JPH09184759A - 赤外分光光度計 - Google Patents
赤外分光光度計Info
- Publication number
- JPH09184759A JPH09184759A JP35336395A JP35336395A JPH09184759A JP H09184759 A JPH09184759 A JP H09184759A JP 35336395 A JP35336395 A JP 35336395A JP 35336395 A JP35336395 A JP 35336395A JP H09184759 A JPH09184759 A JP H09184759A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic heater
- pulse width
- voltage
- power
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成でありながら電源電圧の変動の影
響を排除し、光源の温度を一定にして高感度且つ高精度
の測定を行なえるようにする。 【解決手段】 セラミックヒータ１１に印加される電圧
Ｖ及びセラミックヒータ１１に流れる電流Ａを測定し、
それらに基づいてセラミックヒータ１１に供給される電
力Ｗを算出する。そして、算出電力Ｗが所定値Ｗ0とな
るように、ＦＥＴスイッチ１２〜１５に与えるパルスの
幅を変化させる。
響を排除し、光源の温度を一定にして高感度且つ高精度
の測定を行なえるようにする。 【解決手段】 セラミックヒータ１１に印加される電圧
Ｖ及びセラミックヒータ１１に流れる電流Ａを測定し、
それらに基づいてセラミックヒータ１１に供給される電
力Ｗを算出する。そして、算出電力Ｗが所定値Ｗ0とな
るように、ＦＥＴスイッチ１２〜１５に与えるパルスの
幅を変化させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は赤外分光光度計に関
し、特に、測定用赤外線を生成するための光源に関す
る。
し、特に、測定用赤外線を生成するための光源に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】フーリエ変換赤外分光光度計等の赤外分
光測定に使用される光源としては、安定して大きな光量
が得られることが望ましい。セラミックヒータは、ネル
ンストランプ等の他の熱放射体と比較して大きな光量が
得られるため、赤外分光光度計用光源としてよく用いら
れている。
光測定に使用される光源としては、安定して大きな光量
が得られることが望ましい。セラミックヒータは、ネル
ンストランプ等の他の熱放射体と比較して大きな光量が
得られるため、赤外分光光度計用光源としてよく用いら
れている。
【０００３】セラミックヒータは、セラミック製の板状
部材（パネル）に電流を流すことにより加熱し、赤外線
を放出するものであるが、パネルに電流が流れている
際、内部では電子が電流とは反対方向に移動し、イオン
が電流方向に移動するという現象（マイグレーション）
が生じている。従って、パネルに一方向のみに電流を流
し続けると、マイグレーションによりイオンが陰極側に
集積し、絶縁破壊を生じてセラミックヒータの寿命が短
くなるため、セラミックヒータでは必ず電流の方向を反
転させる必要がある。
部材（パネル）に電流を流すことにより加熱し、赤外線
を放出するものであるが、パネルに電流が流れている
際、内部では電子が電流とは反対方向に移動し、イオン
が電流方向に移動するという現象（マイグレーション）
が生じている。従って、パネルに一方向のみに電流を流
し続けると、マイグレーションによりイオンが陰極側に
集積し、絶縁破壊を生じてセラミックヒータの寿命が短
くなるため、セラミックヒータでは必ず電流の方向を反
転させる必要がある。
【０００４】従来の赤外分光光度計の光源部の構成を図
５に示す。光源部はセラミックヒータ１１、その駆動回
路、温度計１７及び制御部（CTRL）１８で構成され、セ
ラミックヒータ駆動回路は４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５と、これらＦＥＴスイッチ１２〜１５のゲートにＯ
Ｎ／ＯＦＦスイッチパルスを印加するパルス生成器１６
とから成る。パルス生成器１６は図３（ａ）及び（ｂ）
に示すようなタイミングで４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５をＯＮ又はＯＦＦさせる。すなわち、或る時点では
セラミックヒータ駆動回路の一方の対角線方向の２個の
ＦＥＴスイッチ１２、１５をＯＮ、他の対角線方向の２
個のＦＥＴスイッチ１３、１４をＯＦＦとし、次の時点
ではそれらのＯＮ／ＯＦＦを逆にする。各ＦＥＴスイッ
チ１２〜１５のＯＮ／ＯＦＦ状態とセラミックヒータ１
１に流れる電流の方向を図３（ｃ）に示す。これによ
り、セラミックヒータ１１には図３（ｄ）に示すような
交流電圧が印加され、電力が供給される。
５に示す。光源部はセラミックヒータ１１、その駆動回
