され(ステップS204)、予め記憶部(図示せず)に記憶されているオンデューティーの初期値からの変化量が算出される(ステップS205)。上記初期値は、電熱ヒータ1が劣化する前のオンデューティーの値であり、例えば新品の電熱ヒータ1を使用したときのオンデューティーの値に相当している。オンデューティーの値は、電熱ヒータ1の使用に伴って徐々に大きくなるため、PWM制御回路5から入力されるオンデューティーの値から初期値を減算する演算を行うことにより、上記変化量を算出することができる。
その後、算出されたオンデューティーの変化量が閾値と比較される(ステップS206)。そして、オンデューティーの変化量が閾値以上であれば(ステップS206でYes)、その検知結果が表示部7に表示されることにより、電熱ヒータ1が交換時期である旨がユーザに報知される(ステップS207)。このような状態検知部61による検知は、電熱ヒータ1に対する通電のPWM制御中に繰り返し行われてもよい。
上記のように、本変形例では、PWM制御時におけるオンデューティーの変化量を閾値と比較することにより、電熱ヒータ1の状態を検知し、その検知結果を報知することができる。すなわち、オンデューティーの初期値からの変化量が閾値以上となった場合には(ステップS206でYes)、電熱ヒータ1が酸化などにより劣化し、抵抗値が高くなっていると判断できるため、その検知結果に基づいて電熱ヒータ1の適切な交換時期を報知することができる。
また、PWM制御が開始された後、所定時間が経過することによりオンデューティーが安定してから(ステップS203でYes)、そのオンデューティーの変化に基づいて電熱ヒータ1の状態を検知することができる。これにより、電熱ヒータ1の状態を精度よく検知することができるため、電熱ヒータ1の交換時期をより適切に報知することができる。
6.その他の変形例
以上の実施形態では、報知処理部62が、状態検知部61による検知結果を表示部7に表示させることによりユーザに報知するような構成について説明した。しかし、このような構成に限らず、報知処理部62は、例えば音声などの表示以外の方法で報知を行うような構成であってもよい。
以上の実施形態では、報知処理部62が、状態検知部61による検知結果を表示部7に表示させることによりユーザに報知するような構成について説明した。しかし、このような構成に限らず、報知処理部62は、例えば音声などの表示以外の方法で報知を行うような構成であってもよい。
また、以上の実施形態では、電熱ヒータ1がセラミックヒータにより構成されている場合について説明したが、電熱ヒータ1は、赤外光を照射する光源として使用できるヒータであれば、セラミックヒータ以外のヒータにより構成されていてもよい。この場合、例えば抵抗体からなる発熱体の外側がセラミックで覆われておらず、発熱体のみからなる電熱ヒータなどであってもよい。
1 電熱ヒータ
2 干渉計
3 試料室
4 検出器
5 PWM制御回路
6 制御部
7 表示部
51 PWMドライバ
52 光源電流検出部
53 ローパスフィルタ
54 ローパスフィルタ
55 A/D変換器
56 抵抗器
61 状態検知部
62 報知処理部
531 抵抗器
532 コンデンサ
541 抵抗器
542 コンデンサ
2 干渉計
3 試料室
4 検出器
5 PWM制御回路
6 制御部
7 表示部
51 PWMドライバ
52 光源電流検出部
53 ローパスフィルタ
54 ローパスフィルタ
55 A/D変換器
56 抵抗器
61 状態検知部
62 報知処理部
531 抵抗器
532 コンデンサ
541 抵抗器
542 コンデンサ
Claims (4)
- 赤外光を照射する光源としての電熱ヒータと、
前記電熱ヒータへの供給電流が一定となるようにPWM制御を行う通電制御部と、
前記PWM制御時におけるオンデューティーの変化に基づいて、前記電熱ヒータの状態を検知する状態検知部と、
前記状態検知部による検知結果を報知する報知処理部とを備えることを特徴とする赤外分光光度計。 - 前記状態検知部は、前記PWM制御時におけるオンデューティーを閾値と比較することにより、前記電熱ヒータの状態を検知することを特徴とする請求項1に記載の赤外分光光度計。
- 前記状態検知部は、前記PWM制御時におけるオンデューティーの変化量を閾値と比較することにより、前記電熱ヒータの状態を検知することを特徴とする請求項1に記載の赤外分光光度計。
- 前記状態検知部は、前記PWM制御が開始されてから所定時間が経過した後、前記電熱ヒータの状態を検知することを特徴とする請求項1に記載の赤外分光光度計。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/066619 WO2017208439A1 (ja) | 2016-06-03 | 2016-06-03 | 赤外分光光度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017208439A1 true JPWO2017208439A1 (ja) | 2018-11-29 |
Family
ID=60479255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018520318A Pending JPWO2017208439A1 (ja) | 2016-06-03 | 2016-06-03 | 赤外分光光度計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10890483B2 (ja) |
EP (1) | EP3467458B1 (ja) |
JP (1) | JPWO2017208439A1 (ja) |
CN (1) | CN109313076A (ja) |
WO (1) | WO2017208439A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3992612A1 (en) * | 2020-10-29 | 2022-05-04 | Infineon Technologies AG | Sensor, emitter and related methods |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09184759A (ja) | 1995-12-28 | 1997-07-15 | Shimadzu Corp | 赤外分光光度計 |
JPH10160568A (ja) | 1996-11-27 | 1998-06-19 | Shimadzu Corp | 赤外分光光度計 |
