JPWO2017126067A1 - 質量分析装置及びそのイオン検出方法 - Google Patents
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Abstract
上記目的を達成するために、質量分離部(102)に印加する電圧を変化させて所望のイオンを選択的に抽出することでチャンネルスキャン測定を行う質量分析装置(100)であって、質量分離部(102)で分離されたイオンを検出し電気信号を出力するイオン検出部(103)と、イオン検出部(103)の出力からイオン量を測定するイオン量測定部(104)と、イオン量測定部(104)の出力からイオン検出量を補正するイオン量補正部(105)を設け、イオン量補正部(105)は、チャンネルスキャンの過程において、1チャンネル前のイオン検出量に基づいて現チャンネルで検出されたイオン検出量の補正を行うように構成する。
Description
図5は、一測定パラメータにおけるイオン遮断前のイオン検出量と区間ΔT2のイオン検出量の関係を示したグラフであり、実測した各測定点(a,b,c)をもとに近似式を計算し、近似式の係数情報を補正情報記憶部110に記憶する。ここで、区間ΔT2のイオン検出量は、スキャンサイクルにおける次チャンネルのイオン検出量に影響を与える誤差であり、すなわち、補正量となる。
図6は、補正情報記憶部110に記憶されるデータベースの一例である。図6では、全ての測定パラメータについて、近似式の係数情報(α、β)が記憶されている。この例では、図5で示したイオン遮断前のイオン検出量と区間ΔT2のイオン検出量(補正量)の関係を直線近似(ΔT2のイオン検出量=α×遮断前のイオン検出量+β)で表現しているが、これに限定するものではなく、さらに複数の測定点を実測して求め、曲線近似で表現してもよい。
Claims (10)
- 質量分離部に印加する電圧を変化させて所望のイオンを選択的に抽出することでチャンネルスキャン測定を行う質量分析装置であって、
前記質量分離部で分離されたイオンを検出し電気信号を出力するイオン検出部と、
該イオン検出部の出力からイオン量を測定するイオン量測定部と、
イオン量測定部の出力からイオン検出量を補正するイオン量補正部を設け、
前記イオン量補正部は、チャンネルスキャンの過程において、1チャンネル前のイオン検出量に基づいて現チャンネルで検出されたイオン検出量の補正を行うことを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記イオン量補正部では、1チャンネル前のイオン検出量、1チャンネルの測定時間およびチャンネル切り替えに要するインターバル時間をもとに、現チャンネルのイオン補正量が決定されることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
濃度が異なる複数の測定試料について、イオンを遮断した時のイオン検出量の減衰過程を測定し、イオン遮断前のイオン検出量に関連付けて補正量を算出する補正情報算出部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置であって、
前記補正情報算出部は、イオン遮断前のイオン検出量と補正量の関係を数式近似し、導出された近似式の情報を記憶する補正情報記憶部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置であって、
前記質量分離部は四重極質量フィルタであり、
前記イオンの遮断は、四重極質量フィルタに印加する電圧を制御することにより実現されることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記イオン検出部はシンチレータを含むことを特徴とする質量分析装置。 - 質量分離して抽出したイオンを測定することでチャンネルスキャン測定を行う質量分析装置のイオン検出方法であって、
チャンネルスキャンの過程において、質量分離して抽出したイオンの現チャンネルで検出されたイオン検出量を、1チャンネル前のイオン検出量に基づいて補正することを特徴とするイオン検出方法。 - 質量分離して抽出したイオンを測定することでチャンネルスキャン測定を行う質量分析装置であって、
1チャンネルの測定時間とインターバル時間を選択する設定値入力画面を有することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項8に記載の質量分析装置であって、
チャンネルスキャンの過程において、質量分離して抽出したイオンのイオン検出量を補正する補正処理を適用するか否かを選択する入力設定画面を有することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項8に記載の質量分析装置であって、
チャンネルスキャンの過程において、質量分離して抽出したイオンのイオン検出量を補正する補正処理後のイオン検出量と補正値の関係を表示する表示画面を有することを特徴とする質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/051636 WO2017126067A1 (ja) | 2016-01-21 | 2016-01-21 | 質量分析装置及びそのイオン検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017126067A1 true JPWO2017126067A1 (ja) | 2018-10-11 |
JP6591565B2 JP6591565B2 (ja) | 2019-10-16 |
Family
ID=59362268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017562223A Active JP6591565B2 (ja) | 2016-01-21 | 2016-01-21 | 質量分析装置及びそのイオン検出方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10453663B2 (ja) |
JP (1) | JP6591565B2 (ja) |
CN (1) | CN108475614B (ja) |
DE (1) | DE112016006143B4 (ja) |
GB (1) | GB2561751B (ja) |
WO (1) | WO2017126067A1 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2016
- 2016-01-21 US US16/069,066 patent/US10453663B2/en active Active
- 2016-01-21 CN CN201680076701.0A patent/CN108475614B/zh active Active
- 2016-01-21 GB GB1810129.5A patent/GB2561751B/en active Active
- 2016-01-21 WO PCT/JP2016/051636 patent/WO2017126067A1/ja active Application Filing
- 2016-01-21 JP JP2017562223A patent/JP6591565B2/ja active Active
- 2016-01-21 DE DE112016006143.9T patent/DE112016006143B4/de active Active
Patent Citations (2)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108475614B (zh) | 2019-12-03 |
US20190027350A1 (en) | 2019-01-24 |
DE112016006143B4 (de) | 2022-08-25 |
DE112016006143T5 (de) | 2018-10-25 |
GB2561751A (en) | 2018-10-24 |
CN108475614A (zh) | 2018-08-31 |
GB2561751B (en) | 2021-12-29 |
WO2017126067A1 (ja) | 2017-07-27 |
GB201810129D0 (en) | 2018-08-08 |
US10453663B2 (en) | 2019-10-22 |
JP6591565B2 (ja) | 2019-10-16 |
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Legal Events
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