路、温度計１７及び制御部（CTRL）１８で構成され、セ
ラミックヒータ駆動回路は４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５と、これらＦＥＴスイッチ１２〜１５のゲートにＯ
Ｎ／ＯＦＦスイッチパルスを印加するパルス生成器１６
とから成る。パルス生成器１６は図３（ａ）及び（ｂ）
に示すようなタイミングで４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５をＯＮ又はＯＦＦさせる。すなわち、或る時点では
セラミックヒータ駆動回路の一方の対角線方向の２個の
ＦＥＴスイッチ１２、１５をＯＮ、他の対角線方向の２
個のＦＥＴスイッチ１３、１４をＯＦＦとし、次の時点
ではそれらのＯＮ／ＯＦＦを逆にする。各ＦＥＴスイッ
チ１２〜１５のＯＮ／ＯＦＦ状態とセラミックヒータ１
１に流れる電流の方向を図３（ｃ）に示す。これによ
り、セラミックヒータ１１には図３（ｄ）に示すような
交流電圧が印加され、電力が供給される。
【０００５】セラミックヒータ１１の温度は放射温度計
１７により測定され、制御部１８は測定した温度が所定
の温度となるようにパルス幅を決定する。制御部１８か
らのパルス幅信号はパルス生成器１６に与えられ、パル
ス生成器１６は指示された幅のパルスを図３（ａ）及び
（ｂ）に示すタイミングで４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５のゲートに与える。
１７により測定され、制御部１８は測定した温度が所定
の温度となるようにパルス幅を決定する。制御部１８か
らのパルス幅信号はパルス生成器１６に与えられ、パル
ス生成器１６は指示された幅のパルスを図３（ａ）及び
（ｂ）に示すタイミングで４個のＦＥＴスイッチ１２〜
１５のゲートに与える。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図５に示すセラミック
ヒータ駆動回路では、２個のＦＥＴスイッチ１２、１５
（又は１３、１４）がＯＮしている間は電源電圧Ｖcが
そのままセラミックヒータ１１に印加される。ところ
が、従来の赤外分光光度計では、セラミックヒータ駆動
回路の電源として、図６に示すように、商用交流電源を
ブリッジダイオード１９で整流し、コンデンサ２０で平
滑化しただけの比較的単純な回路を用いている。このよ
うな回路では、元の交流の脈動を完全に除去することは
難しく、また、商用交流電源は±１０％の電圧変動を見
込まねばならない。セラミックヒータ１１では電圧の変
動は直ちに温度変動に結びつき、光源の温度変動は赤外
分光光度計の検出器において受光量の変化として検出さ
れる。赤外分光光度計では０．数秒から１秒という短い
時間で測定を行なうことが多いため、このような商用電
源の５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの電源電圧の変動も、測定結
果のＳ／Ｎ比を低下させる要因の一つとなっている。
ヒータ駆動回路では、２個のＦＥＴスイッチ１２、１５
（又は１３、１４）がＯＮしている間は電源電圧Ｖcが
そのままセラミックヒータ１１に印加される。ところ
が、従来の赤外分光光度計では、セラミックヒータ駆動
回路の電源として、図６に示すように、商用交流電源を
ブリッジダイオード１９で整流し、コンデンサ２０で平
滑化しただけの比較的単純な回路を用いている。このよ
うな回路では、元の交流の脈動を完全に除去することは
難しく、また、商用交流電源は±１０％の電圧変動を見
込まねばならない。セラミックヒータ１１では電圧の変
動は直ちに温度変動に結びつき、光源の温度変動は赤外
分光光度計の検出器において受光量の変化として検出さ
れる。赤外分光光度計では０．数秒から１秒という短い
時間で測定を行なうことが多いため、このような商用電
源の５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの電源電圧の変動も、測定結
果のＳ／Ｎ比を低下させる要因の一つとなっている。
【０００７】このような電源電圧の変動を完全に除去す
るためには高精度の定電圧装置を使用する必要がある
が、赤外分光光度計全体の製造コストを考慮すると、高
精度の定電圧装置を採用することは難しい。本発明はこ
のような課題を解決するために成されたものであり、そ
の目的とするところは、簡単な構成でありながら電源電
圧の変動の影響を排除し、光源の温度を一定にして高感
度且つ高精度の測定を行なうことのできる赤外分光光度
計を提供することにある。
るためには高精度の定電圧装置を使用する必要がある
が、赤外分光光度計全体の製造コストを考慮すると、高
精度の定電圧装置を採用することは難しい。本発明はこ
のような課題を解決するために成されたものであり、そ
の目的とするところは、簡単な構成でありながら電源電
圧の変動の影響を排除し、光源の温度を一定にして高感
度且つ高精度の測定を行なうことのできる赤外分光光度
計を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明では、赤外光源としてセラミックヒー