JPH1184957A (ja) | 1997-09-02 | 1999-03-30 | Canon Inc | 画像読取り装置 |
US7180588B2 (en) * | 1999-04-09 | 2007-02-20 | Plain Sight Systems, Inc. | Devices and method for spectral measurements |
JP2001109123A (ja) | 1999-10-01 | 2001-04-20 | Konica Corp | 熱現像装置 |
US6921910B2 (en) * | 2002-07-25 | 2005-07-26 | Varian Australia Pty Ltd | Infrared source for spectrometers |
US20050062481A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Thomas Vaughn | Wayside LED signal for railroad and transit applications |
WO2005059510A2 (en) * | 2003-12-11 | 2005-06-30 | The Regents Of The University Of California | Catheter-based mid-infrared reflectance and reflectance generated absorption spectroscopy |
US7291851B2 (en) * | 2004-06-29 | 2007-11-06 | Ric Investments, Llc | Infrared source modulation and system using same |
JP4552702B2 (ja) | 2005-03-16 | 2010-09-29 | 横河電機株式会社 | 赤外線分析計の光源 |
JP2010523984A (ja) * | 2007-04-03 | 2010-07-15 | 武藤工業株式会社 | 分光光度計及び方法 |
US7791328B2 (en) * | 2008-07-03 | 2010-09-07 | Emerson Electric Co. | Method and system for calibrating a motor control circuit to improve temperature measurement in an electrical motor |
JP5666173B2 (ja) | 2010-06-04 | 2015-02-12 | ローム株式会社 | 発光ダイオードの駆動回路、駆動方法、それを用いた発光装置、電子機器および照明機器 |
JP2012003864A (ja) * | 2010-06-14 | 2012-01-05 | Toshiba Lighting & Technology Corp | Led灯器及びled点灯監視制御システム |
US8593078B1 (en) | 2011-01-11 | 2013-11-26 | Universal Lighting Technologies, Inc. | Universal dimming ballast platform |
GB201201640D0 (en) * | 2012-01-31 | 2012-03-14 | Infinitesima Ltd | Photothermal probe actuation |
US9410982B2 (en) * | 2012-08-31 | 2016-08-09 | Infinitesima Limited | Photothermal actuation of a probe for scanning probe microscopy |
EP2914988A4 (en) * | 2012-12-28 | 2017-01-11 | Halliburton Energy Services, Inc. | Pulse width modulation of continuum sources for determination of chemical composition |
WO2016087939A1 (en) * | 2014-12-01 | 2016-06-09 | Cooledge Lighting, Inc. | Automated test systems and methods for light-emitting arrays |
JP6710954B2 (ja) * | 2015-12-16 | 2020-06-17 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置および画像形成装置の制御方法 |
-
2016
- 2016-06-03 US US16/088,660 patent/US10890483B2/en active Active
- 2016-06-03 EP EP16904064.9A patent/EP3467458B1/en active Active
- 2016-06-03 WO PCT/JP2016/066619 patent/WO2017208439A1/ja active Application Filing
- 2016-06-03 CN CN201680084794.1A patent/CN109313076A/zh active Pending
- 2016-06-03 JP JP2018520318A patent/JPWO2017208439A1/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20200300698A1 (en) | 2020-09-24 |
WO2017208439A1 (ja) | 2017-12-07 |
EP3467458B1 (en) | 2021-03-31 |
CN109313076A (zh) | 2019-02-05 |
EP3467458A1 (en) | 2019-04-10 |
US10890483B2 (en) | 2021-01-12 |
EP3467458A4 (en) | 2020-01-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200204 |