JPWO2017038040A1 - 光導波路用組成物、光導波路用ドライフィルム、及び光導波路 - Google Patents
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Abstract
Description
セロキサイド2021P:株式会社ダイセル製の液状脂肪族エポキシ化合物
YH−300:新日鉄住金化学株式会社製の液状脂肪族エポキシ化合物
[B:多官能芳香族エポキシ化合物]
VG3101:株式会社プリンテック製の3官能の芳香族エポキシ化合物
[C:固形ビスフェノールA型エポキシ化合物]
1006FS:三菱化学株式会社製の固形ビスフェノールA型エポキシ化合物(エポキシ当量900〜1100g/eq)
1003:三菱化学株式会社製の固形ビスフェノールA型エポキシ化合物(エポキシ当量670〜770g/eq)
YP−50:新日鉄住金化学株式会社製の固形ビスフェノールA型エポキシ化合物(エポキシ当量6000g/eq以上)
[D:液状ビスフェノールA型エポキシ化合物]
850S:DIC株式会社製の液状ビスフェノールA型エポキシ化合物(エポキシ当量184〜194g/eq)
[E:フェノールノボラック型エポキシ化合物]
EPPN−201:日本化薬株式会社製のフェノールノボラック型エポキシ化合物(固体)
[F:クレゾールノボラックエポキシ化合物]
EOCN−4600:日本化薬株式会社製のクレゾールノボラックエポキシ化合物
[G:固形脂環式エポキシ化合物]
EHPE3150:株式会社ダイセル製の2,2−ビス(ヒドロキシメチル)−1−ブタノールの1,2−エポキシ−4−(2−オキシラニル)シクロヘキサン付加物(エポキシ当量900〜1500g/eq)
[H:固形脂肪族エポキシ化合物]
YX8040:三菱化学株式会社製の水添ビスフェノールA型エポキシ化合物
[光硬化剤]
SP−170:株式会社アデカ製の光カチオン硬化剤
[酸化防止剤]
AO−60:株式会社アデカ製の酸化防止剤
[実施例1〜28、比較例1〜5]
実施例1〜28、及び比較例1〜5に係る組成物を、以下のようにする。まず、(表1)及び(表2)に示す組成(質量部)となるように、各材料を、ガラス容器内に秤量し、溶剤として2−ブタノンとトルエンを加える。その配合物を80℃の還流下で攪拌する。そうすることで、溶解可能な固形分がすべて溶解される均一なワニス状の組成物が得られる。得られるワニス状の組成物を、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)製の孔径1μmのメンブレンフィルターでろ過する。そうすることにより、含有している固形状の異物が除去される。以下、ろ過されワニス状の組成物を用いる。
光線透過率の測定は、次のように行う。
上記のように得られる硬化フィルムを、175℃の乾燥機内に40時間放置する。その後、室温に下がるまで、乾燥機外で放置する。この硬化フィルムの光線透過率(光線透過率2)を、上記の光線透過率の測定方法と同様の方法で測定する。
上記のようにして求められる、光線透過率1と光線透過率2とから、その差分(光線透過率1−光線透過率2)を算出する。この値が、耐熱性の指標となる。
上記のように得られる硬化フィルムを用い、株式会社アタゴ製の屈折率測定装置を用いて屈折率を測定する。
上記のように得られる硬化フィルムを用い、セイコーインスツル株式会社製の粘弾性スペクトロメーター(DMS200)を用いて、複素弾性率(E”)のピーク温度をTgとして測定する。
上記のようにして得られるドライフィルムを用いて、後述する光導波路を作製する。形成されるコア幅が、所定のコア幅に対して、±10%の範囲内で形成されていれば、「OK」と評価し、そうでなければ、「NG」と評価する。
実施例29〜41、及び比較例6〜8に係る光導波路を、以下のように形成する。
波長850nmのVCSEL光源からの光を、コア径10μm、NA0.21の光ファイバーから、導波路の片方の端面に入射させ、コア径200μm、NA0.4の光ファイバーを通して射出される光のパワー(P1)をパワーメーターで測定する。一方、この両者の光ファイバーの端面同士を突き当てて光導波路が存在しない状態での光のパワーを(P0)をパワーメーターで測定する。−10×log(P1/P0)の計算式から、光導波路の光損失(導波路損失)を求める。
また、得られる光導波路を、鉛フリーはんだのリフロー条件でリフローを3回行い、導波路損失を測定する。この導波路損失の、初期の導波路損失に対する変化量を算出する。
得られる光導波路を175℃の環境下に40時間放置する後の導波路損失を測定する。この導波路損失の、初期の導波路損失に対する変化量を算出する。
得られる光導波路を150℃の環境下に1000時間放置する後の導波路損失を測定した。この導波路損失の、初期の導波路損失に対する変化量を算出する。なお、この導波路損失を測定できない程、導波路損失が上昇する場合は、(表3)には、「測定不可」と示す。
2 フィルム基材
3 保護フィルム
5 基板
9 電気回路
10 下クラッド層
11 コア部
12 マスク
13 上クラッド層
15 ビア
Claims (11)
- シート状に硬化させて得られる硬化物の、波長450nmの光線に対する厚み50μm換算の光線透過率と、前記硬化物を175℃の大気中で40時間保持した後の前記光線透過率との差が、15%以下である光導波路用組成物。
- 液状脂肪族エポキシ化合物と、エポキシ基を分子中に3つ以上有する多官能芳香族エポキシ化合物と、エポキシ当量400g/eq以上、1500g/eq以下の固形ビスフェノールA型エポキシ化合物と、光硬化剤とを含み、液状ビスフェノールA型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、クレゾールノボラック型エポキシ化合物、及びエポキシ基を分子中に3つ以上有する固形脂環式エポキシ化合物の含有量が、エポキシ化合物の全量に対して、5質量%以下である請求項1に記載の光導波路用組成物。
- 前記液状脂肪族エポキシ化合物の含有量が、前記エポキシ化合物の全量に対して、10質量%以上、30質量%以下であり、前記多官能芳香族エポキシ化合物の含有量が、前記エポキシ化合物の全量に対して、10質量%以上、60質量%以下であり、前記固形ビスフェノールA型エポキシ化合物の含有量が、前記エポキシ化合物の全量に対して、10質量%以上、70質量%以下であり、前記光硬化剤の含有量が、前記エポキシ化合物の全量100質量部に対して、0.3質量部以上、5質量部以下である請求項2に記載の光導波路用組成物。
- エポキシ基を分子中に2つ以上有する固形脂肪族エポキシ化合物をさらに含む請求項2に記載の光導波路用組成物。
- 前記固形脂肪族エポキシ化合物が、固形水添ビスフェノールA型エポキシ化合物である請求項4に記載の光導波路用組成物。
- 前記固形脂肪族エポキシ化合物の含有量が、前記エポキシ化合物の全量に対して、70質量%以下である請求項4に記載の光導波路用組成物。
- 酸化防止剤をさらに含む請求項2に記載の光導波路用組成物。
- 前記酸化防止剤の含有量が、前記エポキシ化合物の全量100質量部に対して、5質量部以下である請求項7に記載の光導波路用組成物。
- 請求項1に記載の光導波路用組成物の層を備える光導波路用ドライフィルム。
- コア部と前記コア部を覆うクラッド層とを備え、前記コア部及び前記クラッド層の少なくとも一方が、請求項1に記載の光導波路用組成物の硬化物である光導波路。
- 150℃で1000時間保持する加熱処理を施した後の導波路損失の、前記加熱処理前の導波路損失に対する増加量が、1dB/cm以下である請求項10に記載の光導波路。
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