タを使用し、商用電源を直流化した後、スイッチトラン
ジスタにより該直流を交流化してセラミックヒータに供
給する赤外分光光度計において、 a)セラミックヒータに印加される電圧を測定する電圧測
定手段と、 b)セラミックヒータに流れる電流を測定する電流測定手
段と、 c)測定された上記電圧及び電流に基づき、セラミックヒ
ータに供給される電力を算出し、算出電力が所定値とな
るようにパルス幅を設定する電力制御手段と、 d)電力制御手段からの信号に応じたパルス幅のＯＮ／Ｏ
ＦＦパルスをスイッチトランジスタに与えるパルス生成
手段と、 を備えることを特徴とするものである。
に成された本発明では、赤外光源としてセラミックヒー
タを使用し、商用電源を直流化した後、スイッチトラン
ジスタにより該直流を交流化してセラミックヒータに供
給する赤外分光光度計において、 a)セラミックヒータに印加される電圧を測定する電圧測
定手段と、 b)セラミックヒータに流れる電流を測定する電流測定手
段と、 c)測定された上記電圧及び電流に基づき、セラミックヒ
ータに供給される電力を算出し、算出電力が所定値とな
るようにパルス幅を設定する電力制御手段と、 d)電力制御手段からの信号に応じたパルス幅のＯＮ／Ｏ
ＦＦパルスをスイッチトランジスタに与えるパルス生成
手段と、 を備えることを特徴とするものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】電圧測定手段と電流測定手段によ
り測定された値より、セラミックヒータに実際に与えら
れている電力値を算出することができる。電力制御手段
は、算出した電力が所定の値となるようにパルス幅を設
定する。例えば、算出電力値が所定値よりも低い場合は
パルス幅を大きくし、逆の場合はパルス幅を小さくす
る。パルス生成手段は、電力制御手段から与えられる信
号に基づき、対応する幅のパルスをスイッチトランジス
タに与える。これにより、電圧の変動がパルス幅の変化
により補償され、セラミックヒータに与えられる電力は
所定値に向かうように補正される。セラミックヒータの
温度はほぼ与えられる電力に対応するため、上記のよう
な制御により、セラミックヒータの温度が一定となるよ
うに制御することができる。なお、このように本発明は
電源電圧の変動の補償を対象とするため、パルス生成手
段が生成するパルスの生成速度（周波数）は、電源電圧
の周波数（５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ）の１０倍以上である
ことが望ましい。
り測定された値より、セラミックヒータに実際に与えら
れている電力値を算出することができる。電力制御手段
は、算出した電力が所定の値となるようにパルス幅を設
定する。例えば、算出電力値が所定値よりも低い場合は
パルス幅を大きくし、逆の場合はパルス幅を小さくす
る。パルス生成手段は、電力制御手段から与えられる信
号に基づき、対応する幅のパルスをスイッチトランジス
タに与える。これにより、電圧の変動がパルス幅の変化
により補償され、セラミックヒータに与えられる電力は
所定値に向かうように補正される。セラミックヒータの
温度はほぼ与えられる電力に対応するため、上記のよう
な制御により、セラミックヒータの温度が一定となるよ
うに制御することができる。なお、このように本発明は
電源電圧の変動の補償を対象とするため、パルス生成手
段が生成するパルスの生成速度（周波数）は、電源電圧
の周波数（５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ）の１０倍以上である
ことが望ましい。
【００１０】
【発明の効果】本発明に係る赤外分光光度計では、電源
電圧の変動に起因するセラミックヒータの温度の高速且
つ小さな変動を検出し、それを補償するようにセラミッ
クヒータの加熱を制御する。これにより光源の赤外線発
光量は高い精度で常に一定の値に保持されるため、高価
な定電圧装置を用いることなく、Ｓ／Ｎ比の高い、高感
度且つ高精度の赤外分光測定を行なうことができるよう
になる。
電圧の変動に起因するセラミックヒータの温度の高速且
つ小さな変動を検出し、それを補償するようにセラミッ
クヒータの加熱を制御する。これにより光源の赤外線発
光量は高い精度で常に一定の値に保持されるため、高価
な定電圧装置を用いることなく、Ｓ／Ｎ比の高い、高感
度且つ高精度の赤外分光測定を行なうことができるよう
になる。
【００１１】
【実施例】本発明の一実施例である赤外分光光度計の光
源部の構成を図１に示す。本実施例の光源部は従来のも
のと同様、光源としてセラミックヒータ１１を使用し、
４個のＦＥＴスイッチ１２〜１５とパルス生成器１６か
ら成るセラミックヒータ駆動回路を用いる。しかし、本
実施例の赤外分光光度計の光源部では従来のように光源
の温度を測定する放射温度計等は備えておらず、セラミ
ックヒータ１１を流れる電流を測定する電流計（Ａ）２
２（記号２１は電流測定用の抵抗である）と、セラミッ
クヒータ１１に印加される電圧を測定する電圧計（Ｖ）
２３を備えている。電流計２２及び電圧計２３には測定
結果を電気信号で出力可能なタイプのものを使用し、そ
の信号出力を制御部（CTRL）２４に送るようにする。
源部の構成を図１に示す。本実施例の光源部は従来のも
のと同様、光源としてセラミックヒータ１１を使用し、
４個のＦＥＴスイッチ１２〜１５とパルス生成器１６か
ら成るセラミックヒータ駆動回路を用いる。しかし、本
実施例の赤外分光光度計の光源部では従来のように光源
の温度を測定する放射温度計等は備えておらず、セラミ
ックヒータ１１を流れる電流を測定する電流計（Ａ）２
２（記号２１は電流測定用の抵抗である）と、セラミッ
クヒータ１１に印加される電圧を測定する電圧計（Ｖ）
２３を備えている。電流計２２及び電圧計２３には測定
結果を電気信号で出力可能なタイプのものを使用し、そ
の信号出力を制御部（CTRL）２４に送るようにする。
【００１２】制御部２４はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等を
備えたマイクロコンピュータで構成され、ＲＯＭに格納
されたプログラムに従い、本赤外分光光度計の光源に関
する各種の制御を行なう。そのような制御の一部であ
る、電源電圧の変動を補償して赤外線発光量の安定化を
行なうための処理のフローチャートを図４に示す。
備えたマイクロコンピュータで構成され、ＲＯＭに格納
されたプログラムに従い、本赤外分光光度計の光源に関
する各種の制御を行なう。そのような制御の一部であ
る、電源電圧の変動を補償して赤外線発光量の安定化を
行なうための処理のフローチャートを図４に示す。
【００１３】この処理ではまず、電流計２２及び電圧計
２３より各測定信号Ａ(t)、Ｖ(t)を入力し（ステップＳ
１）、それらの値を基に現時点でセラミックヒータ１１
に投入されている電力Ｗ(t)＝Ａ(t)×Ｖ(t)を計算する
（Ｓ２）。そして、その算出値Ｗ(t)を目標の範囲Ｗ0±
αと比較する（Ｓ３）。現在の電力値が目標範囲内にあ
る（Ｗ0−α≦Ｗ(t)≦Ｗ0＋α）場合は、本ルーチンは
何の処理も行なうことなく終了する。現在の電力値が目
標範囲よりも低い（Ｗ(t)＜Ｗ0−α）場合は、パルスの
幅を現在の値よりも１単位Δｔだけ大きくするように、
パルス生成器１６に指令信号を出力する（Ｓ４）。これ
により、図３（ａ）及び（ｂ）に示すように、現在Ｎ・
Δｔとなっているパルス幅が（Ｎ＋１）・Δｔとなり、
固定したパルス周期２・Ｍ・Δｔ内でセラミックヒータ１
１に電流が流れる期間が僅かに増加する。すなわち、セ
ラミックヒータ１１への投入電力が増加され、目標範囲
内に入る方向に補正される。一方、現在の電力値が目標
範囲よりも高い（Ｗ(t)＞Ｗ0＋α）場合は、パルスの幅
を現在よりも１単位Δｔだけ小さくするように、パルス
生成器１６に指令信号を出力する（Ｓ５）。これによ
り、セラミックヒータ１１に与えられる電力は減少し、
同じく目標範囲内に入る方向に補正される。
２３より各測定信号Ａ(t)、Ｖ(t)を入力し（ステップＳ
１）、それらの値を基に現時点でセラミックヒータ１１
に投入されている電力Ｗ(t)＝Ａ(t)×Ｖ(t)を計算する
（Ｓ２）。そして、その算出値Ｗ(t)を目標の範囲Ｗ0±
αと比較する（Ｓ３）。現在の電力値が目標範囲内にあ
る（Ｗ0−α≦Ｗ(t)≦Ｗ0＋α）場合は、本ルーチンは
何の処理も行なうことなく終了する。現在の電力値が目
標範囲よりも低い（Ｗ(t)＜Ｗ0−α）場合は、パルスの
幅を現在の値よりも１単位Δｔだけ大きくするように、
パルス生成器１６に指令信号を出力する（Ｓ４）。これ
により、図３（ａ）及び（ｂ）に示すように、現在Ｎ・
Δｔとなっているパルス幅が（Ｎ＋１）・Δｔとなり、
固定したパルス周期２・Ｍ・Δｔ内でセラミックヒータ１
１に電流が流れる期間が僅かに増加する。すなわち、セ
ラミックヒータ１１への投入電力が増加され、目標範囲
内に入る方向に補正される。一方、現在の電力値が目標
範囲よりも高い（Ｗ(t)＞Ｗ0＋α）場合は、パルスの幅
を現在よりも１単位Δｔだけ小さくするように、パルス
生成器１６に指令信号を出力する（Ｓ５）。これによ
り、セラミックヒータ１１に与えられる電力は減少し、
同じく目標範囲内に入る方向に補正される。
【００１４】このような電力補正処理を、図３に示すパ
ルス周期２・Ｍ・Δｔ毎に繰り返す。そして、図２に示す
ように、このパルス周期２・Ｍ・Δｔを商用交流電源の電
圧変動２６の周期Ｔに比べて十分小さくしておく（例え
ば１msec）ことにより、セラミックヒータ駆動回路の電
源電圧Ｖcの変動２７を補償して、セラミックヒータ１
１への投入電力を一定にすることができる。
ルス周期２・Ｍ・Δｔ毎に繰り返す。そして、図２に示す
ように、このパルス周期２・Ｍ・Δｔを商用交流電源の電
圧変動２６の周期Ｔに比べて十分小さくしておく（例え
ば１msec）ことにより、セラミックヒータ駆動回路の電
源電圧Ｖcの変動２７を補償して、セラミックヒータ１
１への投入電力を一定にすることができる。
【００１５】なお、上記例ではパルス幅をΔｔの１単位
づつ増減させるものとしたが、検出した電力値に応じて
増減量を決定するようにしてもよい。
づつ増減させるものとしたが、検出した電力値に応じて
増減量を決定するようにしてもよい。
【図１】 本発明の一実施例である赤外分光光度計の光
源部の回路図。
源部の回路図。
【図２】 商用交流電源の電圧波形及びそれを直流化し
たセラミックヒータ駆動回路用電源電圧の波形を示すグ
ラフ。
たセラミックヒータ駆動回路用電源電圧の波形を示すグ
ラフ。
【図３】 ＦＥＴスイッチのゲートパルス波形図
（ａ）、（ｂ）、スイッチ状態表（ｃ）及びセラミック
ヒータに与えられる電圧の波形図（ｄ）。
（ａ）、（ｂ）、スイッチ状態表（ｃ）及びセラミック
ヒータに与えられる電圧の波形図（ｄ）。
【図４】 光源部の制御部が実行する、電源電圧の変動
を補償して赤外線発光量の安定化を行なうための処理の
フローチャート。
を補償して赤外線発光量の安定化を行なうための処理の
フローチャート。
【図５】 従来の赤外分光光度計の光源部の回路図。
【図６】 セラミックヒータ駆動回路用直流電源の回路
図。
図。
１１…セラミックヒータ １２、１３、１４、１５…ＦＥＴスイッチ １６…パルス生成器 １７…放射温度計 １８…制御部 ２２…電流計 ２３…電圧計 ２４…制御部 ２６…商用交流電源の電圧 ２７…セラミックヒータ駆動回路の電源電圧
Claims (1)
- 【請求項１】 赤外光源としてセラミックヒータを使用
し、商用電源を直流化した後、スイッチトランジスタに
より該直流を交流化してセラミックヒータに供給する赤
外分光光度計において、 a)セラミックヒータに印加される電圧を測定する電圧測
定手段と、 b)セラミックヒータに流れる電流を測定する電流測定手
段と、 c)測定された上記電圧及び電流に基づきセラミックヒー
タに供給される電力を算出し、算出電力が所定値となる
ようにパルス幅を設定する電力制御手段と、 d)電力制御手段からの信号に応じたパルス幅のＯＮ／Ｏ
ＦＦパルスをスイッチトランジスタに与えるパルス生成
手段と、 を備えることを特徴とする赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35336395A JPH09184759A (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35336395A JPH09184759A (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 赤外分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09184759A true JPH09184759A (ja) | 1997-07-15 |
Family
ID=18430334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35336395A Pending JPH09184759A (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 赤外分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09184759A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1139105A2 (de) * | 2000-03-30 | 2001-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Optischer Stromsensor mit Lichtwellenleiter-Sensoreinheit |
| EP1245961A2 (de) * | 2001-03-19 | 2002-10-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Stabilisierte magnetooptische Strommesseinrichtung |
| WO2006091218A2 (en) | 2004-06-29 | 2006-08-31 | Ric Investments, Llc | Infrared source modulation and system using same |
| CN109313076A (zh) * | 2016-06-03 | 2019-02-05 | 株式会社岛津制作所 | 红外分光光度计 |
-
1995
- 1995-12-28 JP JP35336395A patent/JPH09184759A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1139105A2 (de) * | 2000-03-30 | 2001-10-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Optischer Stromsensor mit Lichtwellenleiter-Sensoreinheit |
| EP1139105A3 (de) * | 2000-03-30 | 2003-04-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Optischer Stromsensor mit Lichtwellenleiter-Sensoreinheit |
| EP1245961A2 (de) * | 2001-03-19 | 2002-10-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Stabilisierte magnetooptische Strommesseinrichtung |
| EP1245961A3 (de) * | 2001-03-19 | 2003-04-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Stabilisierte magnetooptische Strommesseinrichtung |
| WO2006091218A2 (en) | 2004-06-29 | 2006-08-31 | Ric Investments, Llc | Infrared source modulation and system using same |
| EP1761758A2 (en) * | 2004-06-29 | 2007-03-14 | RIC Investments, LLC. | Infrared source modulation and system using same |
| JP2008505342A (ja) * | 2004-06-29 | 2008-02-21 | アールアイシー・インベストメンツ・エルエルシー | 赤外線放射源調整法及びその調整法を使用する装置 |
| EP1761758A4 (en) * | 2004-06-29 | 2014-01-01 | Ric Investments Llc | INFRARED SOURCE MODULATION AND THIS USING SYSTEM |
| CN109313076A (zh) * | 2016-06-03 | 2019-02-05 | 株式会社岛津制作所 | 红外分光光度计 |
| US10890483B2 (en) | 2016-06-03 | 2021-01-12 | Shimadzu Corporation | Infrared spectrophotometer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2757810B2 (ja) | 電源装置 | |
| JPH09184759A (ja) | 赤外分光光度計 | |
| US20050234694A1 (en) | Hardware modeling of LED relative brightness | |
| JPH10160568A (ja) | 赤外分光光度計 | |
| US11532998B2 (en) | Power supply circuit for measuring transient thermal resistances of semiconductor device | |
| JP3674951B2 (ja) | Ａｃ電力制御装置 | |
| WO2020136958A1 (ja) | 電力制御装置及び電力制御方法 | |
| JPH08195294A (ja) | Ｘ線管フィラメント加熱回路及びそれを用いたｘ線装置 | |
| JP2004240552A (ja) | 太陽電池の最大電力点追尾方法及び装置 | |
| JP2002199742A (ja) | Ｐｗｍ電流制御型誘導負荷ドライバおよびその負荷電流検出方法 | |
| KR0122403Y1 (ko) | 전기기기의 교류전력 안정화회로 | |
| JPH11194842A (ja) | 電源装置の制御方法 | |
| JPH08334409A (ja) | 赤外分光光度計の光源装置 | |
| JP2010025668A (ja) | 定抵抗制御回路 | |
| JPH0159718B2 (ja) | ||
| JP2959405B2 (ja) | 燃焼機の電磁ポンプ制御装置 | |
| JPH1019816A (ja) | センサの温度調節装置 | |
| JP2575349Y2 (ja) | 温度制御回路 | |
| JP2591178B2 (ja) | コードレスアイロン | |
| JPS61226803A (ja) | プロセス制御装置 | |
| JP2001249726A (ja) | 制御システムおよび温度調節器 | |
| JPS6237716A (ja) | 定電流制御回路 | |
| JPS5981713A (ja) | 温度制御回路 | |
| JP2006074857A (ja) | スイッチング電源装置、画像形成装置及び電源制御方法 | |
| JPH06275227A (ja) | 粒子加速器における電磁石電源装置 |